IC测试设备
IC测试原理和设备教程
IC测试原理和设备教程IC测试是指对集成电路（Integrated Circuit，简称IC）进行功能和可靠性等方面的测试，以确保IC的质量和性能符合要求。
IC测试是IC制造流程中的最后一道工序，也是确保IC产品可出厂的最后一道关卡。
本篇文章将介绍IC测试的原理和设备教程。
一、IC测试原理功能测试是验证IC芯片的各个功能模块是否正常工作。
这一测试过程主要包括逻辑电平测试、时序测试和功能验证等步骤。
逻辑电平测试是对IC芯片的输入和输出端口的电平进行测试，确保其在标准电平范围内。
时序测试是验证IC芯片的时钟、数据和控制信号的时序关系是否正常。
功能验证是通过施加不同的输入信号，检查芯片的输出响应是否符合设计要求。
可靠性测试是验证IC芯片在不同环境和工作条件下是否能够稳定工作。
这一测试过程主要包括温度测试、电压测试和老化测试等步骤。
温度测试是对IC芯片在不同温度下进行测试，以验证其性能是否受温度变化的影响。
电压测试是对IC芯片在不同电压下进行测试，以验证其性能是否受电压变化的影响。
老化测试是对IC芯片长时间工作的可靠性进行验证，以评估其使用寿命和可靠性。
二、IC测试设备IC测试设备主要包括测试仪器和测试系统两个方面。
测试仪器是进行IC测试的基本工具，主要包括信号发生器、示波器、多路开关和逻辑分析仪等。
信号发生器可以产生各种输入信号，用于施加到IC芯片上进行测试。
示波器可以记录IC芯片的输出响应波形，以便分析和判断。
多路开关可以将不同的信号源和IC芯片的输入端口相连，在不同的测试条件下进行切换。
逻辑分析仪可以对IC芯片的时序进行分析和检测，以确保其工作正常。
测试系统是进行IC测试的综合设备，主要包括测试平台、测试程序和测试夹具等。
测试平台是对测试仪器的集成和控制，用于组织和执行IC测试的整个过程。
测试程序是进行IC测试的软件系统，用于编写和执行各种测试用例，并收集和分析测试结果。
测试夹具是用于将IC芯片与测试系统连接并进行测试的装置，通常是由接触器和引脚适配器组成。
高校实验室IC集成电路芯片测试解决方案
高校实验室IC集成电路芯片测试解决方案在高校的教学实验环节，需要大量地使用一些基本功能的集成芯片。
譬如74/54系列的门电路，AD/DA芯片，放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口芯片等。
由于学生初学电路，使用过程中，存在很多偶然的低级错误，造成芯片的损伤，给后面的实验造成很多麻烦，所以在实验过程中，为了排除这类因素，节省教学时间，需要用专用的amdtech芯片测试仪器对芯片的功能进行校验。
除此之外，此测试仪支持芯片自动查找功能，查找成功后会自动显示芯片的型号。
测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单易用。
可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。
1.1方案特色1.基于标准USB接口，即插即用；2.标准40脚锁扣插座，最大可测40脚的IC；3.系统带自检功能，芯片型号可自动判别；4.可测试74/54系列TTL芯片，4000/4500系列CMOS芯片；5.可测试放大器，比较器，二极管，三极管，光耦，接口芯片等集成电路芯片；6.可测试常用的AD、DA芯片；7.驱动程序支持win2000/winxp/win2003/win7/win8/win10；8.测试仪软硬件独立设计，芯片库可在线实时更新，简单易用；9.可根据用户提供的芯片，进行测试（需定制）。
1.2方案使用1.首先安装软件，安装完成后，插入芯片测试仪，系统会自动提示安装驱动设备，按照提示，使用自动安装。
测试芯片时，不管什么类型的芯片，都是底部对齐，缺口朝上，如下图所示：2.运行芯片测试仪软件。
测试步骤如下：（1）在【选择类型】下拉框里面，选择芯片的类型（2）选择好类别后，在【选择器件】列表框里选择具体的待测试芯片型号。
（3）选中芯片后，点击【测试】按钮，这时测试仪的“ready”指示灯会点亮。
软件会自动测试指定芯片的好坏。
（4）如果芯片字迹模糊，而无法知道具体芯片型号时，可以选择【自动扫描测试】按钮，软件会自动从芯片库里面进行比对，如果对应上了具体型号，会自动提示芯片的型号。
基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论
目录集成电路测试机发展史简介 ......... 错误!未定义书签。
测试的专业术语简介............................................................ 错误!未定义书签。
芯片测试中的一些专业术语........................................ 错误!未定义书签。
测试中硬件的一些专业术语 (3)测试系统中的一些专业术语........................................ 错误!未定义书签。
测试参数中的一些专业术语........................................ 错误!未定义书签。
测试设备的一般结构............................................................ 错误!未定义书签。
FUNCTIONAL测试原理..................................................... 错误!未定义书签。
功能测试简介................................................................ 错误!未定义书签。
Test Vector ...................................................................... 错误!未定义书签。
Input Signal Format ....................................................... 错误!未定义书签。
Input Signal Creation ..................................................... 错误!未定义书签。
ic测试机原理
IC测试机，也称为集成电路测试机，是一种用于测试集成电路功能和性能的设备。
它的原理基于对被测芯片进行电气和功能测试，以确定其是否符合设计规格和规范。
IC测试机通常由以下几个部分组成：
1. 测试程序：测试程序是一组用于测试被测芯片的指令。
这些指令可以是硬件描述语言（HDL）编写的测试激励（TAP），也可以是基于软件的测试程序。
测试程序的目的是生成一系列测试数据，以测试被测芯片的各种功能和性能。
2. 测试夹具：测试夹具是一种用于将被测芯片固定在测试机中的设备。
测试夹具可以是机械式的，也可以是电子式的。
电子式测试夹具可以与被测芯片进行电气连接，并提供必要的测试信号。
3. 测试接口：测试接口是测试机和被测芯片之间的连接点。
测试接口可以是机械式的，也可以是电子式的。
电子式测试接口可以提供必要的测试信号和测量数据，并将测试结果发送到测试机中进行分析和处理。
4. 测试机架：测试机架是测试机中的机械结构，用于支撑和固定被测芯片和测试夹具。
测试机架还可以提供必要的机械支撑和保护，以确保测试过程的稳定性和安全性。
5. 测试软件：测试软件是用于管理和控制测试过程的软件。
测试软件可以生成测试程序，管理测试数据和测试结果，并提供必要的分析和报告功能。
IC测试机的工作原理是通过测试程序生成一系列测试数据，并将这些数据发送到被测芯片中进行测试。
测试机通过测试接口接收被测芯片的测试结果，并将测试结果传输到测试软件中进行分析和处理。
测试软件可以根据测试结果生成测试报告，并提供必要的故障分析和诊断功能。
IC测试经典课程
IC测试经典课程第⼀章.认识半导体和测试设备本章节包括以下内容，⾃动测试设备（ATE）的总体认识模拟、数字和存储器测试等系统的介绍负载板（Load boards）、探测机（Probers）、机械⼿（Handlers）和温度控制单元（Temperature units）⼆、⾃动测试设备随着集成电路复杂度的提⾼，其测试的复杂度也随之⽔涨船⾼，⼀些器件的测试成本甚⾄占到了芯⽚成本的⼤部分。
⼤规模集成电路会要求⼏百次的电压、电流和时序的测试，以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确。
要实现如此复杂的测试，靠⼿⼯是⽆法完成的，因此要⽤到⾃动测试设备（ATE，Automated Test Equipment）。
ATE是⼀种由⾼性能计算机控制的测试仪器的集合体，是由测试仪和计算机组合⽽成的测试系统，计算机通过运⾏测试程序的指令来控制测试硬件。
测试系统最基本的要求是可以快速且可靠地重复⼀致的测试结果，即速度、可靠性和稳定性。
为保持正确性和⼀致性，测试系统需要进⾏定期校验，⽤以保证信号源和测量单元的精度。
当⼀个测试系统⽤来验证⼀⽚晶圆上的某个独⽴的Die的正确与否，需要⽤Probe Card来实现测试系统和Die之间物理的和电⽓的连接，⽽Probe Card和测试系统内部的测试仪之间的连接则通过⼀种叫做“Load board”或“Performance board”的接⼝电路板来实现。
在CP测试中，Performance board和Probe card ⼀起使⽤构成回路使电信号得以在测试系统和Die之间传输。
当Die封装出来后，它们还要经过FT测试，这种封装后的测试需要⼿⼯将⼀个个这些独⽴的电路放⼊负载板（Load board）上的插座（Socket）⾥，这叫⼿⼯测试（hand test）。
⼀种快速进⾏FT测试的⽅法是使⽤⾃动化的机械⼿（Handler），机械⼿上有⼀种接触装置实现封装引脚到负载板的连接，这可以在测试机和封装内的Die之间提供完整的电路。
IC芯片的检测方法大全
IC芯片的检测方法大全一、电性能测试：1. 直流参数测试：包括引脚电压、电流测试，通常使用ICT（In-Circuit Test）系统进行。
2. 交流参数测试：包括交流响应、输入输出频率响应等，通常使用LCT（Load Current Test）系统进行。
3.频率特性测试：包括正弦波响应、频率扫描等，通常使用频谱分析仪进行。
4.时序测试：包括时钟周期、数据传输速度、延迟测试等，通常使用时序分析仪进行。
5.功耗测试：通过检测芯片运行时的功耗情况，通常使用功率分析仪进行。
二、封装外观检查：1.尺寸检查：通过测量外部封装的尺寸参数，比如芯片的长、宽、高等。
2.引脚检查：通过观察封装外部引脚的数量、排列和构造是否符合标准规范。
3.焊盘检查：通过检查芯片与外部引脚之间的焊盘连接情况，是否焊接牢固。
4.封装类型检查：通过观察封装的类型，是否符合芯片技术要求。
三、功能测试：1.电源电压检测：通过测量芯片供电电压情况，是否正常工作。
2.信号输入输出测试：连通芯片输入与输出引脚，对信号进行测试，检查响应是否符合预期。
3.存储器测试：通过读写芯片内部存储器，检查存储读写的正确性和稳定性。
4.电路控制测试：检测芯片内部多个模块之间的控制是否正常，比如时钟控制、使能信号控制等。
5.温度测试：通过加热或冷却芯片，测试芯片在不同温度下的工作性能。
四、其它测试方法：1.X光检测：通过使用X光设备对芯片进行表面和内部结构的观察，检查是否存在焊接缺陷、结构问题等。
2.声发射检测：通过检测芯片在工作过程中发出的声音，判断是否存在故障或应力问题。
3.真空封装检测：对芯片进行真空环境下的测试，以检查芯片是否能在特殊环境下正常工作。
总结起来，IC芯片的检测方法涵盖了电性能测试、封装外观检查和功能测试等多个方面。
这些测试方法的目的是确保芯片的质量和性能达到预期要求，提高产品的可靠性和可用性。
对于芯片生产和应用来说，科学合理的检测方法是至关重要的。
IC TSH-06F说明书 IC仪表
多功能集成电路测试仪使用说明TSH系列多功能集成电路测试仪是一款为一线微电子工程人员、维修人员设计的专业仪器。
可选择不同的测试模式5v模式、3.3v模式、AUTO模式等可以测试74HC系列、74LS 系列、CD4000系列、HEF400系列、4500系列、运算放大器、接口类芯片、光耦、晶体管自动识别、稳压管稳压值识别等等。
内置各类芯片数据模型1300余种、晶体管数据模型420余种，涵盖了常见的大部分24脚以内的通用器件，可以大幅度降低工作量，提高工作效率。
操作说明：面板上有7个按键分别是上、下、左、右和Enter键，和快捷键O键、P键。
上下键用于调整目录和改变型号数字，左右键用于左右移动光标选择要更改的项。
Enter 键用于开关机和执行测试命令。
打开电池后盖，放入2节5号1.5v电池，然后关闭电池盖。
按压Enter间2秒以上可开机，开机自动显示当前电池电压，当电池电量过低时请更换电池，过低的电压将影响测试结果可靠性和保护性自动关机。
开机：按压Enter键2秒以上则开机。
关机：1在OFF目录下按压Enter键则立刻关机。
2在任一目录下按压Enter键超过10秒则关机。
3在无任何操作60秒后，则自动关机快捷：1 O键为快速关机键(06型)2 P键重复自检、复位键器件放置方法如下图：1、芯片、光耦顶部对齐放置，1脚对准IC座子1脚。
2、晶体管放左侧最下三个插槽。
3、稳压管放IC座13和14脚间。
注：晶体管显示的引脚顺序自左而右对应IC座的10脚、11脚、12脚。
产品保修事宜：本设备自购买之日起免费保修一年，免费部分不包含外壳、液晶、IC座。
维修免费运。
ic钳位电流
ic钳位电流IC钳位电流是指在集成电路（Integrated Circuit，IC）测试中，使用钳位来测量电流的一种方法。
钳位电流测试是集成电路测试中非常重要的一项技术，它能够准确地测量IC芯片中不同电路的电流消耗情况，为芯片性能评估和优化提供重要依据。
在IC钳位电流测试中，通常使用专门的测试仪器和设备来进行。
这些设备通常包括钳位电流计和测试夹具等。
钳位电流计是一种高精度的电流测量仪器，能够通过钳位夹具与被测芯片相连，实时地测量芯片中的电流消耗情况。
IC钳位电流测试的过程通常分为以下几个步骤：1. 准备测试样品：将需要测试的集成电路芯片安装在测试夹具上，并确保连接正确。
2. 设置测试参数：根据测试需求，设置钳位电流计的测量范围、采样频率等参数。
3. 进行测试：通过钳位夹具将测试仪器与芯片连接，启动测试仪器开始测量。
在测试过程中，钳位电流计会实时地记录芯片中不同电路的电流消耗情况，并将数据保存供后续分析使用。
4. 数据分析与评估：通过对测量数据的分析，可以评估芯片在不同工作模式下的电流消耗情况，进而优化芯片设计和功耗管理策略。
IC钳位电流测试在集成电路设计和生产过程中起着至关重要的作用。
它能够帮助工程师深入了解芯片的电流消耗情况，从而优化电路设计和功耗管理策略，提升芯片的性能和可靠性。
同时，钳位电流测试还能够帮助提前发现芯片中的故障和缺陷，提高芯片的生产质量。
在实际应用中，IC钳位电流测试不仅适用于集成电路的研发和生产，还广泛应用于电子产品的测试和质量控制等领域。
通过对电子产品的钳位电流测试，可以评估产品的功耗情况，为产品的优化和改进提供依据。
IC钳位电流测试是一项非常重要的技术，在集成电路设计和生产中起着至关重要的作用。
它能够帮助工程师深入了解芯片的电流消耗情况，优化电路设计和功耗管理策略，提升芯片的性能和可靠性。
同时，钳位电流测试还能够应用于电子产品的测试和质量控制，评估产品的功耗情况，为产品的优化和改进提供依据。
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数字电路测试系统美国Credence公司Electra MSR 100MHz台湾德律TR-6010 逻辑测试系统日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统安捷伦83000 数字电路测试系统混合信号电路测试系统美国Credence公司Electra MSR 100MHz Teradyne Integra J750 Test SystemLTX Synchro/Fusion HTSZ M3650模拟电路测试系统台湾德律TR-6800电源管理器件测试机Teradyne A585/A575LTX TS80/88测试机接口板Electra MSR 100MHz客户定制型V777 测试通道扩展板-- CECC设计制作V777 测试通用接口板-- CECC设计制作IMS100用户定制型接口板-- CECC设计制作SOC器件测试系统安捷伦93000 SOC 测试系统Teradyne J971Teradyne J973LCD器件测试系统存储器测试系统Sytest Q2-52RFIC器件测试系统LTX Fusion RFTeradyne Catalyst RFAgilent Hp93000 RF测试座及夹具通用测试座特殊夹具美国Credence公司Electra MSR 100MHz美国Credence公司Electra MSR 100MHz概述·100MHz量测速率的功能验证性设备，具有Funtional Pattern产生、仿真、测试，DC参数量测等功能。
·非常适合IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析特性:·4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统·UNIX系统的操作软件，可视化友好界面·Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析 ·可连接LABVIEW辅助性工具·直接连接到工作站服务器系统规格·时钟频率：100 Mhz·数据速率：200 Mbits/Sec·1.5 ns的上升和下降时间（ECL、CMOS 电路）·每个管脚的电压和负载可编程·每个管脚可编程边缘分辨率50 ps·7 bits per Channel for Simultaneous Real-time ·Compare and Data Acquisition·时钟线形稳定，偏差≦±100 ps ·系统偏差≦±1ns (ATS1)·每个管脚可选用直流精密测量单元·Window、Edge和Dual-Edge 采样·128个I/O管脚(ATS1) ·APMU：直流精密测量单元·2.1 Gb扩展图形存储器·PCI-GPIB 和PCI-VXI接口板·Sun Ultra 10 工作站系统软体功能·TestEnv：基于Xwindows的测试软件环境，包括·IMS Screens、IMS-Shmoo、TestLITE和·MATSS测试服务器·IMS-Link：提供脱机向量转换软件编辑能力和通用仿真器支持·TestVIEW (V7.2e) ：图形测试编程语言系统模组Module·Control Module x1 ·Timing module x1 · Data module x8 ·Analytical DC PMU module x1Socket Card 种类及数量·DIP Auto Socket Card 40 *1·ATS1/MSTS1 Anolog Interface Board *1 ·Force Autocal Interface Board *1 ·Open Custom DUT Interface Board *13·ATS1/MSTS Fixture Board *1·Force Autocal *1·Compare Autocal *1·IMS Adapter Board *1台湾德律TR-6010 逻辑器件测试机概述：·专为10MHz逻辑IC测试机, 具有Function Pattern测试, Dc 参数量测等功能硬件结构：特性：·2M的向量存储器深度·可4组并行测试·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V ·具有Shmoo Plot工具, 用于器件特性分析·测试程序调试工具·完善的测试诊断报告和柱状图·TTL和GPIB接口, 可直接连接至prober和handler ·紧凑小型，易安装资源配置：·测试控制器：奔腾III以上PC ·系统软件：MS-DOS ·电源要求：（1）单相交流，AC 110V 10A /50-60Hz （2）单相交流，AC 220V 6A /50-60Hz性能参数：·测试频率：10MHz·周期速率：100nS-1.31mS ·周期分辨率：20nS·测试通道：最大128个·多组测试：2/4组并行测试·定时器：4Pins/TG·定时器分辨率：10nS ·闸门模式：边沿式·测试向量深度：2M·驱动器：VIH：+-8V 分辨率：5mV ·VIL：+-8V 分辨率：5mV·比较器：VOH：+-8V 分辨率：5mV ·VOL：+-8V 分辨率：5mVPMU：1组/板卡，最大8组施加电压/ 测量电流范围：级别电压精确度分辨率0 10V +%+-5mV 2.5mV1 10V +%+-5mV 2.5mV2 10V +%+-5mV 2.5mV3 10V +%+-5mV 2.5mV 施加电流/ 测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/ 测量电流范围：施加电流/ 测量电压范围：日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一）概述·10MHz的测试频率，128个测试通道，4M字节向量深度的大规模LSI测试系统系统尺寸·主框架：580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米·测试头：580(W),340(D),250(H)毫米·电缆长度：4 米测试器控制器·处理器AMD-K6-500 ·操作系统MS/DOSV ·内存32MB·硬盘4.0GB·软盘3.5英寸1.44MB接口板·标准接口板针对探针机和机械手·GPIB 接口板选项PIN电子性能·标准64 PIN·全系统128 PIN 或64PIN*2DUTS软件包·语言 C (库: TURBO C)·工具软件SCHMOOHISTOGRAMWAFERMAP ·测试程序转换器ANDO-SUMMIT 至V7100 (主程序和波形程序) SENTRY 至V7100 (波形程序)CREDENCE-SC212 至V7100 (波形程序)ADVANTEST-MOSPL 至V-7100 (波形程序)驱动器·输出电压VIH 0V 至+11V VIL -2V 至+8V ·电压摆幅100mVp-p 至11Vp-p·精度0.5% + 5mV·分辨率2.7mV·最大DC 电流输出="H"±20mA 输出= "L"±20mA ·阻抗50 ± 5%ohm·升/ 降时间驱动器模式< 5ns/5Vp-p(20% 至80%) I/O 模式< 5ns/5Vp-p ·总时钟精度 (NRZ 格式) ±5ns ( 最大 ) ·时滞 (NRZ 格式 ) 有关PINS ±5ns ( 最大 )·有关TGS ±4ns ( 最大 )·上突波 / 下突波 3%+50mV· VIH/VIL 级别 4 级别·驱动器模式 FIX-HI, FIX-LO, NRZ, /NRZ, RZ, /RZ, R1, EXOR, /EXOR,·无调制·时钟的限制参照图 1条件: 10Mohm 和 15pF 载荷下一页日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（二）安捷伦 83000 数字电路测试系统描述：特性和用途：·用于Credence的Electra MSR 100MHz机台上，根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。
规格：长（L）* 宽（W）* 厚（H）安捷伦 93000 SOC 测试系统概述·测试系统具有数字、模拟、存储器、射频（RF）模块（可选件）的功能测试和参数测试·支持扫描测试·支持IDDQ测试·测试系统具有可升级性和可扩展性参数:（1）系统控制平台·HP C3750 UNIX工作站·内存2GB·硬盘36GB·HP p1130 21”高分辨率纯平彩色显示器·配备DVD光盘驱动器·配备磁带机·配备10M／100M Ethernet接口·操作系统HP-UX B11.11（2）数字功能指标·数字通道: 256·数据速率：660Mb/s·向量存储深度：14M·扫描存储器深度：56M·边沿定位精度≤ 土150 ps（3）模拟部分·任意波形发生器（AWG），精度≥12-bit, 频率：500MHz 采样/s；·数字化仪，精度：12-bit, 采样速率：320MHz采样/s；·时间间隔分析仪（TIA），输入频率：400MHz。
（4）DC测试性能·通用器件电源，参数：±7V/8A·低噪声电源，参数：±8V/4A·精密测量单元，最大电压量程: -5V— +8V，电压分辨率: 250uV，最大电流量程: ±200mA，电流分辨率: 250pA ·参数测量单元PMU，量程: -2V— +7V, 40mA ·IDDQ电流测量，精度≤100nA，分辨率≤10nA5）测试软件·SmarTest Rev. 4.1.6/4.2.5·SmarTest Program Generator Rev. 1.2.0·VCDTO93K Edition 2.0安捷伦93000 SOC系列模块配置表模块描述数量位置主要指标详情数字通道P600 660Mbit/s数字通道1610101～10116最高数据速率：660Mbit/s最大时钟频率：625MHz? 扫描深度：56M C400 400Mbit/s数字通道24010201～11616最高数据速率：400Mbit/s最大时钟频率：400MHz? 扫描深度：14M模拟模块WGD 500M任意波形发生器 1 230分辨率：12bit采样速率：8ksps到500Msps WDD 1GHz数字化仪 1 227分辨率：12bit采样速率：1Msps到320Msps最大带宽：1GHz（采样仪模式）TIA 400MHz时隙分析仪 1 225最高输入频率：400MHz分辨率：0.8ps电源GPDPS 通用器件电源 4 DPS11～14驱动能力：±7V/+8A,-4A ? ±8V/±4AVbump, IDDQ功能LNDPS 超低噪声电源 2 DPS81～82驱动能力：8V/4A，-8V/-2A输出噪声：< -80dBmVbump, IDDQ, 交流调制功能。