位置检测装置机床数控技术

位置检 测装置
数字式
光电盘 增量式 圆光栅 绝对式 －数码盘
测角 模拟式
增量式 绝对式
多级同步分解器 同步分解器组件 三重式圆感应同步器 同步分解器 圆感应分解器 磁盘
测长
数字式 模拟式
增量式 －长光栅
绝对式 －多通道透射光栅
直线感应分解器
增量式 磁尺 绝对式 －多重式直线感应同步器
5.2 光 栅
(3)误差均化作用：摩尔条纹是由许多根刻线共同形成的，这 样可使光栅的节距误差得到平均化。
(4) 成比例运动：摩尔条纹的移动与栅距之间的移动成比例。 当两个光栅相对移动一个栅距d时，摩尔条纹相应地移动一 个纹距W，因此两者的移动是对应的，这样便于记数；标尺 光栅移动的方向相反，干涉条纹移动的方向也反向。
性误差。
23

√ 误差1分11析1 ：
22
1000
21
20
图5-9 四位二进制编码盘
当检测对象带动码盘一起转动时，电刷和码盘 的相对位置发生变化，与电刷串联的电阻将会 出现有电流通过或没有电流通过两种情况。若 回路中的电阻上有电流通过，为“1”；反之， 电刷接触的是绝缘区，电阻上无电流通过，为 “0”。如果码盘顺时针转动，就可依次得到按 规定编码的数字信号输出，图示为4位二进制 码盘，根据电刷位置得到由“1”和“0”组成的 二进制码，输出为0000、0001、 0010……1111。
亮度
O
电压
光栅位移 O
光栅位移
图3-4 光栅的实际亮度变化
图3-5 光栅的输出波形图
• 将明暗相间的干涉 条纹用光电元件接 收后，经过放大、 整形、微分变成脉 冲信号，即可用来 测量位移量，如右 图。可见每个线距 可以发两个脉冲信 号。
根据摩尔条纹的上述特点，可在摩尔 条纹的移动方向上开设4个窗口P1， P2，P3，P4，并且使这4个窗口两两 相距1/4摩尔条纹宽度(W/4),可从这4 个观察窗口进行：
两种光栅的特点 : 玻璃透射光栅
光源可垂直入射，信号幅度大，读数头结构简单; 刻线密度大100条/mm, 细分后，分辨率达微米级; 易碎，热膨胀系数与机床不一致，影响测量精度.
金属反射光栅 钢尺、钢带 照相腐蚀、钻石刀刻划
热膨胀系数与机床一致，安装调整方便，易接长，不易碎
2．光栅工作结构
光栅结构： 1.标尺光栅、 2.指示光栅、 3.光电元件、4.光源。
✓ 现在市场上提供的规格从 36线/ 转 到 10 万线 /转 都有；
✓ 选择：①伺服系统要求的分辨率；
②考虑机械传动系统的参数。
➢ 分辨率（分辨角）α
设增量式码盘的规格为 n 线/转：
360 n
➢提高增量式光电编码器分辨率的方法 ✓ 提高圆周的等分狭缝的密度 ✓ 增加光电盘的发讯通道 使盘上有若干大小 不等的同心圆环狭缝（码道），光电盘转一 周，发出的脉冲个数增多，分辨率提高。
Wp
原理 1）指示光栅与标尺光栅刻度等宽。 2）平行装配，且无摩擦 3）两尺条纹之间有一定夹角 4）当指示光栅与标尺光栅相对运动时，会产生与光栅线 垂直的横向的条纹，该条纹为莫尔条纹，当移动一个栅 距时，摩尔条纹也移动一个纹距
莫尔条纹的产生
1、标尺光栅和指示光栅的栅距P 2、指示光栅在其自身平面内相对 于标尺光栅倾斜一个很小的角度, 两块光栅的刻线就会相交。当灯 光通过聚光镜呈平行光线垂直照 射在标尺光栅上，在与两块光栅 线纹相交的钝角平分线方向，出 现明暗交替，间隔相等的粗短条纹， 称之为横向莫尔条纹。
从传感器 输出信号分
模拟式 旋转变压器、感应同步器 数字式 光栅检测装置、脉冲编码盘
5.1.2位置检测装置的分类
• 不同类型NC机床对检测系统要求不同。大型 数控机床要求速度响应高，中型和高精度数控 机床以满足精度要求为主。测量系统分辨率一 般要求比加工精度高一个数量级。
• 直接测量--对机床直线位移采用直线型检测元 件测量，其测量精度取决于测量元件精度，不 受机床传动精度的影响。
• 机床移动部件的位移检测；
• 确定移动部件的方向；
• 确定移动速度。
提高精度的方法
增加线纹密度，能提高光栅检测装置精度， 但制造较困难，成本高。实际应用中，既要提 高测量精度，同时又能达到自动辨向的目的， 通常采用倍频或细分的方法来提高光栅的分辨 精度，
如果在莫尔条纹的宽度内，放置四个光电元 件，每隔1/4光栅栅距产生一个脉冲，一个脉 冲代表移动了1/4栅距的位移，分辨精度可提 高四倍，即四倍频方案。
增量式测量 绝对式测量
只测位移量，如测量单位为0.01 mm,则每移 动0.01mm就发出一个脉冲信号。
被测量的任意一点位置均由固定的零点标起， 每一个被测点都有一个相应的测量值。
直接测量 间接测量
将检测装置直接安在执行部件上，如光栅， 感应同步器用于直接测量工作台直线位移。
将检测装置安在滚珠丝杠或驱动电机轴上， 通过检测转动件的角位移来间接测量执行部 件的直线位移。
理论上光栅亮度变化是一个三角波形，但由于 漏光和不能达到最大亮度，被削顶削底后而近似 一个正弦波（见图3-4）。硅光电池将近似正弦 波的光强信号变为同频率的电压信号（见图35），
经光栅位移—数字变换电路放大、整形、微分 输出脉冲。每产生一个脉冲，就代表移动了一个 栅距那么大的位移，通过对脉冲计数便可得到工 作台的移动距离。
• 间接测量--对机床直线位移采用回转型检测元 件测量，测量精度取决于测量元件和机床传动 链两者的精度。为提高定位精度，常需对机床 传动误差进行补偿。
测量方式
数字式测量 模拟式测量
将被测量以数字形式表示，测量量一般为 电脉冲。 将被测的量以连续变量表示，如电压变化、
相位变化等。主要用于小量程测量。
观看光栅机构及安装视频
5.3 脉冲编码器
脉冲编码器又称码盘，是一种回转式数字测量 元件，通常装在被检测轴上，随被测轴一起转动， 可将被测轴的角位移转换为增量脉冲形式或绝对 式的代码形式。根据内部结构和检测方式码盘可
分为接触式、光电式和电磁式3种。其中，光
电码盘在数控机床上应用较多，而由霍尔效应构 成的电磁码盘则可用作速度检测元件。另外，它 还可分为绝对式和增量式两种。
A、A B、B、Z、Z
Z
其中，A、B、Z是 A、B、Z
的取反信号。
90°
……
码盘转一圈
▢ 输出信号的作用及其处理
➢ A、B两相的作用
A
√根据脉冲的数目可得出
被测轴的角位移；
90O
√根据脉冲的频率可得被
测轴的转速；
B
√根据A、B两相的相位超
前、滞后关系可判断被测轴
旋转方向。
CP
√后续电路可利用A、B两
相的90°相位差进行细分处 理（四倍频电路实现）。
➢ Z相的作用
√被测轴的周向定位基准信
Z
号；
√被测轴的旋转圈数记数信
号。
➢ A、B、Z 的作用 √后续电路可利用A、 A 两相
实现差分输入，以消除远距 离传输的共模干扰。
…… 码盘转一圈
增量式码盘的规格及分辨率
➢规格
✓ 增量式码盘的规格是指码盘每转一圈发出 的脉冲数；
第五章 位置检测装置（1）
吴金文 2016年4月25日
位置检测装置是数控机床的重要组成部分。 作用: 检测位移和速度，并发出反馈信号和数控装置发出的 指令信号相比较，构成闭环、半闭环控制。
5.1.1位置检测装置的要求
● 受温度、湿度影响小，工作可靠，能长期保持精度，抗干扰 能力强; ● 在机床执行部件工作范围内，能满足精度和速度要求; ● 使用维护方便，适应机床工作环境； ● 成本低。
• 数控机床的运动精度主要由检测系统的精度决定。 • 位移检测系统能够测量的最小位移量称为分辨率。 • 分辨率不仅取决于检测元件本身，也取决于测量
线路。在设计数控机床，尤其是高精度或大中型 数控机床时，必须选用检测元件。
检测元件具体分类举例
从检测的 信号分
直线型 回转型
直线感应同步器、长光栅、 长磁栅、激光干涉仪 旋转变压器、圆感应同步器、 圆光栅、圆磁栅、编码盘
检测元件的精度指标：
系统精度－－在一定长度或转角内测量累积误差的最大值 （±0.001~0.02mm/m， ± 10″/360°）
系统分辨率－－所能正确检测的最小位移量 0.001~0.01mm，2″ （取1/3~1/10机床加工精度）
检测元件的作用
• 检测元件是数控机床伺服系统的重要组成部分。 它的作用是检测位移，发送反馈信号，构成闭环 控制。
光电盘用玻璃材料研磨抛光制成，玻璃表面在真空中镀上一层不透光的铬， 再用照相腐蚀法在上面制成向心透光窄缝。透光窄缝在圆周上等分，其数 量从几百条到几千条不等。圆盘也用玻璃材料研磨抛光制成，其透光窄缝 为两条，每一条后面安装一只光电元件。
光电盘与工作轴连在一起 ，光 电盘转动时，每转过一个缝隙就 发生一次光线的明暗变化，光电 A 元件把通过光电盘和圆盘射来的 忽明忽暗的光信号转换为近似正 弦波的电信号，经过整形、放大、 和微分处理后，输出脉冲信号。
1.光栅的种类
• 光栅有透射光栅和反射光栅两类。
• 透射光栅 在透明玻璃片上刻有平行等距的密集线条，常用 的有50线/毫米、l00线/毫米和200线/毫米(指直线光栅)。 其特点是光源可采用垂直入射光，光电元件能直接接受， 因此信号幅值较大，信噪比好，读数头的结构简单。
• 反射光栅 在金属镜面上制成全反射或漫反射平行等距的密 集线条，常用的材料有钢或铝等，其每毫米刻线数有4、 10、25、40、50，甚至有600线，因此可以得到很高的精 度，且长度不受限制。
摩尔条纹
标尺光栅
指示光栅 作用： 放大作用 误差均化作用 方便测量位移
光栅倾角
θ
d