控制图讲稿

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质量管理手法系列培训-控制图ppt课件

质量管理手法系列培训-控制图ppt课件

类 别
控制图符号
控制图名称
控制界限
类别 控制图符号
控制图名称
控制界限
UCLX=X+A2R
CLX=X
X-R
均值-极差控制图
UCLX=X-A2R UCLR=D4R
CLR=R
LCLR=D3R
UCLX=X+A3s
CLX=X
X-s
均值-标准差控制图
UCLX=X-A3s UCLs=B3s

CLs=s

量 控
LCLs=B3s
➢ 概述 ➢ ●定义:控制图是对过程质量加以丈量、记录并进展控

➢ 管理的一种用统计方法设计的图。

控制图





UCL-上控制界限
CL-中心 线
LCL-下控制界限
时间或样本号
控制图由正态分布演化而来。正态分布可用两个参数
即均值μ和规范差σ来决议。正态分布有一个结论对质量管 理很有用,即无论均值μ和规范差σ取何值,产质量量特性 值落在μ±3σ之间的概率为99.73%,落在μ±3σ之外的概 率为100%-99.73%= 0.27%,而超越一侧,即大于μ+3σ 或小于μ-3σ的概率为0.27%/2=0.%≈1‰,休哈特就根据这 一现实提出了控制图。 由于上下的数值大小不合常规,
A
B
XC
×
C
B
A
LCL
延续5点中有4点落在同一侧的C区以 外
UC L
A
B
XC
×
C
B
A
LCL
延续15点落在中心线两侧的C区内
延续8点落在中心线两侧且无一再C 区内
在点随机陈列的情况下,判别过程稳态,既没有异常波 动的准那么:

控制图使用培训讲义全

控制图使用培训讲义全

3.统计与概率论简介
Z值表
4.均值极差图( Xbar-R图)
生产过程中用控制图对过程质量特性进行测定、记录、评 估,从而监察过程是否处于控制状态,对过程异常提前进行 预警。
控制图种类有多种,而使用最多的是均值极差控制图 (Xbar-R图)。
4.均值极差图( Xbar-R图)
控制图类别
数值 分布
M:规范中心(规格中心) M = USL LSL
2
T:规范宽度(规格公差),T=USL-LSL ,T描述的是客户要求的宽与严。
T/2:半公差
ε:偏移量(或偏移系数),反应数据中心偏离规格中心的大小 ε=|M - μ|
K:相对偏移量(或修正系数) ,反应数据中心偏离规格中心的程度,也有用Ca。
K= ε T/2
4.均值极差图( Xbar-R图)
术语(控制图中的线): USL:规范上限 ,也有用TU来表示的
LSL:规范下限,也有用TL来表示的 CL:控制限(或控制中心线) UCL:上控制限, UCL=μ+3σ LCL:下控制限, LCL=μ-3σ A区的边界 UWL:上警告限, UWL=μ+2σ LWL:下警告限, LWL=μ-2σ B区的边界
σˆ 同理:后面 是s 的估计值
总体
μ
=
X1 X 2 .... X N N
=
1 N
N i =1
Xi
3.统计与概率论简介
总体均值 总体标准差
样本均值 样本标准差
N
m
=
xi
i =1
=
x1 x2 ...xN
N
N
s=
N
( xi m )2
i =1
N

质量管理学控制图课件.ppt

质量管理学控制图课件.ppt

• 计算统计量的中心值和控制界限。
x 图:
中心值CL=
= =x29.86(g)
UCL= =x+ A2 R ≈ 45.69(g)
LCL=
= x—
A2
R

14.03(g)
注:A2为随着样本容量n而变化的系数,可由控制图系数选用表中选取。
第13页,共35页。
R 图:
中心值 CL= R=27.44(g) UCL= D4 R≈ 58.04(g)
• 在质量改进方面,可以用来确认某过程是否得到了改进。
第5页,共35页。
二、应用控制图的步骤
应用步骤如下:
选择控制图拟控制的质量特性,如重量、不合格品数等;
选用合适的控制图种类; 确定样本容量和抽样间隔;
收集并记录至少20~ 25个样本的数据,或使用以前所记录的数据; 计算各个样本的统计量,如样本平均值、样本极差、样本标准差等;
• 在不对该过程做任何调整的同时,继续用同样的方法对 多装量抽样、观察和打点。如果在继续观察时,控制图 显示出存在异常原因,则应进一步分析具体原因,并采 取措施对过程进行调整。
第16页,共35页。
四、控制图的观察与分析
点子没有超出控制线(在控制线上的点子按出超出处理),
控制界限内的点子排列无缺陷,反映工序处于控制状态,生 产过程稳定,不必采取措施。 控制图上的点子出现下列情形之一时,即判断生产过程异常:
34.2
25
24
28
27
22
32
54
163
32.6
32
25
42
34
15
29
21
141
23.2
27
累计
746.6

控制图ppt课件

控制图ppt课件
过程控制图Байду номын сангаас述
生产运营部
1
主要内容
• 一、引言 • 二、什么是控制图? • 三、控制图的分类 • 四、控制图的判稳、判异 • 五、控制图的应用 • 六、控制图的制作示例
2
一、引言
• 背景:
药品质量源于设计,是生产出来的,不是 检验出来的。
法规提出需求,6sigma精益生产管理提出
方法。 生产过程控 制
时需保持原有状态。 ③确认:确认某一过程的改进效果,是
否得到改进,是否需要改进。
9
二、什么是控制图?
• 2.5控制图的作用
控制图主要是以预防为主,把影响产品质量的诸因素消灭 在萌芽状态,以保证质量、降低成本、提高生产效率、提 高经济效益的目的。具体作用如下:
能及时发现生产过程中的一场现象和缓慢变异,能预防不合格品 发生,从而降低生产费用和提高生产效率; 能有效分析和判断生产过程工序质量的稳定性; 可查明设备和工艺手段的实际精度,以便做出正确的技术决定; 为真正的制定工序目标和规格界限,特别是对配合零部件的最优 化确立了可靠的基础;
• 5.2如何选择控制图?
28
五、控制图的应用
• 5.3控制图制作步骤一般为: ①按规定的抽样间隔和样本大小抽取样
本,收集数据; ②测量样本的质量特性值,计算其统计
量数值; ③在控制图上描点; ④控制图修正; ⑤判断生产过程。
29
五、控制图的应用
使工序的成本和质量成为可预测的。
10
三、控制图的分类
• Content
s
01 按数值质量特性分类
02
按控制图用途分 类
11
三、控制图的分类
• 3.1按数值质量特性分类: • 计量型控制图: 指产品需实际量测而取得的连续性实际值,并 对其做数理分析,以说明该产品在此量测特性 的品质状况的方法。 • 计数值控制图: 它是以计件产品的不良件数或点数的表示方 法,数据在理论上有不连续的特性,故称为离型 变量。

控制图讲稿1

控制图讲稿1

控制图的控制限分别位于中心线的两侧3σ距离处。3σ控制限表明,若过程处于统计控制状态,则大约有99.7%的子组值将落在控制界限之内。换句话说,当过程受控时,大约有0.3%的风险,或每点绘1000次中,平均有3次,描绘点会落在上控制限或下控制线之外。 许多场合,在控制图上另外加上2σ控制限是有益的。这样,任何落在2σ界限外的子组值都可以作为失控状态即将来临的一个警示信号,因此,2σ控制限有时也称作“警戒限”。在对控制图进行判断的是否,会用到1 σ,2 σ,3 σ限,这在后面会讲到。
X-s图制作范例
s控制限的计算: UCLs=B4*s CLs=s LCLs=B3*s B3,B4为常数,通过查表可得。
X图控制限的计算: UCLX=X+A3*s CLX=X LCLX=X-A3*s A3为常数,通过查表可得。
(3)Me-R控制图 Me-R控制图与X-R图也很相似,只是用中位数(Me)代替均值(X)。由于中位数的计算比均值简单,所以多用于现场需要把测定数据直接记入控制图进行控制的场合,这是,为了简便,自然规定为奇数个数据。现在多用电脑进行绘图,计算平均值已经不成问题,故Me-R图的应用逐渐减少。
P控制图
不合格品数控制图
np控制图
计点值
泊松分布
单位不合格数控制图
U控制图
不合格数控制图
C控制图
控制图中常用符号的解析: n 子组大小,单个子组中子组观测值的个数 k 子组数 X 质量特性的观测值 X 子组的平均值 Me 子组中位数。对于一组升序或降序排列的n个子组观测值X1,X2…..,当n为奇数时,中位数等于该组数中间的那个数;当n为偶数时,中位数等于该组数中间两个数的平均值。 R 子组极差。子组观测值中极大值与极小值之差。 注:在单值图的情况下,R代表移动极差,即两个相邻观测值的差值的绝对值。 S 子组标准偏差 s=

控制图讲义统计过程控制(SPC)

控制图讲义统计过程控制(SPC)

spc
统计过程分析
控制界限的构成
11
Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
普 通 原 因(偶因) 与 特 殊 原 因(异因) 之变异
随机变异: 过程中变异因素是始终存在,且不易识别的原因造成的, 并假定为过程所固有。
普通原因
偶然原因(偶因) 一般 原因
结果为: 在统计的控制状态下, 其产品之特性有固定(典型)的分配(布)。
24
Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
X R 绘图步骤
4.求控制界限 (1) 控制X 图 CL= X = 50.16
UCL= X+A2 R= 50.16+(0.58) (4.8)= 52.93 LCL= X-A2R = 50.16-(0.58) (4.8)= 47.39
CL = R
2.实例:
UCL = D4 R LCL = D3 R
某工厂制造一批紫铜管,应用 X-R控制图来控制其内径,尺寸
单位为m/m,利用下页数据表之资料,求得其控制界限并绘图。
(n = 5)
22
Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
X-R控制图用数据表
产品名称:紫铜管
机械号码:XXX
1. 柏拉图(决定控制重点) 2. 统计检定 3. 控制图 4. 抽样计划 5. 变异数分析/回归分析
6
Edited by Mr. jose lee
spc
统计过程分析
过程控制系统
过程中对策 绩 效 报 告 成 品 改 善
过程中对策 人员 设备 材料 成 方法 环境
7

SPC控制图2篇

SPC控制图2篇

SPC控制图第一篇:SPC控制图1. 介绍SPC控制图(Statistical Process Control)是一种质量管理工具,用于监控和管理过程中的变异性。

它基于统计原理,通过收集和分析过程数据,可以帮助我们实时判断过程是否处于控制状态,并及时采取措施进行调整和修正,以保证产品或服务的稳定性和可靠性。

2. SPC控制图的基本原理SPC控制图有两个基本原则:稳定性和可预测性。

稳定性是指过程在一个可控制的范围内运行,没有特殊原因的变异性;可预测性是指过程的性能可以通过数据进行预测和估计,而不需要依赖特殊原因的出现。

3. SPC控制图的类型常用的SPC控制图有以下几种类型:(1)X-Bar和R控制图:用于监控连续性数据的平均值和范围。

(2)X-Bar和S控制图:与X-Bar和R控制图类似,但用标准差代替范围。

(3)P控制图:用于监控离散型数据的不良率或缺陷率。

(4)C控制图:用于监控离散型数据的计数。

4. SPC控制图的使用步骤(1)收集数据:根据所监控的过程特性,选择合适的采样方法和样本大小,收集数据。

(2)构建控制图:根据采集到的数据,计算样本平均值、范围、标准差、不良率等统计指标,绘制控制图。

(3)判断过程状态:分析控制图上的数据点和规则,判断过程是否处于控制状态。

(4)监控过程:定期收集和更新数据,绘制新的控制图,进行持续监控和分析。

5. SPC控制图的应用范围SPC控制图可以应用于各行各业的生产过程和服务过程中,如制造业的生产线、医疗行业的手术过程、金融行业的交易过程等。

通过使用SPC控制图,可以及时发现潜在问题,并采取纠正措施,提升过程的稳定性和可靠性。

6. SPC控制图的优势与挑战(1)优势:- 实时监控:SPC控制图可以提供实时的过程数据,帮助管理者及时判断过程状态。

- 判断能力:通过分析控制图上的数据点和规则,可以判断过程是正常变异还是有特殊原因的变异。

- 效益显著:SPC控制图可以帮助企业降低不良率、提高产品质量,并节约成本。

控制图的原理及应用教案

控制图的原理及应用教案

控制图的原理及应用教案一、控制图的概述•控制图是用来监测和分析过程稳定性的工具。

它能够帮助我们判断过程是否受到了特殊因素的影响,从而帮助我们定位问题和改进过程。

•控制图包括过程监控图、变动图、普通图等,每种图形都有其特定的使用场景和目的。

二、控制图的基本原理•均值控制图的原理:通过收集和分析过程数据,确定过程的中心线和控制上下限,根据数据的离散程度来判断过程的稳定性。

•范围控制图的原理:通过跟踪样本范围的变化,来评估过程的稳定性和一致性。

•动态测量控制图的原理:通过在过程控制中,采样循环中检测结果的变化,来判断过程的稳定性。

•经济控制图的原理:通过分析与经济因素相关的数据,来优化过程并减少资源的浪费。

三、控制图的应用场景1.生产过程监控:通过定期采样和测量关键参数,将数据绘制在控制图上,及时发现过程异常和问题并采取相应的纠正措施。

2.产品质量控制:通过控制图来监测产品参数的变化和偏离,确保产品质量在可接受范围内,并及时发现潜在问题。

3.供应链管理:通过掌握供应链中各个环节的数据,绘制控制图来分析供应链的稳定性和可靠性,及时处理延迟和异常情况。

4.服务质量监控:对于服务行业,可以使用控制图来衡量并监控关键指标,及时发现异常情况并采取相应的改进措施。

5.实验过程控制:在实验过程中,采用控制图能够帮助我们评估实验结果的稳定性和一致性,从而提高实验的可靠性。

四、控制图的应用步骤1.收集数据:需要收集与需要监控的过程相关的数据。

2.绘制控制图:选择适当的控制图类型并将数据绘制在控制图上。

3.判断过程稳定性:通过分析控制图数据的模式和规律,判断过程的稳定性。

4.分析过程问题:如果控制图中存在异常点或趋势,说明过程可能存在问题,需要进一步分析和排查。

5.纠正和改进:根据分析结果采取纠正措施,并对过程进行改进以提高稳定性和一致性。

6.持续监控:持续收集数据并绘制控制图,监控过程的稳定性和持续改进。

五、控制图的优势和局限性优势•提供直观的数据展示和分析方式,便于快速理解和判断过程稳定性。

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X图控制限的计算: UCLX=X+A2*R CLX=X LCLX=X-A2*R A2为常数,通过查表可得。 n A2 2 1.880 3 1.023 4 0.729 5 0.577 6 0.483 7 0.419 8 0.373
根据计算结果进行绘图,可以在电子表格中进行,也 可以在MINITABEL软件中进行。
2 3
1.67>CPK ≥1.33 1.33>CPK ≥1,00
合格 警告
4
1.00>CPK ≥0.67
不足
5
0.67>CPK
非常不足
CPK计算示例
Z=
p 1− p / n
(
p− p
)
这样,中心线和控制限如下所示改为常数,而与子组的大小无关: UCL=3 CL=0 LCL=-3
同样,u图可以用同样的方法进行转换:
Z =
u−u u/n
P图制作示例
那怎样的子组频数和子组大小是合适的呢?
关于子组频数和子组大小,无法制定通用的规则,可根据实际 情况考虑。通常,子组大小取4或5,而பைடு நூலகம்样频数,一般在初期时高 ,一旦达到统计控制状态后就低。通常认为,抽取大小为4或5的20 ~25个子组就足够了。
三、控制图的判断 当我们把控制图做好后,我们如何判断这个控制是否正常呢?
将控制图分为6个区,每个区宽1σ。这6个区标号分别为A,B,C,C,B,A,两个A区 ,两个B区及C区都关于中心线的对称。 以下为控制图是否正常的8个检验模式。
四、CPK值的计算 CPK为制程能力指数,反应制程满足实际尺寸要求的能力,CPK数值越大,制 程越能保证实际尺寸的加工要求,评估制程满足实际尺寸要求的能力,并以此统 计分析结果确定生产能力是否满足大批量生产的要求
X 子组的平均值 Me 子组中位数。对于一组升序或降序排列的n个子组观测值X1,X2…..,当n为奇 数时,中位数等于该组数中间的那个数;当n为偶数时,中位数等于该组数中间 两个数的平均值。 R 子组极差。子组观测值中极大值与极小值之差。 注:在单值图的情况下,R代表移动极差,即两个相邻观测值的差值的绝对值。 S 子组标准偏差
单值-移动极差控制图 X-Rs控制图 Rs控制图 计件值 二项分布 不合格品率控制图 不合格品数控制图 计点值 泊松分布 单位不合格数控制图 不合格数控制图 P控制图 np控制图 np控制图 U控制图 C控制图
控制图中常用符号的解析: n k X 子组大小,单个子组中子组观测值的个数 子组数 质量特性的观测值
X-S图的制作与前面讲到的X-R图是一样的。
s控制限的计算: UCLs=B4*s CLs=s LCLs=B3*s B3,B4为常数,通过查表可得。 X图控制限的计算: UCLX=X+A3*s CLX=X LCLX=X-A3*s A3为常数,通过查表可得。
X-s图制作范例
(3)Me-R控制图 Me-R控制图与X-R图也很相似,只是用中位数(Me)代替均值(X)。由于中位 数的计算比均值简单,所以多用于现场需要把测定数据直接记入控制图进行控制的 场合,这是,为了简便,自然规定为奇数个数据。现在多用电脑进行绘图,计算平 均值已经不成问题,故Me-R图的应用逐渐减少。 以下给出Me-R图控制限的计算公式: Me图控制限的计算: UCLMe=Me+A4*s CLMe=Me LCLMe=Me-A4*s A3为常数,通过查表可得。
s=
∑ ( Xi − X )
n −1
2
P
子组不合格品率
P=子组的不合格品数/子组大小 np U C 子组的不合格品数 子组单位产品不合格数 子组不合格数
常规控制图的性质 常规控制图要求从过程中以近似等间隔抽取的数据。此间隔 可以用时间来定义(例如:每小时)或者用数量来定义(例如: 每批)。通常,每个子组由具有相同可测量单位和相同子组大 小的同一产品或服务所组成。从每一个子组得到一个或多个子 组特征值,如子组平均值X,子组极差R或标准差S。 常规控制图就是给定的子组特性值与子组号对应的一种图形 ,它包含一条中心线(CL),作为所点绘特性的基准值。在评定 过程是否处于统计控制状态时,此基准值通常作为所考察数据 的平均值。对于过程控制,此基准值通常为产品规范中所规定 特性的长期值,或者是基于过程以往经验所点绘特性的标称值 ,或者是产品或服务的隐含目标值。控制图还包含由统计方法 确定两条控制线,位于中心线的各一侧,称为上控制限( UCL),和下控制限(LCL)
统计量 P
中心线
3σ控制限
p
np
p ± 3× p 1− p / n
(
)
np
n p ± 3 n p 1− p
(
)
C u
c u
c±3 c
u ±3 u/n
这些控制图的计算是类似的,但子组大小发生变化时情况将有所不同。当子组大 小为常数,同一组控制限可以用于每一个子组;当子组大小发生变化时,则每一 子组都需要计算各自的控制限。因此,np图和c图可以用于子组大小为常数的情 况,而p图和u图则可以用于上述两种情形。 如果子组大小变化不大时,则可采用单一的基于平均子组大小的一组控制限。当 子组变化较大时,可采用另一种利用标准化变量的方法。例如:不点绘p值,而 改为点绘标准化值Z。公式如下:
R控制限的计算: UCLR=D4*R CLR=R LCLR=D3*R D3,D4为常数,通过查表可得。
Me-R控制图在这里不进行示例讲解,大家可以根据以上两种图的做法进行 练习。
(4)X-Rs图 X-Rs图多用于下列场合:对每一个产品都进行检验,采用自动化检查和测量场合 ;取样费时、昂贵的场合;以及如化工与液体流程式的过程,产品均匀,多抽样也 无太大的意义的场合。由于它不像前三中控制图哪样取得较多的信息,所以它判断 过程的灵敏度也要差一些。 在单值控制图情形下,由于没有合理的子组来提供批内变异的估计,故控制限就基 于两个观测值的移动极差所提供的变差来计算。移动极差就是在一个序列中相邻两 个观测值质检的绝对差。 以下给出X-Rs图控制限的计算公式: Rs控制限的计算: UCLRs=D4*Rs CLRs=Rs LCLRs=D3*Rs D3,D4为常数,通过查表可得。 X图控制限的计算: UCLX=X+E2*Rs CLX=X LCLX=X-E2*Rs E2为常数,通过查表可得。
我们如何制作X-R控制图呢?通过以下示例讲解 根据统计学原理导出的R,X的计算公式: R控制限的计算: UCLR=D4*R CLR=R LCLR=D3*R D3,D4为常数,通过查表可得。
系数D3、D4的数值表 n D3 D4 2 0 3.267 3 0 2.574 4 0 2.282 5 0 2.114 6 0 2.004 7 0.076 1.924 8 0.136 1.864
Ca(准确度)=
样本平均值-规格中心 样本平均值-规格中心 规格公差 / 2 规格公差 / 2
Cp(精确度)=
规格公差 6σ
CPK(综合指标)=(1-Ca)×Cp
序号 1
CPK CPK≥1.67 CPK≥1.67
制程能力判断 处置 太佳 制程了能力太好,可酌情 缩小规格,或考虑管理成 本的降低 理想状态,继续保持 使制程保持管制的状态, 否则产品随时有发生不良 品的危险,需注意 产品有不良品产生,需全 检,制程要妥善管理及改 善 应采取紧急措施,改善品 质并追究原因。
X-Rs图制作范例
(五)、计数型控制图 计数数据表示通过记录所考察的子组中每个个体是否具有某种特性(或特征 ),计算具有该特性的个体的数量,或记录一个单位产品。〕、一组产品、 或一定面积内此中事件发生的次数所获得的观测值。 在前面讲到计量控制图情形下,按通常惯例采用一对控制图,其中一张用于 控制平均值,另一张用于控制离散,因为计量控制图基于正态分布,而正态 分布取决于上下两个参数。在计数控制图情形下则不同,所假定的分布只有 一个独立的参数,即平均水平,故用一张控制图就足够了。P图和NP图基于 二项分布,而c图和u图则基于泊松分布。 控制图控制限的公式如下表:
X-R图制作范例
(2)X-S图 X-S图与X-R图相似,只是用标准差(s)代替极差(R)图而已。极差计算 简便,故R图得到广泛的应用,但当样本量n>10时,应用极差估计总体标 准偏差σ的效率减低,需要应用s图来代替R图。现在由于微机的应用基本普 及,s图的计算已经不成问题,故X-S图的应用也将越来越广泛。
许多场合,在控制图上另外加上2σ控制限是有益的。这样,任何落在2σ界 限外的子组值都可以作为失控状态即将来临的一个警示信号,因此,2σ控制 限有时也称作“警戒限”。在对控制图进行判断的是否,会用到1 σ,2 σ,3 σ限,这在后面会讲到。
二、控制图的应用和绘制 (1)X-R图控制图 对于计量数据而言,这是最常用最基本的控制图。它用于控制对象为长度,重量 ,强度,纯度,时间和生产量等计量值的场合。 X控制图主要用于观察正态分布的均值的变化,R图用于观察正态分布的分散或 变异的变化,而X-R图则将二者联合运用,用于观察正态分布的变化。
控制图的基本知识及应用
质量管理部 闻静
一、控制图的定义和分类 控制图由统计学家休哈特提出,所以又称为休哈特控制图,也就是我们常说的 SPC控制图。 以下是控制图的分类: 数据 计量值 分布 正态分布 控制图 均值-极差控制图 均值-标准差控制图 中位数-极差控制图 简记 X-R控制图 X-S控制图 Me-R控制图 Me-
3#铸轧线Fe含量标准偏差管控图 0.020 0.015 0.010 0.005 0.000 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
控制图的控制限分别位于中心线的两侧3σ距离处。3σ控制限表明,若过 程处于统计控制状态,则大约有99.7%的子组值将落在控制界限之内。换句话 说,当过程受控时,大约有0.3%的风险,或每点绘1000次中,平均有3次,描 绘点会落在上控制限或下控制线之外。
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