ITEST-IC芯片测试仪
艾德克斯 ITS9500 电源自动测试系统 产品说明书
ITS9500电源自动测试系统FEATURE体积小巧，性价比高高性价比最多可以8路电源同时测试，当待测物输出为两路时，可同时测试4个待测物模块化设计，易于维护高测试精度提供近40个测试大项，近上百个测试参数测试程序管理/编辑功能统计报表输出和编辑功能一套软件可控制八套系统同时运行多层次管理权限设定功能用户权利设定人员进出系统记录软件支持BarCodeReader可选配外接治具实现自动化测试符合能源之星（ENERGY STAR）测量规范ITS9500电源自动测试系统是针对开关电源测试设计的一款方便实用的测试系统，此系统为区别于传统测试系统笨重且难于操作及维护的全新方案，最小体积仅5U，可提供相比传统大型机柜测试系统性能更优异的测试结果，帮助客户大幅度节约空间并压缩成本。
ITS9500电源自动测试系统可以支持最多8路电源同时进行测试，得力于ITECH丰富的电源及负载产品线，用户可根据需求挑选适合自身的仪器设备来搭建测试系统，如此为系统的架构提供了弹性与可扩展性。
ITS9500电源自动测试系统可应用于测试AC及DC电源供应器、电源转换器、充电器、车载充电机等产品之测试，系统提供近40个测试大项，近百个测试参数，用户可以根据待测物的特性，选择测试项目，轻松完成测试。
集成了DSO，电子负载，交流电源，直流电源，噪声分析及时序分析等精密仪器功能于一体，可轻易安装于台面或标准机柜。
ITS9500电源自动测试系统在有限的空间里整合开关电源测试时所用的各项仪器，体积小巧。
ITS9500电源自动测试系统改变以往电源自动测试系统体积庞大、价格昂贵的缺点，不仅在生产阶段可以使用，研发阶段也可以使用测试AC及DC电源供应器、电源转换器(Power Adapter)、充电器、车载充电机等应用领域测试系统体积小巧，性价比高测试项目灵活选择，满足需求ITS9500测试软件借助测试系统，可实现对电源测试方面测试项的编辑、运行、测试、数据分析等功能。
多功能数字芯片测试仪的设计与应用
ｕｓｎ ｈ ｅ ｔｃ ｄｅｔ ｏ ｒ ｎｄ ｔ ｓ ｈ ｐｅ ａ ｉ ｎ ｃ ｎｄｉｉ ｓ ｏ ｒ ｉ ｇ ｔ ｅ ｔ ｓ ｏ ｏ ｃ ｎｔｏｌａ ｅ ｔｔ ｅ ｏ ｒ ｔｏ ｏ ｔｏｎ ｆｈａ ｄｗａ ｅ，ａ ｄ ｔ ｅ ｏｍｐａｒｎ ｈｅｔ ｓ ｅ ｕｌ ｒ ｎ ｈ ｎ ｃ ｉｇ ｔ ｅ ｔｒ ｓ ｔ
Ｓ Ｃ ｃ ｉ ｅｅ ｔ ｇ ｉ ｎ ｉ ｏ ｔ ｎ ａ ｋ ｉ ｌｃ ｒ ｎ ｃ ｅ ｕ ｐ ｎ ｒ ｕ ｌ ｅ ｖ １ Ａ ｔ ｃ — ｔ ｆ ｕ ｔｍｏ ｅ ｓ Ｏ Ｉ ｈ ｐ ｄ ｔ ｃ ｉ ｓ ａ ｍｐ ｒ ａ ｔｔ ｓ ｎ ｅｅ ｔｏ ｉ ｑ ｉ ｍｅ ｔ ｔ ｏ ｂ ｅ ｒ ｍｏ ａ． ｎ ｓ ｕ ｋ ａ ａ ｌ ｄ ｌｉ ｂ ｉ ，ａ ｄ ｔ ｅ ｉｄ ｏ ｉ ｉａ ｈ ｐ ｔ ｓ ｉ ｇ ｉ ｓ ｒ ｍ ｅ ｔｉ ｄ ｓｇ ｅ ａ ｅ ｎ Ｈ Ｔ４ ＲＵ２ ｓｔ ｃ ｎ ｃ ｌｃ ｒ ．Ｂｙ ｕｌ ｔ ｎ ｈ ｎ ａ ｋ ｎ ｆｄｇ ｔ ｌ ｉ ｅ ｔ ｎ ｔ ｕ ｎ ｅ ｉ ｎ ｄ ｂ ｓ ｄ ｏ ｃ ｎ ｓ ６ ４ ａ ｅ ｈ ｉａ ｏ ｅ
ICT测试治具是什么
ICT测试治具是什么?ICT测试治具概述：ICT测试治具即In Circui Test测试治具的缩写，就是在线检测、测试治具。
是对在线元器件的电性能及电气连具接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。
它主要用于检查在线的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点，ICT测试治具可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试，故障覆盖率高，对每种单板需制作专用的针床，这个针床在工业生产上就叫它ICT测试治具。
ICT测试治具特性ICT测试治具有单面双面之分，通用天板方便交换机种，使用可调培林座，容易保养，使用压克力&电木&FR-4 材质（或指定），直接gerber文件处理生成钻孔文件，保证钻孔精度。
测试程式自动生成，避免手工输入出错之可能适用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT机型。
两被测点或被测点与预钻孔之中心距不得小于0.050"（1.27mm）。
以大于0.100"（2.54mm）为佳，其次是0.075"（1.905mm）。
治具的测试点分布也尽量均匀，保证压上后板子不变型，以免造成产品的损坏ICT测试治具功能ICT测试治具能够检查制成板上在线元器件的电气性能和电路网络的连接情况。
能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量，对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试，对中小规模的集成电路进行功能测试，如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。
ICT测试治具通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。
元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏，Memory类的程序错误等。
对工艺类可发现如焊锡短路，元件插错、插反、漏装，管脚翘起、虚焊，PCB短路、断线等故障。
ICT测试原理及程式简介
Hybrid 32 Card
Channel 0 Channel 8 ......
6:2 3:2
ASRU
Source
Analog Subsystem
MOA Detector Aux
MUX
S I AB
LG
Digital Subsystem Pin Card
X1.…...X8 XG XL
ICT TEST程式与夾具命名規則
ict测试原理及程式简介 ictict epdviii ict epdviii ict randy .xiang randy .xiang ppt ictpcb pcb ic ppt ictictict dcac hp-jet tri(test research inc.) 4kg/cm26kg/cm2. 25%rh-75%rh. 1.52.0 2.0 ppt tri8001 ppt tri(test research inc.) ac220v-245v, 50/60 hz 5% 46kgfcm2ppt tri518 ppt ppt10 sens ppt11 ppt 12 buffer board ppt 13 interface ppt 14 ppt 15 agilent 3070 family 307x, up 5200nodes 327x, up 1300nodes 317x, up 2600nodes ppt 16 anatomy agilentmedalist 3070 agilent 3070 electronics cabinet dut power supplies external instruments testhead flat screen monitor moveablearm. keyboard moveablearm. end cabinet contains computer, power distribution unit, testhead rotation switch. testhead test fixture emergency power off switch test fixture mother board (one per bank) module power supplies ppt 17 agilent3070 ppt 18 fixture probe pinwiring test probe support plate probe plate personality pin alignment plate printed circuit board fixture frame vacuum gasket r1 stimulus response ppt 19 anatomy agilentmedalist 3070 bank asruslot module
ic芯片检测流程
ic芯片检测流程
ic芯片的检测流程主要包括前工序检测、后工序检测和出货前检测三个环节。
1.前工序检测：是在芯片制造过程中的各个工序中，对芯片的各项参数进行检测。
包括晶圆制备、掩模光刻、腐蚀刻蚀、扩散、退火、化学机械抛光等多个工序。
每个工序都需要对芯片进行相应的参数检测，以确保芯片的质量和性能符合要求。
主要检测项目包括晶圆表面形貌、晶体管的电学参数、MOS栅极的质量等。
2.后工序检测：是在芯片制造过程的最后几个工序中，对芯片进行的各项参数检测。
包括胶合、切割、打磨、薄膜沉积、金属化等多个工序。
每个工序都需要对芯片进行相应的参数检测，以确保芯片的质量和性能符合要求。
主要检测项目包括金属线宽度、金属线间隔、金属线层的均匀性等。
3.出货前检测：是在芯片封装成成品之后进行的测试。
由于芯片已经封装，所以不再需要无尘室环境，
测试要求的条件大大降低。
通常包含测试各种电子或光学参数的传感器，但通常不使用探针探入芯片内部（多数芯片封装后也无法探入），而是直接从管脚连线进行测试。
由于packagetest无法使用探针测试芯片内部，因此其测试范围受到限制，有很多指标无法在这一环节进行测试。
此外，还有一些专门针对芯片的测试方法，如晶圆测试、芯片测试和封装测试等。
这些测试方法在芯片制造的不同阶段进行，用于检测芯片的性能和质量。
在熟悉芯片规格后，提取验证功能点，撰写验证方案，搭建验证平台，执行验证测试，最后撰写验证报告。
如需了解更多关于IC芯片检测流程的问题，建议咨询专业技术人员获取帮助。
iTester宽带测试仪的使用手册
iTester宽带测试仪使用手册V 1.0.2北京信而泰科技有限公司目录1. 设置机箱管理网口IP地址 (4)1.1. 使用前说明 (4)1.2. 第一次使用 (4)2. 总体控制 (4)2.1. 保存和加载配置文件 (5)2.2. 启停流量发送和统计 (5)2.3. 启停协议仿真 (6)3. 测试资源设置模块介绍 (6)3.1. 机箱添加 (7)3.2. 接口卡释放 (9)3.3. 接口卡删除 (9)3.4. 端口设置 (9)3.5. 发送APR Request和Neighbor Solicit报文 (16)3.6. Ping和Ping6 (17)4. 流量发送模块介绍 (18)4.1. 端口发送总体参数设置 (19)4.2. 添加Stream (20)4.3. 编辑Stream (31)4.4. 删除Stream (31)4.5. 删除所有Stream (32)4.6. 使能Stream (32)4.7. 不使能Stream (32)4.8. 使能端口 (32)4.9. 不使能端口 (32)4.10. 端口发送调速 (33)5. 流量统计模块介绍 (33)5.1. 定时器设置 (34)5.2. 统计项选择 (35)5.3. 选择要统计的Stream (37)5.4. 选择进行统计绘图的端口 (38)5.5. 统计绘图显示 (39)5.6. 接收统计过滤模板设置 (39)5.7. 统计数据保存 (41)6. 流量捕获模块介绍 (41)6.1. 捕获类型设置 (42)6.2. 捕获过滤模板设置 (43)6.3. 下载捕获到的帧 (45)7. IGMPv2协议仿真模块介绍 (46)8.RIPv2和RIPng协议仿真模块介绍 (47)9. OSPF协议仿真模块介绍 (48)10.BGP协议仿真模块介绍 (49)11. 流量发送和协议仿真 (51)1.设置机箱管理网口IP地址1.1. 使用前说明终端程序是通过机箱的管理网口和TeleManager进行通信的，因此在通信之前需要设置机箱管理网口的IP地址。
基于LK8810S平台的数字集成电路测试
芯
、
图1 74HC595管脚图74HC595待测芯片与测试机之间通过DUT板子相连，如图2所示，为DUT板的电路图。
其中74HC595的VCC管脚与测试机的FORCE1脚相连，FORCE1脚可以根据测试需要，输出不同的电压信号。
74HC595的其他输入输出管脚与测试机的PE板的PIN脚相连。
图2 DUT板的电路图
3 数字芯片测试原理及关键程序编写
3.1 开短路测试
集成电路的开短路测试又称为Open-Short测试，通过开短路测试，能快速地检测出被测芯片是否存在引脚短路、断路、静电保护功能丧失、损坏
图3 开短路测试原理
按照上述原理，进行开短路测试程序的编写，74HC595的14个输入输出脚对VDD的开短路测试程序如下。
for(i=1;i<15;i++)
{
v=_pmu_test_iv(i,2,100,2); //测试机输出100ua电流进行对VDD的开短路测试
if(v>0.2 && v<1.5)
5 结语
基于LK8810S的平台，能快速、准确地实现对 图4 开短路测试结果图5 输入电平电流测试
图6 功能测试结果。
ic芯片验证的主要工作流程和验证工具
ic芯片验证的主要工作流程和验证工具IC芯片验证的主要工作流程和验证工具IC芯片验证是IC设计中非常重要的一环，它是确保芯片功能正确性和可靠性的关键步骤。
本文将从工作流程和验证工具两个方面来介绍IC芯片验证。
一、工作流程IC芯片验证的工作流程主要包括以下几个步骤：1.需求分析在IC芯片验证之前，需要对芯片的功能需求进行分析和确认。
这个过程需要与客户进行充分的沟通，了解客户的需求和使用场景，以便在后续的验证过程中能够更好地满足客户的需求。
2.测试计划制定测试计划是IC芯片验证的重要组成部分，它需要根据需求分析的结果，制定出相应的测试计划。
测试计划包括测试的目标、测试的方法、测试的环境等内容。
3.测试用例设计测试用例是IC芯片验证的核心，它需要根据测试计划中的要求，设计出相应的测试用例。
测试用例需要覆盖芯片的所有功能和场景，以确保芯片的功能正确性和可靠性。
4.测试执行测试执行是IC芯片验证的实际操作过程，它需要按照测试计划和测试用例的要求，对芯片进行测试。
测试执行需要使用相应的测试工具和设备，以确保测试的准确性和可靠性。
5.测试结果分析测试结果分析是IC芯片验证的最后一步，它需要对测试结果进行分析和评估。
测试结果分析需要根据测试计划和测试用例的要求，对测试结果进行判定和评估，以确定芯片是否符合要求。
二、验证工具IC芯片验证需要使用相应的验证工具，以确保测试的准确性和可靠性。
以下是常用的验证工具：1.仿真工具仿真工具是IC芯片验证中最常用的工具之一，它可以模拟芯片的运行环境，以便进行功能验证和性能评估。
常用的仿真工具包括ModelSim、VCS等。
2.逻辑分析仪逻辑分析仪是IC芯片验证中用于捕获和分析信号的工具，它可以帮助验证工程师快速定位芯片中的问题。
常用的逻辑分析仪包括Agilent、Tektronix等。
3.协议分析仪协议分析仪是IC芯片验证中用于分析通信协议的工具，它可以帮助验证工程师快速定位通信协议中的问题。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
ITEST-IC芯片测试仪
1产品概述：
目前电子企业所用的元器件质量状态令人担忧，市场的饱和、从业人员的增
加都加剧了市场竞争激烈程度，薄弱的利润，驱使着从业人员不断“创新”——
回收国外的电子垃圾、采购芯片代工厂的废品、打磨、翻新、金属封装壳体置换、
商业级改工业级或军用级，速度等级修改……；而且打磨后为了清除掉表面的一
些赃物，竟然利用自来水冲洗，这些都是行业内公开的秘密了。造假手段不仅五
花八门而且呈高科技状，传统的手段（例如：利用从业人员的经验、使用千分尺、
放大镜、万用表以及利用酒精擦除表面丝印）在这些“高科技”面前，真得是无
能为力，就算有稍微负责任的经销商用高级一点的编程器、仿真器或下载线去筛
选一下，但这对于“娇气”的芯片来讲，真的是起不了多大的用处。对于芯片来
讲，好的就是好的，用过的就是用过的，不能用就是不能用，道理大家都知道，
但是没有合适的测试工具你知道了又能怎么样？不成文的行规：上机不退，过月
不换，管脚上锡不退不换，让你只要用芯片，只要从市场采购，就注定你会“中
招”的。为了节省企业成本、缩短产品上市时间、提升企业信誉以及提高产品质
量，测一测你所采购的芯片吧！！！
北京博基兴业科技有限公司研发的Chip Tester芯片测试仪就是根据目前市
场上假冒伪劣愈演愈烈，广大用户及商家深受其害而开发的应用于流通环节质量
控制的、企业能够购买的、便宜的芯片测试设备。测试仪由测试主机、测试工业
温度扩展机、测试功能扩展板、芯片封装适配器以及相关的配件组成
2产品特点：
z 便携式设计，但需要电源供电，携带方便；支持外接显示器，鼠标及键
盘；
z 主机和工业级扩展分机可以单独工作，也可主机控制扩展分机进行操
作，扩展分机，具有良好的温度测试范围（-55℃～+125℃），可以对芯
片进行高低温以及老化测试；
z 模块化设计，良好的扩展性，可以满足不同的测试需求；
z 数量众多的Load board以及各种不同封装的Socket；
z 内置芯片测试程序，一键式操作，使用简单；
z 测试结果直接显示PASS or FAIL,操作人员不需要专业知识；
z 测试参数丰富可调，可输出完整的测试报告；
z 测试元器件库快速扩充，有众多的技术人员进行专业的测试开发；
3功能简介：
z 测试器件的输入电阻、工作电流、工作电压、器件功能、性能测试；
z 器件等级筛选，可有效的区分商业级、工业级以及军工级；
z 验证器件的生产信息以及对器件编程校验等；
z 输出完整的测试报告，显示器件的VI特性；
z 支持各种中小规模、大规模、超大规模数字集成电路
• 包括各种4000、74/54系列数字集成电路；
• 各种处理器（ARM 、 MIPS 、 POWERPC 、 DSP）；
• 存储器电路(DDR 、 DDR2 、 SDRAM 、 SRAM 、 ROM、PROM、EPROM、
EEPROM、FLASH, FIFO等)；
• 可编程逻辑电路（FPGA 、 CPLD 、 PAL 、 GAL 、 PLD等）；
• 各种总线接口电路(RS-232、RS-422、 IEEE488、RS-485等)；
• 定时器电路、数字电位器等；
• 同时可测试多种模拟及混合集成电路，包括：模拟开关、ADC/DAC转 换器、运算
放大器、音频功率放大器、电压调整器、电压基准、光耦电路、电源管理芯片等。
z
4适用范围：
z 产品流通环节的商家进货质量控制，帮助分销商、贸易商以及IC从业
人员辨别芯片真伪，有无翻新，可以对芯片进行功能性研证。避免由于
芯片质量问题引起不必要的纷争。
z 整机企业质量检测部门入厂检测，有效地帮助企业检验人员快速准确的
完成物料的来料检测，完善企业的质量管理体系，提高产品的生产质量。
z 维修企业芯片检测：很多电路由于过流、过压以及其他原因造成某个器
件故障影响到整板工作，维修人员在维修电路板时，可以利用Chip Tester
芯片测试仪对从板上拆下的器件进行测试，对于测试合格的芯片可以在
利用，可以提高效率。
z 质量评估和可靠性分析测试,很多如74系列的逻辑器件，生产厂家众多，
对于耦合度较低的电路，必须在批量生产时对所用的器件进行质量评估
和可靠性分析，确保电路的稳定工作。
5服务项目：
z 承接芯片测试服务，可测试各种逻辑器件、处理器芯片、可编程逻辑器
件、存储器芯片、各种总线接口电路、定时器、数字电位器、模拟开关、
ADC、DAC、运算放大器、音频功率放大器、电压调整器件、电压基准、
光耦电路、电源管理芯片等
z 专用芯片测试设备研发，可根据客户的要求订制各种型号的芯片测试设
备。由于多功能的测试设备价格高昂，很多客户尽管有需求，但是为了
节约成本，无法购买。针对此种情况，我们可以为您提供订制服务。
z 芯片质量分析与可靠性测试，以及老化、筛选试验 ，很多科研院所以及
企业的产品应用领域都有着特殊的要求，为了确保这种要求，往往对于
产品所用到的器件进行各种严格的筛选，如高低温测试、老化测试以及
超参数性能验证，利用Chip Tester芯片测试仪可有效而且快速的完成。
z 制作测试夹具, 开发芯片测试程序，可以帮助客户制作各种不同封装，
管脚数量较多的测试夹具，利用工程师多年的研发经验，快速的帮客户
开发针对芯片各项参数的测试程序。
z 批量测试方案制定完善，对于使用大批量芯片的客户，为了确保测试效
率，我们可以为您提供各种自动的测试方案，如增加机械手，自动抓取
芯片。
6成功案例：
某贸易商从渠道吃货Ti DSP 5402，数量众多，在市场销售时，由于芯
片质量问题，与客户发生多次争执，为了避免继续产生质量问题，求助于我
们，我们利用Chip Tester芯片测试仪，配置5402管脚测试座，一周内做好
测试适配板，三天作好测试程序，接到定单十一日后我们测试了客户的第一
片5402，测试结果显示：FAIL，随着继续测试，问题不断显示：IDCODE
状态错误，管脚IO功能失效，功耗偏大…….,全部测试完毕后，发现故障率
竟然有：63%，客户有点不相信测试结果，随机抽取有故障的芯片10片，
让一个关系很好的终端用户帮测试，测试发现，10片有故障的芯片都无法
工作。此贸易商把那些好的芯片继续销售，市场反映良好。现在对于质量不
确定的芯片，常找我们来做检测，是我们的一个忠实客户。