红外光谱发射率测试方法的研究 (1)

远红外线发射率测试单位 -回复

远红外线发射率测试单位-回复什么是远红外线发射率测试单位？远红外线发射率是衡量材料在远红外线波段下发射能量的能力。

远红外线是波长在3-1000微米范围内的红外线辐射。

远红外线发射率测试单位用于表示材料在远红外线波段下的发射能力。

这个测试单位常常使用作为材料选择、建筑设计和能源管理的参考参数。

远红外线发射率测试单位的测量方法主要包括辐射光谱测量和表面温度测量两种。

首先，辐射光谱测量是通过光谱仪或红外辐射测量仪器来得到辐射能谱。

在测试中，将待测材料置于恒温条件下，然后使用仪器测量从材料表面发出的辐射能量。

通过将测试得到的辐射能谱与标准参考样品的能谱进行比较，就可以得到材料在远红外线波长下的发射率。

其次，表面温度测量方法是通过红外测温仪或热像仪来检测材料表面的温度分布。

在这种方法中，使用红外测温仪或热像仪可以非接触地测量材料的表面温度。

在测量中，待测材料受到远红外线辐射能量的加热，其表面温度相应地上升。

通过同时测量环境温度和材料表面温度，可以计算出材料的远红外线发射率。

远红外线发射率测试单位的意义在于提供了衡量材料对远红外线辐射的反射和吸收能力的数据。

这对于能源管理、建筑设计和材料选择都非常重要。

在能源管理方面，远红外线发射率测试单位可以用来评估建筑材料的节能性能。

高发射率的材料能够有效地吸收和发散远红外线能量，这有助于减少建筑物在夏季的热吸收，从而减少空调和制冷系统的负荷，降低能源消耗。

在建筑设计中，远红外线发射率测试单位可以帮助选择适合特定环境的材料。

例如，在炎热的气候中，选择具有较高发射率的建筑材料可以减少室内温度的上升，降低空调需求，提高室内舒适性。

在材料选择方面，远红外线发射率测试单位可以帮助选择适用于太阳能电池板、太阳能吸热器和远红外加热设备等的材料。

选择具有较高发射率的材料可以提高太阳能装置的效率，减少热损失。

总结起来，远红外线发射率测试单位是用来衡量材料在远红外线波长下的发射能力的指标。

（完整版）红外测温算法——最终版

（完整版）红外测温算法——最终版红外热像仪测温算法红外热像测温原理⿊体辐射的基本规律是红外辐射理论研究和技术应⽤的基础。

所谓⿊体，就是在任何温度下能吸收任何波长辐射的物体。

斯蒂芬⼀波尔兹曼定律指出，⿊体的辐出度，即⿊体表⾯单位⾯积上所发射的各种波长的总辐射功率与其热⼒学温度T的四次⽅成正⽐：在相同温度下，实际物体在同⼀波长范围内辐射的功率总是⼩于⿊体辐射的功率。

也就是说，实际物体的单⾊辐出度⼩于⿊体的单⾊辐出度。

我们把与的⽐值称为物体的单⾊⿊度，它表⽰实际物体的辐射接近⿊体的程度：即（1）将式（1）两端积分（2）如果物体的单⾊⿊度是不随波长变化的常数，即，则称此类物体为灰体。

结合关系式：和可得所以（3）实际物体的热辐射在红外波长范围内，可以近似地看成灰体辐射。

被定义为物体的发射率。

表明该物体的辐射本领与同温度同测量条件下的⿊体辐射本领之⽐。

式(3)正是红外测温技术的理论依据。

作⽤于热像仪的辐射照度为（4）其中，为表⾯发射率，为表⾯吸收率，为⼤⽓的光谱透射率，为⼤⽓发射率，为被测物体表⾯温度，为环境温度，为⼤⽓温度，d 为该⽬标到测量仪器之间的距离，通常⼀定条件下，为⼀个常值，为热像仪最⼩空间张⾓所对应的⽬标的可视⾯积。

热像仪通常⼯作在某⼀个很窄的波段范围内，或之间，、、通常可认为与⽆关。

得到热像仪的响应电压为（5）其中，为热像仪透镜的⾯积，令，,则（5）式变为（6）红外热成像系统的探测器可以将接收到的红外波段的热辐射能量转换为电信号，经过放⼤、整型，模数转换后成为数字信号，在显⽰器上通过图像显⽰出来。

图像中的每⼀个点的灰度值与被测物体上该点发出并到达光电转换器件的辐射能量是对应的。

但直接从红外热成像系统显⽰的图像中读出的温度是物体表⾯的辐射温度，并不是真实温度，其值等于辐射出相同能量的⿊体的真实温度。

因此在实际测温时，要先⽤⾼精度⿊体对热像仪进⾏标定，找出⿊体温度与光电转换器件输出电压(在热图像上表现为灰度)的对应关系。

颜料粉体红外发射率的测试研究

ｅｓｉｔｒｎｒｕｅｍｉｓｖｉｙｗｅｅｉｔｏｄｃｄ．ＳｏｍｅｉｌｕｎｉｇｆｃｏｓｏｆｉｆａｅｐｃｒｌｅｓｉｉｙｉｃｕｄｎｕｂｉｉｎｆｅｃｎａｔｒｎｒｄｓｅｔａｍｉｓｖｔｎｌｉｇｒｂｎｇｔｍｅｒａｉｅｅｔｍａｅｉｌｆｐｒａｉｇｉｆａｅｐｃｒｍｎｄｍｉｄｐｏｒｉｎｏｉｍｅｔＫＢｒｗｅｅａｓｎｄｄｆｒｎｔｒａｓｏｅｍｅｔｎｎｒｄｓｅｔｒｕａｘｅｒｐｏｔｏｆｐｇｎ／ｒｌｏｄｓｕｓｅ．Ｉｓｆｕｈａｈｇｎｔｉｒａｅｓｃｒｌｍｉｓｖｉｃｅｓｄｓｕｂｎｉ，ｈｇｒｉｃｓｄｔｗａｏｎｄｔｔｔｅｐｉｍｅｎｆｒｄｐｅｔａｅｓｉｔｄｅｒａｅａｒｂｉｇｔｍｅｉｈｅｙｅｓｉｉｙｏｘｄｐｇｎｓｗｉｈＫＢｒｔｎｗｉｈＫＣ１Ｔｈｐｉａｘｄｐｏｐｒｉｎｏｉｍｉｓｖｔｆｍｉｅｉｍｅｔｔｈａｔ．ｅｏｔｍｌｍｉｅｒｏｏｆｐｇｍｅｔＫＢｒｗａｔｎ／ｓ
关键词：颜料粉体；红外光谱；发射率；透红外材料中图分类号：Ｔ２４Ｎ１文献标识码：Ａ文章编号：１０．８１２０）２０１．４０１８９（０８０．１４０
ＲｅｅｒｈｏｉｍｅｔｎａｅｐｃｒｌｓａｃｎＰｇｎｆｒｄＳｅｔａＩｒＥｍｉｓｖｔｓｉｉｙ
ｍａｅｉｌｏｅｍｅｔｎｎａｅｐｅｔｕ．ｅｍｅｓｒｍｅｔｔｏｙａｄｍｅｈｆｐｇｅｔｉｆａｅｐｃｒｌｔｒａｆｐｒａｉｇｉｆｒｄｓｃｒｍＴｈａｕｅｎｈｅｒｎｔｏｄｏｉｍｎｎｒｄｓｅｔａｒｒ

光谱发射率

光谱发射率
光谱发射率（Spectral Emittance）是指物体表面受指定定性到外界环境中招散出的各波段能量，换句话说是物体表面发射的热量的能量特性。

1. 物体的表面的发射特性
光谱发射率是指物体表面所发射出的热量波段能量。

这里“热量”包括可见光、远红外、紫外等各种不同波段的能量，这些能量在室外受到指定条件来激发表面发射出的。

如果物体表面温度越高，就会发射出更多的热量，从而使光谱发射率增加。

2. 物体的散射特性
物体的发射也受到散射的影响，尤其是物体表面的表观形貌。

如果表面形貌比较平整，就会使得光更容易反射，从而使得发射的热量减少，当然也会降低物体的发射率。

3. 物体表面层对发射率的影响
物体表面会因为作用于物体表面的添加物层而影响其发射率。

一般来说，这种添加物层叫作“反射层”，它能够将表面发射的热量反射回外界环境，从而减弱物体表面发射的热量，从而降低物体的发射率。

4. 环境条件对发射率的影响
另外，环境温度对物体表面发射率也有影响。

环境温度越低，物体表面发射热量时，需要消耗更多的能量，从而使得发射热量减弱，由此可以看出，环境温度也会影响物体表面的发射率。

综上所述，光谱发射率受物体表面发射特性，散射特性，表面层以及环境条件等影响。

其中物体表面温度是主导发射率的因素，也是影响物体发射率的最大的因素，因此在研究光谱发射率时，一定要充分考虑物体表面温度的因素，以便正确得出结论。

Al5052和Al6061红外光谱发射率的对比研究

Al5052和Al6061红外光谱发射率的对比研究王文宝;张凯华;于坤【摘要】利用反射式光谱发射率测量装置在300K至873K之间对两种铝合金Al5052和Al6061的光谱发射率进行了测量,利用最小二乘法对测量数据进行了线性拟合.研究结果表明:在300K至873K之间,Al5052和Al6061的光谱发射率均随温度升高呈线性关系增大;在不同温度点,加热时间对光谱发射率的影响不相同,虽然A15052与Al6061的组分非常相近,但是两者的光谱发射率却有着较大的差异,特别是在高温段,两者的差异尤其显著.本研究将进一步丰富铝合金的光谱发射率数据,同时为工业上利用辐射测温技术准确测量铝合金表面温度提供了实验依据.【期刊名称】《兴义民族师范学院学报》【年(卷),期】2015(000)004【总页数】6页(P110-114,118)【关键词】铝合金;光谱发射率;温度;加热时间【作者】王文宝;张凯华;于坤【作者单位】兴义民族师范学院,贵州兴义 562400;河南师范大学,河南新乡453007;河南师范大学,河南新乡 453007【正文语种】中文【中图分类】O432.1铝合金是一种应用非常广泛的有色金属结构材料，在汽车、机械制造、船舶、航空和航天等行业中起着举足轻重的作用[1]。

铝合金具有密度低、强度高、防锈能力强、导电性能好等优点，被广泛应用于建筑、仪器仪表、电器外壳等领域。

此外，铝合金回收性极好，这对于节约能源、保护环境有很大的现实意义。

在铝合金的冶炼、热处理及加工等过程中，需要对其表面温度进行实时监测，而且温度的测量精确度直接决定了产品的质量和能耗的高低[2]。

接触式测温和非接触式测温[3]是目前常用的测温方式有两种，接触式测温设备结构简单，易于操作，测温精度较高，但是其动态性能较差。

非接触式测温以辐射测温技术为主，辐射测温技术能够实时测量样品的表面温度[4，5]，但是材料表面的光谱发射率对测量结果影响较大[6～9]。

光谱发射率测量技术

收稿日期：2008-10-11；修订日期：2008-12-15作者简介：戴景民(1963)，男，教授，博士生导师，研究方向为辐射测温及红外辐射测量、热物性光学特性测试、光电仪器与仪表。

Emai:djm@第38卷第4期红外与激光工程2009年8月Vol.38No.4Infrared and Laser EngineeringAug.2009光谱发射率测量技术戴景民，宋扬，王宗伟(哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院，黑龙江哈尔滨150001)摘要：论述了光谱发射率在航天、航空、国防、军事及国民经济各领域中的实际应用和重要意义。

材料光谱发射率的影响因素很多，且应用背景差异较大，各国分别建立了各具特色的发射率测量装置。

根据测量特点及应用范围，发射率测量方法分4大类：量热法、反射法、能量法和多波长法。

针对每种测量方法介绍了基本原理、装置特点、技术指标和发展现状。

简单介绍了基于红外傅里叶分析光谱仪建立的光谱发射率测量系统，进而描述了材料发射率在重要领域的具体应用情况。

分析了我国目前在发射率测量技术方面存在的问题，展望了我国发射率测量技术的发展趋势和发射率数据库方面的进一步工作。

关键词：计量学；发射率测量；综述；辐射；温度中图分类号：TB92文献标识码：A文章编号：1007-2276(2009)04-0710-06Review of spectral emissivity measurementDAI Jing 蛳min,SONG Yang,WANG Zong 蛳wei(School of Electrical Engineering and Automation,Harbin Institute of Technology,Harbin 150001,China)Abstract:The practical application and vital significance of spectral emissivity in astronautics,aeronautics,national defense and military have been discussed.Since there are many influence factors on spectral emissivity and its application,a lot of emissivity measurement apparatus in different types have been set up in many countries.According to the measurement characteristic and application scope,the emissivity measurement methods were classified as four kinds,calorimetric,reflection,energy and multi 蛳wavelength method.The basic schematic,apparatus characteristic,technique index and development status were introduced for every method.The emissivity measurement apparatus based on infrared Fourier analysis spectrometer were introduced.The specific applications in the vital fields were described.And the problems existed in our country for the emissivity measurement have been analyzed.Finally,the tendency and future work on data base of the emissivity measurement were forecasted.Key words:Metrology;Emissivity measurement;Review;Radiation;Temperature0引言各种物质表面的发射率(也称辐射率、黑度系数等)是表征物质表面辐射本领的物理量，是一项重要的热物性参数。

发射率的测量

发射率的测量综述
专业：光学工程姓名：郭亚玭学号： 15SD21113
目录
研究背景
分类及原理总结
研究背景
各种物质表面的发射率（也称辐射率、黑度系数等）是表征物质表面辐射本领的物理量，是一项重要的热物性参数。在很多领域发挥着重要的作用。例如：
（1）空间目标：卫星表皮、窗口材料、光学镜面等，主要解决空间目标的识别和热控问题；
但是由于其理论还不够完备，测量精度还不高，目前还没有一种算法可以适应所有材料。现在仪器水平为：温度范围常温~5000 ℃ 、波长数 4~35、发射率测量精度5%左右。
四、能量法
能量法的基本原理是直接测量样品的辐射功率，根据普朗克或斯蒂芬玻尔兹曼定律和发射率定义计算出样品表面发射率值。
由于目前辐射的绝对测量尚难达到较高精度，故通常采用能量比较法，即在同一温度下用同一探测器分别测量绝对黑体及样品的辐射功率，两者之比就是材料的发射率值。近年来国内外广泛采用傅里叶分析光谱仪进行测量，优点是测量的光谱范围较宽，约为2~28μm，温度范围为室温至3000 ℃。
总结
综上所述，目前发射率测量有以下4个特点： 1、多种方法并存，没有一种测量方法能取得主导地位； 2、没有国际标准建立，缺乏国际之间对比缺乏权威数据库的建立，未来会逐步建立某领域内的专业数据库，同时推进国际合作和国际比对工作； 3、实验室测量方面用傅里叶光谱分析仪来构成测试系统将成为主流和趋势； 4、在线测量采用多波长高温计将成为一个最重要的发展方向。
一、量热法
量热法基本原理是：被测样品与周围相关物体共同组成一个热交换系统，根据传热理论推导出系统有关材料发射率的传热方程，再测出样品有关点的温度值，就能确定系统的热交换状态，从而求出样品发射率。按热交换系数可分为稳态法及瞬态法两大类。（1）常用的稳态量热法是灯丝加热法，该方法测温范围宽，为-50~1000 ℃ 。但只能测全波长半球发射率，不能测量光谱或定向发射率。（2）瞬态量热法采用瞬态加热技术（如激光、电流等），使试样温度急剧升高，通过测量试样温度、加热功率等参数，再结合辅助设备测量物体的发射率。优点有：设备相对简单，测量速度快，测温上限高（4000 ℃以上），精度高，缺点是只能测导体材料。

石墨烯红外发热材料红外波长范围检测法向发射率检测

石墨烯红外发热材料红外波长范围检测法向发射率检测1. 石墨烯红外发热材料简介石墨烯是一种由碳原子构成的二维材料，具有优异的电子、热传导和力学性质。

近年来，石墨烯在红外发热材料领域受到了广泛关注。

石墨烯红外发热材料具有高效的红外辐射性能，可广泛应用于红外加热、红外传感器等领域。

为了评估石墨烯红外发热材料的性能，需要进行红外波长范围检测和法向发射率检测。

2. 红外波长范围检测红外波长范围检测是评估石墨烯红外发热材料辐射性能的重要指标之一。

红外波长范围通常分为近红外、中红外和远红外三个区域。

近红外波长范围为0.75-1.4微米，中红外波长范围为1.4-3微米，远红外波长范围为3-1000微米。

2.1 近红外波长范围检测近红外波长范围的检测可以使用光谱仪进行。

光谱仪是一种能够测量材料光谱特性的仪器，可以通过分析光的波长和强度来获取材料的光学性质。

在近红外波长范围内，可以通过光谱仪测量石墨烯红外发热材料的反射率、透射率和吸收率等参数，从而评估其辐射性能。

2.2 中红外波长范围检测中红外波长范围的检测可以使用红外光谱仪进行。

红外光谱仪是一种专门用于测量红外辐射的仪器，可以测量材料在中红外波长范围内的辐射特性。

通过红外光谱仪，可以获取石墨烯红外发热材料在中红外波长范围内的发射率、反射率和吸收率等参数。

2.3 远红外波长范围检测远红外波长范围的检测可以使用红外热像仪进行。

红外热像仪是一种能够测量物体红外辐射温度分布的仪器，可以将物体的红外辐射转换为图像，并显示出物体表面的温度分布情况。

通过红外热像仪，可以直观地观察石墨烯红外发热材料在远红外波长范围内的辐射性能。

3. 法向发射率检测法向发射率是评估石墨烯红外发热材料辐射性能的重要参数之一。

法向发射率是指物体在法向上的辐射能力，也可以理解为物体表面的辐射亮度。

法向发射率的测量可以使用辐射计进行。

3.1 辐射计的原理辐射计是一种用于测量物体辐射能力的仪器，通过测量辐射能力来评估物体的辐射性能。