什么是边界扫描(boundary scan)
边界扫描测试技术原理
2.6 TAP控制器口线功能和关系1
TCK为低时Test logic的存储单元保持不变，TCK在上升 沿 采样TMS和TDI输入值，在TCK下降沿TDO输出变化 测试指令（test instruction)和测试数据（test data ）从 TDI输入线输入到指令寄存器（ instruction register ）和 各种数据寄存器（various test data registers ）
边界扫描测试技术原理
员工培训中心 2005年11月15日
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课程目的
1、了解边界扫描器件的基本结构； 2、了解边界扫描测试技术的原理； 3、了解边界扫描描述语言BSDL的基本格式； 4、了解边界扫描测试技术的主要应用； 5、了解边界扫描JTAG接口的设计规范；
可选的Public Instructions
INTEST, RUNBIST
IC厂商可以自定义Public or Private Instructions， Public Instructions的资料必须公开。
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3.2 JTAG电路指令码
BYPASS: 全1，IC厂商可以再分配几个其它的binary code. EXTEST: 全0，IC厂商可以再分配几个其它的binary code. SAMPLE/PRELOAD, INTEST, RUNBIST, IDCODE, USERCODE: IC厂商自行分配binary code。 未分配的binary code表示BYPASS。
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2.4 控制器的16位状态机
JTAG电路的工作原理
JTAG电路的工作原理JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种简单、高效的方法来访问和控制电路中的内部信号和逻辑。
本文将详细介绍JTAG电路的工作原理。
JTAG电路由两部份组成：测试访问端（TAP）和测试访问控制器（TAC）。
TAP是位于被测试电路和测试设备之间的接口，用于传输数据和控制信号。
TAC 是测试设备中的逻辑电路，用于控制TAP并处理测试数据。
JTAG电路的工作原理如下：1. TAP控制状态机（TAP Controller State Machine）：TAP控制状态机是TAC 中的一种有限状态机，用于控制TAP的操作。
它包含四个状态：Test-Logic-Reset （TLR）、Run-Test/Idle（RTI）、Select-DR-Scan（SDR）和 Select-IR-Scan （SIR）。
在不同的状态下，TAP控制状态机会执行不同的操作。
2. 信号传输：JTAG电路通过四条信号线进行数据和控制信号的传输。
这四条信号线分别是：TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）和 TDO（Test Data Output）。
- TCK：测试时钟信号，用于同步数据传输和状态转换。
- TMS：测试模式选择信号，用于控制TAP状态机的状态转换。
- TDI：测试数据输入信号，用于向被测试电路传输测试数据。
- TDO：测试数据输出信号，用于从被测试电路读取测试结果。
3. TAP状态转换：TAP控制状态机通过TMS信号控制状态的转换。
根据TMS 信号的不同序列，TAP状态机可以从一个状态转换到另一个状态。
例如，从TLR 状态转换到RTI状态，或者从RTI状态转换到SDR状态。
4. 测试数据传输：在SDR状态下，可以通过TCK、TDI和TDO信号进行测试数据的传输。
边界扫描测试技术原理
3 测测文文
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课程目录
4 主边应尽(ICT)
4.1 TAPIT 4.2 BICT 4.3 VIT 4.4 VCCT 4.5 边边扫扫（Intest）测测 4.9 PLD如如
5 JTAG菊接下接设设设设
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TAP控制器 2.5 TAP控制器
TAP件件边口16-states接且的也也通 TAP件件边接也也器TCK接内在沿的输 TAP 件件边器内下只通输也也可只也也 Shift-IR state边边IR，TDO输输且输 Shift-DR state边边DR，TDO输输且输 其厂也也下TDO 输输内输
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使用JTAG JTAG的好处 1.2 使用JTAG的好处
缩可缩缩缩缩只器 降降测测连夹 必时缩缩应量减可提可 降降PCB连夹
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2.1 边界扫描器件的结构
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2.2 边界扫描器件的结构
Data Registers
Design-Spec. Reg. Device-ID Reg.
TDO TDI TRST* TMS TCK
BS Register
AOI、ICT、AXI测试
一、AOI测试技术AOI是近几年才兴起的一种新型测试技术，但发展较为迅速，目前很多厂家都推出了AOI测试设备。
当自动检测时，机器通过摄像头自动扫描PCB，采集图像，测试的焊点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出PCB上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整。
1、实施目标:实施AOI有以下两类主要的目标：（1）最终品质(End quality)。
对产品走下生产线时的最终状态进行监控。
当生产问题非常清楚、产品混合度高、数量和速度为关键因素的时候，优先采用这个目标。
AOI通常放置在生产线最末端。
在这个位置，设备可以产生范围广泛的过程控制信息。
（2）过程跟踪(Process tracking)。
使用检查设备来监视生产过程。
典型地包括详细的缺陷分类和元件贴放偏移信息。
当产品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供应稳定时，制造商优先采用这个目标。
这经常要求把检查设备放置到生产线上的几个位置，在线地监控具体生产状况，并为生产工艺的调整提供必要的依据。
2、放置位置虽然AOI可用于生产线上的多个位置，各个位置可检测特殊缺陷，但AOI 检查设备应放到一个可以尽早识别和改正最多缺陷的位置。
有三个检查位置是主要的：（1）锡膏印刷之后。
如果锡膏印刷过程满足要求，那么ICT发现的缺陷数量可大幅度的减少。
典型的印刷缺陷包括以下几点：A.焊盘上焊锡不足。
B.焊盘上焊锡过多。
C.焊锡对焊盘的重合不良。
D.焊盘之间的焊锡桥。
在ICT上，相对这些情况的缺陷概率直接与情况的严重性成比例。
轻微的少锡很少导致缺陷，而严重的情况，如根本无锡，几乎总是在ICT造成缺陷。
焊锡不足可能是元件丢失或焊点开路的一个原因。
尽管如此，决定哪里放置AOI需要认识到元件丢失可能是其它原因下发生的，这些原因必须放在检查计划内。
这个位置的检查最直接地支持过程跟踪和特征化。
这个阶段的定量过程控制数据包括，印刷偏移和焊锡量信息，而有关印刷焊锡的定性信息也会产生。
jtag插座标准定义
jtag插座标准定义JTAG插座标准定义：JTAG（Joint Test Action Group）插座标准是一种用于电子设备测试和编程的通信接口协议。
它提供了一种标准化的方法，使得工程师们可以通过简单的硬件和软件设置来进行测试、调试和编程操作。
JTAG插座标准主要由IEEE 1149.1标准定义，也被称为边界扫描标准。
它包括了一系列的分析技术，允许工程师们在电子设备的边界上访问内部的电路和信号。
JTAG插座标准的定义包括了如下几个重要组成部分：1. TAP控制器（Test Access Port Controller）：TAP控制器是JTAG插座中的核心部件，它负责与外部设备进行通信，并控制测试和编程操作的执行。
它包括了一个基于状态机的控制引擎，可以指导数据的进出和操作的执行。
2. TAP信号线（Test Access Port Signal Lines）：TAP信号线是连接TAP控制器与目标设备的物理接口，它包括了TCK（Test Clock）、TMS（Test Mode Select）、TDI（Test Data Input）、TDO（Test Data Output）等信号线。
这些信号线用于数据传输和控制指令的交互。
3. 边界扫描寄存器（Boundary Scan Register）：边界扫描寄存器是JTAG插座中的核心元素之一，它允许工程师们通过边界链路（Boundary Scan Chain）访问目标设备的边界上的芯片引脚。
这使得工程师们不需要直接探针访问芯片引脚，从而简化了测试和编程的过程。
4. 系统级测试：JTAG插座的标准定义还包括了一系列系统级测试功能，例如通过JTAG接口进行设备间的通信，通过测试模式选择（Test Mode Select）进行故障诊断，以及通过JTAG接口进行内部电路的数据采集和分析等。
总结而言，JTAG插座标准定义了一种通用的电子设备测试和编程接口，它提供了一套标准化的方法和指令，使得工程师们可以更加方便地进行测试、调试和编程操作。
hp3070基本故障处理
-基本故障处理当一块板在自动测试设备（ATE）上测试通不过时，ATE分析技术员的职责是：找出故障的根源，将故障记录到FMS中，将缺陷纠正。
板子产生真正的故障（有些是由于板子的原因），还有错误的故障（有些是由于测试设备或者测试程序的原因）。
真正的故障也许是由一个范围内的缺陷引起的，例如：助焊剂阻塞了测试点；焊接短路；缺焊或虚焊的元件；丢失的、错误的、反安装的、不重合的、损坏的、不工作的元件；还有的是光板生产出来有缺陷，比如损坏、遗漏、蚀刻过度或者欠蚀刻。
分析任何故障的第一步就是找出板子是在什么地方通不过，并把由测试设备产生的错误报告交给技术员。
这个错误报告将指出该板的故障的类型，如开路、短路、模拟故障、电源故障、或者是固件需要重新烧录。
在错误报告上的信息将使得下次检测板子失败的现象减少。
这一部分处理真正的故障，例如，板子本身的故障HP 基本测试计划测试计划测试计划是为了测试一条给定的生产线，由测试工程师编写的代码。
整个测试计划是由一系列由详细的命令组成的小测试组成的。
测试的命令如下：PINS 针脚：这个测试命令将测试设备上所有没有电容隔离的针脚。
这个测试将确保测试设备针脚和待测的板子之间的良好接触。
Pre-shorts 预短路：预短路测试是在正式短路测试之前进行的一个模拟测试。
这个测试将像测试开关和跳线设置一样测试电位计设置。
这个测试要先进行，因为设置、开关、跳线、电位计将影响下面的测试。
Shorts短路：这个短路测试要测试已知将要短路的节点之间的开路，以及其他所有节点之间的短路。
短路和开路测试能够快速找到制造缺陷，如丢失元器件或者锡桥。
开路测试用于测试已知要短路的节点之间的连通性。
短路测试将在两个方面进行，检测和绝缘。
检测是关于哪个节点短路的快速诊断。
绝缘使用一个对分过程来检测短路。
这将导致仅只是短路的节点一起显示成一个错误。
ANALOG模拟: 这个检测没有加电,使用来检验模拟元件,象电阻,电容等是否被正确的安放在扳子上,以及他们的值是不是在指定的误差范围内.TESTJET 感应片: 感应片通过测试在针脚和感应片盘之间的电容,来测两栖件上的针脚和板子之间的连通性.针脚都配合起来被视为一个脚.电源和地的针脚不能用这种方式来测试。
scan的用法
scan的用法【释义】scanvt.细看，审视；粗略看，浏览；扫描检查（物体或身体部位等）；（机器或计算机程序）扫描，察看；将（文件、照片等）扫描进计算机；（用声呐或雷达）扫描，扫掠；（诗）符合格律，韵节合拍；用（光束）扫描；电视扫描n.快速查阅，浏览；（医疗）扫描检查；扫描图；胎儿扫描检查复数scans第三人称单数scans现在分词scanning过去式scanned过去分词scanned【短语】1progressive scan逐行扫描;循序扫描;示逐行扫描;逐行电子扫描2boundary scan计边界扫描;边界扫描硬件测试;边界扫描技术3CT Scan电脑断层扫描;电脑扫描;电脑断层4Scan-Speak绅士宝;丹麦绅士宝;名流宝;音喇叭5index range scan索引范围扫描;查询;扫描;二．索引范围扫描6scan filling扫描填充;电子扫描填充7Auto Scan自动扫描;自动扫描系统;自动扫描功能;自动组态扫瞄8index unique scan索引唯一扫描;扫描;唯一索引扫描;索引唯一查找9Full Scan全扫描;全表扫描;全盘扫描;完整扫描【例句】1A brain scan revealed the blood clot.脑部扫描检查发现了那个血块。
2Not all ISPs are equipped to scan for viruses.并非所有的因特网服务供应商都有装备来扫描病毒。
3How do I scan a photo and attach it to an email?怎样把照片扫描并放到电子邮件的附件呢？4I just had a quick scan through your book again.我刚刚把你的书又作了一次浏览。
5A brain scan last Friday finally set his mind at rest.上周五进行的一次脑部扫描终于让他安心了。
JTAG技术原理
JTAG技术俗称边界扫描技术，是近代发展起来的高级测试技术。
随着电子技术的高速发展，电路已经进入超大规模时代，芯片的封装技术也日新月异，从最初的DIP到QFP，已经当今的BGA，电路的物理可测试性正在逐渐消失。
为了寻找更先进的测试技术，1985年，IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips、Siemens、Alcatel、Ericsson等几家公司联合成立了JETAG(Joint European Test Action Group欧洲联合测试行动小组)，并提出边界扫描技术。
通过存在于器件输入输出管脚与内核电路之间的BSC(Boundary Scan Cell)对器件及其外围电路进行测试。
1986年，一些欧洲之外的其他公司加入该组织，JETAG组织的成员已不仅仅局限在欧洲，所以该组织名称由JETAG更改为JTAG。
1990年，IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers，美国电气和电子工程师协会)正式承认JTAG标准，命名为IEEE1149.1-1990。
JTAG主要有以下几个方面应用：1).互连测试。
判断互连线路是否存在开路、短路或固定逻辑故障。
2).可编程器件的程序加载。
如FLASH、CPLD、FPGA等器件的加载。
3).电路采样。
器件正常工作时，对管脚状态进行采样观察。
JTAG测试一般使用标准的TAP(Test Access Port)连接器,如下图所示。
A).1号脚为TCK。
JTAG测试参考时钟，由JTAG主控制器提供给被测试器件，该信号需要下拉处理，下拉电阻不能小于330ohm，一般选择1Kohm。
之所以TCK 要下拉处理，是因为JTAG测试规范规定：在TCK为低电平时，被测试器件的TAP 状态机不得发生变化。
所以，默认状态下，TCK必须为低电平，使TAP状态机保持稳定。
最小驱动电流为2mA。
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什么是边界扫描(boundary scan)?
边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。
这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。
当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。
除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。
旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。
另外可能还会有IDCODE register和其它符合标准的用户特殊寄存器。
边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。
如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个：
1．TDI (测试数据输入)
2．TDO (侧试数据输出)
3．TMS (测试模式选择输入)
4．TCK (测试时钟输入)
5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的)
TMS,TCK,TRST构成了边界扫描测试端口控制器(TAP controller)，它负责测试信号指令的输入，输出，指令解码等，TAP controller是一个16位的状态机，边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。
在后续的文章中还会向大家介绍边界扫描的其它方面。
边界扫描为开发人员缩短开发周期，并且提供良好的覆盖率和诊断信息。
在不了解
IC内部逻辑的情况下快速的开发出优秀的测试程序。
在未来的测试领域，边界扫描将会得到广泛的应用。