半导体温度计的设计与制作实验报告
实验报告:半导体温度计的设计与制作
一、实验题目:
半导体温度计的设计与制作
二、实验目的:
要求测试温度在20-70℃的范围内,选用合适的热敏电阻和非平衡电桥线路
来设计一台半导体温度计。
要求作为温度计用的微安表的全部量程均能有效的利用,即当温度为20℃时,微安表指示为零;而温度为70℃时,微安表指示为满刻度。
要求长时间的测量时,微安表的读数应稳定不变。
三、实验原理:
1.半导体温度计就是利用半导体的电阻值随温度变化而发生急剧变化的特性而制作的,以半导体热敏电阻为传感器,通过测量其电阻值来确定温度的仪器。
这种测量方法称为非电量的电测法,它可以将各种非电量转变成电学量,然后用电学仪器来进行测量。
2.半导体温度计测温电路原理:
0=G I 时,
T
R R R R 3
21= (1) 当电桥某一臂改变时平衡将受到破坏,G 中有读数,可据此求出T R ,即G 的读数大小直接反映热敏电阻阻值,从而反映温度。
取21R R =。
0=G I 时,要求T R 处于下限,即13T R R =。
由于G T I I >>,()T T CD R R I V +=3。
CD T T G T T G V R R R R R R R R R R R R R R R I 2
323212
12
32
212++
+++-
+=
(2) 由于21R R =,13T R R =,整理后有,
⎪⎪⎭⎫ ⎝
⎛++-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-=
212121212212T T T T G T T T G
CD R R R R R R R R I V R (3)
1T R 为工作时测量温度量程的下限;2T R 为上限,此时T I 达到最大。
四、实验仪器:
热敏电阻、待焊接的电路板、微安表、电阻器、电烙铁、电阻箱、电池、多
挡开关、导线、多用表、恒温水浴等。
五、实验步骤与数据处理:
1.在实验前,在坐标纸上绘出热敏电阻的电阻-温度曲线。
)
(ΩR )
(C T ︒10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
400
800120016002000240028003200
得知Ω=︒2597)20(1C R T ,Ω=︒488)70(2C R T 。
选取V V CD 1=,已知Ω=3999G R ,A I G μ50=。
代入(3)计算得,
⎪⎪⎭⎫ ⎝
⎛++-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛+-=
212121212212T T T T G T T T G
CD R R R R R R R R I V R
⎪⎭
⎫ ⎝⎛Ω+ΩΩ⨯Ω+Ω⨯-⎪⎭⎫ ⎝⎛Ω+ΩΩ-⨯⨯⨯=
-48825974882597399924882597488211050126A V
Ω=00.4853
故Ω==00.485321R R ,Ω==259713T R R 。
2.根据底版配置图,焊接实际的底版。
3.开关拨到1挡,拔下E 处接线,断开微安表。
用万用表测R 1、R 2的阻值,调节两电阻,使万用表示数略小于计算得出的结果(Ω00.4853)。
4.将电阻箱接入接线柱A 和B ,用它代替热敏电阻,将开关拨到3挡,令电阻箱的阻值为Ω=25971T R ,调节电位器R 3,使电表指示为0。
令电阻箱的阻值为
Ω=4882T R ,调节电位器R ,使微安表满量程。
5.将开关拨到2挡,调节电位器R 4,使微安表满量程,这时24T R R =。
6.将开关拨到3挡,从上面的热敏电阻的电阻-温度特性曲线上读出温度20-70℃。
每隔℃读一个电阻值。
电阻箱逐次选择前面所取的电阻值,读出微安表的电流读数I。
R2597235021351945182616611512 )
(Ω
T︒
(C
)
(A
Iμ0
)
R1362128111691077975918825 (Ω
)
T︒
(C
)
(A
Iμ
)
R776705662602568501488 (Ω
)
T︒
)
(C
(A
Iμ
)
并将微安表表盘刻度改成温度的刻度:
作出对应的I-T曲线:
)
(A I μ15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
-505101520253035404550
55
7.用实际热敏电阻代替电阻箱,整个部分就是经过定标的半导体温度计。
用此温度计测量两个恒温状态的温度(水浴℃和℃)。
读出半导体温度计和恒温水浴自身的温度,比较其结果。
误差计算:
%57.1%1009.314.319.3111=⨯︒︒-︒=∆C C
C T T %92.0%1005.540.545.5422=⨯︒︒-︒=∆C
C
C T T 六、注意事项:
(1)用万用表检查R 1和R 2时,应使其阻值略小于Ω。
(2)用电烙铁焊接时,应注意不要使其接触到身体以及接线,以免发生意外。
(3)注意正确使用电烙铁,学会焊接,防止重焊,虚焊,漏焊,短路。
焊接时,
)
(C T ︒
S
1
放在1挡,电流表“+”端与E处要最后连接,以免损坏电表。
(4)调节R
1、R
2
、R
3
、R
4
、R后,注意不要再碰这些电阻器,以防止改变其电阻,
影响实验结果。
(5)所要标定的温度点,应从热敏电阻的电阻-温度曲线上读取。
(6)校准温度时,必须找到设计时所用的那个热敏电阻,实验完毕后,焊下所有元件,仪器归位。
七、误差分析:
(1)实验仪器的系统误差,以及在实验中周围的环境所导致的实验仪器性能随机涨落所造成的误差。
(2)读取电表示数时,由于估读产生的误差。
(3)从热敏电阻的电阻-温度曲线上读取温度点时,由于估读而导致的误差。
八、思考题:
为什么在测R
1和R
2
时,需将开关置于1挡,拔下E处接线,断开微安表
答:
开关置于1挡,在S
2
处断开电路是为了防止电路中的电池的电压影响万用表
的示数,在S
1处断开电路是为了防止测得的R
1
的阻值为R
1
与R
2
+R
3
+R
4
的并联的总
的阻值,R
2
也是如此。
如果不拔下E处接线,断开微安表,如图一所示,所测得的R
1
的阻值实际上
为R
1与R
2
+R
g
的并联的总的阻值,而若拔下E处接线,如图二所示,测得的R
1
的
阻值即为R
1
实际的阻值,R2也是如此。
图一图二。
实验仿真实验-温度计的设计
实验仿真实验-温度计的设计Array专业___________________学号___________________姓名___________________一、预习要点1.了解半导体温度计的基本原理,并设计制作半导体温度计;2.了解非平衡电桥的工作原理及其在非电量电测法中的应用;3.在课前写好预习报告,上课时务必将预习报告和原始数据表格一并带来,否则扣分。
二、实验内容1.设计制作测量温度范围为20℃~70℃的半导体温度计。
2.对半导体温度计进行定标对半导体温度计进行定标,首先从热敏电阻的电阻-温度特性曲线上读出温度。
从20℃到70℃,每隔5℃读一个电阻值,用标准电阻箱R4逐次选择前面所取的电阻值,读出微安表的电流读数I,并记录数据。
的曲线与表盘刻度比较。
根据数据,将表盘读数改为温度的刻度,并做出I T再将实际热敏电阻代替标准电阻箱,此即经过定标的半导体温度计。
三、实验指导1.点击仿真实验页面上的“温度计设计”实验。
2.在打开的程序界面中,右键点击,并选择“仪器背面”,在里面进行相应的电路连线。
(注:线路连接图在“仪器背面”的左上角,点击“显示电路图”即可)。
3.按线路图连接好相应的电路,如果连线正确,则双击电池电源的位置将会出现一个电池,如果无法出现电池则说明线路连接有误,则应检查连线,直至正确为止。
4.线路连接好后,首先调节线路中R1和R2的值,方法为:在程序的空白处右键点击,在弹出的界面中选择“万用表”,打开其电源,并在“万用表”上选择“将万用表连接到R1”,调节R1及其微调旋钮,使万用表显示值为“4853”,接着在“万用表”上选择“将万用表连接到R2”,调节R2及其微调旋钮,使万用表也显示为“4853”,至此,R1和R2阻值调节完毕,然后在“仪器背面”找到红色的“表头插线”,双击左键将其接上。
5.接下来调节电路中R3的阻值,方法为:先在程序的空白处右键点击,在弹出的界面中选择“电阻箱”,并将电阻箱阻值调至2597Ω。
半导体温度计的设计和制作实验
半导体温度计的设计和制作实验(非平衡电桥)在温度不太低或不太高(如从-20o C到几百度)的情况下,通常可以用水银温度计来测一定的温度。
由于生产和科学实验的发展,需要精密和快速的温度测量,因而就需要灵敏度较高的温度计。
现在已有各种用途的温度计,半导体温度计就是其中的一种。
本实验的半导体温度计利用热敏电阻为传感器,利用非平衡电桥实现由电学量测量一些变化的非电量,这种思想现在应用范围扩展到很多领域,如长度、位移、应力、应变、温度、光强等转变成电学量,如电阻、电压、电流、电感和电容等,然后用电学仪器来进行测量。
一、实验目的1.理解非平衡电桥的工作原理及其在非电量的电测法中的应用。
2.了解半导体温度计的基本原理并设计制作一台半导体温度计二、实验原理1.热敏电阻伏安特性曲线为测量热敏电阻的阻值,需了解热敏电阻的伏安特性。
由图1可知,在V-I 曲线的起始部分,因电流很太小,温度变化微小,曲线接近线性。
此时其阻值主要与外界温度有关。
图1 热敏电阻伏安特性曲线半导体温度计是利用热敏电阻的阻值随温度变化急剧的特性制作的,通过测量热敏电阻的阻值来确定温度的仪器。
应根据待测温度区间和热敏电阻的阻值选用合适电学元件和测温电路。
2.半导体温度计测温电路的原理非平衡电桥的工作原理图如下:图2 半导体温度计测温电路原理图图中G 是微安表, R T 为热敏电阻,当电桥平衡时,表的指示必为零,此时应满足条件:TR R R R 321= (1) 若取R 1 = R 2,则R 3的数值即为R T 的数值。
平衡后的电桥若其中某一臂的电阻又发生改变,则平衡将受到破坏,微安表中将有电流流过,此为非平衡电桥。
由基尔霍夫方程组求出CD T T G T T G V R R R R R R R R R R R R R R R I 23232121232212+++++-+= (2)由此可见微安表中的电流大小直接反映了热敏电阻的阻值的大小程度。
由于热敏电阻的大小与环境温度是一一对应关系,因此可以利用这种“非平衡电桥”的电路原理来实现对温度的测量。
13半导体温度计的设计与制作
实验报告:半导体温度计的设计与制作张贺PB07210001一、实验题目:半导体温度计的设计与制作二、实验目的:要求测试温度在20-70 C的范围内,选用合适的热敏电阻和非平衡电桥线路来设计一台半导体温度计。
要求作为温度计用的微安表的全部量程均能有效的利用,即当温度为20 r时,微安表指示为零;而温度为70 r时,微安表指示为满刻度。
要求长时间的测量时,微安表的读数应稳定不变。
三、实验原理:1.半导体温度计就是利用半导体的电阻值随温度变化而发生急剧变化的特性而制作的,以半导体热敏电阻为传感器,通过测量其电阻值来确定温度的仪器。
这种测量方法称为非电量的电测法,它可以将各种非电量转变成电学量,然后用电学仪器来进行测量。
2.半导体温度计测温电路原理:I G 0 时,电电(1)R2 R T当电桥某一臂改变时平衡将受到破坏,G中有读数,可据此求出R T,即G的读数大小直接反映热敏电阻阻值,从而反映温度。
取 R i R2。
I G 0时,要求R T处于下限,即R a R TI O由于 I T I G,V CD 1丁R3 R T。
由于R i R 2, R 3 ,整理后有,R TI 为工作时测量温度量程的下限; R T 2为上限,此时I T 达到最大。
四、实验仪器:热敏电阻、待焊接的电路板、微安表、电阻器、电烙铁、电阻箱、电池、多 挡开关、导线、多用表、恒温水浴等。
五、实验步骤与数据处理:1. 在实验前,在坐标纸上绘出热敏电阻的电阻一温度曲线T( C) 15.0 20.0 25.030.035.0 40.0 45.0 R() 3175 2597 212811077T( C) 50.055.060.065.0 70.0 75.0R()9488426R1R2R3RT 2R GR I R 2 R i R 2R 3 R T 2 R 3 R T 2VCD(2)2V CD 1可2RT2RT1 RT 22 R GRT1 RT2RT1 RT2(3)R()T( C)选取V CD1V, 已知R G3999 ,I G 50 A。
电子体温设计实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 了解电子体温计的基本原理和设计方法。
2. 学习使用单片机进行数据采集和处理。
3. 掌握LCD1602数码管显示数据的方法。
4. 设计并实现一款基于单片机的电子体温计。
二、实验原理电子体温计主要由以下几部分组成:1. 温度传感器:用于检测人体温度,常用DS18B20温度传感器。
2. 单片机:用于数据采集、处理和显示,常用AT89C51单片机。
3. LCD1602数码管:用于显示温度数据。
4. 电路设计:包括电源电路、复位电路、时钟电路等。
三、实验器材1. 温度传感器:DS18B202. 单片机:AT89C513. LCD1602数码管4. 电阻、电容、二极管等元器件5. 电路板、导线、电源等四、实验步骤1. 电路设计:- 根据实验原理,设计电路图。
- 使用电路板焊接电路,包括电源电路、复位电路、时钟电路、温度传感器电路和LCD1602数码管电路。
- 检查电路连接是否正确。
2. 程序编写:- 使用C语言编写单片机程序,实现以下功能:- 初始化温度传感器和LCD1602数码管。
- 读取温度传感器数据。
- 将温度数据转换为摄氏度。
- 将温度数据显示在LCD1602数码管上。
3. 测试与调试:- 上电运行程序,观察LCD1602数码管显示的温度数据是否正常。
- 如果数据异常,检查电路连接和程序代码,进行调试。
4. 功能测试:- 测试电子体温计在不同温度下的测量精度。
- 测试电子体温计的响应时间。
- 测试电子体温计的报警功能。
五、实验结果与分析1. 电路连接正确,程序运行正常,LCD1602数码管显示的温度数据与实际温度相符。
2. 在不同温度下,电子体温计的测量精度在±0.5℃范围内,满足设计要求。
3. 电子体温计的响应时间在1秒以内,满足实时显示的要求。
4. 电子体温计的报警功能正常,当温度超过设定值时,会发出蜂鸣声。
六、实验结论1. 通过本次实验,我们了解了电子体温计的基本原理和设计方法。
电学的设计性实验 ——的设计制做半导体热敏电阻温度计-PPT精选文档
参数的选择和计算
• 1,R1,R2 最好相等[电桥简单] • 2,电桥的四个电阻阻值要基本接近; • [R25=5000欧姆,R75=850欧姆],{R1,2000 或3000欧姆} • 3,Rs, E,的确定!
R R R R R R R R R R R R 1 2 S 1 2 T 1 S T 2 S T
• 在测量的低温端【室温】Ig=0uA,利用室 温RT=R0, 确定Rs;
• 在温度表的高温端【75度】,Ig=200uA [满偏],和R75的阻值,利用上面公式计算 出电源电压 E。
实验过程
按图连接电路,按照实验预估值调节仪器, 在室温下调好Rs;75度下调好E. 在RS、E 均保持恒定不变条件下,测绘 Ig ~ T 曲线,亦即为热敏电阻温度表定标; 利用自制的半导体热敏电阻温度计测量自己 手的温度; ◎电源电压E的调节最难,最关键!!!
电学设计性实验
——设计制做半导体热敏电阻温度计
——设计制做半导体热敏电阻温度计
• 一、实验目的 • 1,设计测温度范围“室温-75度”的温度 计。 • 2,了解热敏电阻的特性,掌握用热敏 电阻测量温度的基本原理和方法。 • 3,熟悉非平衡电桥的输出特性。
• 热敏电阻是材料的电阻值随温度的变化而 变化的电阻。 • 根据温度系数可以分为: • 正温度系数热敏电阻【PTC】:dR/dT>0 • 负温度系数热敏电阻【NTC】: dR/dT<0
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ验报告的要求
• 1,实验的目的和意义 • 2,实验涉及的基本原理 • 3,实验的设计思路、设计过程,实验电路 中涉及到的电阻、电压、电流等数值的提 前预定。 • 4,测量数据、绘制热敏电阻的定标曲线。 • 5,实验中遇到的问题及解决的办法。 • 6,实验的收获和体会。
DS18B20数字温度计设计实验报告(1)
单片机原理及应用课程设计报告书题目:DS18B20数字温度计姓名:李成学号:133010220指导老师: 周灵彬设计时间: 2015年1月目录1. 引言 (3)1.1。
设计意义31。
2.系统功能要求32。
方案设计 (4)3。
硬件设计 (4)4. 软件设计 (8)5。
系统调试106. 设计总结 (11)7. 附录 (12)8。
参考文献15DS18B20数字温度计设计1.引言1.1. 设计意义在日常生活及工农业生产中,经常要用到温度的检测及控制,传统的测温元件有热电偶和热电阻。
而热电偶和热电阻测出的一般都是电压,再转换成对应的温度,需要比较多的外部硬件支持。
其缺点如下:●硬件电路复杂;●软件调试复杂;●制作成本高。
本数字温度计设计采用美国DALLAS半导体公司继DS1820之后推出的一种改进型智能温度传感器DS18B20作为检测元件,测温范围为—55~125℃,最高分辨率可达0.0625℃.DS18B20可以直接读出被测温度值,而且采用三线制与单片机相连,减少了外部的硬件电路,具有低成本和易使用的热点。
1.2. 系统功能要求设计出的DS18B20数字温度计测温范围在0~125℃,误差在±1℃以内,采用LED数码管直接读显示。
2. 方案设计按照系统设计功能的要求,确定系统由3个模块组成:主控制器、测温电路和显示电路.数字温度计总体电路结构框图如4。
1图所示:图4.13. 硬件设计温度计电路设计原理图如下图所示,控制器使用单片机AT89C2051,温度传感器使用DS18B20,使用四位共阳LED 数码管以动态扫描法实现温度显示。
AT89C51 主 控制器 DS18B20 显示电路 扫描驱动主控制器单片机AT89C51具有低电压供电和小体积等特点,两个端口刚好满足电路系统的设计需要,很适合便携手持式产品的设计使用.系统可用两节电池供电。
AT89C51的引脚图如右图所示:VCC:供电电压。
GND:接地.P0口:P0口为一个8位漏级开路双向I/O口,每脚可吸收8TTL门电流。
半导体温度计的设计实验步骤
半导体温度计的设计实验步骤引言:半导体温度计是一种通过半导体材料的电阻随温度变化而变化来测量温度的仪器。
它具有响应速度快、精确度高、体积小等优点,广泛应用于工业控制、医疗设备、消费电子等领域。
本文将介绍半导体温度计的设计实验步骤。
一、准备实验材料和仪器1. 半导体材料:选择一种适合的半导体材料作为温度敏感元件,常见的有硅、锗等。
2. 电阻计:用于测量半导体材料的电阻值。
3. 温度控制器:用于控制实验室的温度,保证实验环境的稳定性。
4. 多用电表:用于测量电阻计和温度控制器的输出电压。
二、搭建实验电路1. 将半导体材料连接到电路中,一般采用电桥电路或电压分压电路。
2. 使用导线将电阻计和温度控制器与电路连接,确保电路的通电和测量正常。
三、调试实验电路1. 将温度控制器设定为一个固定的温度值,例如25摄氏度。
2. 使用多用电表分别测量半导体材料的电阻值、电阻计的输出电压和温度控制器的输出电压,并记录下来。
3. 将温度控制器的设定温度逐步增加,如30摄氏度、35摄氏度等,重复步骤2。
四、绘制温度与电阻的关系曲线1. 将实验数据整理成表格或图表,其中横轴表示温度,纵轴表示电阻值。
2. 使用拟合曲线的方法,将实验数据拟合成一条曲线。
常用的拟合方法有线性拟合、多项式拟合等。
五、验证实验结果1. 将温度控制器设定为一个新的温度值,如40摄氏度。
2. 使用实验得到的拟合曲线,计算出对应的电阻值。
3. 使用电阻计测量半导体材料的实际电阻值,并与计算结果进行比较。
六、分析实验结果1. 比较实际测量值和计算值的差异,并分析可能的原因。
2. 讨论实验结果的可靠性和精确度,提出改进的建议。
七、总结半导体温度计的设计实验步骤主要包括准备实验材料和仪器、搭建实验电路、调试实验电路、绘制温度与电阻的关系曲线、验证实验结果和分析实验结果。
通过实验得到的温度与电阻的关系曲线可以用于后续的温度测量和控制工作。
半导体温度计作为一种常用的温度测量仪器,在工业和科研领域具有广泛的应用前景。
半导体温度计的实验设计和数据分析
半导体温度计的实验设计和数据分析引言:半导体温度计是一种常用的温度测量装置,具有精度高、响应快、体积小等优点,在工业生产和科学研究中得到了广泛应用。
本文将介绍一种基于半导体材料的温度计的实验设计和数据分析方法,为读者提供参考和指导。
一、实验设计1. 实验目的本实验旨在研究半导体温度计的工作原理,通过实验测量温度计的电阻随温度的变化规律,并分析实验数据,进一步了解半导体材料的温度特性。
2. 实验器材和材料- 半导体温度计器件:选择常见的硅(NTC)或石英温度计。
- 变温系统:可使用热电材料、电热丝或热水浴等方式控制温度。
- 测量设备:万用表或数字多用表等电阻测量仪器。
- 连接线和插头:用于连接温度计和测量设备。
3. 实验步骤(1)将半导体温度计器件固定在测量区域内,确保其与温度接触良好。
(2)使用变温系统控制温度,在不同温度下记录温度计的电阻值。
(3)根据测量值绘制温度与电阻的关系曲线。
二、数据分析1. 温度与电阻关系曲线拟合根据实验数据,我们可以得到一组温度与电阻的对应关系数据点。
此时,我们需要对数据进行拟合处理,以获得更好的拟合曲线。
常用的拟合方法包括线性拟合、多项式拟合和非线性拟合等。
根据实验结果和数据特点选择适当的拟合方法。
2. 温度计的灵敏度计算通过实验数据和拟合曲线,我们可以计算温度计的灵敏度。
灵敏度是指温度计的电阻随温度变化的敏感程度,一般用温度差对应的电阻差来表示。
计算公式:灵敏度(S)= ΔR / ΔT其中,ΔR表示电阻的变化量,ΔT表示温度的变化量。
3. 温度计的精度分析在实验过程中,温度计的读数可能存在一定误差。
为了反映温度计的精度,我们可以计算误差和相对误差。
计算公式:误差(E)= 真实值 - 实测值相对误差(RE)= 误差 / 真实值 × 100%4. 实验结果的讨论根据实验结果和数据分析,我们可以讨论温度计的性能和适用范围。
比较不同材料温度计的特性,评估其优劣,并提出对实验结果的合理解释。
半导体温度计的设计和制作实验报告
实验题目:半导体温度计的设计和制作实验目的:学用惠斯通电桥制作半导体温度计并用其测量温度。
实验原理:电路原理图及所用公式:实验步骤:1.根据(2)式算得R 1=R 2=4785.86Ω2.断开R 1,R 2连接,调整R 1,R 2。
3.根据地板图焊接电路。
4.用电阻箱代替热敏电阻,调节R 3,使R T 为20℃对应阻值时电表示数为0;调R 使使R T 为70℃对应阻值时电表满偏。
5.开关置2档,调R 4,使电表满偏。
6.从R -T 曲线(在下页)中读20℃~70℃每隔2.5℃对应阻值,读出R T 为上述阻值时微安表示数T 。
把表盘可读改为温度刻度并画出I-T 曲线。
6.用实际热敏电阻代替电阻箱并测出55.5℃水浴和34.5℃水浴对应电流值和温度。
(1)CD T T G T T G V R R R R R R R R R R R R R R R I 23232121232212+++++-+= (2))(2)21(221212121T T T T G T T T G CD R R R R R R R R I V R ++-+-=图表1:R-T曲线图表2:I-T曲线及其线性拟合线性回归方程:T=17.31755+0.97318I实验结果:在55.5℃水浴下测得电流值为40.3μA与从图表2中读到对应温度电流值:39.2μA相对误差为2.73%在35.4℃水浴下测得电流值为20.0μA与从图表2中读到对应温度电流值:19.5μA相对误差为2.5%误差分析:1. R1,R2, R3, R4难以调校准确,误差较大,有的电位器阻值自己会变,且在焊接和其它操作过程中阻值可能有变化。
2.电池电力可能已经不足。
3.测量温度可能在热敏电阻的非线性区间。
4.实验室温度等其它因素可能对元件性能产生影响。
思考题:为什么在测R1,R2时,需将开关置为1档,拔下E处接线,断开微安表?答:如果没有如上操作,将会有其它元件接入电路。
半导体温度计
数据处理
下面是根据实验数据绘制的Rt—T关系图
数据优化
添热电阻采用三线制接法。采用三线制是为了消除连接导线 电阻引起的测量误差。这是因为测量热电阻的电路一般是不 平衡电桥。热电阻作为电桥的一个桥臂电阻,其连接导线也 成为桥臂电阻的一部分,这一部分电阻是未知的,造成测量 误差。采用三线制,将导线一根接到电桥的电源端,其余两 根分别接到热电阻所在的桥臂及与其相邻的桥臂上,这样消 除了导线线路电阻带来的测量误差。加标题
半导体温度计
答辩纲要
实验目的
数据处理
01
02 实验原理
04 数据优化
03
文献综述
05
06 参考文献
实验目的
• 一、利用Pt100铂电阻温度传感器与电桥装置,设计、组合一个测 量范围在0到100℃的温度计,写出实验原理并进行实验。 • 二、学习对测得的实验数据进行处理的方法。 • 三、对数据处理的结果进行分析,并提出优化方案。
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数据支撑
P 1
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P
0
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T
0
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数据处理
铂电阻阻值与温度的关系可以近似用下式表示: 在0~650℃范围内: Rt =R0 (1+At+Bt2)………………………(1) 在-190~0℃范围内: Rt =R0 (1+At+Bt2+C(t-100)t3)…………(2) 式中A、B、C为常数 通过实验数据,我们算出了在0~100 ℃区间的A,B 近 似值。 A=2.74572 ×10-3/ ℃ B= ﹣5.00147 × 10-7/ ℃ 理论值:A=3.90802×10-3/ ℃ B=﹣5.80195× 10-7/ ℃
