门电路功能测试及组合逻辑电路设计方案

门电路功能测试及组合逻辑电路设计方案
门电路功能测试及组合逻辑电路设计方案

实验1 门电路功能测试及组合逻辑电路设计

实验目的

(1)掌握常用门电路的逻辑功能及测试方法。

(2)掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。

实验仪器设备与主要器件

数字电路实验箱一个;双踪示波器一台;稳压电源一台;数字万用表。

74LS00(四2输入与非门)一片;74LS10(三3输入与非门)一片;74LS20(二4输入与非门)一片。

实验原理

TTL集成逻辑电路的种类繁多,现以74LS00为例介绍其内部电路结构和工作原理。

如图所示,当输入信号A、B中有一个是低电平时,T1必有一个发射结导通,并将T1的基极电位钳在0.9V(设定VIL=0.2V,VBE=0.7V)。这是T2不会导通。(由于T1集电极回路电阻是R2和T2的b-c结反向电阻之和,阻值非常大,所以T1工作在深度饱和状态,使VCE (sat)≈0)。T2截止后VC2为高电平,VE2为低电平,从而使T4导通,T5截止,输出端F 为高电平VOH。

当输入信号A、B均为高电平(VIH=3.4V)时,如果不考虑T2的存在,则Vb1=3.4V+0.7V=4.1V。然而T2和T5不但存在,而且必然导通。一旦T2和T5导通后Vb1便被钳在了2.1V(3×0.7V),所以T1的基电极实际不是4.1V,而只能是2.1V左右。这样,T2导通使VC2降低而VE2升高,导致T4截止,T5导通,输出变为低电平VOL。与非门输入输出关系见表。

使用时应对选用的器件进行简单的逻辑功能检查,以保证实验的顺利进行。

测试门电路有静态测试动态测试两种方法。静态测试时,门电路输入端加固定高(H)(L)电平,用示波器,万用表或发光二级管(LED)测出门电路的输出响应。动态测试时,门电路的一个输入端加脉冲信号,用示波器观察输入波形和输出波形的同步关系。下面以74LS00为例简述测试方法。

74LS00为四2输入与非门,与非门的电路如图2-1-1所示。74LS00将4个2输入与非门封装在一个集成芯片中,共14条引线。使用时必须在第14引脚上加+5V电压,第7引脚与地接好。整个测试过程包括静态测试、动态测试和主要参数测试三部分。

1.静态逻辑功能测试

静态逻辑功能测试用来检验门电路的真值表,确认门电路逻辑功能是否正确。实验时,可将74LS00中的一个与非门输入端A、B分别作为输入逻辑变量,加高、低电平,观察输出电平是否符合2-1-2的与非门真值表。测试电路如图2-1-2所示。实验输入端A、B输入的电平由数字电路实验箱中的逻辑电平产生电路产生,输出F可直接插至逻辑电平指示电路的某一路进行显示。

2.动态逻辑功能测试

动态逻辑功能测试输入信号波形和电路图分别如图2-1-3及图2-1-4所示。

动态测试适用于数字系统运行中逻辑功能的检查。测试时,电路输入串行数字信号,用示波器比较输入与输出信号的波形,以此确定电路的功能。试验时与非门输入端A加1KHz 的脉冲信号Vi,如图2-1-3所示,另一端加上开关信号,观察F输出波形是否符合功能要求。

组合电路的设计要从给定的逻辑功能要求出发,设计出符合该逻辑功能要求的电路,如图2-1-5所示。设计步骤如下:

(1)根据设计任务列出真值表;

(2)通过对卡诺图或逻辑表达式的化简,得出最简逻辑表达式;

(3)选择合适的标准器件实现逻辑函数。

2.1.4实验内容

1.对74LS00进行功能测试,按图2-1-2实现静态测试,测试结果与表2-1-2对照,说

明其逻辑功能是否正确;按图2-1-4实现动态测试,画出输入输出同步波形图,并说明实验所得波形是否符合要求。

(1)静态测试:

仿真图:

(2)动态测试仿真:

示波器输入输出波形:

3.分析测试图2-1-8所示电路的逻辑功能,将测试结果填入表2-1-4的F列中,并写出逻

辑表达式。

逻辑图:

3、设计一个控制楼梯电灯的开关控制器。设楼上楼下各装一个开关,要求两开关均可控制楼梯间的一个电灯。设楼上楼下开关分别用K1、K2表示,1表示开关闭合,0表示开关断开;灯的状态用Y表示,1表示亮,0表示灭,则开关和灯的控制关系可参照表2-1-5所示的真值表。写出逻辑表达式,画出逻辑电路并接线调试,观察输出状态是否正确。

由题意知K1、K2是异或的关系

仿真图:

数电实验报告 实验二 组合逻辑电路的设计

实验二组合逻辑电路的设计 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。 2.熟悉组合电路的特点。 二、实验仪器及材料 a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b) 参考元件:74LS86、74LS00。 三、预习要求及思考题 1.预习要求: 1)所用中规模集成组件的功能、外部引线排列及使用方法。 2) 组合逻辑电路的功能特点和结构特点. 3) 中规模集成组件一般分析及设计方法. 4)用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2.思考题 在进行组合逻辑电路设计时,什么是最佳设计方案 四、实验原理 1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录 2.用集成电路进行组合逻辑电路设计的一般步骤是: 1)根据设计要求,定义输入逻辑变量和输出逻辑变量,然后列出真值表; 2)利用卡络图或公式法得出最简逻辑表达式,并根据设计要求所指定的门电路或选定的门电路,将最简逻辑表达式变换为与所指定门电路相应的形式; 3)画出逻辑图; 4)用逻辑门或组件构成实际电路,最后测试验证其逻辑功能。 五、实验内容 1.用四2输入异或门(74LS86)和四2输入与非门(74LS00)设计一个一位全加器。 1)列出真值表,如下表2-1。其中A i、B i、C i分别为一个加数、另一个加数、低位向本位的进位;S i、C i+1分别为本位和、本位向高位的进位。 A i B i C i S i C i+1 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 0 1 0 10 1 1 1 00 1 1 1 1 1 1 2)由表2-1全加器真值表写出函数表达式。

数电实验__门电路逻辑功能及测试

一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、学习数字电路实验的一般程序及方法。 3、熟悉数字电路设备的使用方法。 二、实验仪器及材料 1、数字万用表 2、器件: 74LS00 二输入端四“与非”门2片 4LS20 四输入端二“与非”门1片 74LS86 二输入端四“异或”门1片 三、预习要求 1、复习门电路的工作原理及相应的逻辑表达式。 2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途(功能)。 四、实验内容 实验前先检查设备的电源是否正常。然后选择实验用的集成电路,按设计的实验原理图(逻辑图)接好连线,特别注意V CC及地线(GND)不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须断开电源,改接好线后再通电实验。 1、测试门电路逻辑功能 ⑴、选用四输入端二“与非”门芯片74LS20一片,按图1.1接线。输入端接四只电平开关(电平开关输出插口),输出端接任意一个电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.1置位,分别测输出电压及逻辑状态。 2、异或门逻辑功能测试 ⑴、选二输入端四“异或”门芯片74LS86一片,按图1.2接线。输入端A、B、C、D接四只电平开关,E点、F点和输出端Y分别接三只电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.2置位,将结果填入表中。

4、用“与非”门组成其它门电路并测试验证⑴、组成“或非”门。用一片二输入端四“与非”门芯组成一个“或非”门:Y=A+B,画出逻辑电路图,测试并填表1.5。 ⑵、组成“异或”门。 A、将“异或”门表达式转化为“与非”门表达式。 B、画出逻辑电路图。 C、测试并填表1.6。

思考题: (1)、怎样判断门电路的逻辑功能是否正常? 答:门电路功能正常与否的判断:(1)按照门电路功能,根据输入和输出,列出真值表。(2)按真值表输入电平,查看它的输出是否符合真值表。(3)所有真值表输入状态时,它的输出都是符合真值表,则门电路功能正常;否则门电路功能不正常。 (2)、“与非”门的一个输入端接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过? 答:与非门接髙电平则其他信号可以通过,接低电平则输出恒为0,与非门的真值表是“有0出1,全1出0”。所以一个输入接时钟,就是用时钟控制与非门,当时钟脉冲为高电平时,允许信号通过,为低电平时关闭与非门。 (3)、“异或”门又称可控反相门,为什么? 答:“异或”函数当有奇数个输入变量为真时,输出为真! 当输入X=0,Y=0 时输出S=0 当输入X=0,Y=1 时输出S=1 0代表假1代表真 异或门主要用在数字电路的控制中! 实验小结 由于是第一次数字电路动手试验,操作不是很熟悉,搞得有些手忙脚乱,加之仪器有一点陈旧,电路板上有些地方被烧过,实验中稍不留神接到了烧过的电路板就很难得出正确的结果。 本次试验加深了我对门电路逻辑功能的掌握,对数字电路实验的一般程序及方法有了一定的了解,对数字电路设备的使用方法也有了初步掌握。 在以后的实验中,我会好好预习,认真思考,实验的时候小心仔细,对实验结果认真推敲,勤于思考勤于动手,锻炼自己的动手能力。

组合逻辑电路的设计与测试

四、实验内容 1、设计用与非门及用异或门、与门组成的半加器电路。 要求按本文所述的设计步骤进行,直到测试电路逻辑功能符合设计要求为止。 解: 逻辑表达式:S= A 2、设计一个一位全加器,要求用异或门、与门、或门组成。 解: i C B A AB )(C C B A S o i ⊕+=⊕⊕= A B 0 00 11 01 1 0 01 01 01 1 S C A B S C 74LS08 74LS86 74LS08 A B C i 0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1 0 01 01 00 11 00 10 11 1 S C o A B C i CC4085

A B C i 0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1 0 01 01 00 11 00 10 11 1 S C o A B C i 5 6 3、设计一位全加器,要求用与或非门实现。 解: 11i 1-i i i 1-i i i i B A C B A C B A S --+++=i i i i i C B A C 1i 1-i i i i i A C B B A C -++=i C A i C B i 4、设计一个对两个两位无符号的二进制数进行比较的电路;根据第一个数是否大于、等于、小于第二个数,使相应的三个输出端中的一个输出为“1”,要求用与门、与非门及或非门实现。

解: A 0 B 0 A 1 B 1 B 74LS04六反相器入与门(1) 入与门(2) 五、实验预习要求 1、根据实验任务要求设计组合电路,并根据所给的标准器件画出逻辑图。 2、如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完好? 3、“与或非”门中,当某一组与端不用时,应作如何处理? 六、实验报告 1、列写实验任务的设计过程,画出设计的电路图。 2、对所设计的电路进行实验测试,记录测试结果。 1、组合电路设计体会。 A 0B 0A 0B 0A 0=B 0 A 1=A 1= B 1A 1=B 1010× A < B 001×A 1>F AB A 0A 1输出输入F A>B = (A 1>B 1) + (A 1=B 1)(A 0>B 0)F A=B =(A 1=B 1)(A 0=B 0) F A

实验一组合逻辑电路设计

实验一 组合逻辑电路的设计 一、实验目的: 1、 掌握组合逻辑电路的设计方法。 2、 掌握组合逻辑电路的静态测试方法。 3、 加深FPGA 设计的过程,并比较原理图输入和文本输入的优劣。 4、 理解“毛刺”产生的原因及如何消除其影响。 5、 理解组合逻辑电路的特点。 二、实验的硬件要求: 1、 EDA/SOPC 实验箱。 2、 计算机。 三、实验原理 1、组合逻辑电路的定义 数字逻辑电路可分为两类:组合逻辑电路和时序逻辑电路。组合逻辑电路中不包含记忆单元(触发器、锁存器等),主要由逻辑门电路构成,电路在任何时刻的输出只和当前时刻的输入有关,而与以前的输入无关。时序电路则是指包含了记忆单元的逻辑电路,其输出不仅跟当前电路的输入有关,还和输入信号作用前电路的状态有关。 通常组合逻辑电路可以用图1.1所示结构来描述。其中,X0、X1、…、Xn 为输入信号, L0、L1、…、Lm 为输出信号。输入和输出之间的逻辑函数关系可用式1.1表示: 2、组合逻辑电路的设计方法 组合逻辑电路的设计任务是根据给定的逻辑功能,求出可实现该逻辑功能的最合理组 合电路。理解组合逻辑电路的设计概念应该分两个层次:(1)设计的电路在功能上是完整的,能够满足所有设计要求;(2)考虑到成本和设计复杂度,设计的电路应该是最简单的,设计最优化是设计人员必须努力达到的目标。 在设计组合逻辑电路时,首先需要对实际问题进行逻辑抽象,列出真值表,建立起逻辑模型;然后利用代数法或卡诺图法简化逻辑函数,找到最简或最合理的函数表达式;根据简化的逻辑函数画出逻辑图,并验证电路的功能完整性。设计过程中还应该考虑到一些实际的工程问题,如被选门电路的驱动能力、扇出系数是否足够,信号传递延时是否合乎要求等。组合电路的基本设计步骤可用图1.2来表示。 3、组合逻辑电路的特点及设计时的注意事项 ①组合逻辑电路的输出具有立即性,即输入发生变化时,输出立即变化。(实际电路中 图 1.1 组合逻辑电路框图 L0=F0(X0,X1,···Xn) · · · Lm=F0(X0,X1,···Xn) (1.1) 图 1.2 组合电路设计步骤示意图图

实验1门电路的功能测试

实验一门电路的功能测试 1.实验目的 (1)熟悉数字电路实验装置,能正确使用装置上的资源设计实验方案; (2)熟悉双列直插式集成电路的引脚排列及使用方法; (3)熟悉并验证典型集成门电路逻辑功能。 2.实验仪器与材料 (1)数字电路实验装置1台; (2)万用表1块 (3)双列直插集成电路芯片74LS00、74LS86、74LS125各1片,导线若干。 3.知识要点 (1)数字电路实验装置的正确使用 TPE-D6A电子技术学习机是一种数字电路实验装置,利用装置上提供的电路连线、输入激励、输出显示等资源,我们可以设计合理的实验方案,通过连接电路、输入激励信号、测试输出状态等一系列实验环节,对所设计的逻辑电路进行结果测试。该实验装置功能模块组成如图1.1所示。 图中①为集成电路芯片区,有15个IC插座及相应的管脚连接端子,其中A13是8管脚插座,A11、A12是14管脚插座,A1、A2、A3、A7、A8是16管脚插座,A4、A5是18管脚插座,A9、A14、A16、A7、A8是20管脚插座,A10、A15是24管脚插座。根据双列直插式集成电路芯片的管脚数可以选择相同管脚数的IC插座,并将集成电路芯片插入IC插座(凹口侧相对应),可以通过导线将管脚引出的接线端相连,实现电路的连接。 图中②为元件区,内有多个不同参数值的电阻、电容以及二极管、三极管、稳压管、蜂鸣器等元件可供连接电路时选择。 图中③为电位器区,内有1k、10k、22k、100k、220k阻值的电位器等元件可供连接电路时选择。 图中④为直流稳压电源区,是装置内部的直流稳压电源提供的+5V、-5V、+15V、-15V 电源输出引脚,可以为有源集成芯片提供工作电源电压。

门电路功能测试及组合逻辑电路设计

实验报告门电路功能测试及组合逻辑电路设计 实验题目:门电路功能测试及组合逻辑电路设计 实验目的: (1)掌握常用门电路的逻辑功能及测试方法; (2)掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。 实验仪器及器材: 数字电路实验箱一个;双踪示波器一台;稳压电源一台;数字万用表一个。 74LS00一片;74LS10一片;74LS20一片。 实验内容: 实验一:对74LS00进行功能测试 ○1.静态测试 (1)A、B都为低电平,输出结果为高电平 (2)A为低电平,B为高电平或A为高电平,B为低电平时,输出结果为高电平

(3)A、B均为高电平,输出结果为低电平 实验结论:测试结果与74LS00逻辑功能功能表相同。○2动态测试 电路的逻辑表达式:F=ˉVK 分析: 当K为0时,示波器的A通道是V的波形,为方波信号,B通道是F的波形,为高电平(一条直线); 当开关闭合后,K=1,B通道应该是与V波形刚好相反的波形;小灯泡也是一闪一闪的状态。 实验的电路图

实验现象: 开关断开: 示波器的显示:

开关闭合后,小灯泡开始一闪一闪,示波器波形如下图: 现象分析:实验所得现象与预先分析的实验结果一样。比较输入与输出的波形,发现输出F的波形与V的波形刚好相反,但是F波形的最大值较V的最大值偏小,究其原因,这属于正常现象,因为输出会有损失。 实验结论:所得到的波形符合功能要求。 实验2 实验目的:分析一个电路的逻辑功能 实验器材:74LS00、74LS10各一片 F=AB*BC*AC,所以F的结果应为以下表格:

实验结论:实验结果与预期的一样,符合该电路的逻辑功能表达式 实验三 实验目的:设计一个控制楼梯电灯的开关控制器,逻辑功能为课本表2-1-5的真值表。 实验原理分析:根据电路所实现的真值表,可以得出输出Y的逻辑表达式: Y=AB*AB 实验电路及现象: 1.A=1,B=0;A=0,B=1,时灯泡发光; 2.A=B=0或1时,灯泡不发光

数电实验二组合逻辑电路

数电实验二组合逻辑电路 The following text is amended on 12 November 2020.

实验二 组合逻辑电路 一、实验目的 1.掌握组和逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。 二、实验仪器及器件 1.仪器:数字电路学习机 2.器件:74LS00 二输入端四与非门 3片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片 三、实验内容 1.组合逻辑电路功能测试 (1).用2片74LS00按图连线,为便于接线和检查,在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 (2).图中A 、B 、C 接电平开关,Y1、Y2接发光管电平显示 (3).按表要求,改变A 、B 、C 的状态,填表并写出Y1、Y2的逻辑表达式。 (4).将运算结果与实验比较。 Y1=A+B ,C B B A Y +=2 2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的 逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知,半加器Y 是A 、B 的 异或,而进位Z 是A 、B 相与,故半加器可用一个集成异 或门和二个与非门组成,如图。 (1).用异或门和与非门接成以上电路。输入A 、B 接 电平开关,输出Y 、Z 接电平显示。 (2).按表要求改变A 、B 状态,填 表。 3.测试全加器的逻辑功能。 (1).写出图电路的逻辑表达式。 (2).根据逻辑表达式列真值表。 (3).根据真值表画逻辑函数SiCi 的卡诺图。 (4).连接电路,测量并填写表各输入 输出 A B C Y1 Y2 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 1 0 1 0 1 1 输入 输出 A B Y Z 0 0 0 0 0 1 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 A i B i C i-1 Y Z X 1 X 2 X 3 S i C i 0 0 0 0 0 1 1 1 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 0 0 1 1 1 1 0 1 1 0 1

数电实验 组合逻辑电路

实验报告 课程名称: 数字电子技术实验 指导老师: 成绩:__________________ 实验名称: 组合逻辑电路 实验类型: 设计型实验 同组学生姓名:__________ 一、实验目的和要求(必填) 二、实验内容和原理(必填) 三、主要仪器设备(必填) 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析(必填) 七、讨论、心得 一.实验目的和要求 1. 加深理解典型组合逻辑电路的工作原理。 2. 熟悉74LS00、74LS11、74LS55等基本门电路的功能及其引脚。 3. 掌握组合集成电路元件的功能检查方法。 4. 掌握组合逻辑电路的功能测试方法及组合逻辑电路的设计方法。 5. 熟悉全加器和奇偶位判断电路的工作原理。 二.实验内容和原理 组合逻辑电路设计的一般步骤如下: 1.根据给定的功能要求,列出真值表; 2. 求各个输出逻辑函数的最简“与-或”表达式; 3. 将逻辑函数形式变换为设计所要求选用逻辑门的形式; 4. 根据所要求的逻辑门,画出逻辑电路图。 实验内容: 1. 测试与非门74LS00和与或非门74LS55的逻辑功能。 2. 用与非门74LS00和与或非门74LS55设计一个全加器电路,并进行功能测试。 专业: 电子信息工程 姓名: 学号: 日期: 装 订 线

3. 用与非门74LS00和与或非门74LS55设计四位数奇偶位判断电路,并进行功能测试。 三. 主要仪器设备 与非门74LS00,与或非门74LS55,导线,开关,电源、实验箱 四.实验设计与实验结果 1、一位全加器 全加器实现一位二进制数的加法,他由被加数、加数和来自相邻低位的进数相加,输出有全加和与向高位的进位。输入:被加数Ai,加数Bi,低位进位Ci-1输出:和Si,进位Ci 实验名称:组合逻辑电路 姓名:学号: 列真值表如下:画出卡诺图: 根据卡诺图得出全加器的逻辑函数:S= A⊕B⊕C; C= AB+(A⊕B)C 为使得能在现有元件(两个74LS00 与非门[共8片]、三个74LS55 与或非门)的基础上实现该逻辑函数。所以令S i-1=!(AB+!A!B),Si=!(SC+!S!C), Ci=!(!A!B+!C i-1S i-1)。 仿真电路图如下(经验证,电路功能与真值表相同):

实验一TTL各种门电路功能测试

实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试 实验时间实验室 1.实验元件(元件型号;引脚结构;逻辑功能;引脚名称) 1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个 2.数字万用表1块 3.74LS20双四输入与非门1片 4.74LS02四二输入或非门1片 5.74LS51双2-3输入与或非门1片 6.74LS86 四二输入异或门1片 7.74LS00四二输入与非门2片 (1)74LS20引脚结构及逻辑功能(2)74LS02引脚结构及逻辑功能 (3)74LS51引脚结构及逻辑功能(4)74LS86引脚结构及逻辑功能 (5)74LS00引脚结构及逻辑功能

2.实验目的 (1)熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。(2)熟悉万用表的使用方法。 3.实验电路原理图及接线方法描述: (1)74LS00实现与电路电路图 (2)74LS00实现或电路电路图

(3)74LS00实现或非电路电路图 (4)74LS00实现异或电路

4.实验中各种信号的选取及控制(电源为哪些电路供电;输入信号的分布位置;输出信号的指示类型;总结完成实验条件) 5.逻辑验证与真值表填写 (1)74LS00实现与电路电路图逻辑分析 逻辑运算过程分析: 1 21 Y=AB Y=Y=AB=AB 真值表: (2)74LS00实现或电路电路图 逻辑运算过程分析: 1 2 312 Y=AA=A Y=BB=B Y=Y Y=AB=A+B=A+B 真值表: 输入输出 A B 2 Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 输入输出 A B 3 Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1

实验六 组合逻辑电路的设计与测试

实验六组合逻辑电路的设计与测试 1.实验目的 (1)掌握组合逻辑电路的设计方法; (2)熟悉基本门电路的使用方法。 (3)通过实验,论证所设计的组合逻辑电路的正确性。 2.实验设备与器材 1)数字逻辑电路实验箱,2)万用表,3)集成芯片74LS00二片。 3.预习要求 (1)熟悉组合逻辑电路的设计方法; (2)根据具体实验任务,进行实验电路的设计,写出设计过程,并根据给定的标准器件画出逻辑电路图,准备实验; (3)使用器件的各管脚排列及使用方法。 4.实验原理 数字电路中,就其结构和工作原理而言可分为两大类,即组合逻辑电路和时序逻辑电路。组合逻辑电路输出状态只决定于同一时刻的各输入状态的组合,与先前状态无关,它的基本单元一般是逻辑门;时序逻辑电路输出状态不仅与输入变量的状态有关,而且还与系统原先的状态有关,它的基本单元一般是触发器。 (1)组合电路是最常用的逻辑电路,可以用一些常用的门电路来组合完成具有其他功能的门电路。设计组合逻辑电路的一般步骤是: 1)根据逻辑要求,列出真值表; 2)从真值表中写出逻辑表达式; 3)化简逻辑表达式至最简,并选用适当的器件; 4)根据选用的器件,画出逻辑电路图。 逻辑化简是组合逻辑设计的关键步骤之一。为了使电路结构简单和使用器件较少,往往要求逻辑表达式尽可能化简。由于实际使用时要考虑电路的工作速度和稳定可靠等因素,在较复杂的电路中,还要求逻辑清晰易懂,所以最简设计不一定是最佳的。但一般来说,在保证速度、稳定可靠与逻辑清楚的前提下,尽量使用最少的器件,以降低成本。 (2)与非门74LS00芯片介绍 与非门74LS00一块芯片内含有4个互相独立的与非门,每个与非门有二个输入端。其逻辑表达式为Y=AB,逻辑符号及引脚排列如图6-1(a)、(b)所示。 (a)逻辑符号(b)引脚排列 图6-1 74LS20逻辑符号及引脚排列 (3)异或运算的逻辑功能 当某种逻辑关系满足:输入相同输出为“0”,输入相异输出为“1”,这种逻辑关系称为“异或”逻辑关系。 (4)半加器的逻辑功能 在加法运算中,只考虑两个加数本身相加,不考虑由低位来的进位,这种加法器称为半加器。 5.实验内容 (1)用1片74LS00与非门芯片设计实现两输入变量异或运算的异或门电路 要求:设计逻辑电路,按设计电路连接后,接通电源,验证运算逻辑。输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”;电路的输出端接由LED发光二极管组成的0-1指示器的显示插口,LED亮红色为逻辑“1”,亮绿色为逻辑“0”。接线后检查无误,通电,用万用表直流电压20V档测量输入、输出的对地电压,并观察输出的LED颜色,填入表6-1。

实验一组合逻辑电路设计

电子信息工程晓旭 2011117147 实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试) 一.实验目的 1掌握常用门电路的逻辑功能。 2掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。 3掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 二.实验设备与器材 数字电路实验箱一个 双踪示波器一部 稳压电源一部 数字多用表一个 74LS20 二4 输入与非门一片 74LS00 四2 输入与非门一片 74LS10 三3 输入与非门一片 三 .实验任务 1对74LS00,74LS20逻辑门进行功能测试。静态测试列出真值表,动态测试画出波形图,并说明测试的门电路功能是否正常。 2分析测试1.7中各个电路逻辑功能并根据测试结果写出它们的逻辑表达式。 3设计控制楼梯电灯的开关控制器。设楼上,楼下各装一个开关,要求两个开关均可以控制楼梯电灯。 4某公司设计一个优先级区分器。该公司收到有A,B,C,三类,A,类的优先级最高,B 类次之,C类最低。到达时,其对应的指示灯亮起,提醒工作人员及时处理。当不同类的同时到达时,对优先级最高的先做处理,其对应的指示灯亮,优先级低的暂不理会。按组合逻辑电路的一般设计步骤设计电路完成此功能,输入输出高低电平代表到

实验一: (1)74LS00的静态逻辑功能测试 实验器材:直流电压源,电阻,发光二极管,74LS00,与非门,开关,三极管 实验目的:静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表,确认门电路的逻辑功能正确与否 实验过程:将74LS00中的一个与非门的输入端A,B分别作为输入逻辑变量,加高低电平,观测输出电平是否符合真值表描述功能。 电路如图1: 图1 真值表1.1: 实验问题:与非门的引脚要连接正确,注意接地线及直流电源 实验结果:由二极管的发光情况可判断出74LS00 实现二输入与非门的功能 (2)71LS00的动态逻辑功能测试 实验器材:函数发生器,示波器,74LS00,与非门,开关,直流电压源 实验目的:测试74LS00与非门的逻辑功能 实验容:动态测试适合用于数字系统中逻辑功能的检查,测试时,电路输入串行数字

实验一基本门电路的逻辑功能测试

实验一基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为: 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。 3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、实验内容 1.测试TTL门电路的逻辑功能: a)测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b)测试74LS32的逻辑功能。(或门)000 011 101 111 c)测试74LS04的逻辑功能。(非门)01 10 d)测试74LS00的逻辑功能。(两个都弄得时候不亮,其他都亮)(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)001 011 101 110 e)测试74LS02(或非门)的逻辑功能。(两个都不弄得时候亮,其他不亮)001 010 100 110 f)测试74LS86(异或门)的逻辑功能。 2.测试CMOS门电路的逻辑功能:在CMOS 4000分类中查询 a)测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。(与门) b)测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。(或门) c)测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。(非门) d)测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。(与非门)(如果只接一个的话,就是非门)

e)测试CC4001(74HC02)(或非门)的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)(异或门)的逻辑功能。 五、实验报告要求 1.画好各门电路的真值表表格,将实验结果填写到表中。 2.根据实验结果,写出各逻辑门的逻辑表达式,并分析如何判断逻辑门的好坏。 3.比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。 4.查询各种集成门的管脚分配,并注明各个管脚的作用与功能。 例:74LS00 与门 Y=AB

MSI组合电路逻辑功能测试

实验五 MSI 组合电路逻辑功能测试 一、实验目的 1.会正确测试全加器、编码器、译码器、数据选择器等组合逻辑功能模块的逻辑功能,并能正确描述。 2.了解组合逻辑功能模块的工作特点。 二、实验仪器与器材 1.XST-5B 数字电路实验装置、实验模板 2.集成电路74LS148、74LS138、74LS151等。 3.导线若干、+5V 电源 三、预习要求 预习半加器、全加器、编码器、译码器、数据选择器、数值比较器的逻辑功能。 四、实验原理 中规模的器件,如译码器、数据选择器等,它们本身是为实现某种逻辑功能而设计的,但由于它们的一些特点,我们也可以用它们来实现任意逻辑函数。 1.全加器 全加器--考虑低位进位数的两个一位二进制数的加法运算逻辑电路。二进制全加器的输入有加数Ai ,被加数Bi ,来自低位的进位数Ci-1;输出也有两个,分别是和数Si 和进位数Ci 。 表5-1是全加器的真值表,其中i A ,i B 表示两个加数,1i C -表示来自低位的进位,i S ,i C 表示相加后得到的和及进位。 1i i i i S A B C -=⊕⊕ (i C =

表5-1 全加器真值表 2.编码器 编码器是一种常用的组合逻辑电路,用于实现编码操作。编码操作就是将具体的事物或状态表示成所需代码的过程。按照所需编码的不同特点和要求,编码器主要分成二类:普通编码器和优先编码器。 普通编码器:电路结构简单,一般用于产生二进制编码。包括:a.二进制编码器:如用门电路构成的4—2线,8—3线编码器等。 b.二一十进制编码器:将十进制的0~9编成BCD码, 优先编码器:当有一个以上的输入端同时输入信号时,普通编码器的输出编码会造成混乱。为解决这一问题,需采用优先编码器。如8线—3线集成二进制优先编码器74LS148、10线—4线集成BCD码优先编码器74LS147等。 表5-2 8线3线编码器功能表 3.译码器 译码器是一个多输入、多输出的组合逻辑电路。它的作用是把给

实验二组合逻辑电路的设计与测试

实验二组合逻辑电路的设计与测试 一、实验目的 1、掌握组合逻辑电路的设计方法及功能测试方法。 2、熟悉组合电路的特点。 二、实验原理 1、使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。设计组合电路的一 般步骤如图2 —1所示。 图2—1组合逻辑电路设计流程图 根据设计任务的要求建立输入、输出变量,并列出真值表。然后用逻辑代数或卡诺图化 简法求出简化的逻辑表达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。根据简化后的 逻辑表达式,画出逻辑图,用标准器件构成逻辑电路。最后,用实验来验证设计的正确性。 2 、组合逻辑电路设计举例 用“与非”门设计一个表决电路。当四个输入端中有三个或四个为“1”时,输出端才为“ 1”。'\ /设计步骤:根据题意列出真值表如表2—1所示,再填入卡诺图表2 —2中。 表2—

、1110 \DA BC、\0001 000000 01001\ 0 110111 100010 由卡诺图得出逻辑表达式,并演化成“与非”的形式 Z = ABO BCH ACDF ABD =ABC BCD ACDABC 根据逻辑表达式画出用“与非门”构成的逻辑电路如图2- 2所示。 A B C B C D A C D A B D 图2 —2表决电路逻辑图 用实验验证该逻辑功能 在实验装置适当位置选定三个14P插座,按照集成块定位标记插好集成块CC4012按图2 —2接线,输入端A、B、C D接至逻辑开关输出插口,输出端Z接逻辑电平显示输入插口,按真值表(自拟)要求,逐次改变输入变量,测量相应的输出值,验证逻辑功能,与表2—1进行比较,验证所设计的逻辑电路是否符合要求。 三、实验设备与器件 1 、 + 5V直流电源2、逻辑电平开关 3 、逻辑电平显示器4、直流数字电压表 5、CC4011X 2 ( 74LS00)CC4012 X 3 (74LS20)CC4030 (74LS86) CC4081 (74LS08)74LS54 X 2(CC4085)CC4001 (74LS02)

组合逻辑电路实验与解答

湖北第二师范学院实验 组合逻辑电路 物机学院-11应用物理学 一、实验目的 1.掌握用与非门组成的简单电路,并测试其逻辑功能。 2.掌握用基本逻辑门设计组合电路的方法。 二、实验原理 数字电路按逻辑功能和电路结构的不同特点,可分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。组合逻辑电路是根据给定的逻辑问题,设计出能实现逻辑功能的电路。用小规模集成电路实现组合逻辑电路,要求是使用的芯片最少,连线最少。一般设计步骤如下: 1.首先根据实际情况确定输入变量、输出变量的个数,列出逻辑真值表。 2.根据真值表,一般采用卡诺图进行化简,得出逻辑表达式。 3.如果已对器件类型有所规定或限制,则应将函数表达式变换成与器件类型相适应 的形式。 4.根据化简或变换后的逻辑表达式,画出逻辑电路。 5.根据逻辑电路图,查找所用集成器件的管脚图,将管脚号标在电路图上,再接线 验证。 三、实验仪器及器件 数字实验箱一台,集成芯片74LS00一块、74LS20三块,导线若干。 四、实验内容 1.用非与门实现异或门的逻辑功能 (1) 用集成电路74LS00和74LS20(74LS20管脚见图1所示),按图2连接电路(自己设计接线脚标),A、B接输入逻辑,F接输出逻辑显示,检查无误,然后开启电源。 图1 74LS20集成电路管脚图 (2) 按表1的要求进行测量,将输出端F的逻辑状态填入表内.

表1 输出真值表 图 2-电路接线图 (3) 由逻辑真值表,写出该电路的逻辑表达式 F= B A B A ?+? 2. 用与非门组成“三路表决器” (1) 用74LS00和74LS20组成三路表决器,按图3连接电路(自己设计接线脚标),A ,B ,C 接输入逻辑,F 接输出逻辑显示,检查无误,然后开启电源。 (2) 按表2的要求进行测量,将输出端F 的逻辑状态填入表内。 A 表 2输出真值表 & B F C 图 3 电路接线图 3. 设计一个“四路表决器”逻辑电路并测试 设计一个四变量的多路表决器。当输入变量A 、B 、C 、D 有三个或三个以上为1时,输出F 为1;否则输出F 为0。 (1)根据设计要求列出表3四人表决器真值表。 (2)用卡诺图化简逻辑函数,写出逻辑 表达,F= D C B D C A D B A C B A ??+??+??+??. (3)用74LS20与非门实现“四人表决器”,画出实验电路,标出接线脚并测试,验证所列真值表。 输 入 输 出 A B F 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 0 输 入 输 出 A b CF 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 & & & & && & & & A B F

实验六 MSI组合逻辑电路的逻辑功能测试

实验六MSI 组合逻辑电路的逻辑功能测试 一、实验目的 熟悉中规模全加器、译码器、数据选择器组件的逻辑功能、外形及外引线排列。 二、实验仪器与器材 1.XST-5B 数字电路实验装置、实验模板 2.集成电路: 74LS283、74LS138、74LS153、74LS151 3.导线若干、+5V 电源 三、预习要求 预习半加器、全加器、译码器、数据选择器的逻辑功能。 四、实验内容与步骤 1.全加器的逻辑功能测试 表6-1是全加器的真值表,其中i A ,i B 表示两个加数,1i C -表示来自低位的进位,i S ,i C 表示相加后得到的和及进位。 1i i i i S A B C -=⊕⊕ 1()i i i i i i C A B C A B -=⊕+ 将全加器的输入端i A ,i B ,1i C -分别接逻辑电平,输出i S ,i C 接状态显示灯(LED ),按表6-1所列i A ,i B ,1i C -的状态,测试i S ,i C 的相应状态,将测试结果与表6-1进行比较。

2.译码器逻辑功能测试 表6-2是3线/8线译码器74LS138的真值表。按表中给定的输入状态。测试输出,将测得的结果与表6-2进行比较。

表6-2 3.数据选择器逻辑功能测试 ①表6-3是4选1数据选择器74LS153的功能表,按表中给定的输入状态。测试输出,将测得的结果与表6-3进行比较。

表6-3 ②八选一数据选择器74LS151功能测试(自己根据管脚排列和测试结果写出功能表及函数表达式) 五、实验报告 1、整理实验结果、图表,并对实验结果进行分析讨论。 2、写出各芯片的函数表达式。 3、总结本次实验体会。

门电路逻辑功能及测试(完成版)

实验一门电路逻辑功能及测试 计算机一班组员:2014217009赵仁杰 一、实验目的 1. 熟悉门电路的逻辑功能、逻辑表达式、逻辑符号、等效逻辑图。 2. 掌握数字电路实验箱及示波器的使用方法。 3、学会检测基本门电路的方法。 二、实验仪器及材料 1、仪器设备:双踪示波器、数字万用表、数字电路实验箱 2. 器件: 74LS00 二输入端四与非门2片 74LS20 四输入端双与非门1片 74LS86 二输入端四异或门1片

三、预习要求 1. 预习门电路相应的逻辑表达式。 2. 熟悉所用集成电路的引脚排列及用途。 四、实验内容及步骤 实验前按数字电路实验箱使用说明书先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成块芯片插入实验箱中对应的IC座,按自己设计的实验接线图接好连线。注意集成块芯片不能插反。实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。每个芯片的电源和GND引脚,分别和实验台的+5V 和“地(GND)”连接。芯片不给它供电,芯片是不工作的。用实验台的逻辑开关作为被测器件的输入。拨动开关,则改变器件的输入电平。开关向上,输入为1,开关向下,输入为0。 将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯连接。指示灯亮表示输出电平为1,指示灯灭表示输出电平为0。 1.与非门电路逻辑功能的测试 (1)选用双四输入与非门74LS20一片,插入数字电路实验箱中对应的IC座,按图1.1接线、输入端1、2、4、5、分别接到K1~K4的逻辑开关输出插口,输出端接电平显示发光二极管D1~D4中任意一个。注意:芯片74LS20的14号引脚要接试验箱下方的+5V电源,7号引脚要接试验箱下方的地(GND)。用万用表测电压时,万用表要调到直流20V档位,因为芯片接的电源是直流+5V。 表1.1

实验一-组合逻辑电路

东南大学电工电子实验中心 实验报告 课程名称:计算机结构与逻辑设计实验 第一次实验 实验名称:组合逻辑电路 院(系):专业: 姓名:学号: 实验室: 实验组别: 同组人员:实验时间:2015年10月29 日 评定成绩:审阅教师:

一、实验目的 ①认识数字集成电路,能识别各种类型的数字器件和封装 ②掌握小规模组合逻辑和逻辑函数的工程设计方法 ③掌握常用中规模组合逻辑器件的功能和使用方法 ④学习查找器件资料,通过器件手册了解器件 ⑤了解面包板的基本结构、掌握面包板连接电路的基本方法和要求 ⑥了解实验箱的基本结构,掌握实验箱电源、逻辑开关和LED点平指示的 用法 ⑦学习基本的数字电路的故障检查和排除方法 ⑧学Mulitisim逻辑化简操作和使用方法 ⑨学习ISE软件操作和使用方法 二、实验原理 1.组合逻辑电路: 组合逻辑电路又称为门网络,它由若干门电路级联(无反馈)而成,其特点是(忽略门电路的延时):电路某一时刻的输出仅由当时的输入变量取值的组合决定,而与过去的输入取值无关。 其一般手工设计的过程为: ①分析其逻辑功能 ②列出真值表 ③写出逻辑表达式,并进行化简 ④画出电路的逻辑图 2.使用的器件: 1)74HC00(四2输入与非门):芯片内部有四个二输入一输出的与非门。 2)74HC20(双4输入与非门):芯片内部有两个四输入一输出的与非门。注意,四输入不能有输入端悬空。 3)74HC04(六反相器):芯片内部有六个非门,可以将输入信号反相。当然,也可以通过2输入与非门来实现,方法是将其一个输入端信号加高电平。 4)74HC151(数据选择器):其功能犹如一个受编码控制的单刀多掷开关,可用在数据采集系统中,选择所需的信号。它有8个与门,各受信号A2、A1、A0的一组组合控制,再将这8个与门的输出端经一个或门输出,是一个与—或电路。 5)74HC138(3线-8线译码器):其有三个使能端E1、E2、E3,可将地址段(A0、A1、A2)的二进制编码在Y0至Y7对应的输出端以低电平译出。 三、实验内容 必做实验: ①数值判别电路 a)设计一个组合逻辑电路,它接收一位8421BCD码B3B2B1B0,仅当2 < B3B2B1B0 < 7时 输出Y才为1(第6周实验课内指导教师验收)

实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试 一.实验目的 1.掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。 2.熟悉各种门电路参数的测试方法。 3. 熟悉集成电路的引脚排列,如何在实验箱上接线,接线时应注意什么。 二、实验仪器及材料 a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b)1)CMOS器件: CC4011 二输入端四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片2)TTL器件: 74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片 74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片 74ls04 反向器材 1片 三.预习要求和思考题: 1.预习要求: 1)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 2)常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。 3)三态门的功能特点。 4)熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。 5)用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2.思考题 1)TTL门电路和CMOS门电路有什么区别? 2)用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么? 四.实验原理 1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。 2.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。 TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,其管脚识别方法:将TTL集成门电路正面(印有集成门电路型号标记)正对自己,有缺口或有圆点的一端置向左方,左下方第一管脚即为管脚“1”,按逆时针方向数,依次为1、2、3、4············。如图1—1所示。具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知,本书实验所使用的器件均已提供其功能。 图1—1

实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)

实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试) 一、实验目的 1.掌握常用门电路的逻辑功能 2.掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法 3.掌握组合逻辑电路的功能测试方法 二、实验设备与器材 数字电路试验箱双踪示波器稳压电源数字多用表 74LS20 二4输入与非门 74LS00 四2输入与非门 74LS10 三3输入与非门 三、实验原理 TTL集成逻辑电路种类繁多,使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查,保证实验的顺利进行。 测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。静态测试时,门电路输入端加固定的高(H)、低电平,用示波器、万用表、或发光二极管(LED)测出门电路的输出响应。动态测试时,门电路的输入端加脉冲信号,用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。

下面以74LS00为例,简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00为四输入2与非门,电路图如3-1所示。74LS00是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中,共有14条外引线。使用时必须保证在第14脚上加+5V电压,第7脚与底线接好。 整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。 表3-1 74LS00与非门真值表 1.门电路的静态逻辑功能测试 静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表,确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时,可将74LS00中的一个与非门的输入端A、B分别作为输入逻辑变量,加高、低电平,观测输出电平是否符合74LS00的真值表(表3-1)描述功能。 测试电路如图3-2所示。试验中A、B输入高、低电平,由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生,输入F可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。

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