10测量过程控制技术—统计过程控制—OK

的同时进行过程控制，以确保测量过程处于稳定受控状态。
具体制作控制图时，首先建立分析用控制图确认过程处于稳 定受控状态后，将分析用控制图的时间界限延长，就转化成控 制用控制图。
控制图设计原理
在多数情况下，影响测量结果的因素比较多。测量结果的分布往往服从正态分布。 对于正态分布， 测量结果位于μ±3σ区间的概率为99.73%，因此就将该区域作为 需要控制的区域。
➢ 控制对象要明确，并为大家理解与同意。
➢ 控制对象要能以数字来表示。
➢ 控制对象要选择容易测定并对过程容易采取措施者。
控制图的制作
➢ 预备数据的取得：
1）在重复性条件下，对选择好的核查标准做n次的独立重复测量， 当采用标准偏差控制图时，要求测量次数n≥10，当采用极差 控制图时，要求测量次数n≥5即可。
测量过程控制技术 —常规控制图及其应用
SPC 的管理理念图解
原料
针对所有 生产要素
人 机法 环 生产过程 测量
测量
针对产品 好
结果
不好
不要等产品做完后，再去评价它的好或坏； 而是在生产过程中就把它控制好！
控制图的益处
控制图的益处
合理使用控制图能： • 供正在进行过程控制的操作者使用 • 有助于过程在质量上和成本上能持续地，可预测地保持下去 • 使过程达到：
作R图
上控制限 下控制限
UCLR D4 R LCLR D3 R
均值-极差图(Xbar-R)
控制图的制作
n
2
3
4
5
6
7
8
9
10
D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78
D3 ‫٭‬
‫٭‬
‫٭‬
‫٭‬
‫ ٭‬0.08 0.14 0.18 0.22
功能： ➢ 测量过程的诊断：评估测量过程的稳定性 ➢ 控制：决定测量过程是否需要保持原有状态，何时需要调整 ➢ 确认：确认某一过程的改进效果。
控制图的分类
控制图分类：根据控制对象的数据性质，即所采用的统计控 制量来分类，有如下几种： ➢ 平均值-标准偏差控制图（ X -S图） ➢ 平均值-极差控制图（ X -R图） ➢ 中位值-极差控制图（ ～X -S图）
A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.34 0.34 0.31
注： 对于样本容量小于7 的情况下，LCLR可能在数学上 为一个负值。在这种情况下，就没有下控制限，这意味着 对于一个样本数量为6的子组，6个“同样的” 测量结果是 可能成立的。
Y
N 品质改进QC或 改进工艺标准
查明原因，调整工序测量过程
控制图的制作
控制图必须成对使用，首先确定所采用的控制图的类型，通常 采用极差控制图和标准偏差控制图，并且编制《高度控制测量 过程作业指导书》。
步骤1：确定控制对象，或称统计量；
注意以下几点：
➢ 选择技术上最重要的控制对象。
➢ 若指标之间有因果关系，则宁可取作为因的指标为统计量。
警戒区为 4.28%
控制图设计原理
99.73% 95.45%
警戒区为 4.28%
-3σ -2σ -1σ μ +1σ +2σ +3σ
准备阶段
识别关键过程
N
是否关 键过程
Y
确定过程关键变量
制定过程控制计划 和规格标准
过程数据的收集、整理
过程控制流程图
监控阶段
控制用控制图监控
定期抽样、打点
日常管理
异常 否
2）根据规程或技术规范规定的测量条件下，重复上面的测量过 程，共测量k组，k≥20，实际工作中一般取k=25组。
控制图的制作
均值-极差图(Xbar-R)
➢ 计算统计控制量：
1）当采用“平均值-极差; x +......+ x
x 1 2 3
n
n
R xmax xmin
正态分布理论中有一个结论,对抽样检验管理是很有用，即 无论均值“μ”（AVG）和标准差“σ”取何值，质量特性值：
▪ 落在 ( μ±3σ )之间的概率为： 99.73% • 落在 ( μ±3σ )之外的概率为： (1一99.73% ) = 0.27%--- “α” • 小于μ-3σ或大于μ+3σ的概率： (0.27%÷2) = 0.135%
“普通原因”表现为一个稳定系统的自然原因。 只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。
“普通原因”始终存在于稳定的过程中！
控制图的功能
➢ 如果能确保测量过程正常工作状态，则可以将控制图用于生产过程
的统计控制，即产品质量控制； ➢ 如果能找到一个很稳定的核查标准，则可以将控制图用于测量过程 的统计控制。 核查标准：控制测量过程，建立数据库用的计量仪器产品或其他物体。
x1+x2+x +.....+. xk
x
k
R1 + R2 + R3 + ...+ Rn
R
k
控制图的制作
均值-极差图(Xbar-R)
➢ 计算控制界限：
1）当采用“平均值-极差控制图”时，计算如下控制界限：
作 Xbar 图
上控制限 UCLx X + A2 R 下控制限 LCLx X A2 R
平均值控制图和中位值控制图主要用于判断测量过程是否受到 系统效应影响，标准偏差控制图和极差控制图主要用于判断测 量过程是否受到随机效应影响。
控制图的分类
控制图分类：根据用途可以分为如下两种： ➢ 分析用控制图：用于对已经完成的测量过程或测量阶段进行分
析，以评估测量过程是否稳定或处于受控状态。 ➢ 控制用控制图：对于正在进行中的测量过程，可以在进行测量
控制图就是用来判断过程是否处于正常状态的一种统计工具。
SPC的基本概念
➢ 特殊原因(可查明原因、异常原因)不是始终作用于过程中的变差的原 因，它偶然出现在过程中，当它们出现时将造成（整个）过程的分布改 变。它会以不可预测的方式来影响过程分布！
➢ 普通原因 指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的 分布在过程中的变差的原因。
——更高的质量 ——更低的单件成本 ——更高的有效能力 • 为讨论过程的性能提供共同的语言 • 区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统 采取措施的指南
SPC的基本概念
➢ 世上没有任何两件事物（人员、产品）是完全一样的 ，所以每种事
件的关键数据一定有变差，SPC关注的是变差； ➢ 信息化后的变差数据的指标图形所产生的波动信号一定有警示作用， 所以SPC系统可用来预测过程的趋势； ➢ 过程的变异在常态下，通常会依据一定的规律或模式而产生，所以 过程可控制。