宽禁带半导体的本征载流子浓度
半导体物理第三章半导体中的载流子统计分布

电子浓度:单位体积内导带中的电子数(单位:1/cm3)
20
导带中电子都聚集在 导带底 价带中空穴都聚集在 价带顶
21
计算电子:
单位体积中
dN = f (E)gc (E)dE
( ) =
V 2π
2
2me* h3
3/ 2
(E
−
EC
)1/ 2
exp⎜⎜⎝⎛ −
E − EF kBT
⎟⎟⎠⎞dE
( ) dn =
m
3 2
pl
+
3
m
2 ph
⎤ ⎥⎦
3
3
gv(E) =
V
2π 2
(2mdp ) h3
2
(Ev
1
− E) 2
mph 和mpl分别是重空穴和轻空穴的有效质量。由于mph>>mpl, 重空穴带的态 密度显著大于轻空穴带的态密度。所以空穴主要分布在重空穴带中。
§ 3.2 费米能级和载流子的统计分布
费米分布函数 玻尔兹曼分布函数 导体中的电子浓度和价带中的空穴浓度
gv (E)
=
V
2π 2
(
2
m
* p
)
3
2
h3
(Ev
1
− E) 2
实际情况:在价带顶有两种空穴
gv (E ) = gvl (E ) + gvh (E )
3
3
=
V
2π 2
⋅ (2m pl ) h3
2
1
(Ev − E) 2
+
V
2π 2
⋅ (2m ph ) h3
2
(Ev
1
− E) 2
半导体物理学复习讲义 引论~第三章

1.3晶向和晶面
晶体各向异性 将布拉维格子看成互相平行等距的直线族 每一直线族定义一个方向,称为晶向 如沿晶向的最短格矢为
l1a1 l2a2 l3a3
该晶向可记为:
l1, l2 , l3
1.3晶向和晶面
将布拉维格子看成互相平行等距的平面族,也称为晶面 如某平面族将基矢分成
1. 恒量 2. V为正空间体积
考虑自旋,k空间态密度:
状态密度定义
单位能量间隔内的状态数目:
考虑自旋,k空间态密度:
E-k 关系
能量空间状态密度
能量变化 dE
k状态变化 dk
k空间体积变化 dΩ
状态数变化 dZ
球形等能面状态密度求解
导带E- k关系:
k k0
E E dE
k k dk
1.1半导体的晶格结构和结合性质 1.2半导体中的电子状态和能带 1.3半导体中电子的运动
有效质量 空穴
1.4本征半导体的导电机构
1.5回旋共振
1.6硅和锗的能带结构 1.10宽禁带半导体
1.1.1金刚石结构和共价键
特点:
每个原子和周围的4个最近邻原子形成一个正四面体
顶角原子和中心原子形成共价键
1.2半导体中的电子状态和能带
1.2.1原子的能级和晶体的能带
电子壳层:1s,2s,2p,3s,3p,3d,4s
……
电子的共有化运动
最外层电子的共有化运动最为显著
公有化运动导致简并能级出现分裂
由于原子数量巨大,分裂后能级之间差距微小,形
成能带,称为允带
S:非简并态, P:三重简并
1.2.1原子的能级和晶体的能带 几个名词:
三、原子结合类型
宽禁带半导体器件原理

宽禁带半导体器件原理宽禁带半导体器件是一种特殊类型的半导体器件,其主要特点是具有相对较大的能隙,也就是禁带宽度。
与传统的半导体器件相比,宽禁带半导体器件在电子能带结构和导电特性方面存在显著差异。
宽禁带半导体器件的禁带宽度通常大于1.7电子伏特,远远大于传统的半导体器件如硅和锗等。
由于禁带宽度较大,宽禁带半导体器件可以在高温环境下工作,具有较高的热稳定性和较低的内部噪声。
这使得宽禁带半导体器件在高温电子器件、高功率电子器件和光电子器件等领域具有广阔的应用前景。
宽禁带半导体器件的导电机制与传统的半导体器件也有所不同。
在传统的半导体器件中,导电主要是由载流子(电子和空穴)的迁移引起的。
而在宽禁带半导体器件中,导电主要是通过掺杂引入杂质能级来实现的。
这些杂质能级可以在禁带中形成能带,从而允许电子和空穴在禁带中传输。
这种导电机制使宽禁带半导体器件具有较高的载流子浓度和较高的导电能力。
宽禁带半导体器件的制备方法也与传统的半导体器件有所不同。
传统的半导体器件通常采用单晶生长或硅片切割的方法制备。
而宽禁带半导体器件通常采用化学气相沉积(CVD)或分子束外延(MBE)等方法,在衬底上生长薄膜。
这些方法可以控制薄膜的厚度和组分,从而实现对禁带宽度的调控。
此外,宽禁带半导体器件的制备还需要考虑杂质掺杂和退火等工艺步骤,以调整杂质能级和提高导电性能。
宽禁带半导体器件在光电子领域有着重要的应用。
由于其较大的禁带宽度,宽禁带半导体器件可以在可见光和紫外光等波段实现高效的光电转换。
例如,宽禁带半导体器件可以用于制造高效的光伏电池,将太阳能转化为电能。
此外,宽禁带半导体器件还可以用于制造高功率激光器,用于光通信、雷达和激光加工等领域。
宽禁带半导体器件具有较大的禁带宽度、高热稳定性和较低的内部噪声等特点,适用于高温电子器件、高功率电子器件和光电子器件等领域。
宽禁带半导体器件的导电机制和制备方法与传统的半导体器件有所不同,需要控制杂质能级和薄膜组分。
半导体物理第三章2013

3.2.4 载流子浓度乘积n0p0
n0
p0
=
Nc Nv
exp( −
Ec − Ev k0T
)
=
Nc Nv
exp( −
Eg k0T
)
n0
p0
∝
T
3
exp(
−
Eg k0T
)
乘积n0p0与EF无关 应用?
不同半导体,由Eg 、T决定。 一定半导体,取决于T, 与杂质无关。 温度一定的某半导体, n0,p0成反比
Ec
+
2k 2 2mn*
(1)
dk
在E 到E+dE 球壳内的量子态数:
dZ
=
2V 8π 3
× 4π
k2dk
(2)
等能面
( ) E(k)
=
Ec
+
2k 2 2mn*
⇒ ⎧⎪⎨ k= 2mn* 0.5(E−Ec )0.5
⎪⎩ kdk
=
mn*dE
2
dZ
=
2V 8π 3
× 4π k2dk
求出k和dk,带入(2)式,得:
导带 Ec
Eg
Ev 价带
利用
∫ p0
=
1 V
Ev Ev'
fBp (E)gv (E)dE
g (E ) =
dZ dE
=
V 2π 2
(
2
m
* p
)
3
3
2
(Ev
−
E )1 2
f Bp
(E)
=
exp( −
EF − k0T
E
)
=
B
exp(
E k0T
太阳能电池重点答案(前4章)

第一章1.法国物理学家Edmond Becquerel 于1839 年首先观察到光伏效应。
2.1883 年美国科学家Charles fritts 制造了历史上第一个太阳能光电池。
3.1954 年贝尔实验室的科学家研制出了第一块现代太阳能电池,转换效率达到6%,这是太阳能电池发展史上一个重要里程碑。
4.2000 年德国首先颁布可再生能源法。
5.光子的能量?能量(eV)与波长(μm)的关系。
(计算)答:光子的能量:E(J) = hf = hc/λ能量与波长的关系:E (eV ) = 1.24 / λ(μm)。
光的能量与波长成反比。
6.太阳的能量主要来源于太阳内核发生核聚变反应(氢转换成氦),这些能量以电磁波的形式向四方辐射:太阳表面温度高达6000 k。
7.太阳光照射在距离D 处的球面,入射到物体的光强为?(计算)答:(式中,Isun为太阳的表面辐射功率强度)8.大气效应主要在哪些方面影响着地球表面的太阳辐射?答:1)由大气吸收、散射和反射引起的太阳辐射能量的减少。
2)由于大气对某些波长的较为强烈地吸收和散射而导致光谱含量的变化。
3)当地大气层的变化引起入射光能量、光谱和方向的额外改变。
引起的太阳辐射能量的减少:导致光谱含量的变化。
(特殊的气体包括:臭氧(O3),二氧化碳(CO2)和水蒸气(H2O)都能强烈地吸收能量与其分子键能相近的光子。
从而改变太阳的光谱含量,使得辐射光谱曲线深深地往下凹。
然而空气分子和尘埃,却是通过对光的吸收和散射成为辐射能量减少的主要因素)9.什么叫光学大气质量?太阳在相对水平面成30˚的高度,其相应的大气光学质量是多少?答:光线通过大气层的路程,太阳在头顶正上方时,路程最短。
我们把实际路程与此最短路程的比称之为大气光学质量。
简称AM。
大气光学质量表达式:(θ为太阳和头顶正上方成角度)当太阳在头顶上方时,AM=1,称为大气光学质量1的辐射。
当太阳在相对水平面成30˚时,10.地球表面的标准光谱称为AM1.5,辐射能量密度为1000 W/m2;地球大气层外的标准光谱称为AM0,辐射能量密度为1366 W/m2。
本征载流子

本征载流子 (1)基本概念: 本征载流子(Intrinsic carrier)就是本征半导体中的载流子(电子和空穴),即不是由掺杂所产生出来的载流子。也就是说,本征载流子是由热激发——本征激发所产生出来的,即是价电子从价带跃迁到导带而产生出来的;它们是成对产生的,所以电子和空穴的浓度始终相等。 本征半导体,从物理本质上来说,也就是两种载流子数量相等、都对导电起同样大小的半导体。因此,未掺杂的半导体是本征半导体,但是掺有杂质的半导体在一定条件下也可能成为本征半导体(只要两种载流子的浓度相等)。 对于掺有杂质的n型或p型半导体,其中的多数载流子主要就是由杂质电离所提供,而其中的少数载流子则是由本征激发所产生的。因此,在杂质全电离情况下,多数载流子浓度基本上与温度无关,但少数载流子则随着温度将指数式增大。 (2)与温度的关系: 因为本征载流子是由本征激发所产生的,则它的产生与热激发有关,也与禁带宽度有关,所以具有以下特点:一是电子浓度=空穴浓度;二是载流子浓度随着温度的升高而指数式增大;三是与禁带宽度有指数函数关系(不同半导体的本征载流子浓度不同)。本征载流子浓度ni与温度T和禁带宽度Eg的关系为(与杂质无关) ni = (NcNv)^(1/2) exp[-Eg/(2kT)] 在室温下,Si的ni=1.45×10^10cm-3,GaAs的ni=1.79×10^10cm-3。 由于本征载流子浓度ni随着温度的升高而指数式增大,故在足够高的温度下,对于掺杂的半导体,在较高温度下,本征载流子浓度也都将大于杂质所提供的载流子浓度——多数载流子浓度。这就是说,即使是掺杂的半导体(除非掺杂浓度异常高),都将随着温度的升高而逐渐转变为本征半导体(两种载流子浓度相等)。这种半导体本征化的作用,即将导致pn结失效,所以这实际上也就是限制所有半导体器件及其集成电路的最高工作温度的根本原因;也因此,半导体器件的最高工作温度也就由半导体的本征化温度来稳定。
《宽禁带氧化物半导体载流子调控与应用》报告
宽禁带氧化物半导体载流子调控与应用### 引言宽禁带氧化物半导体(Wide Bandgap Oxide Semiconductor)是一类具有较大电子禁带宽度的半导体材料,其特点包括高电子迁移率、优异的热稳定性和化学稳定性。
本报告将着重探讨宽禁带氧化物半导体中载流子的调控手段以及在各个领域的应用。
### 载流子调控#### 1. **掺杂调控**宽禁带宽氧化物半导体的电学性能可通过掺杂实现。
常见的掺杂元素包括铟(In)、锡(Sn)、锌(Zn)等。
掺杂可调节半导体的电子浓度,从而改变其导电性质。
例如,通过锌的掺杂,可以显著提高氧化锌的电子迁移率,使其成为优秀的透明导电薄膜。
#### 2. **界面调控**界面工程是另一种调控载流子的有效手段。
通过引入合适的介质层或界面,可以调节半导体材料的电子结构,影响载流子的输运性能。
优化界面结构有助于减小载流子的散射损失,提高材料的电导率。
#### 3. **光照调控**光照作为外部激励手段,对宽禁带宽氧化物半导体的载流子调控起着关键作用。
光照激发下,半导体材料中的载流子产生和复合过程受到影响,从而调整了材料的电学性能。
### 应用领域#### 1. **光电子学**宽禁带宽氧化物半导体在光电子学领域有广泛应用。
其高电子迁移率和光学透明性使其成为太阳能电池、光电探测器等器件的理想材料。
通过精心设计载流子调控策略,可以提高这些器件的性能。
#### 2. **电子器件**作为高电子迁移率半导体,宽禁带宽氧化物半导体在电子器件中具有潜在的应用前景。
例如,它可以用于制造高性能的场效应晶体管(FET),用于逻辑电路、放大器等电子设备。
#### 3. **气体传感器**宽禁带宽氧化物半导体还被广泛应用于气体传感器领域。
通过调控载流子,可实现对气体的高灵敏度检测。
以氧化锌为例,其在臭氧、一氧化碳等气体的敏感性得到了广泛研究。
#### 4. **光催化**光催化是一种将光能转化为化学能的过程,而宽禁带宽氧化物半导体的光学和电学性质使其成为理想的光催化材料。
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科技创新与应用l 2015年第2期 科技创新 宽禁带半导体的本征载流子浓度
田石 刘国辉 (锦州天维电子有限公司,辽宁锦州121000)
摘要:列举了有代表性的宽禁带半导体本征载流子浓度的理论公式,简要叙述了温度与禁带宽度变化的关系,讨论了本征载 流子浓度对电力电子器件参数特性的影响,并通过与硅材料的对比说明了宽禁带半导体的优异性能。 关键词:宽禁带半导体;本征栽流子;禁带宽度;电力电子器件
半导体材料的发展已历经三代,即分别以硅(Si)和砷化镓 (GaAs)为代表的第一、第二代半导体材料,和以碳化硅(SiC)、氮化 镓(GaN)为代表的第三代半导体材料,也称宽禁带半导体材料。由 于其具有更宽的禁带宽度、更高的击穿电场强度、更高的热导率、更 高的电子饱和漂移速度等独特的参数特性,因而在电力电子器件、 光电器件、射频微波器件、激光器和探测器等方面,显示出广阔的发 展前景,已成为目前世界各国半导体研究的重点。在这其中,电力电 子器件是在高电压、大电流和高温下工作的,本征载流子浓度等温 度敏感参数对器件的特性有着显著的影响,而宽禁带半导体材料比 硅材料在这方面有着明显的优势,了解和把握这一点,对于研究宽 禁带电力电子器件的参数特性显得十分必要。 1本征载流子浓度的理论公式 根据半导体物理学,半导体的本征载流子浓度n.由下式给出: ni=(N N3 %xp(-EJ2kT) (1) 上式中N。、N 分别为导带和价带有效状态密度,E 为禁带宽 度,k=8.62x 10 eV/K为玻耳兹曼常数,T为温度。 已有多种si材料n;的表达式,文献【1]给出的公式为: ni=3.87x10  ̄r ̄aexp(-7.02x103/T) (2) 文献[1]给出的宽禁带半导体4H—SiC的ni表达式为: ni=1.70×10 叮 xp(一2.08xI&/T) (3) 根据文献[2—3]给出的相关数据,代入公式(1)后还可以分别得 到Si的n;表达式: ni=1.68x10 51" exp[2.74T/(T+636)一6786.54/T] (4) 宽禁带半导体4H—SiC的n.表达式: ni=3.95 ̄10 -s'r ̄exp[3.77T,(T+1300卜18926.91/T] (5) 宽禁带半导体GaN的n;表达式: ni=1..94x10 ,I' xp[4.47T/(T+600)-20127.61/T] (6) 按照公式(2)、(4)、(3)、(5)、(6)分别计算了Si、4H—SiC和GaN 在不同温度下的n;值,列于表1。 表1 n;随温度的变化 2温度对禁带宽度的影响 研究表明:随着温度的上升,禁带宽度将随之减小。文献[2]、[4] 给出了硅和其它半导体禁带宽度与温度之间关系的表达式: E =E 一o【 I (T+p) (7) 文献[2】给出TNN半导体材料禁带宽度参数,见表2。其中E 为0oK时的禁带宽度,Or.、B均为温度变化系数。 表2不同半导体的禁带宽度参数 3 E 与n;对电力电子器件参数特性的影响 一26— 3.1 E 对击穿电压的影响 在描述半导体的雪崩击穿电压V 与材料禁带宽度E 和杂质 浓度N 的关系时,文献[517l用了S.M.Sze公式: Vs=60(E ̄/1.1 (NB/10 61m (8) 对于p*n结,当NB=10 4cm 时,分别将si的E =1.12eV、4H—SiC 的Eg=3.23eV代入式(8),计算出Si的雪崩击穿电压为1900V,而 4H—SiC的雪崩击穿电压可达9500V,是si的5倍。 3.2 n;对pn结反向漏电流的影响 晶闸管等功率半导体器件,其pn结的反向漏电流决定了器件 的高温阻断特性。在不考虑表面漏电流的情况下,反向漏电流由pn 结的扩散电流和空间电荷区的产生电流组成。对于p+n结,反向漏 电流密度的表达式为: J=qniZDp/NDLD+qn ̄xd2'r (9) 由式(9)看出:反向漏电流与本征载流子浓度紧密相关,由于ni 随温度而显著变化,因而它决定了高温时功率器件的漏电流。采用  ̄p75ZP型整流管的数据,并取423K时表1中式(4)、式(5)的n。值代 人式(9),计算出si器件的漏电流为78.7mA,而4H—SiC器件的漏电 流仅为1.03x10 mA;当T=873K时,计算出4H—SiC器件的漏电流 也仅为0.6mA。 3-3 ni对器件耐压极限和结温极限的影响 绝大部分功率半导体器件都是依靠pn结的反向阻断特性来承 受耐压的。对于衬底浓度为N 的pn结来说,ni=N 是非常重要的一 个临界值嘲,当ni>NB时,pn结将失去反向阻断能力。hi=N。时的温度 被规定为工作结温的极限值目。根据击穿电压v 与掺杂浓度N。的 关系,当确定了击穿电压时,就限定了最高的N 值,也就同时限定 了最高的i'1i值及其所对应的极限工作结温。采用文献[1】给出的p+n 结击穿电压v 与掺杂浓度N 的关系式: VB(s)=5.34x10”N (10) V ̄glbs/c)=3.OxlO NB (1 1) 并采用公式(4)、(5)分别计算了si和4H—SiC不同温度下N。=n 时的v 值,列于表3。由表3看出,si材料的pn结当温度大于600K 的本征温度时 ,已失去作为功率器件的阻断高电压的能力,而4H— SiC材料的pn结在873K时,击穿电压的理论极限仍可达107V的数 量级。 表3 N =n。时的击穿电压值
300 1.07×10 1.61×10 1.66×10—2.05×10。 398 5.45×10 1.50×10 1.69×10一 423 1.73X10”6.30×10。3.20×10。 600 4.52×10 9.69×10 3.81×10。 873 3.81×10” 3.48 1.78×10“ 1.14×10 1.25×l0 3.48×10 。
1.10×1O 4结束语 宽禁带半导体有着更宽的禁带宽度,在相同温度下,有着远小 于硅材料的本征载流子浓度,这将使宽禁带电力电子器件具有远大 于硅器件的击穿电压和更高的工作结温,并具有远小于硅器件的漏 电流。可以预见,集诸多优异特性于一身的宽禁带半导体材料,必将 带来电力电子器件的一场深刻革命。 参考文献 [1][美]巴利伽Baliga,B・J.功率半导体器件基础[M].韩郑生,陆江,宋 李梅,等译.北京:电子工业出版社,2013. [2】[德】卢茨Josef Lutz,eta1.功率半导体器件一原理、特性和可靠性 科技创新 2015年第2期I科技创新与应用 阵雨再辨识
张秀禄 (民航华北地区空中交通管理局天津分局,天津300300)
摘要:关于阵雨的判别及其与降水云层的关系,理论及实践历来存在分歧。文章本-gr- ̄业界同行探讨的意图,给出了相关辨识 标准。即:阵雨必须具有“持续时间短”、“雨滴大,下降急”、“骤降骤止,强度变化大而快”的特征;阵雨降自对流性中低云,但从对 流性中低云中下降的雨并非一定是阵雨。 关键词:阵雨;辨识;对流性中低云
引言 何种云层可降阵雨?何种下降情形的雨才可称为阵雨?各种专 业书籍的表述很不一致,实际工作中的判定标准也不统一。文章阐 述一下个人的见解,以期在业界、同行中引起讨论、引发共鸣,抑或 批评指正。 1关于阵雨的各种观点 1.1何种云层可降阵雨 关于何种云层可降阵雨,主要有以下观点:(1)只有从积雨云或 浓积云中下降的雨,才是阵雨;(2)只有从对流性中低云中下降的 雨,才是阵雨;注:对流性中低云主要包括淡积云、浓积云、积雨云、 积云性层积云、积云性高积云、堡状层积云等(下同);(3)只要是从 积雨云或浓积云中下降的雨,就是阵雨;(4)只要是从对流性中低云 中下降的雨,就是阵雨;(5)只要天空中有积雨云或浓积云,降雨就 是阵雨;(6)只要天空中有对流性中低云,降雨就是阵雨。 这六种观点,都具有排除陛。(1)和(2)排除了其他云层降阵雨 的可能性;(3)和(4)排除了该类云层降非阵雨的可能性;(5)和(6) 具有强制排他性,认为只要天空中有该类云层,则不管降雨是否来 自其中,皆为阵雨。 1.2何种下降情形的雨才可称为阵雨 关于何种下降腈形的雨才可称为阵雨的观点,不好归纳。但主 要的强调要素有:(1)骤降骤止;(2)强度大;(3)强度变化大;(4)强 度变化快;(5)雨滴比非阵性的大;(6)雨时短促;(7)时大时小;(8) 迅疾而落。 此八种情形,不同著述或不同从业者,强调的要素各不相同,侧 重点各异。有的强调其中的两点,有的强调其中的三点或四点。 3讨论 3.1问题的关键是如何界定“阵雨” 3.1.1持续时间短 在我们的生活或工作中,经常会说“他病了一阵儿”,“这一阵子 工作忙”,“一阵剧痛”,“一阵热烈的掌声”,等等。这些话都表明了一 种含义,就是“持续时间短”。如果历时较长甚至很长,就无法用到这 个“阵”字。因此,阵雨单从持续时间上来讲,就应当相对较短。 究竟有多短呢?我们以典型的雷暴天气为例来说明。一个雷暴 单体的生命周期通常在一小时左右。从形成淡积云到发展成浓积云 的发展阶段,一般不产生降水;由浓积云继续发展成为积雨云的成 熟阶段,可以产生很强的降水;当强烈的下降气流切断了暖湿空气 的供应,雷暴单体很快就进入了消散阶段。假使整个过程产生的降 水都是阵性的,历时不过半小时左右。即便是多单体雷暴,此起彼 伏,也并非连续不断地产生阵性降水。超级单体雷暴持续时间较长, 但成熟期也就一个多小时ll_。由此可知,阵雨一般不会超过半小时; 超过半小时的,往往不是一次性阵雨。这与观测实践是相当吻合的。 3.1.2雨滴大,下降急 在同等强度下,阵雨的雨滴通常要比非阵雨来得大。这是因为 可以产生阵雨的云层内部有强烈的乱流和升降气流,使得云滴通过 凝结(凝华)增长和碰并增长,成长为较大的雨滴。当这些雨滴增长 得足够大,一旦上升气流托不住或减小,这些大雨滴就会瞬间倾泻 而下,形成阵雨。 雨滴大,下降自然就急。在典型的雷暴天气过程中,最初常见的 就是,豆大的雨点迅疾而落。少时便雨流如注,模糊成片。在观测实 践中,有时也会见到从浓积云、积云性层积云或积云性高积云中突 然而又急速地下降很少量的大雨点,持续时间极短,有的甚至不足 一分钟。这也是阵雨。 3.1.3骤降骤止,强度变化大而快 对于一次降雨过程而言,有的持续时间短,有的持续时间长。持 续时间短的,不一定是阵雨;持续时间长的,不一定不含阵雨。 典型的阵雨是大雨滴突然直下,继而强度急速增大,到达一定 数值后(视具体情形而不同,从观测的角度来讲,通常都可以达到大 雨以上的程度),维持一个短暂的平台期(几分钟至十几分钟),之后 迅速减小,收尾结束。自然界中的阵雨过程受各种因素制约,往往会 有一些变化,但大体上都反映出了骤降骤止,强度变化大而快的特 性。 若降水时间虽然不长,但平稳和缓,或稍有起伏,不能称之为阵 雨。如果降水时间很长,但其中有若干次符合“持续时间短”,“雨滴 大,下降急”,“骤降骤止,强度变化大而快”特征的降雨,则这部分降 雨应认定为阵雨。需要指出的是,在整个降水过程中,阵雨的部分是 骤降骤止的,而不是整个降水过程是如此。 3.2云层属性是决定降水性质的内在原因 3.2.1降陛降水一定降自不稳定云层 阵性降水一定降自不稳定云层,稳定云层一定不会产生阵性降 水。所谓不稳定云层,是指乱流和对流很强的云层。上文已经提到, 正是这种属性的云层造就了可以突然降落的大水滴。相反,稳定云 层内只存在很弱或相对较弱的乱流,不能使云滴增长为大水滴,因 而也就无法产生向下的爆发力,只能形成平稳和缓或略有起伏的非 阵性降水。知道了这一点,就可以得出阵雨降自对流性中低云的结 论,从而排出了文章1.1关于何种云层可降阵雨的各种观点中(1)、 (5)、(6)的正确性。 3.2.2不稳定云层降水不一定是降眭降水 阵性降水一定降自不稳定云层,但不稳定云层降水不一定是阵 性降水。以强对流云积雨云为例,在其形成、发展和消散的各个阶 段,内部升降气流是不断变化的,不同部位的乱流程度是不一样的, 云体内部大小水滴的分布是不均匀的 。因此,即便头顶是积雨云, 即使是电闪雷鸣,但若降雨呈现的是淅淅沥沥的和缓平稳状态,也 不能以阵雨名之,否则就无法与非阵雨相区分。也因此,当积雨云从 测站的一方向另一方移动的整个过程中,所产生的降水往往并非都 是阵性的。 由此,又排出了1.1中(3)、(4)两种观点的正确性。联系上面 3.2.1的结论,则关于云层属性与阵性降水的关系可以完整地表述 为:阵雨降自对流性中低云,但从对流性中低云中下降的雨,不一定 是阵雨。 4辨识程序暨结论 (1)当观测到头顶有对流性中低云时,即可作出若产生降雨,则 有可能出现阵雨的预判;(2)当观测到突然下降或增大的,雨滴大、 下降急的降水,即可判定为阵雨;(3)当观测到该降水强度变化大而 快的下降情形时,可坚定判断的正确性;(4)当观测到该降水突然停 止或减小,持续时间短的下降情形时,可验证判断的正确性。 参考文献 [1]陈廷良.现代运输机航空气象学[M].北京:气象出版社,1992 [2]成都气象学院.气象学[M】.北京:农业出版社,1979.