砷化镓半导体材料论文
砷化镓无机非金属材料

砷化镓无机非金属材料
砷化镓是一种重要的无机非金属材料,它由砷和镓两种元素组成,化学式为GaAs。
砷化镓具有许多优异的物理和化学性质,因此在半导体、光电子、太阳能电池等领域得到了广泛的应用。
砷化镓是一种半导体材料,具有优异的电学性能。
它的导电性介于导体和绝缘体之间,可以通过掺杂来改变其导电性质。
此外,砷化镓的载流子迁移率高,电子和空穴的迁移速度都很快,因此在高速电子器件中得到了广泛的应用。
砷化镓是一种优异的光电子材料。
它的能带结构使得它具有优异的光电转换性能,可以将光能转化为电能或者将电能转化为光能。
因此,砷化镓被广泛应用于光电子器件中,如激光器、光电探测器、光电调制器等。
砷化镓还是一种优异的太阳能电池材料。
它的光电转换效率高,可以将太阳能转化为电能。
砷化镓太阳能电池具有高效、稳定、寿命长等优点,因此在太阳能电池领域得到了广泛的应用。
砷化镓作为一种重要的无机非金属材料,具有优异的物理和化学性质,在半导体、光电子、太阳能电池等领域得到了广泛的应用。
随着科技的不断发展,砷化镓的应用前景将会更加广阔。
砷化镓晶片表面损伤层分析 - 中国科学院半导体研究所机构

稀有金属CHINEXE JOURNAL OF RARE METALS1999年7月 第23卷 第4期 vol.23 No.4 1999砷化镓晶片表面损伤层分析郑红军 卜俊鹏 曹福年 白玉柯 吴让元 惠 峰 何宏家摘 要: 采用TEM观测与X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离深度相结合的方法,分析了SI-GaAs晶片由切、磨、抛加工所引入的损伤层深度。
比较两种方法测量结果上的差异,得出了TEM观测到的只是晶片损伤层厚度,而X射线双晶回摆曲线检测化学腐蚀逐层剥离所得的深度是晶片损伤层及其形成应力区的总厚度的结论。
关键词: 砷化镓 切片 磨片 抛光片 表面损伤层Analyses of Surface Damage in SI-GaAs WafersZheng Hongjun, Bu Junpeng, Cao Funian, Bai Yuke, Wu Rangyuan,Hui Feng and He Hongjia(Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083, China) Abstract: The surface damage Layer in the SI-GaAs wafer induced by cutting, grining and polishing was analyzed by means of transmission electron microscopy and X-ray rocking curve measurements after the wafer was chemically etched. A method for determining the depth of surface damage layer of SI-GaAs wafer according to the quantitative difference in the results obtained by the two methods is proposed.Key Words: SI-GaAs, Cutting wafer, Grinding wafer, Polishing wafer, Surface damage 许多重要的砷化镓器件及砷化镓高速数字电路、微波单片电路均在砷化镓晶片表面制造, 集成度越高,对表面的要求越严格。
砷化镓材料技术发展及需求

砷化镓材料技术发展及需求周春锋;兰天平;孙强【摘要】介绍了HB、LEC、FEC、VCZ、VB、VGF砷化镓单晶炉及生长技术,分析了各种生长技术的优缺点及发展趋势.HB砷化镓多晶合成和单晶生长可以同时完成,生长温度梯度小、位错小、应力小;其缺点为不易生长半绝缘砷化镓单晶材料.LEC法生长过程可见,成晶情况可控,可生长大尺寸、长单晶;其缺点是晶体温度梯度大、位错密度高、应力高、晶体等径控制差.VBNGF法生长出的单晶位错密度和残留应力比LEC法低,晶体等径好,适合规模生产;其缺点在于容易产生双晶、线性缺陷和花晶,过于依赖生长系统重复性和稳定性.【期刊名称】《天津科技》【年(卷),期】2015(042)003【总页数】5页(P11-15)【关键词】砷化镓;单晶生长;HB;LEC;VB;VGF【作者】周春锋;兰天平;孙强【作者单位】中国电子科技集团公司第四十六研究所天津300220;中国电子科技集团公司第四十六研究所天津300220;中国电子科技集团公司第四十六研究所天津300220【正文语种】中文【中图分类】TN304.2砷化镓(GaAs)是目前最成熟的化合物半导体材料之一,[1]与硅(Si)相比,具有禁带宽(1.42,eV)、电子迁移率高(8,500,cm2/V·s)、电子饱和漂移速度高、能带结构为直接带隙等特性。
这些特性决定了其在高频、高速、高温及抗辐照等微电子器件研制中的主要地位。
GaAs的直接带隙特性决定了其也可以制作光电器件和太阳能电池。
GaAs材料分为两类,即半绝缘砷化镓材料和半导体砷化镓材料。
在半绝缘砷化镓材料上可制作 MESFET、HEMT和HBT结构的电路,主要用于雷达、卫星电视广播、微波及毫米波通信、无线通信(以手机为代表)及光纤通信等领域。
半导体砷化镓材料主要应用于光通信有源器件(LD)、半导体发光二极管(LED)、可见光激光器、近红外激光器、量子阱大功率激光器和高效太阳能电池等光电子领域。
半导体论文

一、半导体物理发展史简介半导体物理学是研究半导体原子状态和电子状态以及各种半导体器件内部电子过程的学科。
是固体物理学的一个分支。
研究半导体中的原子状态是以晶体结构学和点阵动力学为基础,主要研究半导体的晶体结构、晶体生长,以及晶体中的杂质和各种类型的缺陷。
研究半导体中的电子状态是以固体电子论和能带理论为基础,主要研究半导体的电子状态,半导体的光电和热电效应、半导体的表面结构和性质、半导体与金属或不同类型半导体接触时界面的性质和所发生的过程、各种半导体器件的作用机理和制造工艺等。
半导体物理学的发展不仅使人们对半导体有了深入的了解,而且由此而产生的各种半导体器件、集成电路和半导体激光器等已得到广泛的应用。
能带理论的建立为半导体物理的研究提供了理论基础,晶体管的发明激发起人们对半导体物理研究的兴趣,使得半导体物理的研究蓬勃展开,并对半导体的能带结构、各种工艺引起的半导体能带的变化、半导体载流子的平衡及输运、半导体的光电特性等作出理论解释,继而发展成为一个完整的理论体系——半导体物理学。
1947年,美国贝尔实验室发明了半导体点接触式晶体管,从而开创了人类的硅文明时代。
1、半导体的起源法拉第在1833年发现硫化银,它的电阻随着温度上升而降低。
对半导体而言,温度上升使自由载子的浓度增加,反而有助于导电,这也是半导体一个非常重要的物理性质。
1874年,德国的布劳恩注意到硫化物的电导率与所加电压的方向有关,这就是半导体的整流作用。
1906年,美国发明家匹卡发明了第一个固态电子元件:无线电波侦测器,它使用金属与硅或硫化铅相接触所产生的整流功能,来侦测无线电波。
整流理论能带理论2、电晶体的发明3、积体电路:积体电路就是把许多分立元件制作在同一个半导体晶片上所形成的电路4、超大型积体电路二、半导体和集成电路的现状及发展趋势半导体材料的发展,现状和趋势第一代的半导体材料:以硅(包括锗)材料为主元素半导体第二代半导体材料:以砷化镓(GaAs)为代表的第二代化合物半导体材料第三代半导体材料:氮化物(包括SiC、ZnO等宽禁带半导体)第三代半导体器件由于它们的独特的优点,在国防建设和国民经济上有很重要的应用,前景无限。
半导体砷化镓的杨氏模量

半导体砷化镓的杨氏模量
砷化镓是一种常见的半导体材料,具有广泛的应用领域。
它的杨氏模量是描述其力学性质的重要参数之一。
杨氏模量是指材料在受到外力作用下产生的应力与应变之间的比值。
对于砷化镓这样的半导体材料来说,其杨氏模量通常较高,说明它具有较好的刚度和弹性。
砷化镓的杨氏模量可以影响到材料的力学性能以及电子性能。
在应用中,人们常常需要根据具体的需求调整砷化镓的杨氏模量,以使其适应不同的工作条件。
砷化镓的杨氏模量与其晶体结构、晶格常数以及原子间的键强度等因素密切相关。
通过调整这些因素,可以改变砷化镓的杨氏模量,从而实现对其力学性能的调控。
砷化镓作为一种重要的半导体材料,广泛应用于光电子器件、太阳能电池、微电子器件等领域。
在这些应用中,砷化镓的杨氏模量对于保持器件的稳定性和可靠性起着至关重要的作用。
砷化镓的杨氏模量是其力学性质的重要指标,对于材料的应用性能具有重要影响。
通过对砷化镓杨氏模量的研究和调控,可以实现对材料力学性能的优化,进一步推动砷化镓在各个领域的应用。
lec砷化镓单晶生长技术

lec砷化镓单晶生长技术
LEC砷化镓单晶生长技术是一项重要的半导体材料制备技术,具有广泛的应用前景。
该技术可以制备高质量、高晶格匹配性的砷化镓单晶材料,用于制造高性能的光电器件和微电子器件。
本文将从生长原理、生长方法和应用领域三个方面,介绍LEC砷化镓单晶生长技术的相关内容。
一、生长原理
LEC砷化镓单晶生长技术是利用液相外延的原理,通过在熔融状态下控制溶液中溶质浓度和温度梯度,使砷化镓单晶材料从溶液中生长出来。
在生长过程中,通过控制砷化镓溶液的温度和成分,可以控制生长出的单晶材料的性质和质量。
二、生长方法
LEC砷化镓单晶生长技术主要有静态法和动态法两种方法。
静态法是将砷化镓溶液放置在石英坩埚中,通过加热使溶液达到熔点后,将衬底缓慢地浸入溶液中,使砷化镓单晶逐渐生长。
动态法是将砷化镓溶液注入到石英坩埚中,通过旋转坩埚或搅拌溶液,使溶液中的溶质均匀分布,然后将衬底缓慢地浸入溶液中,使砷化镓单晶生长。
三、应用领域
LEC砷化镓单晶材料具有优异的电学和光学性能,广泛应用于光电器件和微电子器件的制造。
在光电器件方面,砷化镓单晶材料可以
制作高效的太阳能电池、高亮度LED和激光器等。
在微电子器件方面,砷化镓单晶材料可以用于制造高速、高功率的场效应晶体管和集成电路等。
总结:
通过静态法和动态法两种生长方法,LEC砷化镓单晶技术可以制备出高质量、高晶格匹配性的砷化镓单晶材料。
这种材料在光电器件和微电子器件领域具有广泛的应用前景。
随着科技的不断发展,LEC砷化镓单晶生长技术将进一步推动光电子和微电子领域的发展,并为人们的生活带来更多便利和创新。
6英寸砷化镓的现状及发展趋势

6英寸砷化镓的现状及发展趋势摘要:砷化镓广泛应用于光电子和微电子领域,是制作半导体发光二极管和通信器件的关键衬底材料。
与硅单晶一样,砷化镓衬底正逐步向大尺寸、高几何精度、高表面质量方向发展。
目前,日本住友电工、美国AXT代表着国际领先水平,中科晶电、晶明公司代表着国内的先进水平。
未来几年是国内企业研发6英寸产品,向国际水平冲击的重要时期。
关键词:6英寸砷化镓;现状;发展趋势引言:砷化镓(GaAs)是目前最重要、最成熟的化合物半导体材料之一,广泛应用于光电子和微电子领域。
GaAs材料主要分为两类:半绝缘砷化镓材料和半导体砷化镓材料。
半绝缘砷化镓材料主要制作MESFET、HEMT和HBT结构的集成电路。
主要用于雷达、微波及毫米波通信、超高速计算机及光纤通信等领域。
半导体砷化镓材料主要应用于光通信有源器件(LD)、半导体发光二极管(LED)可见光激光器、近红外激光器、量子阱大功率激光器和高效太阳能电池。
1砷化镓技术发展现状1.1随着GaAsIC集成度的提高和降低成本的需要,砷化镓材料总的发展趋势是晶体大直径,长尺寸化。
2000年已研制出8英寸LEC砷化镓单晶抛光片,2002年研制出8英寸VGF砷化镓单晶抛光片及8英寸VGF砷化镓外延片,2006年制定出8英寸砷化镓抛光片SEMIM9.8标准。
半导体材料应用增多,最大应用商品为6英寸。
由于8英寸砷化镓器件生产线投入太大,造成了8英寸砷化镓衬底没有形成量产。
(见图一)图1随着微波砷化镓器件集成度的提高和降低成本的需求,半绝缘砷化镓抛光片的发展趋势是增大直径、提高电学参数的均匀性和一致性。
为了提高单片管芯数量,要求增加衬底晶片的尺寸,同时对晶片的几何参数以及表面状态的要求更高,对产品的批次一致性要求也更严格。
6英寸半绝缘砷化镓抛光片生产技术主要掌握在日本住友电工、德国费里伯格、美国AXT三个公司手中。
这些公司的产品占据着砷化镓市场的绝大部分份额。
砷化镓单晶生长技术也向成晶率高、成本低的VB/VGF单晶生长技术转移。
砷化镓晶片表面自然氧化问题研究

砷化镓晶片表面自然氧化问题研究摘要:本文用椭偏仪测量砷化镓表面氧化层的厚度,并用XPS分析砷化镓表面氧化层的化学组成和氧化层的厚度,发现,清洗后的砷化镓晶片表面会发生自然氧化反应,自然氧化层主要有Ga203、As203、As2O以及少量As元素组成,且随着时间变长,氧化层的厚度越来越厚。
关键词:砷化镓,表面自然氧化,椭偏仪,XPS,氧化层厚度1 引言砷化镓属材料,最早出现砷化镓在半导体电学性能方面的研究报道是1952年,随着现代工业冶炼提纯技术的进步和微电子技术的发展,砷化镓材料成为III-V族化合物半导体中应用最为广泛、相关技术最为成熟的材料。
砷化镓材料具有高的电子迁移率和禁带宽度,是微波、毫米波器件的理想材料,同时采用半绝缘材料制作的超高速集成电路是雷达、电子对抗、计算机、卫星通信设备广泛用于国防、卫星通信等及其重要的领域。
同时使用低EPD和低电阻率的砷化镓材料可制成半导体发光器件,LED和LD等,具有耗电量小、寿命长、反应速度快等优点。
在实际使用过程中,我们发现砷化镓器件或LED、LD的性能除了跟单晶材料电学性能参数、单晶材料缺陷密度有关外,还跟晶片表面的特性有很大的关系,越来越多的研究表明,由于砷化镓表面的特殊性和复杂性,砷化镓表面的表面质量对器件的性能有很大的影响,所以有必要分析了解砷化镓表面的特性,以往的研究,大家大多集中在表面平整度、表面洁净度、表面缺陷等方面,对于砷化镓表面的微观化学构成、表面化学组分等方面研究较少。
本文采用椭偏仪、X射线光电子能谱仪(XPS)开展了砷化镓表面自然氧化问题的分析研究工作,并研究了解了砷化镓置于空气中自然氧化层的变化情况,为后续控制砷化镓晶片表面自然氧化问题提供了方向。
2测量分析原理2.1 使用设备:试验使用的椭偏仪为J.A. Woollam Co.,Inc.生产的M-2000D薄膜厚度测试仪;试验使用的X射线光电子能谱仪为美国PHI公司生产的PHI 5300 ESCA系统。
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接下来我将就制备单晶中涉及到的一些问题和知识进行一些讨论.
(1)制备出的单晶可能受到si的污染。这里有些能够抑制si污染的方法:
1、采用三温区横拉单晶炉改变炉温分布。
2、降低合成GaAs及拉晶时高温区温度。
3、压缩反应系统与GaAs熔体的体积比。
4、反应系统中添加O2、Ga2O3、As2O3,减少Si的影响。
制备砷气压有两种方法:一是采用石英密封系统,系统置于双温区炉中,低温端放As源控制系统中砷气压,高温端合成化合物并拉制晶体,而整个系统的问的都必须高于As源端温度,以防止As正气凝结。目前使用的水平布里奇曼法是这一类,污染少,纯度较高。第二种方法是在熔体上覆盖惰性熔体,在向单晶炉内充入大于熔体离解压的惰性气体,以控制熔体离解,一般惰性熔体用的是B2O3,所以这种方法通常称为B2O3液态密封法。生产效率高。
正文:首先,简单介绍一下半导体材料的一些特性和发展历史。导电能力介于道题与绝缘体之间的物质称为半导体。半导体材料是一类具有半导体性能,可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料。半导体材料的电学性质对光、热、电、磁灯外界因素的变化十分敏感,在半导体材料中掺入少量杂质可以控制这类材料的导电率。同时也是因为这些因素使得半导体材料可以制成多种多样的元器件,称为现代工业的基础。
下面我选择介绍的是GaAs,这是一种Ⅲ--Ⅴ族化合物半导体材料,到目前为止是一种用来制作微波器件和集成电路的重要材料。类比于其他种类的半导体材料,GaAs具有Ⅲ--Ⅴ族化合物半导体材料的独特性质:带隙大,制作的期间耐受较大功率,工作温度更高;为直接跃迁型带隙,因而光电转换效率高,适合制作光电器件;电子迁移率高,适合制作高频、高速器件。
GaAs是闪锌矿结构:V族原子的5个共价键电子中拿出一个给Ⅲ族原子,相互作用产生sp³杂化,形成类似金刚石结构的共价键。GaAs在300K时禁带宽度Eg为1.43eV,最高工作温度450。GaAs单晶的(111)A和(111)B面有不同的腐蚀性。
一:砷化镓半导体材料的制备
下面来介绍一下GaAs单晶的制备方法:目前单晶主要是从熔体中生长的,有直拉法和横拉法。
关键字:半导体材料 GaAs 导电能力 载流子 电子 空穴
引言:从半导体材料进ຫໍສະໝຸດ 人们的视线以来,在短短的几十年间半导体材料有了飞速的发展,人们对半导体材料的研究越来越来深,半导体的种类越来越到多,应用方面越来越广。由于半导体学科的飞速发展,其产品涉及到了世界的各个方面,包括了通讯、医疗、军事等等各个领域,使得世界发生了翻天覆地的变化。
砷化镓半导体材料是目前最重要、最成熟的化合物半导体材料之一,广泛应用于光电子和微电子领域,目前全球砷化镓单晶已经大量投入生产,其应用的范围包括了移动通行、太阳能电池、红外线激光器、大功率激光器和全球定位系统。
砷化镓不仅可直接制作光电子器件,如发光二级管、可见光激光器、近红外激光器、量子阱大功率激光器、红外探测器和高效太阳能电池;而且在微电子方面,以半绝缘砷化镓为基体,用直接离子注入自对准平面工艺研制的砷化镓高速数字电路、微波单片电路、光电集成电路、低噪声及大功率场效应晶体管,且有速度快、频率高、低功耗和抗辐射等特点,不仅在国防上具有重要意义,在民用和国民经济建设中更有广泛应用。同时由于太阳能电池、光纤通信和移动通信的发展,世界对砷化镓半导体材料的需求越来越大,砷化镓的重要性也在不断提高。
半导体材料
----GaAs的制备和应用
摘要:本文将以GaAs半导体为例介绍介绍有关半导体材料的制备、分类、特征及半导体材料的一些参数。半导体材料的结构和参数决定了它的特性,而半导体材料的结构和性能同时决定了他的适用范围。GaAs在生活中也有着广泛的应用,通过对它的讨论希望能有助于对半导体材料的理解和认识。
半绝缘砷化镓材料主要用于高频通信器件,受到近年民用无线通信市场尤其是手机市场的拉动,半绝缘砷化镓材料的市场规模也出现了快速增长的局面。同时砷化镓太阳能电池作为新一代高性能长寿命空间主电源,必将逐步取代目前采用的硅电池在空间电伏领域占领主导地位。我国航天事业飞速发展也需要高性能、长寿的空间主电源。
参考文献:
水平布里奇曼法
1,将纯Ga盛于石英舟内,放在石英反应管一端,纯砷防盗另一端。
2,高真空下分别加温除去氧化膜。Ga在700度,1300pa下恒温处理2h除去氧化膜。As在 280度,1300pa真空下恒温处理2h出去氧化膜。
3,在真空条件下分别用氢氧焰封闭石英管。为了便于操作将 Ga用干冰或氮气冷冻凝固,用石英撞针撞破石英隔窗。
(3)制备砷化镓单晶中的位错
砷化镓单晶中的位错对制作期间有着很大的影响,它能引起耿氏器件电击穿,使发光器件发光不均匀,寿命短。也能与点缺陷作用,减少缺陷杂质络合物的形成,有时也是需要在制作器件时用到位错。砷化镓晶体中引入为错的原因:①由应力引起的位错,HB法生长单晶发生单晶粘舟将产生大量位错,此外,研磨和热处理过程也能引入位错。砷化镓的滑移面为[111]面,滑移方向为<110>,在[111]面上呈星形,在[100]面上呈方格。②生长时引入的位错。籽晶中位错的延伸,由于小平面效应和熔体的组分过冷,由于SiO沉淀或富砷泡的凝聚灯引起位错异质成核,特别是砷化镓中其他杂志的偏析的沉淀,形成第二相,在其周围可能出现高密度位错。
《中国电子商情》2004年Z1期
《砷化镓:应用广泛的半导体材料》江莹 2004年
《砷化镓材料国内外现状及发展趋势》中国电子科技集团公司 纪秀峰
《半导体材料》
2,GaAs室温下不溶于盐酸,可与浓硝酸反应,易溶于王水。室温下,GaAs在水蒸气和氧气中稳定。 加热到6000C开始氧化,加热到8000C以上开始离解
3,有效质量越低,电子速度越快。GaAs中电子有效质量为自由电子的1/15,是硅电子的1/3,用GaAs制备的晶体管开关速度比硅的快3~4倍
四:砷化镓半导体材料的目前应用及前景
4,将反应管放入炉中,镓舟置于高温炉中, As端置于低温炉中,通电升温。砷:低温炉恒温于617度,镓:高温炉恒温1250度。
5,开动区熔机,是熔区由锭一端移到另一端,这时 GaAs便合成好了。
6,GaAs合成后,将保温炉退回锭的前端,即可进行晶体生长。生长晶体时可以用预先放入的籽晶,并可以应用缩颈技术,以降低位错密度。
砷化镓单晶热处理方法有两种:一是生长单晶后不打开石英管,在原气氛下降温退火。另一种方法是取出单晶,在流动的氢气下热处理,温度为700到850度,时间为12小时,热处理后,一般都能使其电阻下降,迁移率升高,电阻率温度系数变正,dρ∕dT>0。
三:砷化镓半导体材料的物理特性
1,砷化镓半导体材料是直接带隙结构,双能谷。晶体呈暗灰色,有金属光泽。
5、改变GaAs熔体与石英舟接触的状态。如喷砂打毛石英舟减少“粘舟”现象
(2)制作砷化镓单晶中出现的点缺陷
在制作砷化镓时,很难做到使单晶中的化学比为1:1,如果在晶体生长时As压控制不稳就很容易产生镓空位或砷空位。镓空位是受主,激活能为+0.18eV。同时在制备的砷化镓单晶中也可能存在着间隙原子Ga和As,以及反结构原子。在砷化镓中的结构缺陷往往生成种种络合物,他们是两个二货两个以上的点缺陷通过库伦力作用、偶极矩、共价键作用在低温下形成的。这些络合物因为存在偶极矩,因而能够吸引电子或空穴,所以具有能级位置,有独特的温度依赖关系和特定的荧光激发光谱等特征。在提高砷化镓质量方面,消除结构缺陷也是一个十分重要的方面。
该方法的缺点:
用此方法生长 GaAs单晶的主要问题是粘舟,即 GaAs与石英舟黏在一起,不易分开。解决方法:
1,将石英舟喷砂打毛,或将喷砂后的石英舟用 Ga在1000到1100度的高温下处理10小时。
2,脱氧是真空度要高。
3,合成及拉晶时严格控制温度并防止 Ga与As化学比的偏离。
制备单晶只是为器件制备做准备的第一步,在之后还必须通过严密的步骤对单晶在加工。在制片方面,需要先将单晶进行定向法切割,然后对单晶进行外圆研磨和标志面研磨,接下来是切片、清洗,然后再进行磨片、清洗、腐蚀,接下来是抛光和擦片,经过检验后就是能够进行器件制造的单晶片了。
目前可以通过选择合适的籽晶,防止粘舟,调整单晶炉热场,稳定生长条件,以及采取缩颈等工艺措施,可以生长出无位错或地位错的砷化镓单晶。
(4)砷化镓晶体的热处理
目前外延法生长的砷化镓材料dρ∕dT>0,而体单晶材料则dρ∕dT<0,且锭条的局部或全部形成高阻。一般认为这是由于砷化镓材料中存在着较高深度的深能级缺陷的缘故。因为在一般半导体材料中,温室下杂质已全部电离升高温度时,会使本征载流子增加,但砷化镓的禁带宽度较大,因此由本征激发提供的载流子浓度很少。另一方面升温会使晶格散射作用增强,使迁移率很快下降。因此在掺在浅施主能级杂质的材料中dρ∕dT>0。但当材料含有深能级电子缺陷时,它的能态密度超过或相当于浅施主的状态密度时,它们将逐渐电离参加到点,结果使晶体电阻率下降呈现dρ∕dT<0。关于它们的本质目前尚不清楚,若把砷化镓体单晶进行热处理,可以消除或降低深能级电子陷阱,是dρ∕dT>0。
现在使用的半导体材料种类非常多,大致可以分为这么几类:1,元素类半导体,包括了硅、鍺、硒等等,大多数是使用硅材料;2,化合物半导体,有两种或两种以上的元素化合而成的半导体材料,包括了砷化镓、磷化铟、碳化硅等等;3,无定形半导体材料,用作半导体的玻璃是一种非晶无定形半导体材料,分为氧化物玻璃和非氧化物玻璃两种,具有良好的开关和记忆特性和很强的抗辐射能力;4,有机增半导体材料,已知的有机半导体材料有几十种,包罗了萘、聚丙烯晴和一些芳香族化合物等等。