匈牙利MicRed公司T3ster, TeraLED热阻测试系统

匈牙利MicRed公司T3ster, TeraLED热阻测试系统
匈牙利MicRed公司T3ster, TeraLED热阻测试系统

匈牙利MicRed公司T3ster, TeraLED热阻测试系统

通过国家计量认证;已为深圳中电淼浩、明达光电、福州鸿博等相关单位做了

多批测试。

T3Ster 是MicReD研发制造的先进的热测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster运用先进的JEDEC静态试验方法(JESD51-1),通过改变电子器件的的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,T3Ster 测试出芯片的瞬态温度响应曲线,仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性。

T3ster的基本配置包括测试主机(包括数控单元、功率驱动单元和1-8个测试通道)以及安装于Windows平台的测量控制和结果分析软件。仪器配备有不同的接口(USB或LPT接口)联接到个人电脑上。除此之外,客户还可以选配各种不同的附件以加强其功能。

T3ster适用于测试不同的电子设备,如:

.分离或集成的双极型晶体管、MOS晶体管、常见的三极管、LED封装和半导体闸流管等;

.任何复杂的IC器件(利用其内置的基板二极管);

.具有单独加热器和温度传感器的热测试芯片。

MicRed T3ster+TERALED系统参数:

.符合JEDEC标准。

.多通道测量。

.温度控制装置(15 ℃--100℃)

.可进行K系数的校正,温度控制精度为0.01oC。

.可测量加热和冷却曲线。

.可测稳态热阻。

.可同时测量不同温度下的光(光强、光通量、色)、热参数。

.可测量出扣出光功率后器件的实际热耗PH。

广东工业大学《测试技术与信号分析》测试实验报告

测试技术与信号处理实验报告 机械转子底座的振动测量和分析 一、实验目的 1.掌握磁电式速度传感器的工作原理、特点和应用。

2.掌握振动的测量和数据分析。 二、实验内容和要求 先利用光电式转速传感器测量出电机的转速;然后利用磁电式速度传感器测量机械转子底座在该电机转速下的振动速度;对测量出的振动速度信号进行频谱分析;找出振动信号的主频与电机转速之间的关系。 三、实验步骤 1.启动实验程序“机械转子系统的振动测量.exe”; 输入个人信息,也可以启动之后通过单击“修改”按钮修改个人信息。 2.单击“采样设置”按钮,输入采集卡连接磁电速度传感器的采样通道号,批量采样频率(建议设为10KHz)、批量采样点数(建议设为10000)。 3.打开转子电机的电源,单击“单点采样”。 4.旋转调节旋钮改变转子的转速,观察图形区显示的磁电速度传感器采集到的转子底座振动信号;如果振动信号比较小,可适当提高转子的转速。 5.转子转速的测量: (1) 单击“采样设置”按钮,输入采集卡连接光电转速传感器的 采样通道号、批量采样频率(建议值为10KHz)、批量采样点 数(建议值为10000)。 (2) 单击“批量采样”按钮,开始采样;采样完成之后,采集到 的波形信号会显示在图形窗口,系统会自动计算出转子的速度

并显示出来。记录下此时的转子的转速(单位:r/s)。 (3) 再重复步骤(2)测量2次。以三次测量的平均值作为此时转子 的转速。 转速的测量结果 单点采样采集通道6,测量3组数据 6.振动信号的测量和频谱分析: (1) 单击“采样设置”按钮,输入采集卡连接磁电速度传感器的 采样通道号、批量采样频率(建议设为10KHz)、批量采样点 数(建议设为10000)。 (2) 单击“批量采样”按钮,开始采样;采样完成之后,采集到 的波形信号会显示在图形窗口。如果信号不正常,重复点击“批 量采样”按钮 (3) 单击“保存”按钮,将采集到的磁电传感器的信号数据保存 为文本文件。文件必须保存到“C:\ExperiData\”目录下。可单 击“保存设置”更改文件名。 (4) 打开刚保存的文本文件,文件前面几行保存了个人信息、采 样频率、采样通道、保存的数据个数等信息。文件中共有四列 数据,第一列为数据的序号,第二列为磁电传感器检测到的数 据。

热阻测试仪说明书

热阻测试仪使用说明

测试概述: 1.可测试各类型散热器,散热模组测试热阻及温度监控. 2.电脑软件自动监控,自动计算温度及热阻,并自动绘制温度及热阻曲线。 3.使用简单,适用范围广。 4.测试精度:优于3% 5.实验方式:a、试样不同压力下热阻测试。b、材料导热系数测试。c、接触热阻测试。 6.计算机全自动测试,并可实现数据打印输出 使用手册(1本) 三.保修: 本产品自售出之日起6个月内,用户在遵守各项使用要求的情况下,产品质量出现问题,我方可免费维修。因违反操作规定和要求而造成损坏的,需缴纳器件费和维修费及相应的运输费用,如果模拟测试平台有明显的烧毁、烧糊情况原则上不予维修。如果本设备测试有问题,可以免费维修。验收标准,方法及提出异议期限:需方收到货后当场确认! 四.基本原理 热阻的计算公式:R=T1-T2/W T1=CPU表面温度 T2=环境温度 W=CPU最大运行功率 通过电源提供模拟电脑CPU热阻测试治具与真实电脑CPU运行最大功率时所需的相同功率,使电脑CPU热阻测试治具发热与真实电脑CPU基本相同。通过双通道温度测试仪测试出CPU表面温度和风扇进风口温度。然后通过电脑时时监控温度

变化和计算热阻绘制热阻曲线。 五.操作步骤 1.打开透明机箱盖 2.涂导热膏 3.將散热器固定于模拟测试平台上 4.连接风扇连接线,打开风扇电源开关

5.连接模拟测试平台连接线到电源 6.盖上透明机箱盖 7.将温度线联接到已联接到电脑的温度测试仪。打开电脑及测试软件! 8.开启模拟CPU电源开关(请一定确认COOLER已安装好) 7.调整正确的电流和电压数,在电脑上可时时监控温度CPU温度. 8.测试10~15分钟后,保存测试数据,关闭模拟CPU电源开关,非常重要!! 9.关闭温度测试表打开透明机箱盖待模拟制具稍冷却后关闭风扇电源拔取风扇 连接线取下COOLER清洁治具上及COOLER的导热膏盖上透明机箱盖。 10.通过电脑测试自动算出温度曲线,热阻曲线。

指派问题的匈牙利解法

指派问题的匈牙利解法 1、 把各行元素分别减去本行元素的最小值;然后在此基础上再把每列元素减去本列中的最小值。 ???????? ??????????? ? ?0 4 3 2 04 0 5 0 01 2 3 2 03 7 7 1 08 11 0 3 06 10 12 9 610 6 14 7 67 8 12 9 610 14 17 9 712 15 7 8 4 此时每行及每列中肯定都有0元素了。 2、 确定独立零元素,并作标记。 (1)、首先逐行判断是否有含有独立0元素的行,如果有,则按行继续处理;如没有,则要逐列判断是否有含有独立0元素的列,若有,则按列继续处理。若既没有含有独立0元素的行,也没有含有独立0元素的列,则仍然按行继续处理。 (2)在按行处理时,若某行有独立0元素,把该0元素标记为a ,把该0所在的列中的其余0元素标记为b ;否则,暂时越过本行,处理后面的行。把所有含有独立0元素的行处理完毕后,再回来处理含有2个以及2个以上的0元素的行:任选一个0做a 标记,再把该0所在行中的其余0元素及所在列中的其余0元素都标记为b 。

(3)在按列处理时,若某列有独立0元素,把该0元素标记为a ,把该0所在的行中的其余0元素标记为b ;否则,暂时越过本列,处理后面的列。把所有含有独立0元素的列处理完毕后,再回来处理含有2个以及2个以上的0元素的列:任选一个0做a 标记,再把该0所在列中的其余0元素及所在行中的其余0元素都标记为b 。 (4)、重复上述过程,即得到独立零元素(标记a 的“0”) ???????? ??a b b a b b a 0 4 3 2 04 0 5 0 01 2 3 2 03 7 7 1 08 11 0 3 0a b 3、 若独立零元素等于矩阵阶数,则已经得到最优解,若小于矩阵阶数,则继续以下步骤: (1)、对没有标记a 的行作标记c (2)、在已作标记c 的行中,对标记b 所在列作标记c (3)、在已作标记c 的列中,对标记a 所在的行作标记c (4)、对没有标记c 的行划线,对有标记c 的列划线 ??????? ? ??04320405001232037710 811030 / / / / / \/ \/

物性分析仪及TPA在果蔬质构测试中的应用综述

物性分析仪及TPA在果蔬质构测试中的应用综述 刘亚平李红波 摘要:质地特性是果蔬极其重要的品质因素,物性分析仪所反映的主要是与力学特性有关的果蔬质地特性,其结果具有较高的灵敏性与客观性,目前已经开始运用于果蔬及其加工制品的物性研究及监测。简述了物性分析仪的原理及质地多面分析法(TPA)测试模式概况,就其在果蔬质构检测中的应用现状、注意事项进行了综述,并展望了其今后的发展方向。 关键词:物性分析仪;果蔬;TPA 新鲜果蔬是人们日常所必须维生素、矿物质和膳食纤维的重要来源,是促进食欲、具有独特的色、香、味、形的保健食品。果蔬组织柔嫩,含水量高,易腐烂变质,不耐贮藏,采后极易失鲜,从而导致品质降低,甚至失去营养价值和商品价值,但通过贮藏保鲜及加工手段就能消除季节性和区域性差别,满足各地消费者对果蔬的消费要求,加强果蔬贮藏 期间的质地特性监测非常重要。 质地在食品物性学中被广泛用来表示食品的组织状态、口感及美味感觉等。评价果实质地特性的参数包括果实的弹性、坚实度、粘性、汁液丰富度等。目前质地测试有两种方法,分别为仪器分析法和感官评定法。大部分情况下两者具有很好的相关性。与感官评定法相比,仪器分析法更容易操作,且重复性好,花费时间更少,也更加方便。目前质构测定在果蔬中的应用处于起步阶段,本文就物性分析仪及TPA 在果蔬质构检测中的应用现状、注意事项及今后发展方向进行了综述。 l 物性分析仪 物性分析仪通过特定的检测方法测定实验对象的质地结构,详细客观的得出相应的参数数据,这些质构指标在一定程度上反映了果实的质地特性和组织结构变化,也间接反映了果蔬保鲜效果,而且此方法迅速准确,特别适用于不易贮藏的果蔬产品和高附加值产品的检测。1.1 物性分析仪简介 物性分析仪(Texture Analyzer),也称物性测试仪或质构仪,它能够根据样品的物性特点做出数据化的准确表述,是精确的感官量化测量仪器。美、英及台湾等国家和地区应用较早,近些年在我国大陆地区才逐渐被推广和被各厂家接纳。现在已经开发出专门用于食品类质构分析的物性分析仪,前期物性仪主要应用于面制品领域,利用不同探头设计的几种程序涵盖了面包、馒头、饺子、面条、蛋糕、饼干等多种面食领域。物性分析仪在国内外被很多研究机构作为重要研究仪器和研究手段,是业内公认的物性(质构)标准检测仪器,尤其近年来随着食品加工行业的不断发展,物性分析仪越来越受到研究人员的青睐。物性分析仪主要包括主机、专用软件、备用探头以及附件。其基本结构一般是由一个能对样品产生变形作用的机械装置,一个用于盛装样品的容器和一个对力、时间和变形率进行记录的记录系统组成。主机与微机相连,主机上的机械臂可以随着凹槽上下移动,探头与机械臂远端相接,与探头相对应的是主机的底座,探头和底座有十几种不同的形状和大小,分别适用于各种标本。仪器主要围绕着距离、时间和作用力对试验对象的物性和质构进行测定,并通过对它们相互关系的处理、研究,获得对象的物性测试结果。也就是说,物性分析仪所反映的主要是与力学特性有关的食品质地特性。测试前,首先按试验对象的测试要求,选用合适探头,并根据待测物的形状大小,调整横梁与操作台的间距,然后选择电极转速及操作台的运动方向,当操作台及待测物运动以后,启动计算机程序进行数据采集,并进行数据处理分析和处理。 目前常见的食品物性分析仪有由英国Stable Micro System(SMS)公司设计生产的TA—XT 食品物性测试仪;美国Food Technology Corporation(FTC)公司设计的TMZ型、TMDX 型等系列食品物性分析系统;瑞典泰沃公司设计生产的TXT型质构仪;美国Brookfield公司生产

(精品)热阻及热导率的测量方法

热阻及热导率测试方法 范围 本方法规定了导热材料热阻和热导率的测试方法。本方法适用于金属基覆铜板热 阻和导热绝缘材料热阻和热导率的测试。 术语和符号 术语 热触热阻 contact resistance 是测试中冷热两平面与试样表面相接触的界面产生热流量所需的温差。接触热阻 的符号为R I 面积热流量areic heat flow rate 指热流量除以面积。 符号 下列符号适用于本方法。 λ:热导率,W/(m﹒K); A:试样的面积,m 2 ; H:试样的厚度,m; Q:热流量,W 或者 J/s; q:单位面积热流量,W/ m 2 ; R:热阻,(K﹒m 2 )/W。 原理 本方法是基于测试两平行等温界面中间厚度均匀试样的理想热传导。 试样两接触界面间的温 度差施加不同温度,使得试样上下两面形成温度梯度,促使热流量全部垂直穿过试样测试表 面而没有侧面的热扩散。 使用两个标准测量块时本方法所需的测试: T1=高温测量块的高温,K; T2=高温测量块的低温,K; T3=低温测量块的高温,K; T4=低温测量块的低温,K; A=测试试样的面积,m 2 ; H=试样的厚度,m。 基于理想测试模型需计算以下参数: T H:高温等温面的温度,K; T C:低温等温面的温度,K; Q:两个等温面间的热流量 热阻:两等温界面间的温差除以通过它们的热流量,单位为(K﹒m 2 )/W; 热导率:从试样热阻与厚度的关系图中计算得到,单位为W/(m.K)。

接触热阻存在于试样表面与测试面之间。 接触热阻随着试样表面特性和测试表面施加给试样 的压力的不同而显著变化。因此,对于固体材料在测量时需保持一定的压力,并宜对压力进 行测量和记录。热阻的计算包含了试样的热阻和接触热阻两部分。 试样的热导率可以通过扣除接触热阻精确计算得到。 即测试不同厚度试样的热阻,用热阻相 对于厚度作图,所得直线段斜率的倒数为该试样的热导率,在厚度为零的截取值为两个接触 界面的接触热阻。如果接触热阻相对于试样的热阻非常小时(通常小于1%),试样的热导率 可以通过试样的热阻和厚度计算得出。 通过采用导热油脂或者导热膏涂抹在坚硬的测试材料表面来减小接触热阻。 仪器 符合本测试方法的一般特点要求的仪器见图A.1和图A.2。 该套仪器增加测厚度及压力监测等 功能,加强了测试条件的要求来满足测试精度需要。 仪器测试表面粗糙度不大于0.5μm;测试表面平行度不大于5μm。 精度为1μm归零厚度测试仪(测微计、LVDT、激光探测器等)。 压力监测系统。 图A.1 使用卡路里测量块测试架 图A.2 加热器保护的测量架 热源可采用电加热器或是温控流体循环器。主热源部分必需采用有保护罩进行保护, 保护罩 与热源绝缘,与加热器保持±0.2K的温差。避免热流量通过试样时产生热量损失。无论使用 哪一种热源,通过试样的热流量可以用测量块测得。 热流量测量块由测量的温度范围内已知其热导率的高热导率材料组成。为准确测量热流量, 必须考虑热传导的温度灵敏度。推荐测量块材料的热导率大于50 W/(m.K)。 通过推算测量块温度与测试表面的线性关系(Fourier传热方程),确定测量块的热端和冷端 的表面温度。 冷却单元通常是用温度可控的循环流体冷却的金属块,其温度稳定度为±0.2 K。 试样的接触压力通过测试夹具垂直施加在试样的表面上,并保持表面的平行性和对位。

《测试信号分析与处理》实验报告

测控1005班齐伟0121004931725 (18号)实验一差分方程、卷积、z变换 一、实验目的 通过该实验熟悉 matlab软件的基本操作指令,掌握matlab软件的使用方法,掌握数字信号处理中的基本原理、方法以及matlab函数的调用。 二、实验设备 1、微型计算机1台; 2、matlab软件1套 三、实验原理 Matlab 软件是由mathworks公司于1984年推出的一套科学计算软件,分为总包和若干个工具箱,其中包含用于信号分析与处理的sptool工具箱和用于滤波器设计的fdatool工具箱。它具有强大的矩阵计算和数据可视化能力,是广泛应用于信号分析与处理中的功能强大且使用简单方便的成熟软件。Matlab软件中已有大量的关于数字信号处理的运算函数可供调用,本实验主要是针对数字信号处理中的差分方程、卷积、z变换等基本运算的matlab函数的熟悉和应用。 差分方程(difference equation)可用来描述线性时不变、因果数字滤波器。用x表示滤波器的输入,用y表示滤波器的输出。 a0y[n]+a1y[n-1]+…+a N y[n-N]=b0x[n]+b1x[n-1]+…+b M x[n-M] (1) ak,bk 为权系数,称为滤波器系数。 N为所需过去输出的个数,M 为所需输入的个数卷积是滤波器另一种实现方法。 y[n]= ∑x[k] h[n-k] = x[n]*h[n] (2) 等式定义了数字卷积,*是卷积运算符。输出y[n] 取决于输入x[n] 和系统的脉冲响应h[n]。 传输函数H(z)是滤波器的第三种实现方法。 H(z)=输出/输入= Y(z)/X(z) (3)即分别对滤波器的输入和输出信号求z变换,二者的比值就是数字滤波器的传输函数。 序列x[n]的z变换定义为 X (z)=∑x[n]z-n (4) 把序列x[n] 的z 变换记为Z{x[n]} = X(z)。

瞬态法热物性测试仪

SHT-20 热物性瞬态自动测试仪简介及使用说明

0概述 众所周知,固体材料的热导率、热扩散系数、比热等热物理性质,随着材料,材料的结构、密度、多孔性、导电性、含湿率和温度的不同而变化。有些材料还与方向有关。对应于不同的材料和不同的试验条件,测量值会有很大的差异。测量材料的热物理性质,在科学研究和工程应用上,具有至关重要的意义;热物性测量与力学测量、电学测量、光学测量等一样,是物性研究和应用的基本测量技术之一。 材料热物理性质可以用稳态法或瞬态法进行测量。目前,国内、外主要使用稳态法测量材料的热导率。本仪器采用瞬态法测量材料的热扩散系数、热导率和定压比热等热物理性质。所谓瞬态测量,是指在加热升温,或停止加热后的降温过程中,实现对材料热物理性质的测量。瞬态测量不要求恒温环境,测量系统也无需达到或保持热平衡状态。 SHT-20材料热物性瞬态自动测量仪,是一种新型的材料热物性测量仪器,也是替代稳态法测量仪器的升级换代产品。 本仪器用平面热源加热,在室温附近,可以分别用脉冲法或恒流法等两种不同的测量方法,测量材料的热扩散系数、热导率和定压比热。 本仪器可广泛用于冶炼、能源、环保、建筑、热力工程和新材料研制等行业,作为科学研究,物性检测、生产过程控制与产品质量检验等领域;也可以用于理工科学生的物理实验、建筑物理实验,材料物理实验中,作为热物性测量的主导仪器。 该仪器将A/D 转换技术、数值计算技术、计算机应用技术和瞬态测量技术等多种高新技术,运用于材料的热物性测量中,实现了热物性测量的自动化。仪器的结构合理,运行稳定,质量可靠,准确度高,运行成本不到稳态测量的十分之一,测量时间不超过300秒。 一仪器规格及主要技术指标 1.1规格、参数 试件尺寸:主试件: mm xmm mm mm mm xmm 202;200200≤≤××辅试件1:xmm D 3≥辅试件2:xmm d 2≥平面热源:有效发热面积mm mm 200200×1.2直流稳流电源 输入:电功率:100W 交流:220V 频率:50Hz 输出:直流电流在0.01-1.000A 之间精密可调。在热测量过程中,电流波动幅度: A I 001.0≤?1.3运行环境 温度:室温湿度:<85% 1.4主要技术指标 温度范围:室温—100℃ 热导率测量范围:0.03—1000[W/(mK)]热扩散系数测量范围:0.01—1000[mm 2/s]热导率不确定度:≤±1%

电压法LED结温及热阻测试原理分析

电压法LED结温及热阻测试原理分析 发布日期:2010-08-01 来源: 关键字: 近年来,由于功率型LED 光效提高和价格下降使LED 应用于照明领域数量迅猛增长,从各种景观照明、户外照明到普通家庭照明,应用日益广泛。LED 应用于照明除了节能外,长寿命也是其十分重要的优势。目前由于LED 热性能原因,LED 及其灯具不能达到理想的使用寿命;LED 在工作状态时的结温直接关系到其寿命和光效;热阻则直接影响LED 在同等使用条件下 LED 的结温;LED 灯具的导热系统设计是否合理也直接影响灯具的寿命。因此功率型 LED 及其灯具的热性能测试 ,对于 LED 的生产和应用研发都有十分直接的意义。以下将简述LED 及其灯具的主要热性能指标,电压温度系数K、结温和热阻的测试原理、测试设备、测试内容和测试方法,以供LED 研发、生产和应用企业参考。 一、电压法测量 LED 结温的原理 LED 热性能的测试首先要测试 LED 的结温,即工作状态下 LED 的芯片的温度。关于LED 芯片温度的测试,理论上有多种方法,如红外光谱法、波长分析法和电压法等等。目前实际使用的是电压法。1995 年 12 月电子工业联合会/电子工程设计发展联合会议发布的> 标准对于电压法测量半导体结温的原理、方法和要求等都作了详细规范。 电压法测量LED 结温的主要思想是:特定电流下 LED 的正向压降 Vf 与 LED 芯片的温度成线性关系,所以只要测试到两个以上温度点的Vf 值,就可以确定该 LED 电压与温度的关系斜率,即电压温度系数 K 值,单位是 mV/°C 。K 值可由公式K=ㄓVf/ㄓTj 求得。K 值有了,就可以通过测量实时的 Vf 值,计算出芯片的温度(结温)Tj 。为了减小电压测量带来的误差,> 标准规定测量系数 K 时,两个温度点温差应该大于等于50 度。对于用电压法测量结温的仪器有几个基本的要求:A、电压法测量结温的基础是特定的测试电流下的 Vf 测量,而 LED 芯片由于温度变化带来的电压变化是毫伏级的,所以要求测试仪器对电压测量的稳定度必须足够高,连续测量的波动幅度应小于 1mV 。 B、这个测试电流必须足够小,以免在测试过程中引起芯片温度变化;但是太小时会引起电压测量不稳定,有些LED 存在匝流体效应会影响 Vf 测试的稳定性,所以要求测试电流不小于 IV 曲线的拐点位置的电流值。

运筹学指派问题的匈牙利法实验报告

运筹学 课 程 设 计 报 告 专业: 班级: 学号: : 2012年6月20日

目录 一、题目。 二、算法思想。 三、算法步骤。 四、算法源程序。 五、算例和结果。 六、结论与总结。

一、题目:匈牙利法求解指派问题。 二、算法思想。 匈牙利解法的指派问题最优解的以下性质: 设指派问题的系数矩阵为C=()c ij n n?,若将C的一行(或列)各元素分别减去一个常数k(如该行或列的最小元素),则得到一个新的矩阵C’=()'c ij n n?。那么,以C’位系数矩阵的指派问题和以C位系数矩阵的原指派问题有相同最优解。 由于系数矩阵的这种变化不影响约束方程组,只是使目标函数值减少了常 数k,所以,最优解并不改变。必须指出,虽然不比要求指派问题系数矩阵中无 负元素,但在匈牙利法求解指派问题时,为了从以变换后的系数矩阵中判别能否 得到最优指派方案,要求此时的系数矩阵中无负元素。因为只有这样,才能从总 费用为零这一特征判定此时的指派方案为最优指派方案。 三、算法步骤。 (1)变换系数矩阵,使各行和各列皆出现零元素。 各行及各列分别减去本行及本列最小元素,这样可保证每行及每列中都有 零元素,同时,也避免了出现负元素。 (2)做能覆盖所有零元素的最少数目的直线集合。

因此,若直线数等于n,则以可得出最优解。否则,转第(3)步。 对于系数矩阵非负的指派问题来说,总费用为零的指派方案一定是最优指派方案。在第(1)步的基础上,若能找到n个不同行、不同列的零元素,则对应的指派方案总费用为零,从而是最优的。当同一行(或列)上有几个零元素时,如选择其一,则其与的零元素就不能再被选择,从而成为多余的。因此,重要的是零元素能恰当地分布在不同行和不同列上,而并在与它们的多少。但第(1)步并不能保证这一要求。若覆盖所有零元素的最少数目的直线集合中的直线数目是n,则表明能做到这一点。 此时,可以从零元素的最少的行或列开始圈“0”,每圈一个“0”,同时把位于同行合同列的其他零元素划去(标记为),如此逐步进行,最终可得n个位于不同行、不同列的零元素,他们就对应了最优解;若覆盖所有零元素的最少数目的直线集合中的元素个数少于n,则表明无法实现这一点。需要对零元素的分布做适当调整,这就是第(3)步。 (3)变换系数矩阵,是未被直线覆盖的元素中出现零元素。回到第(2)步。 在未被直线覆盖的元素中总有一个最小元素。对未被直线覆盖的元素所在的行(或列)中各元素都减去这一最小元素,这样,在未被直线覆盖的元素中势必会出现零元素,但同时却又是以被直线覆盖的元素中出现负元素。为了消除负元素,只要对它们所在的列(或行)中个元素都加上这一最小元素(可以看作减去这一最小元素的相反数)即可。 四、算法源程序。

信号检测实验报告

Harbin Institute of Technology 匹配滤波器实验报告 课程名称:信号检测理论 院系:电子与信息工程学院 姓名:高亚豪 学号:14SD05003 授课教师:郑薇 哈尔滨工业大学

1. 实验目的 通过Matlab 编程实现对白噪声条件下的匹配滤波器的仿真,从而加深对匹配滤波器及其实现过程的理解。通过观察输入输出信号波形及频谱图,对匹配处理有一个更加直观的理解,同时验证匹配滤波器具有时间上的适应性。 2. 实验原理 对于一个观测信号()r t ,已知它或是干扰与噪声之和,或是单纯的干扰, 即 0()()()()a u t n t r t n t +?=?? 这里()r t ,()u t ,()n t 都是复包络,其中0a 是信号的复幅度,()u t 是确知的归一化信号的复包络,它们满足如下条件。 2|()|d 1u t t +∞ -∞=? 201||2 a E = 其中E 为信号的能量。()n t 是干扰的均值为0,方差为0N 的白噪声干扰。 使该信号通过一个线性滤波系统,有效地滤除干扰,使输出信号的信噪比在某一时刻0t 达到最大,以便判断信号的有无。该线性系统即为匹配滤波器。 以()h t 代表系统的脉冲响应,则在信号存在的条件下,滤波器的输出为 0000()()()d ()()d ()()d y t r t h a u t h n t h τττττττττ+∞+∞+∞ =-=-+-???

右边的第一项和第二项分别为滤波器输出的信号成分和噪声成分,即 00()()()d x t a u t h τττ+∞ =-? 0 ()()()d t n t h ?τττ+∞ =-? 则输出噪声成分的平均功率(统计平均)为 2 20E[|()|]=E[|()()d |]t n t h ?τττ+∞ -? **00*000200 =E[()(')]()(')d d '=2()(')(')d d ' 2|()|d n t n t h h N h h N h ττττττδττττττττ+∞+∞+∞+∞+∞ ---=?? ?? ? 而信号成分在0t 时刻的峰值功率为 22 20000|()||||()()d |x t a u t h τττ+∞ =-? 输出信号在0t 时刻的总功率为 22000E[|()|]E[|()()|]y t x t t ?=+ 22**0000002200E[|()||()|()()()()] |()|E[|()|] x t t x t t t x t x t t ????=+++=+ 上式中输出噪声成分的期望值为0,即0E[()]0t ?=,因此输出信号的功率 成分中只包含信号功率和噪声功率。 则该滤波器的输出信噪比为 222000022000|||()()d ||()|E[|()|]2|()|d a u t h x t t N h τττρ?ττ+∞ +∞-==?? 根据Schwartz 不等式有

物理性能测试仪器-中华人民共和国科学技术部

物理性能测试仪器 原值50万以上的对外提供共享服务的大型科学仪器设备总量为20333台(套),其中物理性能测试仪器的数量为1875台(套),占总量的9.2%。物理性能测试仪器中,力学性能测试仪器1002台(套),其他227台(套),光电测量仪器215台(套),颗粒度测量仪器178台(套),声学振动仪器175台(套),大地测量仪器46台(套),探伤仪器32台(套)。

1 脉冲激光溅射沉积系统PLD-450 JGF600 中国上海大学上海 2 激光再生放大器PRO-FIKXP 美国上海大学上海 3 荧光光谱仪FLSP920 英国上海大学上海 4 动态力学分析仪Q800 DMA 美国上海大学上海 5 物理特性测量系统 PPMS-9T 美国上海大学上海 6 水分吸附仪IGAsorp 英国上海大学上海 7 声源定位分析系统GFAI Star48 德国上海市环境科学研究院上海 8 电子万能测试机5569 美国上海市伤骨科研究所上海 9 比表面积和孔隙度分析仪ASAP2020-M 美国上海市检测中心上海 10 光散射法颗粒计数器CLS-1000 美国上海市检测中心上海 11 光测量系统8164B 德国上海市检测中心上海 12 光功率计校准装置IQ-12000 加拿大上海市检测中心上海 13 耐光及耐气候色牢度试验机Ci3000+ 美国上海市服装研究所上海 14 日晒色牢度试验机Ci4000 美国上海市服装研究所上海 15 脉冲试验台BI 1002 ARF 意大利上海市塑料研究所上海 16 拉力试验机Z010 德国上海市塑料研究所上海 17 臭氧老化试验机Argentox Ozone 500 德国上海橡胶制品研究所上海 18 激光粒度分析仪Mastersizer 2000 英国上海市涂料研究所上海 19 万能材料实验机LR-50 英国上海市合成树脂研究所上海 20 拉力机AG-50kNE 日本上海市合成树脂研究所上海 21 万能材料试验机SHT5106 中国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 22 电液伺服疲劳试验机及电子引伸计810 Material test system 美国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 23 试验机配套高温炉及引伸仪ZWICK 德国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 24 便携式超声波相控阵检测仪Olympus OmniScan MX 美国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 25 万能试验机300t SHT4306-W 中国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 26 微机电子万能试验机CMT4204,CMT5305 中国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 27 万能材料试验机附试验机配套高温炉及引伸仪BXC-FR250 德国上海市机械制造工艺研究所有限公司上海 28 轴承压摆疲劳试验台PLS-700 中国上海市轴承技术研究所上海 29 关节轴承磨损试验机PLS-100 中国上海市轴承技术研究所上海 30 关节轴承磨损试验机PLS-300 中国上海市轴承技术研究所上海 31 轴承高速摆动试验台NSDZ-50 中国上海市轴承技术研究所上海 32 液压万能专用试验机ZGPJ19200 中国上海市轴承技术研究所上海 33 巴克豪森应力测试仪Bearing Sca 芬兰上海市轴承技术研究所上海 34 轴承高速摆动试验台NSDZ-20 中国上海市轴承技术研究所上海 35 部件温度冲击设备TC405-Ⅱ中国上海半导体照明工程技术研究中心上海 36 高低温交变湿热箱HUT410P 中国上海半导体照明工程技术研究中心上海 37 快速温度变化试验箱TU403-10 中国上海半导体照明工程技术研究中心上海 38 熔融玻璃旋转粘度计RSV-1600 中国中国建材国际工程集团有限公司上海 39 光谱椭偏仪SenPro 德国中国建材国际工程集团有限公司上海

(完整word版)分立器件热阻测试方法

分立器件热阻测试方法 一、瞬态热阻 瞬态热阻是指器件在脉冲工作状态下的热阻。脉冲作用下的瞬态热阻定义为最大结温升与耗散功率脉冲幅值之比。对功率晶体管通常以壳温作为温度参考点,其表达式为: θjC = ΔTj / PH = ( Tj - TC) / PH (1) 其中Tj为芯片结温;TC为壳温; PH 为施加的脉冲功率。瞬态热阻测量归结为对脉冲功耗PH、壳温TC及结温Tj的测量。显然,双极晶体管的结温Tj无法进行直接测量。为此,电学法利用发射结的正向压降VBE 与结温Tj 在相当宽的范围内(0~200 ℃)呈线性关系,通过对VBE 的测量间接地测量结温Tj。关系式为: ΔVBE (Tj) = M×ΔTj =VBE (Ta)-VBE(Tj) (2) 式中 M 为温敏系数,是与温度T 基本无关的负常数;VBE ( Ta ),VBE (Tj) 分别为加脉冲功率前、后的温敏参数值。由(1) 和(2) 式得到瞬态热阻与温敏参数ΔVBE关系表达式: θjC =ΔVBE (Tj)/PH (3) 公式(3) 为电学法测量瞬态热阻的基本原理:在一定条件下,器件从结到外壳的热阻θjC 和ΔVBE 成正比关系。图1 所示为单脉冲测量双极晶体管瞬态热阻时序。图中tH 为加热功率持续时间; tms 为温敏参数的测试时间;td 为加热脉冲切断后测量VBE ( Tj )的延迟时间。

图1 单脉冲测量瞬态热阻时序 二、晶体管热阻的测试电路原理 根据瞬态热阻测试原理,图2所示为国标和军标中关于分立器件热阻的测试电路原理图。每次测试的大致情况是:(1) 首先,开关S1和S2置于2,用于加热前被测器件DUT温敏参数(源漏SD之间)的电压VSD测量; (2) 然后,开关S1和S2置于1,对被测器件施加功率(功率设置为VDS×ID);(3)最后,断开功率(开关S1 和S2断开1置于2)后,在很短的延迟后,快速对温敏参数VSD进行测量。

随机信号实验报告

随机信号分析 实验报告 目录 随机信号分析 (1) 实验报告 (1) 理想白噪声和带限白噪声的产生与测试 (2) 一、摘要 (2) 二、实验的背景与目的 (2) 背景: (2) 实验目的: (2) 三、实验原理 (3) 四、实验的设计与结果 (4) 实验设计: (4) 实验结果: (5) 五、实验结论 (12) 六、参考文献 (13) 七、附件 (13) 1

理想白噪声和带限白噪声的产生与测试一、摘要 本文通过利用MATLAB软件仿真来对理想白噪声和带限白噪声进行研究。理想白噪声通过低通滤波器和带通滤波器分别得到低通带限白噪声和帯通带限白噪声。在仿真的过程中我们利用MATLAB工具箱中自带的一些函数来对理想白噪声和带限白噪声的均值、均方值、方差、功率谱密度、自相关函数、频谱以及概率密度进行研究,对对它们进行比较分析并讨论其物理意义。 关键词:理想白噪声带限白噪声均值均方值方差功率谱密度自相关函数、频谱以及概率密度 二、实验的背景与目的 背景: 在词典中噪声有两种定义:定义1:干扰人们休息、学习和工作的声音,引起人的心理和生理变化。定义2:不同频率、不同强度无规则地组合在一起的声音。如电噪声、机械噪声,可引伸为任何不希望有的干扰。第一种定义是人们在日常生活中可以感知的,从感性上很容易理解。而第二种定义则相对抽象一些,大部分应用于机械工程当中。在这一学期的好几门课程中我们都从不同的方面接触到噪声,如何的利用噪声,把噪声的危害减到最小是一个很热门的话题。为了加深对噪声的认识与了解,为后面的学习与工作做准备,我们对噪声进行了一些研究与测试。 实验目的: 了解理想白噪声和带限白噪声的基本概念并能够区分它们,掌握用MATLAB 或c/c++软件仿真和分析理想白噪声和带限白噪声的方法,掌握理想白噪声和带限白噪声的性质。

指派问题的解法

指派问题的解法总结 问题引入:在工作的时候,常常需要对一些人进行工作安排,由于某些条件的限制, 每个人只能进行一种工作,怎么安排才能使得总工作时间最小。我们把这一类问题称 为指派问题。在这里,我只对人和工作刚好一对一的指派问题的解法进行总结,而对 于不是一对一的,则可以通过文献1中的一些方法进行变换。 目前问题解法的总结。 1:最广泛应用的解法:匈牙利算法。 算法简介:库恩(fW.W.Kuhn)于1955年提出了指派问题的解法.他引用了匈牙利数学家康尼格一个关于矩阵中0元素的定理:系数矩阵中独立0元素的最多个数等 于覆盖所有0元素的最少直线数。这个解法称为匈牙利解法。 匈牙利算法虽是运用最广泛的算法,但其操作过程却过于复杂。在划0的时候也不方 便记忆,对于初学者来说掌握不便。于是国内很多学者对指派问题给出了几个较简单,方便易记的算法。 2:指派问题新解法——目标值子矩阵法。 算法描述:任取变量矩阵X某一行中的最小元素,为该行元素目标值的最优解(但 不一定是系统目标函数的最优解),应该是系统目标函数满意解中的一个元素,记作 a11 划去a11 所在的行和列,取剩下的子矩阵中某一行的最小元素,记作a22。依次 类推,直到最后一个元素a nn.这些元素相加得系统目标函数的一个满意解,此为一 次运算.第二次运算取变量矩阵X中含a 以外的任一行,做与上面相同运算,又可以 得到系统的第二个满意解.相同地,对于n行做n次运算,共得到系统的n个满意解,系统的最优解即应该是这 n个满意解当中的最小值.若第i的最小元素在前面以被取 用过,则在进行第i的运算时,不选取该元素,取该行中未被选用过的元素中最小的一个进行运算。 算法分析:相对于匈牙利算法,此算法简单,方便操作。但不能给出所有最优解,得出的最优解唯一,若要给出全部最优解,则算法的次数将大大增加。 当矩阵维数较大的时候,可以对矩阵进行划分,以更快计算。 算法举例:对于变量矩阵x;

《测试信号分析与处理》实验报告

《测试信号分析与处理》 实验一差分方程、卷积、z变换 一、实验目的 通过该实验熟悉 matlab软件的基本操作指令,掌握matlab软件的使用方法,掌握数字信号处理中的基本原理、方法以及matlab函数的调用。 二、实验设备 1、微型计算机1台; 2、matlab软件1套 三、实验原理 Matlab 软件是由mathworks公司于1984年推出的一套科学计算软件,分为总包和若干个工具箱,其中包含用于信号分析与处理的sptool工具箱和用于滤波器设计的fdatool工具箱。它具有强大的矩阵计算和数据可视化能力,是广泛应用于信号分析与处理中的功能强大且使用简单方便的成熟软件。Matlab软件中已有大量的关于数字信号处理的运算函数可供调用,本实验主要是针对数字信号处理中的差分方程、卷积、z变换等基本运算的matlab函数的熟悉和应用。 差分方程(difference equation)可用来描述线性时不变、因果数字滤波器。用x表示滤波器的输入,用y表示滤波器的输出。 a0y[n]+a1y[n-1]+…+a N y[n-N]=b0x[n]+b1x[n-1]+…+b M x[n-M] (1) ak,bk 为权系数,称为滤波器系数。

N为所需过去输出的个数,M 为所需输入的个数卷积是滤波器另一种实现方法。 y[n]= ∑x[k] h[n-k] = x[n]*h[n] (2)等式定义了数字卷积,*是卷积运算符。输出y[n] 取决于输入x[n] 和系统的脉冲响应h[n]。 传输函数H(z)是滤波器的第三种实现方法。 H(z)=输出/输入= Y(z)/X(z) (3) 即分别对滤波器的输入和输出信号求z变换,二者的比值就是数字滤波器的传输函数。 序列x[n]的z变换定义为 X (z)=∑x[n]z-n (4)把序列x[n] 的z 变换记为Z{x[n]} = X(z)。 由X(z) 计算x[n] 进行z 的逆变换x[n] = Z-1{X(z)}。 Z 变换是Z-1的幂级数,只有当此级数收敛,Z 变换才有意义,而且同一个Z 变换等式,收敛域不同,可以代表不同序列的Z 变换函数。 这三种数字滤波器的表示方法之间可以进行相互转换。 四、实验步骤 1、熟悉matlab软件基本操作指令。读懂下列matlab程序指令,键入程序并 运行,观察运行结果。 Conv.m% 计算两个序列的线性卷积; %-----------------------------------------------------------------

信号分析实验报告

河南城建学院实验报告 课程名称:信号处理基础 系:电气与电子工程系 专业:自动化 指导教师:梁成武 姓名:肖邓 学号: 122408155 报告上交时间: 2010年 12月 22日 教师评语: 成绩等级 日期:2010年12月 22日第一次实验内容:MATLAB工具使用和信号的时域分析 一、实验目的 1、掌握MATLAB基本知识和基本应用。 2、掌握用MATLAB进行仿真的简单操作。 3、通过实验体会MATLAB的操作,获取一些初步的经验。 二、实验设备: 装有MATLAB6.5版软件的计算机一台 三、实验原理与步骤 1、打开信号处理实验素材文件夹,仔细阅读里边的第01章节,认识MATLAB桌面的基本结构和学习使用一些基本的命令。 2、通过MATLAB做出指数函数2e t和抽样函数() Sa t的图形并分析。 (1)指数函数y=2e t的MATLAB实验程序:

t=0:0.01:10; y=exp(1/2*t); plot(t,y) (2)抽样函数y=() Sa t的MATLAB实验程序: t=-10:0.01:10; y=sinc(t); plot(t,y) 四、实验结果与数据处理 1、指数函数2e t实验结果如下图(一)、图(二)所示: 图(一)指数函数2e t的MATLAB仿真图 2、抽样函数() Sa t的实验结果: 图(二)抽样函数() Sa t的MATLAB仿真图 五、实验体会与讨论 通过本次试验掌握了MATLAB基本知识和基本应用,掌握了用MATLAB进行仿真的简单操作和一些基本的操作指令。 MATLAB 在处理函数、信号,以及了解他们的特性方面,MATLAB是一款非常方便的软件,当然也可以通过它来做出某些复杂函数或信号的图形。 第二次实验内容:线性系统的时域特性 一、实验目的: 了解线性系统的时域特性,并会用计算机进行简单的分析。 二、实验设备: 装有MATLAB 6.5版软件的计算机一台 三、实验原理与步骤: 连续时间信号在食欲的一些基本运算-——尺度变换、平移、翻转、叠加、相乘、

信号检测法——有无法的实验报告

信号检测法——有无法的实验报告 姓名: 指导老师: 时间:

信号检测法——有无法的实验报告 /// /// /// /// (////////学院长春 130000) 摘要:运用信号检测论的“有无法”检测被试辨别力、判断标准和面对不 同先验概率下的反应偏向,通过做ROC曲线测出被试对信号和噪音的辨别能力。 关键词:信号检测论辨别力判断标准 ROC 曲线 1 引言 信号检测论是现代心理物理学的重要组成部分。它假设人们在对刺激进行感知时,干扰(也即噪音)也总是存在的,即人作为一个接受者对刺激的辨别问题可等效于一个在噪音中检测信号的问题。 在心理学领域,信号检测论所指的信号可以理解为刺激。在信号检测论中,噪音就是对信号检测起干扰作用的所有背景,对信号起着干扰作用的因素都可当做“噪音”。 信号检测论把刺激的判断看成对信号的侦察并作出决策的过程,其中既包括感觉过程也包括决策过程。感觉过程是神经系统对信号或噪音的客观反应,它仅取决于外在的刺激的性质,即信号和噪音之间的客观区别;而决策过程受到主观因素的影响。前者决定了被试的感受性大小,信号检测论多选用辨别力指标d’来作为反映客观感受性的指标;后者则决定被试的决策是偏向于严格还是偏向于宽松,信号检测论用似然比β或报告标准C来对反应倾向进行衡量。并学习绘制ROC曲线。 2 研究方法 2.1 被试 1名在校女大学生, 20岁,身体健康,///////学院11级应用心理学专业。2.2仪器及材料JGW—B心理实验台操作箱,100克,104克,108克和112克的砝码重量各一个。 2.3 方法 1.准备工作: (1)把104克、108克和112克的重量分别和100克的重量比较10次,选出一个在十次比较中7次或8次觉得比100克重的重量作为信号刺激。100克的重量作为噪音。 (2)主试按下三种不同的SN和N出现的概率安排实验顺序。 (2)(3)

PPMS测试系统原理介绍-已发布论坛

材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用 王立锦编 北京科技大学材料学院实验测试中心 2007年6月

材料综合物性综合测量系统(PPMS)原理及应用 美国Quantum Design 公司的产品PPMS( Physics Property Measurement System) 是在低温和强磁场的背景下测量材料的直流磁化强度和交流磁化率、直流电阻、交流输运性质、比热和热传导、扭矩磁化率等综合测量系统。北京科技大学材料学院与美国Quantum Design 公司在北京科技大学材料学院实验中心联合成立了PPMS材料综合物性测量研究实验室,安装了PPMS-9综合物性测量系统、HH-15振动样品磁强计、材料磁电阻效应、霍尔效应及磁致伸缩效应测量仪等仪器,现已全面对学生教学和科研测试开放。 一、实验目的 1、了解PPMS-9综合物性测量系统的结构、组成、测量原理及应用范围; 2、熟悉PPMS-9仪器开关机步骤及更换样品、测量附件的方法; 3、熟悉PPMS-9仪器软件控制程序及参数设置方法; 二、PPMS仪器测量原理和方法 PPMS是Quantum Design 公司在成功推出MPMS1之后,于20 世纪90 年代中期推出的又一款产品。一个完整的PPMS 系统也是由一个基系统和各种选件两个部分构成,根据内部集成的超导磁体的大小基系统分为7 特斯拉、9 特斯拉、14 特斯拉和16 特斯拉系统。但与MPMS 专注于磁测量不同,PPMS 在基系统搭建的温度和磁场平台上,利用各种选件进行磁测量、电输运测量、热学参数测量和热电输运测量。基系统主要包括软件操作系统,温控系统,磁场控制系统,样品操作系统和气体控制系统。下面结合各种选件对PPMS 的测量原理和方法加以说明。 1.交直流磁化率选件 该选件是研究各种材料在低温下磁行为的主要设备之一,包括探杆、样品杆、伺服电机、电子控制部分、精密电源和软件部分(集成于系统软件) 。可以在同一程序中对一个样品先后进行交流磁化率和直流磁化强度的测量而不需要对样品进行任何调。样品杆处于探杆的中间,样品置于样品杆的一端,样品杆的另一端连接在伺服电机上。探杆之外由内到外依次由校正线圈组(用于消除仪器电子装置自身带来的信号增益和漂移) 、抗磁温度计、样品磁矩探测线圈、AC 驱动线圈(用于提供交流磁场) 以及AC 驱动补偿线圈(用于把交流磁场限制在线圈内部、防止它和外部的测量装置相互作用) 组成。 AC 磁化率测量原理交流激发信号被输入到交流驱动线圈中,伺服电机驱动样品依次到两个绕向相反的探测线圈的中心,同时,与时间相关的样品信号被收集。把测得的样品在两个探测线圈中心的信号相减以消除驱动线圈和探测线圈间的随机相互作。通过对多次测量的采样和平均,可以减少测量过程中的信号噪音。与一般交流磁化率测量仪器相比,PPMS上AC磁化率测量装置有两个特点值得指明:首先它没有采用传统的单相锁相技术来处理信号,而是采用高速数字信号处理器(DSP),这样它

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