失效机理
微电子器件失效分析机理

微电子器件失效分析机理微电子器件失效分析机理微电子器件的失效是指器件在运行过程中出现故障或无法正常工作的现象。
失效分析是一种通过对失效器件进行深入分析和研究,找出失效原因的技术手段。
了解微电子器件失效的机理对于提高器件的可靠性和性能至关重要。
微电子器件的失效机理可以归纳为以下几个方面:1.电子迁移:电子迁移是指在电流通过器件时,电子会由高浓度区域向低浓度区域迁移。
长时间的电子迁移会导致金属线或晶体管的导电路径变窄,进而引起电阻增加或电流无法正常通过。
电子迁移会加速器件老化,降低器件的寿命。
2.热失效:高温环境下,器件内部的材料容易发生热膨胀、融化、结构变形等问题。
高温还会加速杂质扩散,导致器件的电性能下降。
热失效是导致器件损坏的重要原因之一。
3.光辐照:光辐照是指器件受到光的照射,光能量会激发器件内部的电子,产生额外的载流子,从而改变器件的电性能。
长时间的光辐照会使得器件的特性发生变化,甚至导致器件烧毁。
4.电压应力:过高或过低的电压都会对器件造成应力,导致器件的电性能下降或失效。
过高的电压会导致电场强度增加,引起介质击穿或漏电。
过低的电压则会导致器件无法正常工作。
5.湿气腐蚀:湿气中的水分和氧气会与器件内部的金属或半导体材料发生化学反应,导致器件腐蚀,进而引起失效。
湿气腐蚀是封装不良或外界环境湿度过高导致的常见问题。
对于微电子器件的失效分析,可以采用以下方法:1.故障分析:通过对失效器件进行外观检查、电气特性测试和物理结构分析,找出故障点所在,并进一步分析故障原因。
2.材料分析:通过对器件的材料进行化学分析和显微结构观察,确定是否存在材料缺陷或污染物,以及其对器件性能的影响。
3.应力分析:通过应力测试和有限元仿真等方法,分析器件的应力分布情况,找出由于应力导致的器件失效。
4.加速老化实验:利用高温、高湿等环境条件,加速器件老化过程,研究器件在极端环境下的失效机理。
通过对微电子器件失效机理的深入研究和分析,可以指导器件设计、制造和使用过程中的改进措施,提高器件的可靠性和性能。
第一章机械零件失效的模式及其机理

第一章机械零件失效的模式与其机理在设备使用过程中,机械零件由于设计、材料、工艺与装配等各种原因,丧失规定的功能,无法继续工作的现象称为失效。
当机械设备的关键零部件失效时,就意味着设备处于故障状态。
机械零件失效的模式,即失效的外在表现形式,主要表现为磨损、变形、断裂等;而失效机理是指失效的物理、化学、机械等变化的过程和内在原因的实质。
第一节机械零件的磨损通常将磨损分为粘着磨损、磨料磨损、疲劳磨损、腐蚀磨损和微动磨损五种形式。
一、粘着磨损当构成摩擦副的两个摩擦外表相互接触并发生相对运动时,由于粘着作用,接触外表的材料从一个外表转移到另一个外表所引起的磨损称为粘着磨损。
粘着磨损又称粘附磨损。
二、磨料磨损磨料磨损又称磨粒磨损。
它是当摩擦副的接触外表之间存在着硬质颗粒,或者当摩擦副材料一方的硬度比另一方的硬度大得多时,所产生的一种类似金属切削过程的磨损,其特征是在接触面上有明显的切削痕迹。
磨料磨损是十分常见又是危害最严重的一种磨损。
其磨损速率和磨损强度都很大,致使机械设备的使用寿命大大降低,能源和材料大量损耗。
三、疲劳磨损疲劳磨损是摩擦外表材料微观体积受循环接触应力作用产生重复变形,导致产生裂纹和别离出微片或颗粒的一种磨损。
四、腐蚀磨损在摩擦过程中,金属同时与周围介质发生化学反响或电化学反响,引起金属外表的腐蚀产物剥落,这种现象称为腐蚀磨损。
它是在腐蚀现象与机械磨损、粘着磨损、磨料磨损等相结合时才能形成的一种机械化学磨损。
它是一种极为复杂的磨损过程,经常发生在高温或潮湿的环境,更容易发生在有酸、碱、盐等特殊介质条件下。
按腐蚀介质的不同类型,腐蚀磨损可分为氧化磨损和特殊介质下腐蚀磨损两大类。
五、微动磨损两个接触外表由于受相对低振幅振荡运动而产生的磨损叫做微动磨损。
它产生于相对静止的接合零件上,因而往往易被无视。
微动磨损的最大特点是:在外界变动载荷作用下,产生振幅很小〔一般为2-20微米〕的相对运动,由此发生摩擦磨损。
失效分析基本常识以及操作流程概要

失效分析基本常识以及操作流程概要失效分析是一种通过对可能导致系统、设备或产品失效的原因进行分析,找出失效根本原因并采取措施来防止或解决失效问题的方法。
它是广泛应用于各个行业的一种科学技术手段,可以提高产品和系统的可靠性、安全性和稳定性。
失效分析的基本常识包括以下几个方面:1.失效模式与失效机理:失效模式是指系统、设备或产品发生失效的表现形式,如断裂、腐蚀或短路等。
失效机理是导致失效发生的物理或化学过程,如疲劳、腐蚀或热膨胀等。
2.失效根本原因:失效根本原因是导致失效机理发生的根本问题,可以是设计缺陷、材料问题、工艺不良或使用误操作等。
3.失效分析方法:失效分析可以采用多种方法,如故障树分析、事件树分析、失效模式与效应分析(FMEA)和故障模式与效应分析(FMECA)等。
这些方法可以帮助确定失效发生的可能原因、失效的后果以及防止或解决失效的措施。
4.失效分析工具:失效分析可以借助一些工具来进行,如故障记录、故障数据分析、实验测试和仿真模拟等。
这些工具可以提供有关失效发生的详细信息,以便进行有效的分析和解决。
失效分析的操作流程概要如下:1.收集失效信息:首先需要收集与失效相关的信息,包括失效模式、失效机理、失效数据和相关报告等。
2.确定失效根本原因:通过对失效信息进行分析,确定失效的根本原因。
可以采用故障树分析等方法来帮助确定可能的失效原因。
3.评估失效后果:评估失效的后果,包括人员伤害、财产损失和环境影响等。
可以采用FMEA和FMECA等方法来评估失效的后果。
4.制定措施:根据失效的根本原因和后果,制定相应的措施来防止或解决失效问题。
这些措施可以包括改进设计、优化工艺、更换材料或提供培训等。
5.实施措施:根据制定的措施,进行实施。
这可能涉及到产品的改进、工艺的优化或操作人员的培训等。
6.监控效果:监控实施措施的效果,以确保达到预期的目标。
如果发现新的失效问题,需要重新进行失效分析并制定相应的措施。
材料腐蚀失效形式与机理

世界腐蚀损失巨大
1937年美国壳牌公司 (Shell Company) 推算出,世界 每年因腐蚀造成的金属材料损失至少1亿吨以上腐蚀损失 占各国GDP的2 - 4%。
我国腐蚀损失更惊人
据 2002年中国工程院咨询项目《中国工业和自然 环境腐蚀问题的调查和对策 》的统计,我国当年因腐蚀 造成的直接经济损失超过5000 亿元。2013 年7月, 某 院士说仅海洋腐蚀引起的经济损失,我国每年就超过1.5 万亿元人民币。
M+ +Cl-→ MCl ( 点蚀坑内)
MCl +H2O →MOH +H+ Cl-(点蚀坑外)
金属表面不均匀性,如划痕、凹陷、夹杂物等,往往是点 蚀的源点,介质中卤素离子和氧化剂(如溶解氧)同时存在时 容易发生点蚀,故氧化性氯化物如CuCl 2 、FeCl3 等是强烈的 点蚀剂。 钝化金属如 不锈钢、表面镀层金属 较易发生点蚀坑, 蚀坑小而深。 典型的点腐蚀形貌如图3-6 、图3-7 所示。
腐蚀机理和形式
2.1 腐蚀机理(corrosion mechanism)
腐蚀是指材料与环境发生化学反应或电化学反应所造成 的破坏(DIN 50900- 2002)。 按腐蚀反应机理,腐蚀分为化学腐蚀和电化学腐蚀。 化学腐蚀是指反应前后无电子转移,原子价数不发生增 减 , 即反应过程没有电流的产生。 电化学腐蚀是材料表面与环境介质发生电化学反应而引 起的破坏。其特点是在腐蚀过程中有电流的产生, 反应前后 包含了电子转移、原子价数发生增减,这是典型的电化学反 应。
全面腐蚀和局部腐蚀
3.1 均匀腐蚀
均匀腐蚀是最普遍的腐蚀形式。 它是腐蚀介质均匀抵达 金属的各个表面上发生电化学反应, 宏观上表现为均匀减薄, 是典型的小阴极、大阳极 的腐蚀破坏形式。 电极反应 阳极 : Fe → Fen+ + ne ( 溶解) 阴极: : H2O +0.5O2 +2e → 2OH反应:Fe2+ +2OH- → Fe(OH)2 4Fe(OH)2 + 2H2O +O2 → 4Fe(OH)3 进一步反应: Fe2+→ Fe3++e Fe3++3H2O → Fe(OH)3 +3H+ H+ + H+ → H2 ↑
常见模具失效形式及机理赏析

磨损剥落
裂纹源扩展到表面或 与纵向裂纹相交
某些组织不均匀处由于 应力集中产生裂纹源
常见模具失效形式及机理赏析
▪ 影响疲劳磨损的因素
●材质 ●硬度 ●表面粗糙度
在无外加机械应力的条件下,由于外部温度的涨落使零件内部产 生循环应变,由此导致的裂纹和断裂叫做热疲劳失效。在热疲劳条 件下,有两种方式可使零件产生循环应变:
工件与模具表面相对运动时,由于表面凹凸不平,粘着的节点 发生剪切断裂,使模具表面材料转移到工件上或脱落的现象。
▪ 粘着磨损机理示意图
常见模具失效形式及机理赏析
▪ 粘着磨损分类
程磨 度损
严 重
轻微粘着磨损(氧化磨损)
严重粘着磨损
涂抹 擦伤
▪ 影响粘着磨损的因素
撕脱
●表面压力
咬死
●材料性质 ●材料硬度
▪ 冲蚀磨损机理
●强烈撞击造成局部材料断裂 ●速度不高的反复撞击产生疲劳裂纹,形成麻点和凹坑
常见模具失效形式及机理赏析
(五) 腐蚀磨损
▪ 什么叫腐蚀磨损?
在摩擦过程中,模具表面与周围介质发生化学或电化学反应, 再加上摩擦力机械作用,引起表层材料脱落的现象。
▪ 腐蚀磨损机理
模具表面与周围介质发生化学或电化学反应
按失效的形式及失效机理分类
过量弹性变形失效 过量变形失效 过量塑性变形失效,模具的塑性变形
蠕变超限
失
韧性断裂 蠕变断裂
效 断裂失效 脆性断裂 应力腐蚀断裂
模具局部 疲劳断裂
断裂示意 图
表面磨损失效
表面损伤失效 表面腐蚀失效
接触疲劳失效
常见模具失效形式生产中使用的模具种类繁多,工作状态差 别很大,失效的形式及机理各不相同。
多层瓷介电容常见失效模式及机理

多层瓷介电容常见失效模式及机理多层瓷介电容器是一种常见的电子元件,广泛应用于电子设备中的电源滤波、信号耦合、阻隔和信号耦合等电路中。
然而,由于一些外部因素或者内部因素的影响,多层瓷介电容器可能会出现失效情况。
以下是多层瓷介电容器常见的失效模式及机理:1.电容值下降:多层瓷介电容器的电容值一般是在制造过程中通过氧化物的添加精确控制的。
然而,由于一些外部因素(如温度、湿度等)或内部因素(如电场应力、材料老化等)的影响,电容值可能会下降。
例如,当电容器暴露在高温环境下,氧化物可能会发生渐进性脱溶,导致电容值下降。
2.漏电流增加:多层瓷介电容器的漏电流也可能会增加。
漏电流是指在正常工作条件下,绝缘材料内部的电流。
漏电流的增加可能是由于绝缘材料的老化、微小裂纹的扩展、结构松散等造成的。
例如,当电容器在高温环境下长时间工作,绝缘材料可能会老化,导致漏电流增加。
3.短路:在一些极端情况下,多层瓷介电容器可能会发生短路。
短路可能是由于多层瓷介电容器的内部结构松散,导致不同电极之间的直接接触。
此外,如果电容器在电压过高的情况下工作,也可能导致短路。
4.温升:多层瓷介电容器在正常工作中会产生一定的热量,但是如果电容器的散热不良,温度可能会升高。
高温可能会导致电容器内部材料的老化,从而引发其他失效模式。
以上是多层瓷介电容器常见的失效模式及机理。
需要注意的是,不同的厂家可能有不同的设计和制造工艺,因此,失效模式和机理可能会有一定的差异。
此外,电容器的使用条件也会对失效模式和机理产生影响。
因此,在实际应用中,需要根据具体情况评估多层瓷介电容器的失效风险,并采取必要的预防措施。
E-C失效机理分析步骤
E-C失效机理分析步骤1.背景资料的收集和分析样品的选择2.失效零件的初步检查(肉民检查及记承)3.无损检测4.机械性能检测5.所有试样的选择、鉴定、保存以及消洗6.宏观检验和分析(1断裂表面、二次裂纹以及其他的表面现象)7.微观检验和分析8.金相剖面的选择和准备9.金相剖面的检验和分析10.失效机理的判定11.化学分析(大面积、局部、表面腐蚀产物、沉积物或涂层以及微量样品的分析)12.断裂机理的分析13.模拟试验(特殊试验)14.分析全部事实,提出结论,书写报告(包括建议在内)失效分析报告的主要部分1.对坏零件的说明2.破坏时的工作条件3.以前的工作历史4.零件的制造和加工工艺5.失效的力学和冶金研究6.质量的冶金评价7.失效机理的总结8.预防类似事故的措施失效分析时要回答的问题断裂的先后次序确定了吗?如果失效涉及开裂或断裂,那么起点确定了吗?裂纹起源于表面还是表面以下?开裂是否于应力集中源有关?出现的裂纹有多长?载荷有多大?加载类型:静态。
循环或问断?断裂机理是什么?断裂时的大概工作温度是多少?是温度造,成的吗?是磨损造成的?是腐蚀组成的吗?是那种类型的腐蚀?使用了合适的材料吗?材料质量符合标准吗?材料的机械性能符合标准吗?坏零件是否经过适当的热处理?坏零件是否制造正确?零件的安装正确吗?零件在使用过程中经过修理吗?修理是否正确?零件是否经过适当的胞合?能修改零件设计以防止类似的事故吗?目前正在使用的同样零件也可能出现事故吗?如何才能防止呢?注意:婴把根据事实得到的结果和根据推测得到的结论区别开来。
模具失效形式及机理
11
第三章 模具失效形式及机理
(二)粘着磨损的分类 涂抹:粘结点强度介于模具和工件的强度之间时 涂抹:粘结点强度介于模具和工件的强度之间时 介于 发生。 发生。接点的剪切损坏发生在离粘着面不远的较 软金属的浅层内, 软金属的浅层内,使较软金属粘附并涂抹在较硬 金属表面上。 金属表面上。
12
第三章 模具失效形式及机理
13
第三章 模具失效形式及机理
(二)粘着磨损的分类 胶合(咬死) 粘结点强度远远高于模具和工件的强度 胶合(咬死):粘结点强度远远高于模具和工件的强度 远远高于 时发生。 摩擦副之间粘着面积较大, 时发生。 摩擦副之间粘着面积较大,不能作相对运动 称咬死。剪切发生在模具或工件较深的地方。 称咬死。剪切发生在模具或工件较深的地方。
(二)粘着磨损的分类 擦伤:粘结点强度高于模具和工件的强度时发生。 擦伤:粘结点强度高于模具和工件的强度时发生。接点 高于模具和工件的强度时发生 剪切损坏主要发生在较软金属的浅层内, 剪切损坏主要发生在较软金属的浅层内,有时硬金属表 面也有擦痕。转移到硬表面上的粘结物又擦削较软表面。 面也有擦痕。转移到硬表面上的粘结物又擦削较软表面。 如铜与钢摩擦时,剪切大多发生在铜表层内, 如铜与钢摩擦时,剪切大多发生在铜表层内,但钢表面 也残留少量的小坑; 也残留少量的小坑;
模具材料及失效分析
张艳梅
1
第三章 模具失效形式及机理
模具因类型不同、生产的产品不同,失效的形式也不同。 模具因类型不同、生产的产品不同,失效的形式也不同。 锻模失效主要因为尺寸不符合要求或锻模破裂; 如:锻模失效主要因为尺寸不符合要求或锻模破裂;塑 料模具常常因表面光洁度不够而失效。 料模具常常因表面光洁度不够而失效。 综合来讲,模具失效形式主要有三类:磨损、断裂、 综合来讲,模具失效形式主要有三类:磨损、断裂、塑 性变形。 性变形。
电容失效模式及失效机理
电容器失效模式和失效机理电容器的常见失效模式有:击穿、开路、电参数变化(包括电容虽超差、损耗角正切值增人、绝缘性能下降或漏电流上下班升等)、漏液、引线腐蚀或断裂、绝缘了破裂或农面飞弧等-引起电容器失效的原因是多种多样的•各类电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各不相同, 失效机理也各不一样•各种常见失效模式的主要产生机理归纳如下.1、常见的七种失效模式(1)引起电容器击穿的主要失效机理①电介质材料有磁点或缺陷,或含有导电杂质或导电粒了;②电介质的电老化与热老化;③电介质内部的电化学反应;④银离子迁移;⑤电介质在电容器制造过程中受到机械损伤;⑥电介质分子结构改变;⑦在高湿度或低气压环境中极间飞弧;⑧在机械应力作用下电介质瞬时短路•(2)引起电容器开路的主要失效机理①引线部位发生“自愈“,使电极与引出线绝缘;②引出线与电极接触衣面氧化,造成低电平开路;③引出线与电极接触不良;④电解电容器阳极引出箔腐蚀断裂;⑤液体工作台电解质干涸或冻结;⑥机械应力作用下电介质瞬时开路-(3)引起电容器电参数恶化的主要失效机理①受潮或表面污染;②银离子迁移;③自愈效应;④电介质电老化与热老化;⑤工作电解液挥发和变稠;⑥电极腐蚀;⑦湿式电解电容器中电介质腐蚀;⑧杂质与有害离子的作用;⑨引出线和电极的接触电阻增人-(4)引起电容器漏液的主要原因①电场作用下浸渍料分解放气使壳内气压•升;②电容器金属外壳与密封盖焊接不佳;③绝缘了与外壳或引线焊接不佳;④半密封电容器机械密封不良;⑤半密封电容器引线农面不够光洁;⑥工作电解液腐蚀焊点•(5)引起电容器引线腐蚀或断裂的主要原因①高温度环境中电场作用下产生电化学腐蚀;②电解液沿引线渗漏,使引线遭受化学腐蚀;;引线在电容器制造过程中受到机械损伤③.④引线的机械强度不够•(6)引起电容器绝缘了•破裂的主要原因①机械损伤;②玻璃粉绝缘/烧结过程中残留热力过人;③焊接温度过高或受热不均匀-(7)引起绝缘/农而飞弧的主要原因①绝缘r衣面受潮,使农面绝缘电阻下降;②绝缘了设计不合理③绝缘了选用不当④环境气压过低-电容器击穿、开路、引线断裂、绝缘了破裂等使电容器完全失去工作能力的失效属致命性失效,其余一些失效会使电容不能满足使用要求,并逐渐向致命失效过渡;电容器在工作应力与环境应力综合作用下,工作•段时间后,会分别或同时产生某些失效模式•同•失效模式有多种失效机理,同•失效机理又可产生多种失效模式•失效模式与失效机理之间的关系不是—对应的.2、电容器失效机理分析(1)、潮湿对电参数恶化的影响空气中湿度过高时,水膜凝聚在电容器外壳农而,可使电容器的衣面绝缘电阻下降•此处,对于半密封结构电容器来说,水分还可渗透到电容器介质内部,使电容器介质的绝缘电阻绝缘能力下降•因此,高温、高湿环境对电容器参数恶化的影响极为显著•经烘干去湿后电容器的电性能可获改善,但是水分了•电解的后果是无法根除的•例如:电容器工作于高温条件下,水分/在电场作用下电解为氢离了(H+)和氢氧根离了(0H-),引线根部产生电化学腐蚀•即使烘干去湿地不可能引线复原-(2)、银离子迁移的后果无机介质电容器多半采用银电极,半密封电容器在高温条件下工作时,渗入电容器内部的水分『•产生电解•在阳极产生氧化反应,银离/与氢氧根离了结合生成氢氧化银•在阴极产生还原反应、氢氧化银与氢离了反应生成银和水•由于电极反应,阳极的银离了•不断向阴极还原成不连续金属银粒,施水膜连接成树状向阳极延伸•银离/迁移不仅发生在无机介质农而,银离f•还能扩散到无机介质内部,引起漏电流增大,严重时可使两个银电极之间完全短路,导致电容器击穿-银离了•迁移可严重破坏正电极衣而银层,引线焊点与电极农而银层之间,间隔着具有半导体性质的氧化银,使无机介质电容器的等效串联电阻增人,金属部分损耗增加,电容器的损耗角正切值显著上升. 由于正电极有效而积减小,电容器的电容量会因此而下降•衣面绝缘电阻则因无机介质电容器两电极间介质农而上存在氧化银半导体而降低•银离了迁移严重时,两电极间搭起树枝状的银桥,使电容器的绝缘电阻大幅度下降•综上所述,银离/迁移不仅会使非密封无机介质电容器电性能恶化,而且可能引起介质击穿场强下降,最后导致电容器击穿.值得•提的是:银电极低频陶瓷独石电容器由于银离r••迁移而引起失效的现象比其他类型的陶瓷介质电容器严重得多,原因在于这种电容器的•次烧成工艺与多层叠片结构•银电极与陶瓷介质• 次烧也过程中,银参与了陶瓷介质衣面的固相反应,渗入了瓷-银接触处形成界面层-如果陶瓷介质不够致密侧水分渗入后,银离了•迁移不仅可以在陶瓷介质衣面发生,还可能穿透陶瓷介质层•多层叠片结构的缝隙较多,电极位置不易精确,介质农面的留边量小,叠片层两银离,并使电极之间的路径缩短,降低了介质衣血•的绝缘电阻,端涂覆外电极时银浆渗入缝隙.『•迁移时容易产生短路现象.(3)、高湿度条件下陶瓷电容器击穿机理半密封陶瓷电容器在高湿度环境条件下工作时,发生击穿失效是比较普遍的严重问题•所发生的击穿现象人约可以分为介质击穿和衣而极间飞弧击穿两类•介质击穿按发生时间的早晚又可分为早期击穿与老化击穿两种•早期击穿暴露了电容介质材料与生产工艺方血•存在的缺陷,这些缺陷导致陶瓷介质电强度显著降低,以致于在高湿度环境中电场作用下,电容器在耐压试验过程中或匸作初期,就产生电击穿•老化击穿人多属于电化学击穿范畴•由于陶瓷电容器银的迁移,陶瓷电容器的电解老化击穿已成为和当普遍的问题•银迁移形成的导电树枝状物,使漏电流局部增人,可引起热击穿,使电容器断裂或烧毁•热击穿现象笋发生在管形或圆片形的小型瓷介电容器中,因为击穿时局部发热厉害,较薄的管壁或较小的瓷体容易烧毁或断裂.此外,以二氧化钛为主的陶瓷介质中,负荷条件下还可能产生二氧化钛的还原反应,使钛离J'•由四价变为三价•陶瓷介质的老化显著降低了电容器的介电强度,可能引起电容器击穿-因此,这种陶瓷电容器的电解击穿现象比不含二氧化钛的陶瓷介质电容器更加严重•银离了•迁移使电容器极间边缘电场发生严重畸变,又因高湿度环境中陶瓷介质农而凝有水膜,使电容边缘农而电晕放电电压显著下降,工作条件下产生衣面极间飞弧现象•严重时导致电容器衣面极间飞弧击穿•农而击穿与电容结构、极间距离、负荷电压、保护层的疏水性与透湿性等因素有关. 主要就是边缘衣而极间飞弧击穿,原因是介质留边量较小,在潮湿环境中匸作时银离/迁移和衣而水膜形成使电容器边缘农而绝缘电阻显著下降,引起电晕放电,最终导致击穿扃湿度环境中尤其严重•由于银离了•迁移的产生与发展需耍•段时间,所以在耐压试验初期,失效模式以介质击穿为主,直到试验500h以后,主要失效模式才过渡为边缘衣面极间飞弧击穿•(4)、高频精密电容器的低电平失效机理云母是•种较理想的电容器介质材料,具有很高的绝缘性能,耐高温,介质损耗小,厚度可薄达25微米•云母电容器的主要优点是损耗小,频率稳定性好、分布电感小、绝缘电阻*,特别适合在高频通信电路中用做精密电容器•但是,云母资源有限,难于推广使用-近数十年内,有机薄膜电容器获得迅速发展,其中聚苯乙烯薄膜电容器具有损耗小、绝缘电阻人、稳定性好、介质强度高等优点•精密聚苯乙烯电容器可代替云母电容器用于高频电路•需要说明的是:应用于高频电路中的精密聚苯乙烯电容器,一般采用金属箔极板,以提高绝缘电阻与降低损耗•电容器的低电平失效是20世纪60年代以来曲现的新问题•低电平失效是指电容器在低电压工作条件下出现的电容器开路或容量下降超差等失效现象.60年代以来半导体器件广泛应用,半导体电路电压比电(管电路低得多,使电容器的实际工作电压在某些电路中仅为几毫伏,引起电容器低电平失效,具体农现是电容器完全丧失电容量或部分丧失电容量•对于低电平冲击,使电容器的电容量恢复正常. 产生低电平失效的原因主要在于电容器引出线与电容器极板接触不良,接触电阻增人,造成电容器完全开路或电容量幅度下降•精密聚苯乙烯薄膜电容器•般采用铝箔作为极板,铜引出线与铝箔极板点焊在•起•铝箔在空气中极易氧化;极板农面生成-层氧化铝半导体薄膜,在低电平条件下氧化膜层上的电压不足以把它击穿,因而铝箔间形成的间隙电容量的串联等效容量,间隙电容量愈小,串联等效容量也愈小•因此,低电平容量取决于极板衣而氧化铝层的厚薄,氧化铝层愈厚,低电平条件下电容器的电容量愈小•此外,电容器在交流电路中匸作时,其有效电容量会因接触电阻过人而下降,接触电阻很人时有效电容量可减小到开路的程度•即使极板•引线间不存在导电不良的间隔层,也会产生这种后果• 引起精密聚苯乙烯电容器低电平失效的具体因素归纳如下:;以致焊接不牢,引线农面氧化或沾层太薄①.②引线与铝箔点焊接不良,没有消除铝箔衣面点焊处的氧化铝膜层;③单引线结构的焊点数过少,使出现低电平失效的槪率增大;④粗引线根部打扁部分接触面积虽然较人,但点焊后焊点处应力也较人,热处理或温循过程中,可能损伤接触部位,恶化接触情况;⑤潮气进入电容器芯(,氧化腐蚀焊点,使接触电阻增人.引起云母电容器低电平失效的具体因素归纳如下:①银电极和引出铜箔之间以及铜箔和引线卡之间存在•层很薄的地腊薄膜•低电平条件下,外加电压不足以击穿这层绝缘膜,产生间隙电容,并使接触电阻增大;②银电极和铜箔受到有害气体侵蚀,使接触电阻增人•在潮湿的硫气环境中银和铜容易硫化,使极板与引线间的接触电阻上升.(5)、金属化纸介电容失效机理金属化纸介电容器的极板是真空蒸发在电容器纸衣面的金属膜A、电参数恶化失效“自愈”是金属化电容器的•个独特优点,但自愈过程颇为复杂,自愈虽能避免电容器立即閃介质短路而击穿,但自愈部位肯定会出现金属微粒迁移与介质材料受热裂解的现象•电容器纸由纤维组成,纤维素是碳水化合物类的高分了物质•在高温下电容器纤维素解成游离状态的碳原了或碳离使自愈部位农而导电能力增加,导致电容器电阻下降、损耗增人与电容减小•严重时可使电容器因电参数恶化程度超过技术条件许可范围而失效.金属化纸介电容器在低于额定工作电压的条件下工作时,自愈能量不足,电容器纸中存在的导电杂质在电场作用于下形成低阻通路,也可导致电容器绝缘电阻降低和损耗增大.电容器纸是多孔性的极性有机介质材料,极易吸收潮气•电容器芯了虽浸渍处理,但如果匚艺不当或浸渍不纯,或在电场作用下匸作相当时间后产生浸渍老化现象侧电容器的绝缘电阻将因此降低, 损耗也将因此增大.电容量超差失效产金属化纸介电容器的•种失效形式•在高温条件下储存时金属化纸介电容器可能因电容量增加过多而失效,在高温条件下加电压工作时又可能因电容量减少过多而失效•高温储存时半密封型金属化纸介电容器免不了吸潮,水是强极性物质,其介电常数接近浸渍电容器介电常数的20倍•因此,少量潮气侵入电容器芯&也会引起电容量显著增人•烘烤去湿后电容呈会有所下降•如果电容器在高温环境中丄作,则水分和电场的共同作用会使金属膜电极产生电解性腐蚀,使极板有效而积减小与极板电阻增人,导致电容量人幅度下降•如果引线与金属膜层接触部位产生腐蚀,则接触电阻增人,电容器的有效电容量将更进•步减小-个别电容器的电容量可降到接近于开路的程度.B、引线断裂失效金属化纸介电容器在高湿环境中工作时,电容器正端引线根部会遭到严重腐蚀,这种电解性腐蚀导致引线机械强度降低,严重时可造成引线断裂失效.(6)、铝电解电容器的失效机理铝电解电容器正极是高纯铝,电介质是在金属农而形成的三氧化二铝膜,负极是黏稠状的电解液,工作时和当•个电解槽•铝电解电容器常见失效模式有:漏液、爆炸、开路、击穿、电参数恶化等, 有关失效机理分析如下.A、漏液铝电解电容器的工作电解液泄漏是•个严重问题•工作电解液略呈现酸性,漏出的工作电解液严重污染和腐蚀电容器周围的其他元器件和印刷电路板•同时电解电容器内部,由于漏液而使工作电解液逐渐干涸,丧失修补阳极氧化膜介质的能力,导致电容器击穿或电参数恶化而失效.产生漏液的原因很多,主要是铝电解电容器密封不佳•采用铝负极箔夹在外壳边与封口板之间也可能因橡胶老化、龟裂,采用橡胶塞密封的电容器•的封口结构时很容易在壳边渗漏电解液.而引起漏液•此外,机械密封工艺有问题的产品也容易漏液•总之,漏液与密封结构、密封材料与密封工艺有密切的关系•B、爆炸铝电解电容器在匸作电压中交流成分过人,或氧化膜介质有较多缺陷,或存在氯根、硫酸根之类有害的阴离了,以致漏电流较人时电解作用产生气体的速率较快,人部分气体用于修补阳极氧化膜,少部分氧气储存在电容器壳内•工作时间愈长,漏电流愈人,壳内气体愈多,温度愈高•电容器金属壳内外的气压差值将随工作电压和工作时间的增加而增人•如果产品密封不佳,则将造成漏液;如果密封良好,又没有任何防爆措施,则气压增人到-定程度就会引起电容器爆炸•高压人容虽电容器的漏电流较大,爆炸可能性更人•目前,已普遍采用防爆外壳结构,在金属外壳上部增加•道褶缝,气压高时将褶缝顶开,增大壳内容积,从而降低气压,减少爆炸危险-C、开路铝电解电容器在高温或潮热环境中长期工作时可能出现开路失效,其原因在于阳极引出箔片遭受电化学腐蚀而断裂•对于高压大容量电容器,这种失效模式较多•此外,阳极引出箔片和阳极箔钏接后,未经充分平,则接触不良会使电容器出现间歇开路.铝电解电容器内采用以DMF(二甲基酬胺)为溶剂的工作电解液时.DMF溶液是氧化剂,在高温下氧化能力更强•工作•段时间后可能因阳极引出箔片与焊片的钏接部位生成氧化膜而引起电容器开路•如果采用超声波焊接机把引出箔片与焊点在•起,可则减少这类失效现象.D、击穿铝电解电容器击穿是由于阳极氧化铝介质膜破裂,导致电解液直接与阳极接触而造成的•氧化铝膜可能因各种材料,工艺或环境条件方而的原因而受到局部损伤•在外加电场的作用下工作电解液提供的氧离了可在损伤部位重新形成氧化膜,使阳极氧化膜得以填平修复•但是如果在损伤部位存在杂质离(或其他缺陷,使填平修复工作无法完善,则在阳极氧化膜上会留下微孔,甚至可能成为穿透孔,使铝电解电容器击穿.此外,随着使用和储存时间的增长,电解液中溶剂逐渐消耗和挥发,使溶液酸值上升,在储存过程中对氧化膜层发生腐蚀作用•同时,由于电解液老化与干涸,在电场作用下已无法捉供氧离犷修补氧化膜,从而丧失了自愈作用,氧化膜•经损坏就会导致电容器击穿-匚艺缺陷也是铝电解电容器击穿的•个主要原因•如果賦能过程中形成的阳极氧化膜不够致密与牢固,在后续的裁片、钏接匚艺中又使氧化膜受到严重损伤•这种阳极氧化膜难以在最后的老炼工序中修补完善,以致电容器使用过程中,漏电流很人,局部自愈已挽救不了最终击穿的命运-又如钏接匚艺不佳时,引出箔条上的毛剌严重剌伤氧化膜,刺伤部位漏电流很大,局部过热使电容器产生热击穿-E、电参数恶化A、电容量下降与损耗增大铝电解电容器的电容量在工作早期缓慢下降,这是由于负荷过程中匸作电解液不断修补并增厚阳极氧化膜所致铝电解电容器在使用后期,由于电解液耗损较多、溶液变稠,电阻率因黏度增人而上升,使匸作电解质的等效串联电阻增人,导致电容器损耗明显增人侗时,黏度增人的电解液难于充分接触经腐蚀处理的凹凸不平铝箔农而上的氧化膜层,这样就使铝电解电容器的极板有效而积减小,引起电容量急剧下降•这也是电容器使用寿命临近结束的衣现•此外,如果匸作电解液在低温下黏度增人过多,也会造成损耗增人与电容虽急剧下降的后果•硼酸•乙二醇系统工作电解液的低温性能不佳,黏度过人导致等效串联电阻激增,使损耗变人和有效电容量骤减,从而引起铝电解电容器在严寒环境中使用时失效.B、漏电流增加漏电流增加往往导致铝电解电容器失效•賦能L艺水平低,所形成的氧化膜不够致密与牢固,电解液的化学,原材料纯度不高,工作电解液配方不佳,氧化膜损伤与沾污严重,开片工艺落后性质与电化学性质难以长期稳定,铝箔纯度不高,杂质含量多……这些因素均可能造成漏电流超差失效.铝电解电容器中氯离/沾污严重,漏电流导致沾污部位氧化膜分解,造成穿孔,促使电流进•步增人•此外,铝箔的杂质含量较髙,•般铁杂质颗粒的尺寸人于阳极氧化膜的厚度,使电流易于传导•铜与硅杂质的存在影响铝氧化物向晶态结构转变•铜和铝还可在电解质内组成微电池,使铝箔遭到腐蚀破坏•总之,铝箔中金属杂质的存在,会使铝电解电容器漏电流增人,从而缩短电容器的寿命.3、提高电容器可靠性的措施对材料、结构和制造工艺进行改进说明.1、电极材料的改进陶瓷电容器•岚使用银电极•银离了迁移和由此而引起含钛陶瓷介质的加速老化是导致陶瓷电容器失效的主要原因•有的厂家生产陶瓷电容器已不用银电极,而改用線电极,在陶瓷展片上采用化学镀線工艺•由于線的化学稳定性比银好,电迁移率低,捉高了陶瓷电容器的性能和可靠性. 国产云母电容器的电极材料也是银,同样存在银离了•迁移现象日本海缆通信系统中用的云母器,它的电极材料及电极引线间的连接均采用金,这就保证了云母电容器优良的性能和高可靠性• 镀金云母电容器与镀银云母电容器相比较:电容温度系数,前者约为后者的1/2,且偏差也小;湿度对容量的影响,前者比后者小•个数量级,且是可逆的;损耗角正切值,前者•比后者小个数量级;在电压负荷下电容量相对变化率,前者约为后者的1/5-1/10.据推算,镀金云母电容器匸作20年的电容量变化率<±0.1%.改进电极材料的另•个例(是金属化纸介电容器•金属化纸介电容器都采用锌蒸发在电容器纸上形成的金属层作为电极•锌膜在空气中易氧化,生成半导体性质的氧化锌,而且会继续向底层氧化,造成板极电阻的增加和电容器损耗的增人•此外,锌金属化膜在潮湿环境下易腐蚀•锌金属化膜的另•个缺点是自愈所需要的能量较人,而且电容器经击穿自愈后其绝缘电阻值较低•为了提高金属化纸介电容器的性能和可靠性,已用铝金属化层来代替锌金属化层•人气中在铝膜的农而会生成• 层薄而坚固的氧化氯膜•使铝膜不再继续氧化•同时氧化氯膜对潮气抗腐蚀性能好-另外铝金属化层自愈性能好,铝电极可以在介质上残存的微量潮气和低电压作用下产生电化学反应,生成氧化铝介质膜,经过•段时间,电容器的绝缘电阻得到恢复•此外,铝的比电导较锌人,这就减小「板极电阻和电容器的损耗•因此,铝在金属化电容器的生产中取代锌做电极改善了电容器的性能,捉高了电容器的可靠性•2、工作电解质的改进铝电解电容器工作电解质为硼酸•乙醇系统,其丄作温度范围为+85〜一400在低温下,由于乙二醇中的疑基彼此以氢键联合,出现聚合物,以致工作电解液变稠冻结,电阻率急剧增人,电容量下降和损耗角正切值增人,使电容器的性能恶化•近来普遍采用的以D\IF为溶剂的工作电解液,在较宽的温度范围内(-55—85°C)电性能优良-为了解决液体钮电解电容器漏液问题,除了在密封结构上采取措施外採用凝胶状电解质,因为凝胶状电解质黏度大,不容易从微小的缝隙中漏出.3、电介质材料的改进电介质材料是决定电容器性能和可靠性的关键材料•以往生产的聚苯乙烯电容器,其电介质是釆用厚度为20 um的聚苯乙烯单层薄膜,由于薄膜的厚度不均、有针孔、有导电杂质和微粒先进原因, 制成的电容器就存在着某些陷患,在外部各种环境和电应力作用下,这些缺陷就会逐渐暴露出来,导致电容器的击穿、开路或电参数超差失效•为了提高和产品的性能和可靠性•薄膜这样电介质的厚度仍为10 u m厚薄膜改进为双层20 um电容器的电介质由原来单层.20卩血电容器的体积不变,但产品的质量却捉高了•因为XX层薄膜可以互相掩盖薄膜中的缺陷和疵点,这就使得电容器的耐压和可靠性得到了提高•又如,以银做电极的独石低频瓷介电容器,由于银电极和瓷料在900C下•次烧成时瓷料欠烧不能获得。
材料腐蚀失效形式与机理
4.3 氢脆( hydrogen embrittlement)
氢脆是由于氢离子扩散到金属内部形成固溶态或金属氢化 物,导致金属韧性下降和材料变脆的现象。
氢化物的析出,破坏了晶体结构的完整性,在外加应力作 用下局部引发了裂纹,材料变脆,这与应力腐蚀开裂有点相似, 只是应力腐蚀开裂出现在金属的阳极敏感区,氢脆出现在金属 阴极敏感区,有时称为氢致应力腐蚀开裂(HISCC )。 氢脆是高强合金钢中经常出现的一种隐患。 在核电设备中,锆包壳在高温运行时,由于吸收腐蚀反应 生成氢,形成 ZrH1.5脆性相,最终加速包壳材料的老化和脆化。
图3 - 12 不锈钢 SCC 分叉裂纹
图3 - 13 SCC 的沿晶开裂( 150 ×)
4.2 腐蚀疲劳( corrosion fatigue)
腐蚀疲劳,即腐蚀疲劳开裂,是指金属在交变载荷 和腐蚀介质的共同作用下发生的脆性断裂。
腐蚀疲劳有以下几个特点:
(1)没有疲劳极限( fatigue limit ); (2)与应力腐蚀开裂不同,纯金属只要有腐蚀介质存在, 也会发生腐蚀疲劳; (3)金属的腐蚀疲劳强度与其耐蚀性有关; (4)腐蚀疲劳裂纹大多起源于表面或凹坑,裂纹源数量 较多,腐蚀疲劳裂纹主要是穿晶,也有沿晶开裂; (5)腐蚀疲劳开裂是脆性断裂,没有宏观的塑性变形, 断口面上有腐蚀物。
3.5 晶间腐蚀(intergranular corrosion )
晶间腐蚀是金属在特定腐蚀介质中沿晶粒边界或晶界 附近发生的腐蚀,从而使晶粒间结合力遭到破损。这是一 种非常局部的腐蚀现象。 晶界上由于存在杂质元素,较活泼的金属元素的富集 或某种相的析出,会引起周围某一合金元素的贫乏,使晶 界或其毗邻狭窄区域的化学稳定性降低,同时介质对这些 区域有较大的浸蚀性,其余部位相对较小,这样便出现了 晶间腐蚀。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
失效机理与损伤模型 概念 工程系统发生的失效是由某种特定原因导致的,不管这些失效原因是否预见,大多数失效原因是与用户的特定操作相关的。 失效主要来自于制造商对用户需求和期望的忽视和/或轻视、设计不当、物料选择与管理不当或物料组合不当、制造或组装工艺不当、缺乏适当的技术、用户使用不当和产品质量失控等。 失效是一个复杂的概念,其有关的四个简化概念模型是:应力-强度,损伤-韧性,激励-响应,和容限-规格。特定的失效机理取决于材料或结构缺陷、制造或组装过程中导致的损伤、存储和现场使用环境等。 影响事物状态的条件统称为应力(载荷),例如机械应力与应变、电流与电压、温度、湿度、化学环境和辐射等。影响应力作用的因素有材料的几何尺寸、构成和损伤特性, 还有制造参数和应用环境。 术语应力(载荷),如在总结及结论中所定义的,它涵盖内容非常广泛。术语环境是各种应力的综合作用,同样,它内容也非常广泛。 失效的概念模型 一般认为失效是一种二元状态,即某件东西坏了或没坏;然而大多数实际失效要比这复杂得多。失效是以下两者的交互作用综合体的结果:a.作用在系统上或系统内的应力;b.系统的材料/组件。交互作用涉及到的每个变量通常认为是随机的,因此,要正确地理解系统可靠性,就需要充分理解材料/组件对应力的响应,以及每个变量的可变性。 失效的四个简化概念模型定义如下: 1. 应力-强度。当且仅当应力超过特定强度时,物体才会失效。一个未失效的物体就像新的一样。如果应力没有超过强度,应力无论如何都不会对物体造成永久性的影响。这种失效模式更多地取决于在环境中关键事件的发生,而不是时间或循环历程。强度经常被视为随机变量。可用于这一模型的例子是:a.钢棒受拉应力;b.在晶体管发射极-集电极之间施加电压。 2. 损伤-韧性。应力可以造成不可恢复的累积损伤,如腐蚀、磨损、疲劳、介质击穿等。累积损伤不会使产品使用性能下降。当且仅当损伤超过韧性时,也就是损伤累积到物体的韧性极限时,物体才会失效。当应力消除时,累积损伤不会消失,虽然有时可以采用退火。韧性经常被看作为随机变量。 3. 激励-响应。如果系统的一个组件坏了,只有当该组件被激励(需要)时才发生响应失效,并暴露它是坏了,并导致系统失效。一个生活中常见的例子就是汽车中的紧急刹车装置。大多数计算机程序(软件)失效都属于这种类型,电话交换系统也与这种失效模式类似。这种失效模式更多地取决于环境中的关键事件何时发生,而不是时间或循环历程。当这种失效模式的失效在系统中很少发生时,通常就很难判断到底是激励不当,或的确属于某种失效。 4. 容限-规格。该模型用于当且仅当容限在规格范围内时,系统的性能特征才能符合要求,也就是失效发生时,系统名义上在工作,但工作状态不佳。这一模型的例子有复印机、测量仪器。任何存在性能质量渐进退化的部件或系统,都可以用该模型来表示。 本文介绍了各种可以使材料特性退化的失效机理,这种退化可以引起由于以上介绍的四种概念模型中的一个或多个导致的产品失效。 失效机理 失效机理是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。该过程是应力作用在部件上造成损伤,最终导致系统失效。本质上,它是上面介绍的概念模型中的一个或多个导致的。为了开发可靠的产品,必须要了解产品潜在的失效机理。如果能用模型来量化描述相关失效模式,就可以促进产品设计原则方针的开发。因此,识别系统在生命周期过程中所受的应力所激发的各种失效机理是很必要的。在本文中,失效机理被概括分为过应力机理和磨损机理。 表1列出了可能发生失效的一般失效机理,表中包括了常见失效机理,而未列出主要在晶圆级集成电路中发生的失效过程,如介电击穿、热载流子、慢俘获、表面电流扩散、电迁移等。
要尽量避免使用"随机失效"这个词,因为这个词经常被误解且/或被误用来表示"没有原因"。我们通常需要用随机分布和过程来量化我们对于失效机理所涉及的应力、材料/组件和其它变量的无知。但是如果我们不了解这些变量,例如,a.系统的几何和材料特性;b.在制造、存储、操作、周转、测试、使用和维修过程中所施加的应力,就不能量化失效的这些随机特征。
应力类型 对失效机理进行分类的另一种方法,就是基于触发失效机理的应力类型:机械、热、电、辐射和化学。这样分类并不完整,各类之间也不完全独立,而仅仅是为了方便讨论。 ·机械失效是指由弹性变形和塑性变形、翘曲、脆性断裂和形变断裂、疲劳断裂萌生和扩展、蠕变和蠕变断裂导致的失效。许多其它类型的失效机机理会最终导致机械失效,同时机械失效(如线缆断裂)会导致电气失效 ·热失效是指当组件加热到超过其临界温度,如玻璃化转换温度、熔点或闪点时发生的失效。热膨胀和热收缩会产生机械应力 ·电气失效是指由静电放电、介质击穿、节点击穿、热电子注入、表面俘获和体俘获、表面击穿等引起的失效 ·辐射失效是由放射性污染物和二次宇宙光所引起的失效 ·化学失效是指由化学环境引起腐蚀、氧化和表面离子枝晶生长等的失效 通常各种应力存在交互作用,如: ·由于在热应力作用下产生热膨胀不匹配,从而引起机械失效 ·应力辅助作用下的腐蚀 ·应力-腐蚀断裂 ·场致金属迁移 ·温度引起对化学反应的加速 不是所有的失效机理都与任何一个特定的系统相关。 过应力失效机理和磨损失效机理在下面进行概述。 过应力失效机理 大弹性变形 当发生过大的弹性变形时,会发生失效,尤其是过应力作用在细长结构上。这种失效需要使用有限变形弹性力学的非线性理论进行分析。需要注意这一种类型失效可能对高精度结构造成问题,如太空镜、太空天线;或大柔性结构,如太空天线、太阳电池板。它们如果产生大变形会触发物体产生不稳定的振动模式。在电子封装中发生大弹性变形的例子包括:键合丝(bondwires)的大柔性变形会导致间隙串扰和/或短路,柔性板的大柔性变形会在焊端和焊点上产生应力。 屈服 如定义所示,对一个组件施加的应力超过其屈服强度时,就会产生不可回复的塑性应变,即永久变形。根据应用条件不同,这种永久性的变形可能不会成为失效。这种现象通常发生在金属组件上,有些金属表现出很好的塑性,有些则表现出明显的应变硬化。机械组件如凸轮、齿轮、轴承通常会进行热处理以提高它们的屈服强度,以防止产生塑性变形。电子封装也会产生屈服,电子封装的金属部件如焊料、键合丝、镀铜过孔(copper plated vias)和金属化层(metallization),在热机械应力作用下都可能产生屈服。 翘曲 翘曲是由于细长结构在压应力作用下,突然丧失了弹性稳定性而导致的。临界翘曲应力是材料特性(如刚性)和结构参数(如长度直径比)综合作用的结果。用数学公式来表示,翘曲可以表述为沿着不稳定路径正交于初始变形模式的形变,它可以用本征值理论和/或双态理论模拟。翘曲是土木工程结构中受压力作用的柱状结构、航天器硬壳式机身和机翼机构中受剪切作用的面板的常见设计问题。在电子封装中,翘曲现象发生在由于与基板的热膨胀不匹配导致薄膜的起皱、由于未对准插件的插力过大导致器件引脚变形塌陷。 脆性断裂 在脆性材料(也就是那些在断裂前表现出很少的屈服和非弹性的材料)中,局部微小的瑕疵可能造成尖锐的应力集中。对脆性材料施加过大的应力时,会在主要的微瑕疵处产生突然灾难性的裂纹扩展,从而导致失效。 基于局部应力的失效判据是不可行的,因为不论材料所受远场平均或者公称应力水平高低,对瑕疵或裂纹的尖部采用线弹性分析预测到的应力都是无穷大的。因此,断裂失效机理基本的方法是预测能够使局部裂纹扩展的远场应力水平。 当尖锐的脆性裂纹扩展时,结构的弹性能总量会改变,这一弹性能总量可以与产生新断裂表面所需要的能量进行比较,从而计算出能导致结构产生局部裂纹扩展的平均的远场应力水平(在没有裂纹的情况下)。 Griffith的分析和试验证明:失效不仅与所施加的远场应力大小有关,也与瑕疵大小有关。因此,需要用一种新的衡量方法来评估应力的严重性。应力-强度因子就是这样一种评估方法,因为它的大小取决于所施加应力和瑕疵大小。这样,根据脆性材料失效时的临界应力-强度因子,就可以评价材料的断裂刚性。 在强化金属和陶瓷中发生的类似脆性断裂可能导致失效,热固聚合体会由于脆性裂纹发生大规模的微裂纹和龟裂。在电子封装中,脆性断裂常见例子是玻璃密封胶和硅片材料产生裂纹。脆性断裂也会发生在延展性材料如焊料所形成的脆性金属间化合物上。 形变断裂 当裂纹尖部在过应力作用下产生塑性变形时,脆性断裂的线弹性理论就不适用了,应力-强度因子的概念也没有了物理意义,同时也不能用来描述材料的断裂刚性。然而,Griffith的能量概念仍然适用,可以用来计算裂纹尖部的能量释放率,同时也可以用来预测形变断裂。 在机械工程中,对于高温应用的相对塑性材料,这种基于能量的方法是通用的,如在发动机力的燃烧室使用的材料,它在裂纹尖部处的塑性变形和蠕变是不能被忽视的。在电子封装中,形变断裂这种情况可能发生在塑性非弹性材料中,如焊料、铝/金键合丝。 界面粘附失效 界面粘附失效发生在两个相互粘附材料界面上。相互扩散作用可提高两种不同材料之间界面粘接强度。界面强度取决于界面的化学和机械特性。在界面上发生粘附失效是需要做功的, 粘附是一种衡量在分离前可以在界面上转移的最大机械功。分离两个材料的界面所需的功包括粘附功、两个粘附材料进行弹性/非弹性变形所需要的功。从试验角度,界面粘附强度通常用两种材料之间的电子粘合能来描述,它是两种材料的唯一特性。 从实际机械应用角度,界面机械强度是以单位连续体长度上的界面断裂韧度来衡量的,由于它是两种材料界面间的特性,具有唯一性,对于不同材料组合,可以在实验室测量得到。 在机械工程应用中,最常见的例子就是在键合点和层压材料处的粘附失效。在电子封装中,常见的例子是硅片和粘附材料界面、键合丝和键合盘之间的界面失效。 磨损失效机理 一般地,在机械、结构和设备中,磨损、腐蚀和疲劳是磨损失效的主要原因。磨损和腐蚀在几千年前大家就都知道,疲劳是上世纪才被大家认识到的。 疲劳裂纹萌生 当对材料施加循环应力时,由于损伤的累积,材料失效发生时所承受应力远低于材料的最大拉伸强度。疲劳失效开始时,会萌生很小的、只能用显微镜才能观察到的微裂纹,其位置通常在材料的不连续点或材料的缺陷处,这些地方会导致局部应力或塑性应变集中,这种现象称作疲劳裂纹萌生。 由于应变振幅较大而在103~104个循环内就发生的疲劳失效,一般叫低周期疲劳。高周期疲劳是指较低应变或应力振幅、在103~104个循环后才发生的疲劳失效。材料的疲劳特性可以用(平均)应力-寿命(S-N)曲线或(平均)应变-寿命曲线来描述,同时用概率因子来补充,这些曲线绘制了应力或应变振幅与失效时应力反向的平均数量的关系,或应力或应变振幅与物体具体失效比例的关系。 在工程设计中,疲劳是最难以解决的问题之一,从旋转式轴承和摆动式部件失效,到航天器、船舶和大型土木工程结构如桥梁和建筑物的失效,在电子封装中,焊点、键合丝和镀铜过孔等经常遇到疲劳问题。 疲劳裂纹扩展 一旦裂纹开始萌生,在循环应力作用下,裂纹就会稳定地扩展,直到在所施加应力振幅作用下变得不稳定为止。裂纹扩展速度是一种材料特性,同时它与应力强度因子的循环范围或能量释放速率相关。为保证组件设计安全性,不应让其达到疲劳裂纹扩展寿命,但是在工程部件和结构中,如桥梁、船舶和航天器机身,裂纹扩展特性可以被用来制定检测和维修计划。在电子封装中,硅片材料会有此类失效。 扩散 扩散是指材料中的原子、分子或离子迁徙到另一种材料体相中去的能力,它与时间相关。从原子或分子角度,在固态的扩散是原子或分子从一个晶格到另一个晶格的迁徙,原子必须有足够的能量挣脱原晶格吸引力,同时在另一个晶格重组,这一能量就是激活能。液态时,由于原子和离子具有高移动性,扩散速度较快,并主要取决于浓度梯度。这样扩散就是一种磨损机理,扩散率是一种材料特性,它可以在实验室测量得到。失效机理如腐蚀、蠕变、枝晶增长、电迁移、相互扩散和脱气,通常都是由扩散现象驱动的。 在机械、土木或航空工程应用中,扩散通常不是主要失效机理,当然其间接导致的蠕变和腐蚀除外。扩散现象在电子封装中较为重要,如用来评估潮气通过封接面(seals)进入封装体,和通过塑封体本身进入封装内,无论从密封角度,还是潮湿机械应力和潮气引起的汽化膨胀角度考虑,潮气扩散都是有害的。 扩散现象也会降解和老化材料,如互连中的多晶铝产生电迁移,密封、粘附和印制电路板的常用高分子聚合物材料(如聚酰亚胺或环氧树脂)。 相互扩散 当两种不同的材料在一个界面上紧密接触时,通过扩散,一种材料的分子可以迁徙到另一种材料中,反之亦然。这种现象就叫相互扩散,它形成了界面粘附。然而,如果两种材料的有效扩散率不同,其中一种材料将出现原子耗损空位,从而导致Kirkendall空洞。由于扩