功能测试实验报告
功能测试实验报告
功能测试实验报告
一、引言
功能测试是软件开发过程中不可或缺的一环，它旨在验证软件的各项功能是否按照需求规格书中所定义的要求进行设计和实现。
本实验旨在通过对某款软件的功能进行测试，评估其是否能够满足用户的需求，并提出改进建议。
二、实验目的
本实验的主要目的是测试该软件的各项功能是否正常运行，并评估其性能和稳定性。
具体目标包括：
1. 验证软件的基本功能是否能够正常使用；
2. 测试软件在不同操作系统和网络环境下的兼容性；
3. 评估软件的性能指标，如响应时间、并发处理能力等；
4. 发现并报告软件中的潜在缺陷，并提出改进建议。
三、实验环境
本次实验使用的测试环境如下：
1. 操作系统：Windows 10、macOS Big Sur；
2. 浏览器：Google Chrome、Mozilla Firefox、Safari；
3. 网络环境：局域网、4G移动网络。
四、测试方法
本次实验采用黑盒测试方法，即只关注软件的输入和输出，不考虑内部实现细节。
测试用例的设计基于功能需求规格书，并结合实际使用场景进行选择。
测试用例包括以下几个方面：
1. 基本功能测试：验证软件的核心功能是否正常运行，如登录、注册、数据查
询等；
2. 兼容性测试：测试软件在不同操作系统和浏览器上的兼容性；
3. 性能测试：通过模拟大量并发用户访问，评估软件的性能指标；
4. 异常处理测试：测试软件对异常情况的处理能力，如网络中断、输入错误等。
五、测试结果与分析
经过一系列的测试，我们得到了以下结果和分析：
1. 基本功能测试：软件的基本功能均能够正常运行，用户可以顺利完成登录、
注册和数据查询等操作；
2. 兼容性测试：软件在不同操作系统和浏览器上均能够正常运行，没有出现兼
容性问题；
3. 性能测试：在模拟大量并发用户访问的情况下，软件的响应时间保持在可接
受范围内，但在高并发情况下可能出现轻微的延迟；
4. 异常处理测试：软件能够正确处理异常情况，如网络中断时能够给出友好的
提示信息，并保证用户数据的安全性。
六、改进建议
根据测试结果和分析，我们提出以下改进建议：
1. 进一步优化性能：针对高并发情况下的轻微延迟问题，可以考虑通过增加服
务器资源或优化代码逻辑来提升软件的并发处理能力；
2. 增加异常情况的覆盖：在测试用例中增加更多的异常情况，如输入非法字符、超时等，以验证软件对各种异常情况的处理能力；
3. 完善用户体验：在登录、注册等核心功能中，增加友好的提示信息，引导用
户正确操作，并提高用户的使用体验。
七、结论
通过本次功能测试实验，我们验证了软件的基本功能是否正常运行，并评估了其性能和稳定性。
测试结果表明，该软件能够满足用户的需求，并具备良好的兼容性和性能指标。
同时，我们也提出了改进建议，以进一步提升软件的性能和用户体验。
八、参考文献
[1] 张三, 李四. 软件测试实践指南. 北京：人民邮电出版社，2020.
[2] 王五, 赵六. 软件测试理论与实践. 上海：上海科学技术出版社，2019.
以上为本次功能测试实验报告的内容和结论，希望能对软件的开发和改进提供有益的参考。
软件功能测试实验报告
实验名称：软件功能测试实验日期：2021年10月25日实验地点：实验室实验人员：张三、李四、王五一、实验目的1. 熟悉软件功能测试的基本概念和流程。
2. 掌握常用的功能测试方法和工具。
3. 提高软件测试技能，为今后从事软件测试工作打下基础。
二、实验内容1. 了解软件功能测试的基本概念和流程。
2. 学习并使用常用的功能测试方法和工具。
3. 完成一项软件功能测试任务。
三、实验步骤1. 熟悉软件功能测试的基本概念和流程。
（1）软件功能测试的定义：软件功能测试是指通过一系列测试用例，验证软件是否满足需求规格说明书中的功能要求。
（2）软件功能测试的流程：1）需求分析：了解软件的功能需求，明确测试目标。
2）测试计划：制定测试策略、测试用例、测试环境等。
3）测试执行：按照测试计划执行测试用例。
4）缺陷报告：记录、跟踪、管理缺陷。
5）测试总结：总结测试过程，评估测试结果。
2. 学习并使用常用的功能测试方法和工具。
（1）黑盒测试：通过输入和输出数据，验证软件的功能是否满足需求。
（2）白盒测试：通过了解软件的内部结构和代码逻辑，验证软件的功能。
（3）灰盒测试：结合黑盒测试和白盒测试的特点，验证软件的功能。
（4）常用的功能测试工具：QTP（QuickTest Professional）、Selenium、LoadRunner等。
3. 完成一项软件功能测试任务。
（1）选择测试对象：选取一款常用的办公软件，如Microsoft Office Word。
（2）编写测试计划：明确测试目标、测试范围、测试方法、测试用例等。
（3）编写测试用例：根据测试计划，编写详细的测试用例。
（4）执行测试用例：按照测试用例执行测试，记录测试结果。
（5）缺陷报告：发现缺陷后，及时编写缺陷报告，提交给开发人员。
（6）测试总结：对测试过程进行总结，评估测试结果。
四、实验结果与分析1. 实验结果本次实验选取了Microsoft Office Word作为测试对象，通过编写测试用例、执行测试用例、缺陷报告等环节，完成了软件功能测试任务。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的与要求熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。
熟悉RXS-1B数字电路实验箱。
二、方法、步骤1. 实验仪器及材料1) RXS-1B数字电路实验箱 2) 万用表 3) 器件74LS00 四2输入与非门1片 74LS86 四2输入异或门1片2. 预习要求1) 阅读数字电子技术实验指南，懂得数字电子技术实验要求和实验方法。
2) 复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
3) 熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能。
4) 学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。
3. 说明用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。
常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。
非逻辑关系：Y=A 与逻辑关系：Y=AB 或逻辑关系：Y=AB 与非逻辑关系：Y=AB 或非逻辑关系：Y=AB 与或非逻辑关系：Y=ABCD 异或逻辑关系：Y=AB三、实验过程及内容任务一：异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A⊕1B，2Y=2A⊕2B，3Y=3A⊕3B，4Y=4A⊕4B，其外引线排列图如图1.3.1所示。
它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B，3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V。
（1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。
（2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。
芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。
14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的'“+5V”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。
实验1 逻辑门电路功能测试-实验报告
实验1 逻辑门电路功能测试实验报告一、实验目的1．熟悉常用逻辑门电路的功能。
2．了解集成电路引脚排列的规律及其使用方法。
二、实验仪器与设备1．数字电路实验箱。
2．数字万用表。
3．集成电路芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00及74LS86各一片。
三、实验原理1. 三种基本逻辑运算（1）与运算与运算逻辑表达式可以写成Y = A·B、Y= A·B·C、……，与运算的逻辑关系也就是与逻辑。
与逻辑可以用图1-1所示开关电路来理解，它的状态组合见表1-1。
（2）或运算或运算逻辑表达式可以写成Y = A+B、Y = A+B+C、……，或运算的逻辑关系也就是或逻辑。
或逻辑可以用图1-3所示开关电路来理解，它的状态组合见表1-3。
同样，或逻辑开关电路的几种状态组合也可以用真值表来表示其逻辑关系。
在数字电路中，或逻辑的电路符号见图1-4所示。
（3）非运算逻辑表达式是Y=A，非运算的逻辑关系也就是非逻辑。
非逻辑开关电路只有表1-5所示两种状态组合。
同样，非逻辑的真值表和逻辑电路符号如表1-6和图1-6所示。
2. 常用复合逻辑运算几种常用的复合逻辑运算见表1-7所示。
表1-7 常用复合逻辑运算及其电路符号四、实验内容与步骤1．与逻辑功能测试图1-7所示芯片74LS08为四2输入与门。
图中管脚7为接地端，管脚14为电源端，管脚1、2为两个与输入端，它的输出端是管脚3，同样管脚4、5为输入端，管脚6为它的输出端，以此类推。
图1-7 74LS08管脚图（1）打开数字电路试验箱，选择芯片74LS08并按图1-7所示接线，将其中任一门电路的输入端接逻辑开关，它的输出端接发光二极管。
（2）按表1-8要求完成实验，每改变一次输入开关状态，观察并记录输出端的状态。
注意：芯片输入引脚悬空时，输入端为高电平。
输入状态输出状态U A U B Y0 0 00 1 01 0 01 1 10 悬空01 悬空 1悬空0 0悬空 1 1悬空悬空 1表1-8 74LS08功能测试图1-8所示芯片74LS32为四2输入或门。
最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告
最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告实验目的：1. 理解并掌握基本逻辑门电路的工作原理。
2. 学习如何使用实验设备测试逻辑门电路的功能。
3. 验证不同逻辑门电路的真值表。
实验设备：1. 数字逻辑实验板2. 逻辑门电路元件（如与门、或门、非门等）3. 示波器4. 电源5. 连接线实验步骤：1. 准备实验设备，确保所有设备正常工作。
2. 根据实验要求，设计逻辑门电路，并在实验板上搭建。
3. 连接电源，确保电压稳定且符合逻辑门电路的要求。
4. 使用示波器探头连接到逻辑门的输入和输出端，观察并记录波形。
5. 根据真值表，改变输入信号，逐一测试逻辑门的所有可能输入组合。
6. 记录每个输入组合下的输出结果，并与理论值进行对比，验证电路功能。
实验结果：1. 列出所有测试的逻辑门类型及其对应的真值表。
2. 展示每个逻辑门在不同输入下的输出波形图。
3. 对比实验结果与理论真值表，总结实验中发现的任何偏差及其可能的原因。
实验分析：1. 分析实验中观察到的波形，解释其与逻辑门功能的关系。
2. 讨论实验中出现的任何异常情况及其解决方案。
3. 探讨如何通过改进电路设计来提高逻辑门的性能。
实验结论：1. 总结实验结果，确认逻辑门电路是否符合预期的功能。
2. 评估实验过程的有效性和准确性。
3. 提出可能的改进措施，以优化未来的实验设计和执行。
注意事项：1. 在操作实验设备时，务必遵守实验室安全规则。
2. 在连接电路前，仔细检查电路设计是否正确，避免短路或错误连接。
3. 记录数据时要准确无误，以确保实验结果的可靠性。
实验一 门电路逻辑功能及测试 实验报告
实验报告实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。
二、实验仪器1、示波器；2、实验用元器件：74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析1、测试门电路逻辑功能⑴选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。
⑵将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。
①实验电路如右图所示：②实验结果：表 1.1③结果分析：74LS20是双四输入与非门，其逻辑表达式为：Y=,ABCD ___________。
设置如表1.1的输入，所得结果如表1.1所示。
通过此电路，测试了与非门电路的逻辑功能为：只有当四个全为1时，输出为0；只要有一个不为1，输出为1。
2、逻辑电路的逻辑关系⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。
⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。
图1.2的逻辑表达式：Y=（A+B ）（A+B ）图1.3的逻辑表达式：Z=AB Y= (A+B ）（A+B ）①实验电路如图所示： ②实验结果如下表所示：表 1.2 表 1.3③结果分析：经分析，上述两电路图的逻辑表达式如上所示。
按表格1.2、1.3输入信号，得到如上图所示的结果，验证了逻辑电路的逻辑关系。
3、利用与非门控制输出用一片74LS00 按图1.4 接线。
S 分别接高、低电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
①电路图如图1.4所示。
②结果如下：③结果分析：根据电路图，可得逻辑表达式为：Y=,SA ____，其功能为，当S=1时，输出与输入反向，当S=0时，输出始终为高电平。
《数字电路》门电路逻辑功能及测试实验报告
《数字电路》门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路箱及示波器使用方法。
二、实验设备74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六反相器 1片数字电子技术试验箱三、实验内容及步骤实验前按实验箱的使用说明先检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路。
按自已设计的实验接线图连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误后方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
1、测试门电路逻辑功能（1）选用双四输入与非门74LS20一只，插入实验板上的IC插座，按图4-1接线，输入端A、B、C、D分别接K1～K4（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（L1～L16任意一个）。
（2）将电平开关按表4-1置位，分别测出输出电压及逻辑状态。
表4-1与非门输出电压及逻辑状态2、异或门逻辑功能测试图4-4 异或门逻辑功能测试（1）选取二输入四异或门电路74LS86，按图4-4接线，输入端1、2、4、5接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表4-2置位，将结果填入表中表4-2 异或门输出电压及逻辑状态3、逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00，按图4-5、4-6接线，输入输出逻辑关系分别填入表4-3表4-4中；图4-5 图4-6表4-3表4-4（2）写出上面两个电路逻辑表达式。
图4-5：Y=A’B+AB’图4-6：Y=AB’+A’BZ=AB四、实验心得（1）怎样判断门电路逻辑功能是否正常？1.按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。
2.按真值表输入电平，查看输出是否符合真值表。
所有真值表输入状态时，输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。
（2）与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？其余输入端为高电平“1”时，允许脉冲通过，而有一个输入端为低电平“0”时，将“与非”门封锁，不允许脉冲通过。
汽车功能探索实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的本实验旨在通过一系列的汽车功能测试，深入了解汽车的基本性能和功能，包括但不限于加速性能、制动性能、操控性能、悬挂性能、动力系统性能等。
通过实际操作和数据分析，提升学生对汽车工程原理的理解，并掌握汽车性能测试的基本方法和技巧。
二、实验内容1. 加速性能测试- 实验目的：测定汽车的加速时间、加速距离，分析汽车的动力输出特性。
- 实验方法：使用电子测速仪和计时器，在直线道路上进行原地起步加速和直接档加速测试，记录V-t曲线和V-S曲线。
- 实验数据：加速时间、加速距离、最高速度等。
2. 制动性能测试- 实验目的：测定汽车的制动距离、制动减速度，评估汽车的制动性能。
- 实验方法：在直线道路上进行制动测试，使用惯性测量系统和速度传感器记录制动过程中的数据。
- 实验数据：制动距离、制动减速度、制动协调时间等。
3. 操控性能测试- 实验目的：测试汽车的转向性能、稳定性等，评估汽车的操控性能。
- 实验方法：在弯道上进行高速行驶测试，记录汽车的转向半径、侧倾角度等。
- 实验数据：转向半径、侧倾角度、最大侧向加速度等。
4. 悬挂性能测试- 实验目的：评估汽车的悬挂系统性能，包括减震性能和操控稳定性。
- 实验方法：在颠簸路面上行驶，记录车身振动频率和减震效果。
- 实验数据：车身振动频率、悬挂系统刚度等。
5. 动力系统性能测试- 实验目的：测试发动机的动力输出、燃油消耗等，评估动力系统的性能。
- 实验方法：在特定道路上进行动力输出测试，记录发动机转速、扭矩、燃油消耗量等。
- 实验数据：发动机转速、扭矩、燃油消耗量等。
三、实验器材- 电子测速仪- 计时器- 惯性测量系统- 速度传感器- 四柱举升机- 车载开发实验软件- 发动机转速表- 扭矩表- 燃油消耗计- 直线道路- 弯道- 颠簸路面四、实验步骤1. 加速性能测试- 将汽车停放在直线道路上，调整到起步位置。
- 使用电子测速仪和计时器，记录原地起步加速和直接档加速的时间、距离和最高速度。
ttl逻辑门功能与参数测试实验报告
ttl逻辑门功能与参数测试实验报告TTL逻辑门功能与参数测试实验报告引言：逻辑门是数字电路中的基本组成单元，其功能是根据输入信号的逻辑关系产生输出信号。
TTL（Transistor-Transistor Logic）逻辑门是一种常见的数字逻辑门，其采用晶体管作为开关元件，具有高速、低功耗等优点。
本实验旨在研究TTL逻辑门的功能和参数，并进行相应的测试。
一、实验目的本实验的目的是通过测试TTL逻辑门的功能和参数，深入了解其工作原理和性能特点。
二、实验器材和原理1. 实验器材：- TTL逻辑门芯片（如74LS00、74LS02等）- 示波器- 电源- 连接线等2. 实验原理：TTL逻辑门是由晶体管、二极管和电阻等元件组成的。
其工作原理是根据输入信号的逻辑关系，控制晶体管的导通和截止，从而产生输出信号。
三、实验步骤1. 连接电路：将TTL逻辑门芯片与电源、示波器等设备连接起来，确保电路连接正确、稳定。
2. 功能测试：依次测试TTL逻辑门的各个输入端和输出端。
通过输入不同的逻辑电平（如高电平、低电平），观察输出端的变化情况。
记录下每个逻辑门的真值表，分析其逻辑功能是否正确。
3. 参数测试：测试TTL逻辑门的各项参数，包括功耗、传输延迟等。
通过测量电路的功耗和延迟时间，分析逻辑门的性能特点。
四、实验结果与分析1. 功能测试结果：根据测试数据，可以得到每个TTL逻辑门的真值表。
通过比对真值表和理论值，可以判断逻辑门的功能是否正确。
若功能正确，则说明TTL逻辑门芯片工作正常。
2. 参数测试结果：测量得到的功耗和传输延迟等参数可以用于评估TTL逻辑门的性能。
功耗越低，说明逻辑门的能耗越少；传输延迟越短，说明逻辑门的响应速度越快。
根据测试结果，可以对TTL逻辑门的性能进行评估和比较。
五、实验总结通过本次实验，我们深入了解了TTL逻辑门的功能和参数。
通过功能测试，我们验证了逻辑门的正确性；通过参数测试，我们评估了逻辑门的性能。
门电路逻辑功能及测试实验报告总结
门电路逻辑功能及测试实验报告总结门电路是数字电子电路的基本组成部分，用于实现逻辑功能。
通过逻辑门的组合和连接可以实现不同的逻辑功能，并完成各种数字电路的设计。
本文将对门电路的逻辑功能及测试实验进行总结。
门电路是数字电路中最基本的元件，它接收一个或多个输入信号，并根据特定的逻辑规则产生一个输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、异或门等。
这些门电路可以根据输入信号的真值表，通过逻辑运算实现不同的逻辑功能。
以与门为例，它有两个输入A和B，当A和B同时为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。
与门的逻辑功能可以用以下真值表表示：A |B | 输出--|---|----0 | 0 | 00 | 1 | 01 | 0 | 01 | 1 | 1通过逻辑运算可以得到与门的逻辑表达式为：输出= A * B。
其中* 表示逻辑乘法运算。
为了验证门电路的逻辑功能，需要进行测试实验。
测试实验的目的是通过给定的输入信号，观察输出信号是否符合门电路的逻辑规则。
例如，对于与门，可以通过给定不同的输入信号组合，观察输出是否与真值表中的结果一致。
在测试实验中，可以使用开关或信号发生器来提供输入信号。
通过将输入信号连接到门电路的输入端，然后将输出端连接到示波器或数字电压表，可以观察输出信号的变化。
根据输入信号的变化和输出信号的结果，可以判断门电路的逻辑功能是否正确。
除了测试实验，还可以使用电路仿真软件进行门电路的逻辑功能验证。
电路仿真软件可以模拟门电路的运行过程，并给出相应的输出结果。
通过比较仿真结果和门电路的真值表，可以验证门电路的逻辑功能是否正确。
总结来说，门电路是数字电子电路的基本组成部分，用于实现不同的逻辑功能。
通过逻辑运算可以得到门电路的逻辑表达式，通过测试实验或电路仿真可以验证门电路的逻辑功能是否正确。
门电路的逻辑功能及测试实验对于数字电路的设计和实现具有重要意义，能够确保数字电路的正确运行。
实验一门电路逻辑功能及测试实验报告
实验报告实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法。
二、实验仪器1、示波器；2、实验用元器件：74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片三、实验内容及结果分析1、测试门电路逻辑功能⑴选用双四输入与非门74LS20 一只，插入面包板（注意集成电路应摆正放平），按图1.1接线，输入端接S1～S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口)，输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1～D8 中的任意一个。
⑵将逻辑电平开关按表1.1 状态转换，测出输出逻辑状态值及电压值填表。
①实验电路如右图所示：②实验结果：表 1.1③结果分析：74LS20是双四输入与非门，其逻辑表达式为：Y=A B C D ___________。
设置如表1.1的输入，所得结果如表1.1所示。
通过此电路，测试了与非门电路的逻辑功能为：只有当四个全为1时，输出为0；只要有一个不为1，输出为1。
2、逻辑电路的逻辑关系⑴ 用 74LS00 双输入四与非门电路，按图1.2、图1.3 接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.2，表1.3 中。
⑵ 写出两个电路的逻辑表达式。
图1.2的逻辑表达式：Y=（A+B ）（A+B ）图1.3的逻辑表达式：Z=AB Y= (A+B ）（A+B ）①实验电路如图所示： ②实验结果如下表所示：表 1.2表 1.3③结果分析：经分析，上述两电路图的逻辑表达式如上所示。
按表格1.2、1.3输入信号，得到如上图所示的结果，验证了逻辑电路的逻辑关系。
3、利用与非门控制输出用一片74LS00 按图1.4 接线。
S 分别接高、低电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
①电路图如图1.4所示。
②结果如下： ③结果分析：根据电路图，可得逻辑表达式为：Y=SA ____，其功能为，当S=1时，输出与输入反向，当S=0时，输出始终为高电平。