STS 8200测试系统基础培训(1)-系统概述
STS8200 编程手册
STS8200 编程手册（Rev 1.06）目录STS8200 (I)编程手册 (I)（Rev 1.06） (I)1.用户程序运行流程及函数说明 (1)1.1.运行流程 (1)erInit() (2)erExit() (2)1.4.OnSot() (2)1.5.HardWareCfg () (2)1.6.SetupFailSite() (2)1.7.InitBeforeTestFlow() (2)1.8.InitAfterTestFlow() (3)1.9.BinOutDut() (3)1.10.OnNewLot() (3)1.11.OnWaferEnd() (3)1.12.StsGetOperatorID() (3)1.13.StsGetWaferID() (4)1.14.StsGetLotID() (4)1.15.StsGetSiteStatus() (4)1.16.StsGetDieCorXY() (5)1.17.StsGetBinDutTotalCount() (5)1.18.StsGetCurrentDutSwBin() (6)1.19.StsGetCurrentDutHwBin() (6)1.20.STSSetModuleToSite() (7)1.21.STSInitVI() (9)1.22.StsEableDVICal () (10)1.23.StsEableOVICal () (10)1.24.StsEablePVICal () (10)2.CParam (12)2.1.CParam() (12)2.2.SetDispName() (12)2.3.SetSymbol() (12)2.4.SetMinLimit () (13)2.5.SetMaxLimit () (13)2.6.GetMinLimit () (14)2.7.GetMaxLimit () (14)2.8.SetAllUnit () (14)2.9.SetUnitName () (15)2.10.SetTestResult () (15)2.11.SetResultRemark () (16)2.12.GetSitesCount () (16)2.13.GetSubUnitsCount () (16)2.14.GetDispFormat () (17)2.15.GetDescription () (17)2.16.GetTestResult () (18)2.17.GetResultRemark () (18)2.18.GetConditionsCnt () (19)2.19.GetConditionDispName () (19)2.20.GetConditionSymbol () (20)2.21.GetConditionShowKind () (21)2.22.GetConditionInputKind () (21)2.23.GetConditionDispValue () (22)2.24.GetConditionDispUnit () (23)2.25.GetTestConditionValue () (23)2.26.GetConditionSelectValue () (24)2.27.GetConditionCurSelDouble () (25)2.29.GetConditionSelectUnit () (26)2.30.GetConditionUnitSelOrder () (27)2.31.GetConditionDispTip () (28)3.DVI400 (29)3.1.DVI400() (29)3.2.ACEnable () (29)3.3.ACDisable () (29)3.4.Set () (30)3.5.SetClamp () (31)3.6.MeasureVI () (32)3.7.GetMeasResult () (33)3.8.SetRiseTime() (34)4.PVI10A (35)4.1.PVI10A() (35)4.2.ACEnable () (35)4.3.ACDisable () (35)4.4.Set () (36)4.5.SetClamp () (37)4.6.MeasureVI () (38)4.7.GetMeasResult () (39)4.8.SetRiseTime() (40)5.OVI40 (41)5.1.OVI40() (41)5.2.ACEnable () (41)5.3.ACDisable () (42)5.4.Set () (42)5.5.SetClamp () (43)5.6.MeasureVI () (44)6.FVI10A (47)6.1.FVI10A() (47)6.2.Set () (47)6.3.SetClamp () (49)6.4.MeasureVI () (50)6.5.GetMeasResult () (51)6.6.SetOutputMode () (52)6.7.PowerSupply () (52)7.CBIT128 (53)7.1.CBIT128() (53)7.2.Init() (53)7.3.Close() (53)7.4.SetCBITOff() (54)7.5.SetCBITOn() (55)7.6.SetCBIT() (55)7.7.SetOn() (56)7.8.GetBYTEStatus () (57)8.QTMU_PLUS (59)8.1.QTMU_PLUS() (59)8.2.Init() (59)8.3.Connect() (60)8.4.Disconnect() (60)8.5.SetInSource() (60)8.6.SetStartInput() (61)8.7.SetStopInput() (61)8.8.SetStartTrigger() (62)8.9.SetStopTrigger() (63)8.10.SelectArm() (63)8.12.Measure() (65)8.13.MeasureFreq() (66)8.14.MeasureDutyCycle() (68)8.15.SetSinglePulseMeas() (69)8.16.SinglePulseMeas() (70)8.17.SetScan() (71)8.18.ScanEnable() (72)8.19.ScanDisable() (72)8.20.ScanRead() (72)8.21.SinglePlsMeas() (73)8.22.MeasFreq() (75)8.23.MeasDC() (76)8.24.Meas() (77)8.25.ScanRd() (78)8.26.GetMeasureResult() (79)8.27.GetScanMeasureResult() (79)8.28.ChannelSetup() (80)8.29.QTMU_PLUS 编程范例 (81)9.ACSM_PLUS (86)9.1.ACSM_PLUS() (86)9.2.Init() (86)9.3.InitACM() (87)9.4.InitACS() (87)9.5.DisableACM() (87)9.6.EnableACS() (88)9.7.DisableACS() (88)9.8.ACSDutConnect() (88)9.9.ACSDutDisConnect() (88)9.11.ACSBusDisConnect() (89)9.12.ACSConfig() (89)9.13.ACSSineConfig() (91)9.14.ACSTriangleConfig() (92)9.15.ACSSquareConfig() (93)9.16.ACSBusSineConfig() (94)9.17.ACMLMeaDutDC() (95)9.18.ACMLMeaDutAC() (96)9.19.ACMLMeaDutData() (97)9.20.ACMLMeaDutMAC() (99)9.21.ACMLMeaDutTHD() (100)9.22.ACMLMeasDutAll() (103)9.23.ACMHMeaDutDC() (106)9.24.ACMHMeaDutAC() (107)9.25.ACMHMeaDutData() (109)9.26.ACMHMeasDutAll() (111)9.27.ACMLMeaBusDC() (113)9.28.ACMLMeaBusAC() (114)9.29.ACMLMeaBusAll() (116)9.30.ACMHMeaBusDC() (118)9.31.ACMHMeaBusAC() (119)9.32.ACMHMeaBusAll() (121)9.33.ACMGetFFTResult() (122)9.34.ACMGetFFTDataBlackmanHarris() (123)9.35.ACMGetFFTResultBlackmanHarris() (124)9.36.ACSM_PLUS模块编程样例---运算放大器的增益带宽积 (126)9.37.ACSM_PLUS模块编程样例---三端集成稳压器的纹波抑制比 (126)10.DIO (128)10.2.Init () (129)10.3.Connect() (129)10.4.Close() (129)10.5.Disconnect() (130)10.6.Open() (130)10.7.SetVIH() (130)10.8.SetVIL() (131)10.9.SetVOH() (131)10.10.SetVOL() (131)10.11.SetClockFreq() (132)10.12.SetClockPeriod () (132)10.13.SetDelay() (133)10.14.SetWaveFormat() (133)10.15.LoadPattern(单行模式) (134)10.16.LoadPattern(文件模式) (135)10.17.LoadPattern(多行循环模式) (136)10.18.EndPattern() (136)10.19.RunPattern(非循环模式) (137)10.20.RunPattern(循环模式) (137)10.21.StopPattern() (138)10.22.ReadPattern() (138)10.23.SetSync() (138)10.24.UnsetSync() (139)10.25.GetFailCount() (139)10.26.GetFailData() (139)10.27.GetSerialPatternResult () (140)10.28.LoopSet () (142)10.29.单个模块的样例程序 (145)10.30.多模块同步工作样例程序 (146)11.TRM (150)11.1.CTrm( ) (150)11.2.Init( ) (150)11.3.Trim( ) (151)11.4.ConnectPower( ) (152)11.5.ConnectRelay( ) (153)12.系统函数 (154)12.1.delay_ms() (154)12.2.delay_us() (154)13.串行测试相关函数 (155)13.1.工位串行操作宏 (155)STS 8200编程手册REV1.06 1.用户程序运行流程及函数说明1.1.运行流程基本的运行流程如下，但成品测试和圆片测试的流程稍微有些不同，圆片测试的时候会增加OnWaferEnd函数。
测量系统分析入门培训
须改进
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谢谢大家！
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实际值
测量值
观察到的产品变异
测量系统准确度
准确度:平均值 观察值 = 主值 + 测量偏差
实际值
m总量 = m 产品 + m 衡量
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测量值 测量偏差
测量系统的精确度
精确度:变动性
观察到的变动性 = 产品变动 + 衡量的变动
实际值
测量值
2 总量
=
2 产品
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主值
检查员 A 检查员 B
检查员C
检查员 A
Operator B
检查员 B 检查员 C
Operator A
Operator C
Reproducibility
再现性
再现性(Reproducibility)计算:
再现性的标准差估计值
o =(Xmax-Xmin)/d
*
2
再现性(Reproducibility)AV1=5.15
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偏倚
偏倚是对同样的零件的同样特性，真值（基 准值）和观测到的测量平均值的差值。
偏倚是测量系统的系统误差的测量。
偏倚
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测量系统平均值
基准
确定偏倚
1）一个样本并建立相对于可溯源标准的基准值。如果不到 ，选择一个落在生产测量的中程数据的生产零件，指定其 为偏倚分析的标准样本。在工具室测量这个零件n≥10次，
试验 2 3
K1 0.8862 0.5908
%EV
STS8200软件使用手册Rev1.03
STS 8200软件使用手册 （Rev 1.03）目录1 STS8200软件使用的模块 (3)2 控制台 (4)2.1 功能概述 (4)2.2 程序启动 (4)2.3 用户管理 (5)2.4 其它功能 (8)3 主界面 (10)3.1 功能概述 (10)3.2 程序启动 (10)3.3 装入测试程序 (10)3.4 执行测试 (11)3.5 数据显示 (11)3.6 实时数据统计 (12)3.7 测试选项 (13)3.8 输入lot信息 (17)3.9 其它测试中的功能 (19)4 PGSEditor使用说明 (22)4.1 界面介绍 (22)4.2 菜单功能介绍 (23)4.2.1 “File”菜单 (23)4.2.2 “Edit”菜单 (24)4.2.3 “View”菜单 (24)4.2.4 “Setting”菜单 (24)4.2.5 “Operations”菜单 (25)4.3 各模块使用说明 (26)4.3.1 “Function Editor”说明 (26)4.3.2 “Param Editor”说明 (27)4.3.3 “Condition Editor”说明 (28)4.3.4 “Load Function”说明 (29)4.3.5 “测试函数定义区”其他功能介绍 (30)4.3.6 设置工位数 (31)4.3.7 分档设置 (31)4.3.8 数据有效性检查 (34)4.3.9 根据函数定义生成VC工程 (34)4.3.10 打印相应设置 (35)4.3.11 与TESTUI的交互 (36)4.3.12 从模板生成一个新项目 (37)4.3.13 从模板生成一个新PGS文件 (38)5 校准程序的使用 (40)5.1 硬件连接与设置 (40)5.1.1 校准硬件连接说明 (40)5.1.2 校准软件设置说明 (40)5.2 校准 (43)5.3 打印与存盘 (48)5.4 校准中断与动态查看校准数据 (48)5.5 校准数据查找 (48)6数据分析与处理 (50)6.1 存盘文件的格式与内容说明 (50)6.2 运行数据分析软件 (51)6.3 打开数据存盘文件 (52)6.4 查看信息 (53)6.4.1 记录浏览工具条说明 (53)6.4.2 显示所有信息 (53)6.4.3 显示合格信息 (54)6.4.4 显示失效信息 (54)6.4.5 显示某个Site信息 (54)6.5 统计与图形分析 (55)6.5.1 统计分析 (55)6.5.2 图形分析 (55)6.6 数据打印 (58)6.6.1 打印数据表格 (58)6.7 数据输出 (59)6.8 MAPPING绘图输出 (64)7 系统信息收集与处理 (66)7.1 系统信息收集与处理模块的启动 (66)7.2 系统信息的说明 (66)7.2.1 系统信息的分类 (66)7.2.2 系统信息的内容说明 (67)7.3 系统信息窗口的显示操作 (67)7.3.1 总在最上层功能 (67)7.3.2 自动追踪最新收到的系统信息 (68)7.3.3 系统信息的显示选择 (68)7.3.4 特殊信息的显示选择 (69)7.4 系统信息的输出与保存 (70)7.4.1 系统信息的保存 (70)7.4.2 系统信息的截屏保存 (70)7.4.3 系统信息的Htm保存 (71)7.4.4 系统信息的Csv保存 (71)7.4.5 系统信息的打印输出 (72)7.4.6 系统信息的清除 (72)7.4.7 系统信息的读取 (72)7.5 模块程序的退出 (73)8 EQC（Inline QA）使用说明 (75)8.1 定义 (75)8.2 设置方法及技巧 (75)1STS8200软件使用的模块STS8200软件的操作界面主要由以下程序及模块组成：control.exe――系统控制中心Testui.exe――测试操作界面PGSEdit.dll――程序编辑工具datalog.dll――数据保存模块check.dll――自检模块dataAnalyse.exe――数据转换，分析及处理STSCAL.exe――校准工具此外还有一些与以上模块相关的库、配置文件及系统的硬件模块驱动程序，这些共同组成了一个完整的测试系统软件。
打印资料-STS8200应用培训讲义 2012.9.12
第一章 STS8200测试系统基础培训1. STS8200系统概述1.1 测试器件类别STS8200测试机属于大模小数类器件测试系统，主要可用于测试运放/比较器、LDO、PWM、锂电池充电/保护、模拟开关、LED Driver、双卡双待、触摸屏、FM Tuner、Class AB/D、滤波器等电源管理类以及大模小数类产品。
1.2 测试指标最大电压：±1000V；最大电流：±10A，电压精度：±0.05%；电流精度：±0.1%1.3 工作模式STS8200支持PING-PONG（STATION A与STATION B）工作模式，实现方法如下：1）配置支持STATION A/B工作模式的STS8000软件。
2）配置2块CBIT128板，且拨码为00和01。
3）配置STATION A/B的电缆和测试盒。
即2套外电缆和2个测试盒。
4）配置2块Handler接口卡。
STS8200支持TWIN工作模式，实现方式如下：1）配置2块带表贴电阻背板总线卡（SM8001)，且拨码均为00和00，上下插件箱各一块，2块总线接口卡（IF8001）。
2）配置2套外电缆和2个测试盒。
3）配置2套与电脑主机连接68芯的通信电缆。
4）配置2套与Handler连接62芯的通信电缆。
5）2套电脑主机。
2. STS8200单板介绍STS8200目前共有7种常规板卡，分别为DVI400（双路电压/电流源），PVI10（双路功率电压/电流源），OVI40（八路电压/电流源），CBIT128（用户卡控制单元），QTMU_PLUS（四通道时间测量单元），ACSM_PLUS （精密交流源表），DIO（数字通道模块）。
4款浮动源表FPVI10，FOVI100，HVI1K，QVM。
2.1 板卡精度DVI400 电缆：1根电缆对应 4 块 DVI400板8 路资源，测试盒标准配置2根电缆，共引入 16 路资源。
STS-8200测试程序开发及DUT设计规则大全 PPT
目录
1.STS8200的硬件结构 2.STS8200的开关机 3.STS8200资源简介
3.1 PVI硬件简介 3.2 DVI硬件简介 3.3 OVI硬件简介 3.4 QTMU硬件简介 3.5 ACSM硬件简介 3.6 DIO硬件简介
4.STS8200软件简介 5.STS8200上开发新程序
CH0-1（STB）是备用接口，不用 连接
模式 FV FI FI
量程 ±50V，±20V，±10V，±5V，±2V，±1V ±1A，±100MA，±10MA，±1MA，±100UA ±10A
精度 ±0.05% ±0.1% ±1%
3.2 DVI硬件简介
每块DVI提供双路V/I源，都 是从CH0-1（STA）连接的 一根电缆输出
pin3.Set( FI, -100e-6f, DVI400_2V, DVI400_4MA, RELAY_ON); //DVI1加-100uA电流
delay_ms(2);
pin3. MeasureVI(MV, 10, 20);
//DVI1测量电压（MV），采样10个点 取平均值，每个采样点时间间隔20uS
点击菜单栏的code，在弹出的窗口输入新程序的名称：openshort
5.编写新程序
点击OK后，新程序的框架会自动生成，如下：
#include “stdafx.h“
//加入需要用的头文件
//此处可以定义用到的各变量
DUT_API void HardWareCfg()
//多工位程序的资源分配，若为单工位程序可以不填写
CH0-1（STB）是备用接口， 不用连接
模式 FV FI
量程
±50V，±20V，±10V，±5V，±2V，±1V ±400MA，±40MA，±4MA，±400UA，±40UA， ±4UA
测量系统培训教材(1)
差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可 称为统计稳定性； n 测量系统的变异必须比制造过程的变异小； n 变异应小于公差带；
n 测量精密应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一 般来说，测量精度是过程变异和公差带两者中精度较高者 的十分之一；
n 测量系统统计特性可能随被被测项目的改变而变化。若真 的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差 带两者中的较小者。
因此，要保证测量结果的准确性和可信度。
测量系统培训教材(1)
测量误差
Y = x +ε
n
測量值 = 真值(True Value)+測量誤差
戴明說沒有真 值的存在
一致
测量系统培训教材(1)
测量系统分析的目的
n 运用统计分析方法，确定测量系统测量结果的变差 （测量误差），了解变差的来源。 从而确定一个测量系统的质量，并且为测量系统的改 进提供信息。
计量型测量系统的分析方法 1）偏倚 2）稳定性 3）线性 4）重复性和再现性（R&R
） 计数型测量系统的分析方法
1）小样法 2）大样法
测量系统培训教材(1)
人 测机 量法 的环 重测量要性
合格
原料
PROCESS
测量 结果
测量
不合格
测量的重要性:
如果测量出现问题，那么合格的产品可能被判为不合 格，不合格的产品可能被判为合格，此时便不能得到 真正的产品或过程特据变差的来源
称菜的过程
测量到的过程变差
不同的人用 同一个秤对 同一个土豆 称重的差异
没有两个土豆 过程实际的 的重量是一样 变差
的
测量的变差
测量系统分析培训教材课件
目录
CONTENTS
• 测量系统分析概述 • 测量系统误差分析 • 测量系统线性分析 • 测量系统稳定性分析 • 测量系统可靠性分析 • 测量系统优化建议
01
测量系统分析概述
测量系统定义
测量系统
是一种用来对被测特性进行测量的装 置或程序，它包括测量人员、测量设 备、测量程序和测量环境等因素。
在测量过程中，如果测量系统的稳定性不好，会导致测量结果出现偏差，甚至会影响到产品质量和生产效率。
稳定性分析的原理
通过对测量系统进行稳定性分析，可以有效地判断测量系统的稳定性和可靠性，为后续的数据处理和控 制提供依据。
稳定性分析方法
重复性测量法
通过对同一被测量进行多次重复测量，计算出平均值 、标准差等指标，评估测量系统的稳定性。
案例二
某科研机构使用线性分析来探索生物样本中基因表达与疾病之间的关系。通过线性分析，发现某些基因的表达 与疾病之间存在显著线性关系，为疾病诊断和治疗提供了重要线索。
04
测量系统稳定性分析
稳定性分析原理
稳定性定义
稳定性是指测量系统的随机误差和系统误差都处于很小的范围内，不会随时间变化而显著变化。
稳定性分析的重要性
分析方法。
可靠性分析方法
01
数据分析方法
通过对测量系统的数据进行分析，可 以找出潜在的故障模式和影响因素， 包括统计过程控制、方差分析、回归 分析等。
02
FMEA分析方法
介绍了故障模式与影响分析（FMEA ）方法，通过对测量系统中可能出现 的故障模式进行分析和评估，提前发 现潜在问题并采取措施加以解决。
线性分析是一种统计技术，用于评估测量系统的 线性关系。
STS8200测试系统基础培训—软件基本操作(PDF 54页)
*.mdb 【Handler】―Handler/Prober设置文件存放目录 【Lib】―专用库文件目录 【Include】―编译测试DLL用到的专用头文件 【Driver】－系统所需要的驱动存放目录
【CheckData】－系统自检后数据存放目录
AccoTest
New Valued Multi-site Analog/Mixed Signal Tester
STS 8200测试系统基础培训(3) ——软件基本操作 Rev1.0
系统软件介绍和基本操作
• 测试系统软件介绍 • 安装测试系统软件 • 软件基本操作 • 数据分析和处理
测试系统软件介绍
启动
系统自检成功后，会启动测试控制主界面，并在桌面的托盘
内显示图标
。双击图标可以弹出管理窗口 。
系统界面介绍
主界面中包含以下几部分：
工具栏：测试操作用到的功能都在工具栏中有相应的按扭 参数信息区：显示出测试参数的名称，判据，单位等信息 数据区：显示出参数的测试结果 状态栏：显示测试程序名，LOTID，操作员等信息
用户管理权限
如图红色框内可以创建3类用户，分别是：
Administrator：管理员，拥有全部操作权限 Engineer:工程师，可以编程和条件设置，不可以修改用户权限 Operator:操作员，基本操作，不能编程和条件设置。
Байду номын сангаас
自检
测试系统启动后，会首先检测测试机的状态。根据系 统配置文件检测每块电路板的基本功能是否正常，并 给出自检报告。
根据需要输入相应信息后点击OK，即可进入到待测试状态。
3. 启动测试
单次测试： 开始自动测试：
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系统概述
➢ 属于模拟器件测试系统
➢
最大电压：±1000V；最大电流：±10A
➢
电压精度：±0.05%；电流精度：±0.1%
➢ 测试器件类别: 运放/比较器、LDO
PWM、锂电池保护、模拟开关、LED Driver、 双卡双待、触摸屏、FM Tuner、Class AB/D、 滤波器等电源管理类以及大模小数类产品
精品课件
电缆标识-----接测试机
命名原则：电路板名称－电路板编号－插头编号 如下图：DVI-1-J1，即DVI1的第1个插头。
精品课件
电缆标识-----接测试盒
命名原则：SA/SB－电路板名称－序号
如：SB-DVI-1，即StationB的DVI的第一根电缆。
精品课件
STS8200测试盒
通过外电缆将STS8200的 资源引入测试盒
Handler接口卡） • 装有Windows XP 操作系统和Visual C++软件
注：出厂时上述软、硬件已安装好。
精品课件
602mm
1202mm
600mm
41mm
测
试
机
主
注：进深为640mm
机
1534mm 1575 mm
精品课件
STS 8200 测试主机
通风栅 风扇 电源开关 急停按钮 上面cage 下面cage 风扇 供电电源
引入 8 路资源。 3.OVI40 电缆：1根电缆对应 1 块 OVI40 板 8 路资源，测试盒标准配置2根电缆， 共
引入 16 路资源。 4.CBIT128：1根CBIT128电缆引出 64 路 继电器控制信号，测试盒标准配置2根电缆，
共引入128 路继电器控制信号。 5.POW：1根 POW电缆引出+5V、±15V、+12V以及地信号，测试盒标准配置1根
精品课件
总线接口卡 (IF8001)
实现PC机PCI总线到测试主机数据总线之间的转换和驱动，测试主机 之间采用68芯双绞压接电缆进行连接，接口卡同时驱动两个插件箱背板上 的数据总线。
精品课件
Handler接口卡
实现PC机到Handler的通讯。如果是PING-PONG式，需要2块卡.接口 信号见“硬件手册”附录。
➢
工作模式: 最大支持16工位并行测试；
PING-PONG模式测试；TWIN工作模式
➢ 系统组成
精品课件
系统组成和连接
68芯通讯电缆
62芯通讯电缆
STS 8200 测试机
PC Handler/ Prober
电缆
精品课件
测试盒
电缆
连接电缆
• 测试机到电脑
- 68芯通讯电缆
• 测试机到测试盒 - 外电缆（四线开尔文，带地线屏蔽）
4
DGS
DGS
DGS
DGS
AGND
V/I源四工位测试
精品课件
PING-PONG工作模式
STS8200支持PING-PONG（STATION A与STATION B）工作模式，实现方法如下： 1. 配置支持STATION A/B工作模式的STS8000软件。 2. 需配置2块CBIT128板，且拨码为00和01。 3. 配置STATION A/B的电缆和测试盒。即2套外电缆和2个测试盒。 4. 配置2块Handler接口卡
精品课件
TWIN_A STATION_A
TWIN工作模式
TWIN_A STATION_B
TWIN_A CAGE_A
TWIN_B CAGE_B
TWIN_B STATIO精N_品A 课件
TWIN_B STATION_B
TWIN硬件配置
STS8200支持TWIN工作模式，实现方式如下： 1. 配置2块带表贴电阻总线接口卡（IF8001）且拨码均为00和00，上下笼子
标准测试盒资源扩展
测试盒上有2个QVI插口，可以扩展成DVI400、OVI40，并且DVI400和OVI40的插 口可以相互替换，因此以下列出一个测试盒上两种资源的最大扩展可能： 1. 对于DVI400：1根电缆对应 4 块 DVI 400板 8 路资源，测试盒可以接4
根电缆（包括QVI扩展），共引入16块DVI400，32路DVI400资源。
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系统通讯
• 总线接口卡（IF8001）——标配 • Handler接口卡（Handler IFC）——标配 • Prober接口卡（GPIB卡）——选购
注： 1）上述3种卡安装在PC机的PCI插槽中。通常计算机中要安装2块卡：测
试机接口卡和Handler接口卡，如果测试机连接Prober需增加GPIB卡 2）目前Prober接口卡除了PCI接口外，还有USB接口类型
• 电脑到Handler
- 62芯TTL通讯电缆
注： 1）接插测试机通讯电缆，注意检查插座的针是否有弯曲变形，插
上后要拧紧固定螺钉 2）接插外电缆时要注意标识，不要插错电缆 3）68芯通讯电缆和CBIT128通讯电缆接头针脚较细，接插时需格外
注意 4）62芯TTL通讯电缆需根据Handler接口的PIN脚定义焊接完成
Site1
Site2
Site3
Site4
FORCE H SENSE H
FORCE H SENSE H
FORCE H SENSE H
FORCE H SENSE H
V/I
V/I
V/I
V/I
SOURCE RL1
IL1 SOURCE RL2
IL2 SOURCE RL3
IL3 SOURCE RL4
IL4
1
2
3
电缆，POW电缆和 CBIT电缆均从CBIT板引出。 6.QTMU_PLUS：采用高频电缆， 4路资源，8根电缆，对应TMU的0A/0B，1A/1B，
2A/2B，3A/3B的4组插口。 7.ACSM_PLUS：采用高频电缆，4路交流源（ACS）对应4根电缆，分别为ACS的0，
1，2，3共4路插座。4路差分交流表精（品A课CM件）对应8根电缆，分别为ACM的0-/0+， 1-/1+，2-/2+，3-/3+共8路插座。
AccoTest
New Valued Multi-site Analog/Mixed Signal Tester
STS 8200测试系统基础培训(1) ——系统概述Rev1.0
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主要内容
• 系统概述 • 单板介绍 • 软件基础操作 • 与Handler、Prober连接 • 系统自检和校准
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STS 8200 插件箱（前）
插件箱 13 个标准槽位 总线插座
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STS 8200 插件箱（后）
背板总线 通讯卡
模拟地 汇流条
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背板总线通讯卡
插件箱（上） 注：拨码为00，有表贴电阻
插件箱（下）
注：拨码是01，没有表贴电阻
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插件箱及电路板标识
原则上电路板按照插件箱上的标识放置
测试盒将各类资源整合 通过LOAD BOARD输出
2个QVI插口可以扩展为DVI400，OVI40 精品课件
测试盒资源
根据测试盒面板上的插口，以下列出STS8200测试盒标准资源配置： 1盒标准配置2根电缆，
共引入 16 路资源。 2.PVI10 电缆：1根电缆对应 2 块 PVI10 板 4 路资源，测试盒标准配置2根电缆， 共
• 每块卡最多可支持四工位测试 • 接口采用TTL电平通讯 • 对每一工位提供8个分BIN信号
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计算机
PC机用于运行STS 8200系统软件，并对整个系统运行进行 控制。PC机应不低于如下配置：
• 奔腾4 CPU • 256M以上内存 • 40G硬盘 • 1024 x 768 彩色显示器 • 2个以上PCI插槽（用于插入总线接口卡和
2. 对于OVI40：1根电缆引出 1 块 OVI40 板 8 路资源，测试盒可以 插6根电缆（包括2个DVI400和2个QVI扩展），共引入6块OVI40，48路 OVI40资源。（此时无DVI400可以分配）
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16工位并行测试
真正的多工位并行测试需要每个工位都有独立的DGS（Device Ground Sense）。STS8200的V/I源每个通道/组都有各自独立的DGS，因 此STS8200最多可以支持16工位并行测试。
各一块 2. 配置2套外电缆和2个测试盒。 3. 配置2套与电脑主机连接68芯的通信电缆 4. 配置2套与Handler连接62芯的通信电缆 5. 2套电脑主机
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