XRF 射线荧光制样方法浅谈

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XRF 射线荧光制样方法浅谈

XRF 射线荧光制样方法浅谈

X 射线荧光制样方法浅谈导言:第13期的论坛线上讲座还未结束,第14期的线上讲座又接踵而至,本期讲座我们邀请了XRF 版面的专家ljzllj先生就XRF制样的方法与大家一起交流切磋。

ljzllj先生一直从事XRF仪器的应用等各方面的研究工作。

对XRF的仪器比较熟悉。

欢迎大家就X 射线荧光制样方法的问题前来提问,也欢迎XRF方面的高手前来与ljzllj先生交流切磋~X 射线荧光光谱法就是一个相对分析方法,任何制样过程与步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品与分析样品必须经过同样的制样处理过程。

X 射线荧光实际上又就是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品就是否有代表性。

此外,样品的平均粒度与粒度分布就是否有变化,样品中就是否存在不均匀的多孔状态等。

样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失与沾污。

目录:一、概论二、固体样品三、粉末样品1.压片法2.熔融法坛友提问的问题:(不断更新中、、、)1、我们就是用粉末压片法制样的,有时样品与蜡粉混合不就是特别均匀,压成的片片表面上会有些许斑点,请问这样会不会对结果造成影响2、制样方法那种较好,如何能最大的确保分析精度?3、熔融法制备颗粒灰试样时,容易在样品表面有气泡,怎么办?注:样品与熔剂就是1:104、熔融法用铂黄坩埚使用一段时间后容易变形,而且样品表面出现划痕或者容易出现爆片现象,一般就是重新回炉加工铂黄坩埚,或者用抛光机在铂黄坩埚表面抛光,有好的建议不?一般多久需要回炉一次较好?5、制备合金样品除了用高频感应重熔样品外,有没有好的办法使用压片法分析?或者怎么能实现熔融法?6、熔融法制样中,如果更换熔剂批次或厂家,需要重新制作工作曲线,还就是重新制备标准化样品,怎么做即省事有准确?7、熔融法制备样品时,如果对分析元素加入了内标物质,熔剂还需要准确称量不?有没有好的建议?8、熔融法分析轻元素(例如做保护渣中F),准确性一直不太好,有什么好的建议或方法?9、压片法制样过程中,利用PVC直接制样,样品量需要定量不?有什么好的建议与方法?10、熔融法制样中,除了用铂黄坩埚,还有别的方法不?我曾试验过用锆刚玉坩埚分析合金,但一直没能试验成功,有好的建议与方法不?11、请问高岭土怎么制样比较适合XRF分析,现在的情况就是高岭土的要从原矿到精矿再做分析,其中精矿中还含有较多的石英砂,用锆制的研钵都研坏了,还有什么好的制样方法不12、用硼酸镶边的压片样品一般能保存多上时间13、我们有意购买一台X射线荧光仪,拿来分析空气中,也就就是粉尘的组成,主要就是瞧其中含有的游离二氧化硅的百分含量,以便确定空气中粉尘的成份。

X射线荧光光谱法(XRF)测定环境地质样品中痕量氯、溴的试验研究

X射线荧光光谱法(XRF)测定环境地质样品中痕量氯、溴的试验研究

标 准物质做 工作 曲线 ,用仪器软件的数学模式校正样 品的基体效应和元素间的谱 线重叠效应 。制样采用硼酸镶 边垫底粉末压 片法 。测定结果表明 ,检 出限 、准确度和相对标准偏差 ( R S D% ) 均达到国家对 环境地质样 品分 析的质量标准要求 。
关 键 词 :x 射线 荧 光 光 谱 ;环 境 地 质 样 品 ;痕量 氯 、溴 文献标识码 : A 文章 编 号 : 1 6 7 1 — 0 4 6 0( 2 0 1 3) 0 9 — 1 3 5 4 — 0 3 中 图 分 类 号 :O 6 5 7
X R F 法 因具 有多 元素 同时 测定 ,且 含量 范 围
仪 ,其 4 . 0 k W 高 功率 端窗 铑靶 x射 线管 ,使地 质 样 品分 析 测 试 能 力 上 了一个 台 阶 ,对 样 品 中痕 量 c l 、B r 分 析有 了较可 靠 的分析 手段 。
宽 、精 密度高 、制样 简便 ,分 析速度 快等 特点 ,在 地 学领域 已得 到广 泛 的应 用 。目前 可采用 XR F法分 析 的元 素有 5 0多种 , 常见 的硅 酸盐类样 品中 , 可用 X R F法分 析 的主 、微 量元 素有 4 0余种 ,对 于这些 元 素 的分析 问题 ,如样 品制备 ,测 量条件 的选 择 、 元 素问 效应 的校正 等 ,已有 大量 的文 献报道 。但
第 4 2卷 第 9期 2 0 1 3年 9月




C o n t e m p o r a r y C h e mi c a l I n d u s t r y

V o 1 . 4 2 ,N o . 9 S e p t e m b e r ,2 0 1 3

X射线荧光光谱分析熔融法制样的系统研究

X射线荧光光谱分析熔融法制样的系统研究

X射线荧光光谱分析熔融法制样的系统研究李国会;李小莉【摘要】对X射线荧光光谱(XRF)分析的熔融法制样进行了系统地总结.内容包括熔剂的选择、氧化剂的选择、硫化剂的选择、重吸收剂的选择、脱模剂的选择,给出了氧化物、碳酸盐、硫化物、铁合金、石墨材料、铜精矿等几种典型样品熔融制备玻璃片的方法.介绍了铂黄合金坩埚和铸模的保养,而且对制备硼酸盐熔融玻璃片遇到的问题及解决办法都做了详细的说明,此外,还对3种不同类型的熔融设备及其特点做了介绍.研究内容对X射线荧光光谱分析工作者的熔融制样操作有一定指导意义.【期刊名称】《冶金分析》【年(卷),期】2015(035)007【总页数】9页(P1-9)【关键词】熔融玻璃片;硼酸盐混合熔剂;X射线荧光光谱分析【作者】李国会;李小莉【作者单位】中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,河北廊坊065000;天津地质矿产研究所,天津300171【正文语种】中文X射线荧光光谱(XRF)是一种近代快速发展起来的仪器,它具有分析速度快、制样较简单、能进行多元素快速分析、重现性好、不破坏样品的特点。

因此在地质、矿山、环保、钢铁、水泥、化工等领域得到了广泛的应用。

现代X射线荧光光谱仪测量样品和数据处理都是在计算机控制下自动进行的,基本不需要操作者干预。

因此,样品制备(包括熔融玻璃片和粉末压片)就成了X 射线荧光光谱分析的主要工作。

硼酸盐熔片法最早是由Claisse[1]和Rose等提出的,其优点是能有效地消除颗粒度和矿物效应,由于熔融时可以用纯元素氧化物或在标准样品中加入氧化物,进而扩大了标准样品中各元素的含量范围。

由于样品和熔剂的质量比大于1∶5时有效地降低了元素间的吸收增强效应,使熔融制样成为精确分析样品中主元素的最重要的制样方法。

制备的均匀平滑的玻璃圆片可在干燥器中长期保存,这是此制样方法的优点之一。

其缺点是要消耗熔剂,增加了分析成本,制样时间较长;此外,由于稀释不仅降低了强度,而且由于熔片中含有大量的B和O元素,使背景强度增加,对痕量元素分析不利;又由于在熔融过程中As、Sb等元素挥发损失,会影响测量的准确度。

X荧光光谱法(XRF)

X荧光光谱法(XRF)
X荧光光谱法(XRF)
利用能量足够高的X射线 (或电子)照射试样,激发出来的 光叫X射线荧光.利用分光计分析 X射线荧光光谱,鉴定样品的化学 成分称为X射线荧光分析.
X射线荧光分析原理
当样品中元素的原子受到高能X射线照 射时,即发射出具有一定特征的X射线谱, 特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z) 有关,而与激发X射线的能量无关.谱线的 强度和元素含量的多少有关,所以测定谱 线的波长,就可知道试样中包含什么元素, 测定谱线的强度,就可知道该元素的含量.
定性分析的步骤
谱图解析: 1)除掉靶发射的所有X射线 2)查找

K( 49In以下元素)或L( 50 Sn以上元素)与标样相应谱线的2 对比,进行初步判定
3)若存在 K 或L 谱线 ,则需进行强度比的计算以 确定该元素的存在. 4)微量元素,有时只存在 K 线.
定量分析
因为X射线荧光分析得到的是相对分 析值,所以进行定量分析时需要标样.选 定分光晶体和检测器,统计测量样品发出 的X射线荧光的强度,将已知含量的标准 样品和未知样品在同一条件下测定,确定 未知样品的含量.

受能 每 激量 一 原的 次 子释 的 的放 跃 二, 迁 次从 都 而伴 射形 随 线成 有 。

X
X

在当今众多的元素分析技术中,X射线荧光技术是 一种应用较早,且至今仍广泛应用的多元素分析 技术。

曾经成功的解决了:矿石中Nb和Ta,Zr和Hf及单个稀土 元素(REE)的测定问题;地质与无机材料分析中工作 量最大,最繁重,最耗时的主次量组分快速全分析的难 题;以及高精度,海量地球化学数据的获取问题等等。
定性分析
基本原理:试样发出的X荧光射线波长 与元素的原子序数存在一定关系,即 元素的原子序数增加,X射线荧光的波 长变短,关系式为 1 1 ( ) 2 K (Z S )

熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅磷锰铝钙铬

熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅磷锰铝钙铬

熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅磷锰铝钙铬杨新能; 李小青; 杨大军; 唐本芹【期刊名称】《《冶金分析》》【年(卷),期】2019(039)010【总页数】6页(P43-48)【关键词】X射线荧光光谱法; 熔融制样; 硅铁; 石墨垫底瓷坩埚; 铂金坩埚腐蚀【作者】杨新能; 李小青; 杨大军; 唐本芹【作者单位】攀枝花钢钒有限公司制造部四川攀枝花 617000【正文语种】中文【中图分类】O657.34硅铁是硅与铁组成的铁合金,由于硅和氧的化学亲和力很大,因而可用作炼钢的脱氧剂与添加剂。

硅铁合金中主元素硅含量,不仅是硅铁合金价格核算的依据,也是炼钢生产工艺调整的重要参考指标;磷、锰、铝、钙和铬等元素含量是衡量硅铁合金质量及适用领域的判定依据。

因此,快速、准确测定硅铁中硅、磷、锰、铝、钙和铬等主次量元素非常重要。

硅铁化学分析方法中,硅量测定通常采用重量法和氟硅酸钾滴定法,锰、铝、钙和铬等杂质元素含量测定采用光度法或滴定法,磷量测定采用光度法[1]。

这些常规的分析方法一般属于单元素分析,分析流程长,不能适应现代生产管理要求。

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)可同时测定硅铁中多元素(GB/T 24194—2009),分析效率高,但需用高氯酸、氢氟酸等湿法预处理试样,主元素硅不能测定。

X射线荧光光谱(XRF)法具有多元素同时测定等优点,方法快速、准确,被广泛应用于铁合金分析领域[2]。

XRF分析硅铁合金,制样是最重要的环节。

粉末压片法制样[3-4]简便快速,但会存在严重的基体效应和颗粒效应,造成分析结果存在较大的偏差。

离心浇铸制样和硼酸盐熔融制样法较好地克服了矿物效应和粒度效应,样品被熔剂稀释后又能一定程度上降低共存元素引起的基体效应,因而被认为是X射线荧光光谱分析中最精确的制样方法。

离心浇铸制样[5-6]是把样品和纯铁按一定比例放入坩埚中经高频加热熔融,再经离心浇铸后得到块状样品,但需要专用设备,制样引入铁基体且需消耗大量高纯铁,成本相对较高。

X荧光光谱法(XRF)解析

X荧光光谱法(XRF)解析

定性分析
基本原理:试样发出的X荧光射线波长 与元素的原子序数存在一定关系,即 元素的原子序数增加,X射线荧光的波 长变短,关系式为 1 1 ( ) 2 K (Z S )
式中K ,S:随不同谱线系列而定的常 数;Z:原子序数.
定性分析
从试样发出的X射线荧光具有所含元素 的固有波长,该波长可用Bragg公式表示:
波长色散型:分光元件(分光晶体+狭缝); 特点:分辨率好,定性分析容易(谱线重叠 少);分析元素为 5 B 92U 灵敏度低. 能量色散型:半导体检测器;分辨率差,定 性较难(谱线重叠多),分析元素为 11 Na 92U 灵敏度高.需液氮冷却.

X射线管
波长色散型X射线荧光分析装置原理
X射线荧光光谱仪器组成

X射线发生系统:产生初级高强X射线,用于激发样品; 冷却系统:用于冷却产生大量热的X射线管; 样品传输系统:将放置在样品盘中的样品传输到测定位置 分光检测系统:把样品产生的X射线荧光用分光元件和检 测器进行分光,检测; 计数系统:统计,测量由检测器测出的信号,同时也可以除 去过强的信号和干扰线; 真空系统:将样品传输系统和分析检测系统抽成真空 ,使 检测在真空中进行(避免强度的吸收损失); 控制和数据处理系统:对各部分进行控制,并处理统计测 量的数据,进行定性,定量分析,打印结果.

受能 每 激量 一 原的 次 子释 的 的放 跃 二, 迁 次从 都 而伴 射形 随 线成 有 。

X
X

在当今众多的元素分析技术中,X射线荧光技术是 一种应用较早,且至今仍广泛应用的多元素分析 技术。

曾经成功的解决了:矿石中Nb和Ta,Zr和Hf及单个稀土 元素(REE)的测定问题;地质与无机材料分析中工作 量最大,最繁重,最耗时的主次量组分快速全分析的难 题;以及高精度,海量地球化学数据的获取问题等等。

X射线荧光光谱(XRF)法快速测定灰岩样品中主、次量组分

X射线荧光光谱(XRF)法快速测定灰岩样品中主、次量组分

X射线荧光光谱(XRF)法快速测定灰岩样品中主、次量组分熊玉祥;马景治;李策;张明杰【摘要】采用粉末压片制样,利用X射线荧光光谱分析仪,对石灰石、白云石等灰岩类标准物质拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱(XRF)法同时测定灰岩类样品中主次量组分(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、MnO、P)的快速分析方法.通过灼烧减量对SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO5种主量成分含量进行换算后建立校准曲线,大大地改善了分析的准确度和精密度.通过实验优化了制样条件,对灰岩类试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)<2%;对石灰石、白云石标准样品和实际样品进行准确度考察,测定值与标准推荐值或传统方法的测定值一致.【期刊名称】《中国无机分析化学》【年(卷),期】2018(008)006【总页数】4页(P42-45)【关键词】粉末压片制样;X射线荧光光谱法;灰岩样品【作者】熊玉祥;马景治;李策;张明杰【作者单位】湖北省地质实验测试中心(国土资源部武汉矿产资源监督检测中心),武汉430034;湖北省地质实验测试中心(国土资源部武汉矿产资源监督检测中心),武汉430034;湖北省地质实验测试中心(国土资源部武汉矿产资源监督检测中心),武汉430034;湖北省地质实验测试中心(国土资源部武汉矿产资源监督检测中心),武汉430034【正文语种】中文【中图分类】O657.34;TH744.15前言灰岩是沉积岩的一种,其主要矿物成分为方解石,主要元素成分为 CaO、MgO、SiO2、Al2O3、Fe2O3等[1]。

灰岩类样品中的 CaO 一般采用 EDTA 滴定法分析;SiO2 采用比色法分析;MgO、Fe2O3 等组分采用原子吸收光谱(AAS)法或者电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法进行分析,这些经典的分析方法准确度高,精密度好,然而操作过程比较繁琐,分析结果的好坏容易受到操作水平的影响[2]。

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法解析

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法解析

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘要本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。

根据70多篇文献和一些常见的资料,作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。

1前言作为一种比较成熟的成分分析手段,XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。

它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种,其中,固体粉末是分析得最多的一种。

因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末,对于形状不规则的块状固体,由于直接分析技术还不成熟,往往也粉碎成粉末。

液体试样可放入液体样品杯中分析,但由于不能抽真空等原因,有时将液体转变为固体,一些预分离、富集的结果也常是粉末,因此,粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。

XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法:粉末压片法和熔融法。

[1,2]对于样品量极少的微量分析,还有一种薄样法,这里拟不介绍。

熔融法是应用较多的一种制样方法,它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。

但熔融法也有缺点:因样品被熔剂稀释和吸收,使轻元素的测量强度减小;制样复杂,要花费大量时间;成本也较高。

粉末压片法的优点是简单、快速、经济,在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍,也常用于痕量元素的分析。

从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集[3-4]来看,采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。

在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中,粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。

近年来,有关XRF及其应用的综述或评论很多[5-13],其中包括样品制备方面的内容,还有一些专门介绍制样法的文章[14-15]。

本文根据收集到的70多篇文献,从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。

2样品制备粉末压片制样法主要分三步:干燥和焙烧;混合和研磨;压片[16]。

有粉末直接压片、粉末稀释压片、用粘结剂衬底和镶边等方法[17]。

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X 射线荧光制样方法浅谈导言:第13期的论坛线上讲座还未结束,第14期的线上讲座又接踵而至,本期讲座我们邀请了XRF 版面的专家ljzllj先生就XRF制样的方法与大家一起交流切磋。

ljzllj先生一直从事XRF仪器的应用等各方面的研究工作。

对XRF的仪器比较熟悉。

欢迎大家就X 射线荧光制样方法的问题前来提问,也欢迎XRF方面的高手前来与ljzllj先生交流切磋~X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。

X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。

此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。

样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失和沾污。

目录:一、概论二、固体样品三、粉末样品1.压片法2.熔融法坛友提问的问题:(不断更新中...)1、我们是用粉末压片法制样的,有时样品和蜡粉混合不是特别均匀,压成的片片表面上会有些许斑点,请问这样会不会对结果造成影响2、制样方法那种较好,如何能最大的确保分析精度?3、熔融法制备颗粒灰试样时,容易在样品表面有气泡,怎么办?注:样品和熔剂是1:104、熔融法用铂黄坩埚使用一段时间后容易变形,而且样品表面出现划痕或者容易出现爆片现象,一般是重新回炉加工铂黄坩埚,或者用抛光机在铂黄坩埚表面抛光,有好的建议吗?一般多久需要回炉一次较好?5、制备合金样品除了用高频感应重熔样品外,有没有好的办法使用压片法分析?或者怎么能实现熔融法?6、熔融法制样中,如果更换熔剂批次或厂家,需要重新制作工作曲线,还是重新制备标准化样品,怎么做即省事有准确?7、熔融法制备样品时,如果对分析元素加入了内标物质,熔剂还需要准确称量吗?有没有好的建议?8、熔融法分析轻元素(例如做保护渣中F),准确性一直不太好,有什么好的建议或方法?9、压片法制样过程中,利用PVC直接制样,样品量需要定量吗?有什么好的建议和方法?10、熔融法制样中,除了用铂黄坩埚,还有别的方法吗?我曾试验过用锆刚玉坩埚分析合金,但一直没能试验成功,有好的建议和方法吗?11、请问高岭土怎么制样比较适合XRF分析,现在的情况是高岭土的要从原矿到精矿再做分析,其中精矿中还含有较多的石英砂,用锆制的研钵都研坏了,还有什么好的制样方法吗12、用硼酸镶边的压片样品一般能保存多上时间13、我们有意购买一台X射线荧光仪,拿来分析空气中,也就是粉尘的组成,主要是看其中含有的游离二氧化硅的百分含量,以便确定空气中粉尘的成份。

但不是很清楚该类型的机子的实际使用效果怎么样?有没有这方面的信息,希望有用过的同行聊聊14、对采用熔融法预氧化后熔融合金类样品,预氧化后总会出现“失量”或“增量”,不同含量范围的样品,“失量”或“增量”肯定不同,在不校正的情况下,工作曲线会呈线性关系吗?15、采用熔融法测定铁矿石中碱金属钠时,工作曲线始终不好,有没有好的建议?稀释比大概是1:1016、粘结剂的加入应在研磨过程中加入的吧?要定量吧?标样和末知样都要在研磨过程中定量加入,是否很麻烦?17、熔融法熔制铁矿石时,熔片上表面有斑状花纹(刚从熔炉中取出时),请问是什么原因造成的,是什么成分呢(不熔物?)?(摇摆及旋转都进行过且熔融时间有保证)18、对烧失量的计算?比如说铁矿石,很多品种的烧失量(如:褐铁矿、菱铁矿)是不一致的,应如何保证结果准确(先灼烧吗?或测定熔片的质量?有时熔片挂壁质量也会有损失)?19、我们现在使用直接压片法,测定的是样片的下表面,如何使用硼酸衬底法呀?PVC环直径也就35mm,被X射线直接照射到,一定会影响分析结果吧?20、是不是轻元素不太适合用荧光测21、采用熔融法制备含碳耐火材料样品应该注意哪些方面(样品含碳量在10%以上,1100度灼烧2小时后试样仍呈暗灰色,怀疑试样中不仅仅是游离碳,还含有碳化物,比如碳化硅等),如果熔融前需要前处理那么哪些试剂能够分解这些碳化物?22、熔融法时,标样少,采用自配标样上工作曲线。

有两个问题:1).如果标样和熔剂比为0.2g:7g,在标样较少的情况下,可不可以采用这样的方式:秤取 0.18g标样,剩下的0.02g用主基体元素补偿如果是铁基就用纯铁,或是用熔剂补偿比如四硼酸锂,然后计算熔片中各元素的实际含量。

如果可以,用哪种方式较好?2).对于有烧失量或烧增量的样品,比如需要预氧化后的铁合金类样品,在标样少的情况下,如果用纯的氧化物替代标样,就会出现标样无烧失量或烧增量,而样品有失或增量。

对于这类情况有没有好的解决方式?23、压铸铝合金和球墨铸铁标样在做X射线荧光分析建立工作曲线时,其中Mg 的线性非常差,这是什么原因?应该怎么做?24、熔融设备一般分为电热熔融炉、燃气型熔融炉和高频熔融炉,排除操作上的影响,单纯从仪器性能上讲,哪种类型的仪器制样的精密度要好些?25、氧化剂使用22%的LiNO3溶液,脱模剂使用20%的LiBr溶液,能够配制LiNO3和LiBr的混合溶液吗?为了更好的熔融,有时也加入 Li2CO3,我在很多文献中看到,都是加入经过准确称量的Li2CO3固体粉末,请问在熔融制样时Li2CO3可以配制成溶液使用吗?又是否可以配制上述三种物质的混合溶液呢?26、熔融铁矿石时,因为里面含有部分氧化亚铁,有必要先在700度预氧化两分钟,然后再升到1050度吗?27、我们做的是塑料(聚苯硫醚PPS),要检测里面的ROHS元素,可是这个塑料在200°C以下几乎没有溶剂可以溶解,碾磨后加纯物质的方法不知是否可行?所以一直没有制好标准样品,可是用聚乙烯的标准做标准,检测结果应该不是很好,因为他们的结构不一样。

能给我们点好建议如何做好这标准吗?28、粉末样品常要用助研磨剂或粘结剂,助磨剂有乙醇、乙二醇、三乙醇胺和正己烷、硬脂酸等。

粘结剂甲基纤维素、微晶纤维素、硼酸、低压聚乙烯、石蜡、淀粉、干纸浆粉等。

用这些助磨剂或粘结剂对无素的测量结果有什么影响,有多大的影响,对什么元素影响大?X 射线荧光制样方法浅谈一、概论X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。

X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。

此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。

样品制备过程由于经过多步骤操作,还必须防止样品的损失和沾污。

1.由样品制备和样品自身引起的误差有(1)样品的均匀性。

(2)样品的表面效应。

(3)粉末样品的粒度和处理方法。

(4)样品中存在的谱线干扰。

(5)样品本身的共存元素影响即基体效应。

(6)样品的性质。

(7)标准样品的化学值的准确性。

2.引起样品误差的原因:(1)样品物理状态不同样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。

(2)样品的组分分布不均匀样品组分的偏析、矿物效应等。

(3)样品的组成不一致引起吸收、增强效应的差异造成的误差(4)被测元素化学结合态的改变样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。

(5)制样操作在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

3.样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。

(1)固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。

(2)粉末样品包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。

(3)液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。

4.样品制备的一般方法不同样品有不同的制样方法。

金属样品如果大小形状合适,或者经过简单的切割达到X 荧光的要求,只需表面抛光,液体样品可以直接分析,大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。

而粉末样品的制样方法就比较复杂。

这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论,液体样品就不再讨论。

二、固体样品1.固体样品的主要缺点是,一般情况下不能采用各种添加法:如标准添加(或稀释)法、低(或高)吸收稀释法、内标法等。

若所有样品中已经含有适当的、一定浓度的内标元素,则上述的最后两种方法还是可用的。

另外,也不能进行化学浓缩和分离。

表面结构和成分有时也难取得一致。

可能弄不到现成的标样,而人工合成又很困难。

2.制样方法固体样品可用未加工的或经加工的大块材料或原材料(如生铁,钢锭等)制取。

另外,也可把熔炉的熔融物直接浇铸到小模子里。

为防止缓慢冷却时发生的成分偏析,最好用激冷。

经抛光的原材料,或经砂轮磨打的表面,一般是令人满意的,但对后者仍需进一步抛光,以减少表面粗糙度,并除去加工损伤的和没有代表性的表面层。

抛光的方法有许多种,包括:(1)先进行带式磨削,然后用抛光器抛光,其砂纸粒度依次由粗变细,(2)用车床、铣床或刨床进行加工。

对于薄板和箔,必须仔细操作,以保证表面不出现翘曲、皱纹和折痕。

特别要注意不能照射时间太长,以免受热变形。

薄板和箔必须衬上一块刚性支撑物,或把它们粘在一起。

制备固体样品时要注意:(1)样品的分析面不能有气孔,析出物和多孔质现象。

(2)防止偏析。

造成偏析的因素:合金的组成和密度;铸模的材料、形状和厚度;合金熔化温度、浇铸温度和被浇铸样品的冷却速度等。

(3)样品的冷却速度。

当样品化学组成相同由于热过程不同测得的X 射线强度不同,含C 量高的钢铁样品这种现象尤为突出。

冷却速度不一致时,对轻元素C、Mg、Si、P、S 等存在很大影响;而V、Cr、W 等往往由于形成碳化物而影响分析。

因此,要求制作校准曲线的样品和分析样品的热处理过程要保持一致。

此外,还和元素在基体金属中的溶解度有关,元素的低固熔性会影响金属的均匀性,快速冷却能形成细晶粒的金相结构,而大颗粒晶粒的边界容易发生偏析和不均匀性。

对于不适合直接分析的金属样品,如切削样、线材和金属粉末等还可以采用感应重熔离心浇铸法来制备样品。

原理是将适当大小的样品放入坩埚,在氩气气氛中通过高频感应加热重新熔融,在离心力的作用下注入特制的模子里,然后迅速冷却制得金属圆块样品。

离心浇铸法可以消除样品的基体效应,并且可以采用添加法:稀释法(常见稀释剂的有纯铁),内标法等。

还可以人工合成标样。

但设备昂贵,制样成本高。

高频感应离心浇铸熔融炉注意事项:(1)被熔金属要保持一定的粒度。

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