过程能力分析、过程能力指数计算
统计学基础知识

一、数据的特征值(一)数据的位置特征值_1)平均值 xx , x , x x 为:如果从总体中抽取一个样本,得到一批数据 . ,则样本的平均值123 xn_1nx x in i 1n-数据个数;xi-第 i 个数据数;∑-求和。
~2)中位数x,x , x 有时,为减少计算,将数据x . 按大小次序排列,用位居于正中的那个数或1 2 3 x n中间两个数的平均值(当数据为偶数时)表示数据的总体平均水平。
3)中值 M测定值中的最大值xmax 与最小值xmin 的平均值,用M 表示。
x max x minM24)众数在用频数分布表示测定值时,频数最多的值即为众数。
若测定值按区间做频数分布时,频数最多的区间代表值(一般取区间中值)也称众数。
(二)数据的离散特征值1)极差 R测定值中的最大值x max与最小值 x min之差称为极差。
通常R 用于个数n 小于 10 的情况下, n 大于 10 时,一般采用标准偏差s 表示。
2)偏差平方和 S _各测定值x i与平均值x之差称为偏差。
各测定值的偏差平方和称为偏差平方和,简称平方和,用 S 表示。
_ _ _S= ( x 1x ) 2 ( x 2x ) 2... ( x n x ) 2 n _=( x i x ) 2i 1无偏方差各个测定值的偏差平方和除以(n-1)后所得的值称为无偏方差(简称方差),用 s2表示:S 1 n _s 21 n ( x i x ) 2n 1 i 11标准偏差 s方差 s2的平方根为标准偏差(简称标准差),用 s 表示:S 1 n _s s 2( x i x ) 2n 1 n1 i 1(三)变异系数以上反映数据离散程度的特征值,只反映产品质量的绝对波动大小。
在工程实践中,测量较大的产品,绝对误差一般较大,反之亦然。
因此要考虑相对波动的大小,在统计技术上用变异系数 CV 来表达:C V s _ x上式中σ 和μ 为总体均值和总体标准差,当过程在受控状态下,且样本容差较大时,可用样本标准差s 和样本均值x 估计。
过程能力与过程能力指数

在生产中,要求操作者尽量按公差中心来加工使得 K趋于零。
例题2
某工序加工零件的尺寸要求为 Φ35±0.08mm,随机抽取100个子样测得
样本平均值 X 34.95mm ,标准偏
差 S 0.08mm ,求CPK。
过程能力指数的分级与评价
CP值的范围 CP≥1.67 1.67>CP≥1.33 1.33>CP≥1.0 1.0>CP≥0.67 CP<0.67
Ⅴ级
应停止加工,进行细致的工序分析,找出原因,采取措施, 改进工艺,提高工序能力指数。
进行全数检验,挑出不合格品。
过程能力指数与不合格品率的关系
例题3
当分布中心向上限TU偏移时
当分布中心向下限TL偏移时
Cp、K与p的关系曲线
过程实绩与过程实绩指数
(一)过程实绩(process performance) (二)过程实绩指数(process performance
质量可改进的范围,称为过程稳定系数:dσ = σL - σs
而差的相对值,称为过程相对稳定系数:drσ
=
σL -σs σL
利用过程相对稳定系数,可评估过程偏离稳态的稳定程
度。 过程相对稳定系数 dr 的范围
评价
说明
10%
接近稳定
20%
不太稳定
50%
不稳定
≥ 50%
很不稳定
练习1
某产品含有一种杂质,按技术规范的要求,最高不能 超过12.2毫克,抽样结果样本标准差是指σ为0.038, 均值 X =12.1 ,求工序能力指数。
过程与过程能力(Process Capability)
过程:一组将输入转化为输出的相互关联或 相互作用的活动。
(完整版)过程能力与过程能力指数分析

过程能力与过程能力指数过程能力过程能力以往也称为工序能力。
过程能力是指过程加工质量方面的能力,它是衡量过程加工内在一致性的,是稳态下的最小波动。
而生产能力则是指加工数量方面的能力,二者不可混淆。
过程能力决定于质量因素,而与公差无关。
当过程处于稳态时,产品的计量质量特性值有99.73%落在μ±3σ的范围内,其中μ为质量特性值的总体均值,σ为质量特性值的总体标准差,也即有99.73%的产品落在上述6σ范围内,这几乎包括了全部产品。
故通常用6倍标准差(6σ)表示过程能力,它的数值越小越好。
过程能力指数(一)双侧公差情况的过程能力指数对于双侧公差情况,过程能力指数C p的定义为:C p= T =TU-TL (公式1);6σ 6σ式中,T为技术公差的幅度,T U、T L分别为上、下公差限,σ为质量特性值分布的总体标准差。
当σ 未知时,可用σˆ1=R/d2或σˆ2=s/c4估计,其中R为样本极差,R为其平均值,s占为样本标准差,s为其平均值,d2、c4为修偏系数,可查国标《常规控制图》GB/T4091—2001表。
注意,估计必须在稳态下进行,这点在国标GB/T4091—2001《常规控制图》中有明确的规定并再三强调,不可忽视。
在过程能力指数计算公式中,T反映对产品的技术要求,而σ反映过程加工的一致性,所以在过程能力指数C p中将6σ与T比较,就反映了过程加工质量满足产品技术要求的程度。
根据T与6σ的相对大小可以得到过程能力指数C p。
如下图的三种典型情况。
C p值越大,表明加工质量越高,但这时对设备和操作人员的要求也高,加工成本也越大,所以对于C p值的选择应根据技术与经济的综合分析来决定。
当T=6σ,C p=1,从表面上看,似乎这是既满足技术要求又很经济的情况。
但由于过程总是波动的,分布中心一有偏移,不合格品率就要增加,因此,通常应取C p大于1。
各种分布情况下的C p值一般,对于过程能力指数制定了如下表所示的评价参考。
过程能力分析ca计算公式

过程能力分析(CA)计算公式1. 引言过程能力分析(Capability Analysis,CA)是指评估一个过程是否满足客户需求的能力,用于确定一个过程的稳定性和可靠性。
在过程能力分析中,计算公式是一种重要的工具,用于量化和评估过程的性能。
本文将介绍过程能力分析中常用的计算公式,并解释其应用。
2. 目标过程能力分析的目标是评估一个过程的稳定性和可靠性。
通过计算公式,我们可以获得一些关键的指标,如过程的中心位置、方向和分散程度。
这些指标可以帮助我们确定过程是否满足客户需求,并指导我们进行改进。
3. 过程能力指数(Cp,Cpk)过程能力指数是衡量过程是否满足规格要求的指标之一。
它可以衡量过程的分散程度与规格界限之间的差异。
过程能力指数有两个常用的计算公式:Cp和Cpk。
Cp的计算公式如下:Cp = (USL - LSL) / (6 * sigma)其中,USL表示规格上限,LSL表示规格下限,sigma表示样本标准差。
Cpk的计算公式如下:Cpk = min[(USL - Xbar) / (3 * sigma), (Xbar - LSL) / (3 * sigma)]其中,Xbar表示过程的平均值。
Cp和Cpk的取值范围是[0,1],越接近1表示过程的能力越好。
当Cp和Cpk大于1时,表示过程的分散程度小于规格界限,过程能力良好;当Cp和Cpk小于1时,表示过程的分散程度大于规格界限,过程能力不佳。
4. 过程偏倚指数(Cpm)过程偏倚指数是衡量过程中心位置的指标。
它可以衡量过程的中心位置相对于规格中心的偏离程度。
过程偏倚指数的计算公式如下:Cpm = (Xbar - T) / (3 * sigma)其中,T表示规格中心。
Cpm的取值范围是[-1,1],当Cpm为0时,表示过程的中心位置与规格中心重合;当Cpm为负数时,表示过程的中心位置偏离规格中心,可能存在偏倚问题;当Cpm为正数时,表示过程的中心位置超过规格中心,也可能存在偏倚问题。
CPK(过程能力分析方法)

过程能力分析过程能力也称工序能力,是指过程加工方面满足加工质量的能力,它是衡量过程加工内在一致性的,最稳态下的最小波动.当过程处于稳态时,产品的质量特性值有99。
73%散布在区间[μ-3σ,μ+3σ],(其中μ为产品特性值的总体均值,σ为产品特性值总体标准差)也即几乎全部产品特性值都落在6σ的范围内﹔因此,通常用6σ表示过程能力,它的值越小越好.为什么要进行过程能力分析进行过程能力分析,实质上就是通过系统地分析和研究来评定过程能力与指定需求的一致性。
之所以要进行过程能力分析,有两个主要原因。
首先,我们需要知道过程度量所能够提供的基线在数量上的受控性;其次,由于我们的度量计划还相当"不成熟”,因此需要对过程度量基线进行评估,来决定是否对其进行改动以反映过程能力的改进情况。
根据过程能力的数量指标,我们可以相应地放宽或缩小基线的控制条件。
工序过程能力分析工序过程能力指该工序过程在5M1E正常的状态下,能稳定地生产合格品的实际加工能力。
过程能力取决于机器设备、材料、工艺、工艺装备的精度、工人的工作质量以及其他技术条件。
过程能力指数用Cp 、Cpk表示。
非正态数据的过程能力分析方法当需要进行过程能力分析的计量数据呈非正态分布时,直接按普通的计数数据过程能力分析的方法处理会有很大的风险。
一般解决方案的原则有两大类:一类是设法将非正态数据转换成正态数据,然后就可按正态数据的计算方法进行分析;另一类是根据以非参数统计方法为基础,推导出一套新的计算方法进行分析.遵循这两大类原则,在实际工作中成熟的实现方法主要有三种,现在简要介绍每种方法的操作步骤。
非正态数据的过程能力分析方法1:Box-Cox变换法非正态数据的过程能力分析方法2:Johnson变换法非正态数据的过程能力分析方法3:非参数计算法当第一种、第二种方法无法适用,即均无法找到合适的转换方法时,还有第三种方法可供尝试,即以非参数方法为基数,不需对原始数据做任何转换,直接按以下数学公式就可进行过程能力指数CP和CPK的计算和分析。
过程能力及过程能力分析

• 1.过程能力•概念:过程能力(process capability)是指处于稳定状态下的过程满足质量要求的能力。
•概念理解:•(1)过程满足质量要求的能力主要表现在以下两方面:①质量是否稳定,②质量精度是否足够。
•(2)所谓处于稳定生产状态下的过程应具备以下几个方面的条件:•①原材料或上一过程半成品按照标准要求供应;•②本过程按作业标准实施,并应在影响过程质量各主要因素无异常的条件下进行;•③过程完成后,产品检测按标准要求进行。
◼影响过程能力的因素1.设备方面如设备精度的稳定性,性能的可靠性,定位装置和传动装置的准确性,设备的冷却润滑的保护情况,动力供应的稳定程度等。
2.工艺方面如工艺流程的安排,过程之间的衔接,工艺方法、工艺装备、工艺参数、测量方法的选择,过程加工的指导文件,工艺卡、操作规范、作业指导书、过程质量分析表等。
3.材料方面如材料的成份,物理性能,化学性能处理方法,配套元器件的质量等。
4.操作者方面如操作人员的技术水平、熟练程度、质量意识、责任心等。
5.环境方面如生产现场的温度、湿度、噪音干扰、振动、照明、室内净化、现场污染程度等。
•过程能力的量化:•在只有偶然因素影响的稳定状态下,质量数据近似地服从正态分布N(μ,σ2)。
由概率理论可知,当分布范围取为μ±3σ时,产品质量合格的概率可达99.73%,废品率仅为0.27%•因此可用过程质量特性值的波动范围来衡量过程能力,通常用标准偏差σ表示过程能力的大小。
而且以±3σ,即6σ为标准来衡量过程的能力具有足够的精确度和良好的经济性。
若记过程能力为B,则过程能力B=6σ。
6σ过程能力 B =6σ6σ数值越小,过程能力越强;6σ数值越大,过程能力越弱。
过程能力B=6σ。
由于P (x∈μ±3σ)=99.73%, 故6σ近似于过程质量特性值的全部波动范围。
•2.过程能力指数:•概念:过程能力指数表示过程能力对过程质量标准的满足程度。
过程能力分析

7
过程能力指数的计算
一 计量值 1 双侧规格界限 (1)无偏 (2)有偏 2 单侧规格界限
(1)仅给出规格上限TU(望小值) (2)仅给出规格上限TL(望大值)
二 记数值 1 记件值 2 记点值
8
1 计量值双侧规格界限
双侧规格界限是指既具有规格上限(TU)要求,又有规格下限(TL)要求的情况
(1)无偏——规格中心Tm与分布中心 x重合
过程能力指数:
P2
或:
C pk
(1 k)Cp
(1 k)
T 6S
C pk
T 6S
2eT T 6S
T 2e 6S
当k≥1,即e≥T/2时,
P1 TL Tm
μ TU e
x
规定Cpk=0 (图中,曲线2)
●不合格品率估计:
有偏时过程能力指数与不合格品率
① p 1[(TU x ) (TL x )]
完全不同的概念。过程能力强并不等于对规格要求的满足程度高,相
x 反,过程 能力弱并不等于对规格要求的满足程度低。当质量特性服从
正态分布,而且其分布中心 与规格中心Tm重合时,一定的过程能力
指数将与一定的不合格品率相对应。因此,工序能力指数越大,说明
过程能力的贮备越充足,质量保证能力越强,潜力越大,不合格品率 越低。但这并不意味着加工精度和技术水平越高。
2Φ(2.727) 20.003197 0.006394
10
计量值—双侧规格界限
(2)有偏——规格中心Tm与分布中心 x
不重合
●计算公式:
T f(x)
绝对偏移量 :e Tm x (图中曲线1)
e
过程能力与过程能力指数

其中,标准差的计算为:
中心无偏过程能力示意图 这是产品质量标准要求的公差双侧对称分布,其公 差中心M与过程质量特性分布中心μ相重合的情形。
3、有偏时计算公式
当过程平均不在规格限的中心,CP不能真实反映过程满足顾 客的要求,但能反映过程的潜在能力。因此,实际过程能力指数 有:
CPK也可以用以下公式计算:
2、公式: 以过程实际质量特征值分布的6倍标准差表示 B=6σ
二、过程能力定义的缘由
当过程处于稳态时,产品的计量特性值有99.73%落在 μ±3σ的范围内,其中μ为质量特性的总体平均值,σ为质量特性 的总体标准差,也即有的产品落在上述6σ范围内,这几乎包括了 全部产品。故通常用6倍标准差(6σ)表示过程能力,它的数值 越小越好。
五、CP CPK 与不合格率P的关系
六、过程能力等级评定
七、案例分析--尺寸理论设计短期能力
尺寸理论设计长期能力
尺寸理论设计长期能力
尺寸实际成型短期能力
尺寸实际成型长期能力
三、过程能力指数
1、定义:--它是评估过程加工质量满足设计要求(技术 标准)的程度。 它包括: A、CP(PP)----用来衡量制程精密程度,它是假设均值与 目标值重合为前提的,所以不能真实反映过程满足设计的要求。 但能反映过程的潜在能力。
B、CPK(PPK)----用来衡量制程的质量水平,它Байду номын сангаас虑了集 中程度和散布程度所以可以真实反映过程满足设计要求的程度。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
6.4.1 统计过程控制基本概念
Statistical Process Control (SPC ---统计过程控制)的概念是:应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和检查,保持过程处于可接受的和稳定的水平,以保证产品与服务满足要求的均匀性。
这里的统计技术涉及到数理统计内容,但所应用的主要工具是控制图。
SPC 可以判断过程的异常,及时告警。
但是不能告知此异常是什么因素引起的,发生于何处。
20世纪80年代起,我国的张公绪先生提出Statistical Process Diagnosis 理论(SPD---统计过程诊断)。
20世纪90年代起又发展为Statistical Process Adjustment (SPA---统计过程调整)。
三者循环关系如下: SPC---告诉过程是否有异常
SPD---告诉过程是否有异常,若异常,告知问题出在哪里
SPA---告诉过程是否有异常,若异常,告知问题出在哪里,如何进行调整
所以SPC 是质量改进循环的首要步骤,应该熟练掌握运用。
6.4.3 过程能力分析、过程能力指数计算
6.4.3.1过程能力分析
过程能力(process capability )指过程加工质量方面的能力,决定因素是人、机、料、法、测和环(即5M1E ),与公差无关。
分析过程能力只能在稳态的基础上,即统计控制状态。
过程能力决定于由偶因造成的总变差σ,当过程处于稳态时,产品的计量质量特性值有99.73%在μ±3σ范围内,即几乎全部产品的特性值包含在6σ范围之内。
故常用6倍标准差(6σ)表示过程能力,它的数值越小,表示过程能力越强。
6.4.3.2过程能力指数计算
(一) 当产品质量特性分布的均值μ与公差中心M 重合时
1、对于公差的上、下限都有要求时,
过程能力指数计算公式如下:
T 为公差, T U 为 公差上限,T L 为公差下限,
是质量特性总体标准差的估计值。
在上述过程能力指数中,T 反映对产品的技术要求(或客户对产品的要求),而σ反映本企业过程加工的质量。
比值C P 反映过程加工质量满足产品技术要求的程度。
根据T 与6σ的比值,可以得到下图所示三种典型的情况。
C P 值越大,表明加工质量越好,但对设备和人员的要求也越高,加工成本相应升高。
当C P =1,似乎既满足要求也节约成本,但由于过程的波动,分布中心一有偏移,不合格品率就要增加,因此,C P 应取>1。
一般情况下,当C P =1.33,T=8σ,整个分布基本上都在上下规范限度内,且留有变动空间。
故ISO8258:1991要求C P ≥1.33。
2、只对单侧公差限有规定时
只规定上限时,
σ
σσˆ666L U L U P T T T T T C −≈−===过程变异度规定的公差σˆσ
µ
3−=U PU T
C
只规定下限时,
(二) 当产品质量特性分布的均值μ与公差中心M 有偏离时
这种情况下,需要对无偏离C P 乘上一个修正系数(1-K )。
有偏离情况下的过程能力指数是:
过程能力指数与不合格品率的关系
考虑过程能力指数与不合格品率的关系时,直接查@正态分布表比较方便。
当公差中心M 与数据分布中心μ重合时,
当公差中心M 与数据分布中心μ有偏离时,
例:在无偏离情况下,求C P =0.7时的不合格品率P 。
解答:
C P =0.7, 3 C P =2.1 查“正态分布表”,得到
不合格品率为:
P=2-2 x 0.98214=0.03572
6.4.3.3 6σ控制方法
6σ控制方法,即过程能力指数达到2以上,不合格品率0.08197316, 几乎达到零缺陷。
执行6σ需要多方面的专业技能和知识,包括:SPC 、MSA 、DOE 、可靠度工程、FMEA 、TQM 、QFD 、田口方法、ISO9000、质量成本QCOST 、数理统计、顾客满意、同步工程、价值工程、绿色设计等等。
所用的工具可以是:
SPC 度量、分析、改进和监控过程的波动
DOE/田口方法 优化设计技术,通过DOE ,改进过程设计,使过程能力达到最优水平
FMEA 风险分析技术,辅助确定改进项目,制定改进目标
QFD 顾客需求分析技术,辅助将顾客需求正确地转换为内部工作要求
防错 从根本上防止错误发生的方法
σµ3L PL T C −=σ
ε62)1(−=−=T C K C P PK []
)3(22P C P φ−=σσσˆ666L
U L U P T T T T T C −≈−===过程变异度规定的公差()[]()[]{}
K C K C P P P −++−=13132φφ[]
)3(22P C P φ−=[]98214
.0)1.2(=φ。