205所--红外热像仪测试系统校准
光电成像原理及技术--课后题答案(北理工)

第一章5.光学成像系统与光电成像系统的成像过程各有什么特点?在光电成像系统性能评价方面通常从哪几方面考虑?答:a、两者都有光学元件并且其目的都是成像。
而区别是光电成像系统中多了光电装换器。
b、灵敏度的限制,夜间无照明时人的视觉能力很差;分辨力的限制,没有足够的视角和对比度就难以辨认;时间上的限制,变化过去的影像无法存留在视觉上;空间上的限制,隔开的空间人眼将无法观察;光谱上的限制,人眼只对电磁波谱中很窄的可见光区感兴趣。
6.反映光电成像系统光电转换能力的参数有哪些?表达形式有哪些?答:转换系数:输入物理量与输出物理量之间的依从关系。
在直视型光电成像器件用于增强可见光图像时,被定义为电镀增益G1,光电灵敏度:或者:8.怎样评价光电成像系统的光学性能?有哪些方法和描述方式?答,利用分辨力和光学传递函数来描述。
分辨力是以人眼作为接收器所判定的极限分辨力。
通常用光电成像系统在一定距离内能够分辨的等宽黑白条纹来表示。
光学传递函数:输出图像频谱与输入图像频谱之比的函数。
对于具有线性及时间、空间不变性成像条件的光电成像过程,完全可以用光学传递函数来定量描述其成像特性。
第二章6.影响光电成像系统分辨景物细节的主要因素有哪些?答:景物细节的辐射亮度(或单位面积的辐射强度);景物细节对光电成像系统接受孔径的张角;景物细节与背景之间的辐射对比度。
第三章13.根据物体的辐射发射率可见物体分为哪几种类型?答:根据辐射发射率的不同一般将辐射体分为三类:黑体,=1;灰体,<1,与波长无关;选择体,<1且随波长和温度而变化。
14.试简述黑体辐射的几个定律,并讨论其物理意义。
答:普朗克公式:普朗克公式描述了黑体辐射的光谱分布规律,是黑体理论的基础。
斯蒂芬-波尔滋蔓公式:表明黑体在单位面积上单位时间内辐射的总能量与黑体温度T的四次方成正比。
维恩位移定律:他表示当黑体的温度升高时,其光谱辐射的峰值波长向短波方向移动。
最大辐射定律:一定温度下,黑体最大辐射出射度与温度的五次方成正比。
无损检测新技术

无损检测新技术无损检测是指在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织的前提下,利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化,以物理或化学方法为手段,借助现代化的技术和设备器材,对试件内部及表面的结构、性质、状态及缺陷的类型、性质、数量、形状、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法[1] 。
无损检测是工业发展必不可少的有效工具,在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平,无损检测的重要性已得到公认,主要有射线检验(RT)、超声检测(UT)、磁粉检测(MT)和液体渗透检测(PT)四种。
其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。
一、磁记忆检测金属磁记忆检测技术是一种利用金属磁记忆效应来检测部件应力集中部位的快速无损检测方法。
克服了传统无损检测的缺点,能够对铁磁性金属构件内部的应力集中区,即微观缺陷和早期失效和损伤等进行诊断,防止突发性的疲劳损伤,是无损检测领域的一种新的检测手段。
金属磁记忆方法自诞生以来,对其机理的解释就成为国内外学术界关注的焦点。
国外专家俄罗斯 Doubov教授最早提出:磁记忆现象的出现是由于工件载荷作用下在铁磁材料内部形成位错稳定滑移带,高密度的位错积聚部位形成磁畴边界(位错壁垒),产生自有漏磁场。
在机理研究方面。
如从电磁学角度出发的电磁感应说,即铁磁性材料垂直于地磁场作用方向的横截面积,在定向应力作用下会发生应变,因而通过此横截面的磁通量会发生变化。
由电磁感应定律知,该截面上必然产生感应电流,并激励出感应磁场使工件磁化。
又如基于铁磁学基本理论的能量平衡说,即磁记忆效应产生的内在原因是金属组织结构的不均匀性,材料内部不均匀处会出现位错,在地磁场环境中施加应力,则会出现滑移运动…,其结果会引起位错的增殖,产生很高的应力能。
光伏热斑测试

光伏热斑测试
光伏热斑测试是一种用于检测光伏组件的热斑热失效问题的方法。
光伏组件在运行时,可能会由于电池片、焊接等问题导致局部热点,称为热斑。
热斑会影响组件的性能、寿命和安全性。
进行光伏热斑测试可以帮助检测出热斑问题,及早采取措施来修复或替换有问题的组件。
下面是一些常用的光伏热斑测试方法和技术:
1.热成像检测:使用红外热成像仪对光伏组件进行拍摄,通过
红外热图来观察组件表面的温度分布情况。
热斑会表现为高温区域,可以通过热成像图来检测和定位。
2.IV曲线测试:使用光伏电池测试仪测量光伏组件的电流-电
压(IV)曲线。
热斑通常会使曲线产生异常,如降低电流输出或形状畸变等。
3.正常工作温度测试:将光伏组件置于实际工作环境中,并监
测其表面温度。
热斑会使组件的温度升高,超过正常工作温度。
4.电视分析:使用红外热像仪和可见光摄像头相结合,实时观
察光伏组件表面的温度分布及热斑情况。
5.高效测试系统:使用自动化的光伏热斑测试系统,可以快速、
准确地检测多个光伏组件的热斑问题,提高检测效率。
进行光伏热斑测试可以帮助提前发现热斑问题,及时采取措施进行维修或更换,以保证光伏组件的性能和寿命,并确保系统
的安全运行。
红外技术的发展现状与发展趋势

红外技术的发展现状与发展趋势第一部分红外技术的发展及主要应用领域红外技术的发展1800年,英国天文学家F.W.赫歇耳利用水银温度计来研究太阳光的能量分布发现了红外辐射,从那时起,人们就致力于研究各种红外探测器以便更好地研究和探测红外辐射。
在红外探测器发展中,以下事件具有重要意义:上世纪70年代,热成像系统和电荷耦合器件被成功地应用。
上世纪末以焦面阵列(FPA)为代表的红外器件被成功地应用。
红外技术的核心是红外探测器。
红外探测器单元红外探测器:如InSb(锑化铟)、HgCdTe(碲镉汞)、非本征硅,以及热电等探测器。
线列:以60元、120元、180 元和256元等,可以拼接到1024元甚至更多元。
4N系列扫描型焦平面阵列:如211所的研制生产的4x288。
凝视型焦平面阵列(IRFPA) :致冷型256x256、320x240、384x288,更大规模的如640x512,1024×1024和1280×720元阵列也已有了;非致冷型160×120、320x240已广泛应用于各个行业中,384x288、640x480也已开始应用。
红外探测器按其特点可分为四代:第一代(1970s-80s):主要是以单元、多元器件进行光机串/并扫描成像;第二代(1990s-2000s):是以4x288为代表的扫描型焦平面;第三代:凝视型焦平面;第四代:目前正在发展的以大面阵、高分辨率、多波段、智能灵巧型为主要特点的系统芯片,具有高性能数字信号处理功能,甚至具备单片多波段探测与识别能力。
目前非制冷焦平面探测器的主流技术为热敏电阻式微辐射热计,根据使用的热敏电阻材料的不同可以分为氧化钒探测器和非晶硅探测器两种。
非制冷焦平面阵列探测器的发展,其性能可以满足部分的军事用途和几乎所有的民用领域,真正实现了小型化、低价格和高可靠性,成为红外探测成像领域中极具前途和市场潜力的发展方向。
氧化钒技术由美国的Honeywell公司在九十年代初研发成功,目前其专利授权BAE、L-3/IR、FLIR-INDIGO、DRS、以及日本NEC、以色列SCD等几家公司生产。
计量器具允许误差

序号量具名称规格/型号制造商校准依据允许误差1压力表0-1.0MPa SMCJJG52-2013 2.5级测量上限的90%-100% 允许误差降低一级。
(有 1.0、1.6、2.5、4.0等级)23压力表0-1.6MPa青岛工业仪表研究所JJG52-2013 2.5级测量上限的90%-100% 允许误差降低一级。
(有 1.0、1.6、2.5、4.0等级)24数显绝缘电阻表MS5201MASTECHJJG1005-2005JJG315-1983JJG(航天)35-1999JJG724-1991绝缘电阻:200M Ω/250V ±3%、200M Ω/500V ±3%、0-1000M Ω/1000V ±3%、1000-2000M Ω/1000V ±5%直流电压:1000V ±0.8%交流电压:700V ±1.2%电阻:200Ω±1.2%25绝缘电阻测试仪CS2676CX 南京长盛仪器JJG1005-2005输出电压(DC )精度:±(2%+3‰FS )电阻精度:300V-1000V:R <1000M Ω ±2% R <10G Ω ±3% R <100G Ω ±5%100V-300V:R <1000M Ω ±3% R <10G Ω ±5% R <100G Ω ±7%30.0V-99.9V:R <1000M Ω ±3% R <10G Ω ±5% R <100G Ω ±7%1.0V-9.99V:R <100M Ω ±5% R <1G Ω ±7%26数字万用表MS8261MASTECH JJF1587-2016直流电压:量程200mV-200V ±(0.5%读数+1字)量程1000V ±(0.8%读数+2字)交流电压:量程2V-200V ±(0.8%读数+3字)量程750V ±(1.2%读数+3字)电阻:量程200Ω ±(0.8%+3字)量程2k Ω-2M Ω ±(0.8%+1字)量程20M Ω ±(1.0%读数+2字)量程200M Ω ±(5.0%读数+10字)直流电流:量程2mA ±(0.8读数+1字)量程20mA-200mA ±(1.5%读数+1字)量程10A ±(2.0%读数+5字)交流电流:量程2mA ±(1.0读数+3字)量程200mA ±(1.8%读数+3字)量程10A ±(3.0%读数+7字)计量器具允许误差序号量具名称规格/型号制造商校准依据允许误差计量器具允许误差27数字万用表87V FLUKE JJG315-1983JJG598-89JJG(航天)34-1999JJG(航天)35-1999JJG724-1991直流电压:±(0.05%+1)交流电压:±(0.7%+2)直流电流:±(0.2%+2)交流电流:±(1.0%+2)电阻:±(0.2%+1)29干湿球温度计-10-50℃上海华辰JJG205-2005温度示值误差不超过± 2.0℃湿度允许误差:±5%RH(40%RH-70RH 20℃)±7%RH(40%RH以下或70RH以上 20℃)30温湿度表TH-101B美德时JJG205-2005温度示值误差不超过± 2.0℃湿度允许误差:±5%RH(40%RH-70RH 20℃)±7%RH(40%RH以下或70RH以上 20℃)31数显温度指示调节仪E5CN欧姆龙JJG617-1996±2.0℃42扭矩扳手 4.5-30N·mENDURA JJG707-2014示值误差:±3% 44扭矩扳手5-25N·mSATA JJG707-2014示值误差:±3%45红外测温仪ST25Raytek JJG856-2015证书:100℃±3℃200℃±3℃300℃±6℃400℃±8℃500℃±10℃无锡市计量测试院说明书-18-23℃±2℃23-510℃读数的±1%或±1℃46针式数字测温仪TP101JJG874-2007±1℃76密度计1.200~1.300g/cm3JJG42-2011浮计示值的最大允许误差,除分度值为0.5kg/m3的石油密度计为±0.6个分度值外,其他均不能大于±1个分度值79电子天平ARRV70上海奥豪斯JJG1036-2008准确度等级:II级,最大称量:410/100g,检定分度值:0.1/0.01g最大允许误差 I级 II级 III级 IIII级±0.5e 0≤m≤5*104 0≤m≤5*103 0≤m≤5*102 0≤m≤50±1.0e 5*104<m≤2*105 5*103<m≤2*104 5*102<m≤2*103 50<m≤2*102±1.5e 2*105<m 2*104<m≤1*105 2*103<m≤1*104 2*102<m≤1*103序号量具名称规格/型号制造商校准依据允许误差计量器具允许误差80架盘天平HC-TP11-20上海精科天平JJG156-2016JJG99-2006最大称量:2000g,分度值:2g最大允许误差:载荷m(以检定分度值e表示)最大允许误差0≤m≤500 ±0.5e500<m≤2000 ±1.0e注:天平使用中检查的最大允许误差应是首次检定时最大允许误差的2倍。
航空发动机红外辐射特性测试评估技术

航空发动机红外辐射特性测试方法包括空空编 队测试和地面测试两种。空空测试目前采用载机安 装红外测量吊舱,将目标飞机、发动机作为一个整体 进行红外辐射特性测试;地面测试包括飞机发动机 地面开车、移动试车台和露天试车台三种方式。
Abstract:Theinfraredradiationcharacteristictestingresearchofaeroengineisthesignificantbasisforinfrared stealthdesignandimprovementofplaneandaeroengineAccordingtotherequirementofinfraredradiationcharac teristictesting,theprojectontheareoenginetestbedwasproposedfromfouraspectssuchasplatform,testingsystem, testingmethodanderrorcontrolTheinfraredradiationcharacteristictestingofaeroenginewascarriedoutandthea vailabledatawereacquiredasthisprojectThroughdataprocessingandevaluating,theresultsshowsthataeroengine infraredradiationcharacteristicisdirectional Keywords:aeroengine;infraredstealth;infraredradiationcharacteristictesting;areoenginetestbed;evaluating
光电隐身效果评估技术系列讲座第三讲_红外隐身性能测试与计量

IV
DA
(
T
4 1
-
T
4 2
)
( 3)
3) 辐 射 热平 衡 方 法测 量 材 料发 射 率 注 意
事项
( a) 辐射热平衡法测量材料样品发射率的误
差主要取决于样品与真空室内壁的相对温度及其
测量误差。
( b) 如果材料样品是导电材 料, 则把 样品直
接做成上述横截面均匀的长窄 带状, 直接 导电加
热; 如果被测样品是电介质材料, 则可将薄片状样
图 4 红外隐身效果外场观测装置原理图
把隐身目标设置在一定观 测距离, 用 红外成 像系统观测, 把同一距离、同一气象条件下的图像 信息相比较, 就得到涂覆隐身材料前后的差异, 也 即得到隐身效果。
在指标 测试方面, 主要是从红 外成像系统的 探测能力出发, 根据目 标的特性和红外辐 射在大 气中传输的特点, 找出实现目标红外隐身的条件。 假设目标与背景的黑体等效温差为 vT os, 目标斑 块间的黑体等效温差为 vT o, 当 v T os 增大时, 目 标与背景间的对比度增大, 当 v T o 增大时, 目标各 部分间的对比度增大。试验中测定在不同距离时 vT os 与 v T o 的变化阈值, vT os 与 vT o 在多大 范围内变化时, 目标不被红外成像系统所探测到。
半球积分发射率。
1 红外发射率测试
1. 1 半球积分发射率的测量 当我们 研究辐射热传递和热损耗时, 最关心
的是材料表面的半球发射率, 对材料半球 积分发 射率的测量分两种: 辐射测量方法, 如通过测量材 料的反射率从而求得发射率; 量热法, 具体又分为 辐射热平衡方法和温度衰减方法。其中辐射热平
衡法被广泛采用, 并且测量准确。 1. 1. 1 辐射热平衡法测量材料半球积分发射率
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红外热像仪测试系统校准
胡铁力 " -韩
摘
军$ - 郑克哲 " - 薛战理 " - 李旭东 "
西安应用光学研究所 西安 / 西安工业大学 光电学院 西安 / ’ " . " # # ( , 0$ . " # # " " )
要 ! 针对如何建立红外热像仪测试系统的校准和量值溯源这一困扰当今红外计量领域的技
术难题 通过精密测温扫描辐射计测量红外热 像仪 测 试系 统的差分 温度传 输比 实现红 外热 像仪 测试系统校准方案及量值溯源 1 从差分温度和差分温度传输比出发 分析了黑体和高发射率靶标 产生的差分温度传输比模型 介绍了 $个面源黑体产生的差分温度传输比模型的复杂性 1 指出红 外热像仪测试系统温差传输比对红外热像仪信号传递函数 2 最小可分辨温差及最小可探测温差等 验证了采用精密测温扫描辐射计测量差分温度传输比实现红外热像仪测试系统 参数测量的影响 校准的科学性 1 关键词 ! 红外热像仪 0 差分温度 0 传输比 0 面源黑体 0 信号传递函数
中图分类号 ! " ( 3 4$ 文献标志码 ! 5
6 7 8 9 : ; 7 < 9 = >? 7 @ 9 8 9 < A= ? 9 > ? ; 7 ; B C9 D7 E 9 > EF A F < B DF
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引言
随着光电子技术的迅猛发展 红外热像仪已经 在 陆海空各军兵 种 的 武 器 系 统 和 民 用 领 域 得 到 了 广泛的应用 1 在$ 我国国 #世纪末期和 $ "世纪初期 -
防军 事工 业先后 建 立 起 了 多 种 类 型 的 红 外 热 像 仪 测试系统 开展了许多红外热像仪测量工作 1 但到 目前为止 大量红外热像仪测试系统本身的差分温 度传输比 ’ 即仪器常数 ) 一直缺乏准确的校准 以及
, 传输比
在红外热像仪测试中 ! 被测试红外热像仪的输 入 信号是指红外 热 像 仪 测 试 系 统 在 其 光 学 准 直 系 统的 出 射口向被 测 试 红 外 热 像 仪 提 供 的 辐 射 温 差 又称差分辐射温度 . 被测试红外热像仪的输出信 " 号往往是视频差分电压 ! 通过对被测试红外热像仪 输出信号和输入信号的运算 ! 可得到被测试红外热 像仪的许多性能参数 " 但在具体测试计算红外热像 仪技术性能参数时 ! 测试人员首先应该理解 $个温 差即差分温度 . 第 ,个温差是红外热像仪测试系 / 它是面源 统中面源黑体温度测控仪器的显示温差 ! 黑 体和红外靶标 向 红 外 热 像 仪 测 试 系 统 提 供 的 输 入温差 0 第 $个温差是红外热像仪测试系统的输出 温差 ! 即红外热像仪测试系统在其光学准直系统的 出射口向被测试红外热像仪提供的实际辐射温差 " 将红 外 热像仪测 试 系 统 的 仪 表 显 示 温 差 乘 以 红 外 热像仪测试系统的传输比 ! 就可以得到红外热像仪 测 试系统在其光 学 准 直 系 统 出 射 口 向 被 测 试 红 外 热像仪提供的辐射温差 " 通过推导被测试红外热像 仪 得到的输入差 分 辐 射 温 度 与 其 输 出 视 频 电 压 信 号间的信号传递函数 ! 便可分析测试系统的差分温 度传输比与哪些因素有关 " , 1 , 双黑体测试系统温差传输比 红外热像仪双黑体测试系统如图 ,所示 "$个 面 源 黑体产生的 差 分 温 度 应 该 等 于 目 标 黑 体 仪 表 显示温度与背景黑体仪表显示温度之差 ! 被测试红 外 热像仪的输入 量 指 准 直 光 管 出 射 口 处 的 差 分 辐 射温 度 ! 产生的输出信号为差分视频电压 2 344’!
应用光学
特刊 . $ i i j ! $ k -
胡铁力 ! 等/ 红外热像仪测试系统校准
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测量量值无法进行准确的量值溯源 ! 从而制约着我 国红外热像仪技术的进一步发展 " 针对目前存在的 校 准 方 法# 测量量 红 外热像 仪 测 量 系 统 仪 器 常 数 # 值溯源方面的问题 ! 本文分析了经典的由一个面源 黑 体和高发射率 靶 标 组 成 的 温 差 辐 射 源 的 差 分 温 以及 $个面源黑体和反射式靶标组 度传输比模型 ! 成的温差辐射源的差分温度传输比模型的复杂性 ! 给出 差 分温度传 输 比 对 红 外 热 像 仪 的 信 号 传 递 函 数% 最小可分辨温差 )* 最小可探测温差 # # & ’ ( ’ + )+ ’ + 等参数的影响程度及红外热像仪测 量 系统 校准方法 ! 提出了将红外热像仪测量量值溯源到常 温凝固点黑体的技术路线 "
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其表达式为 2 3 44’ 5 6 7 8 9 $ : ; 44’ > = . ? @B = ! A .C <
A A = , = $
D = . @ = ! B F A G = .H A EEB E. 44’A G = . L = ’ I J K , . 式中 /6 为被测试红外热像仪的 电子增 益 08 9为 被 测 试 红 外 热 像 仪 中 单 元 探 测 器 的 光 敏 面 面 积0 ; 44’为被测试红外热像仪的 ; 数 0 = ,和 = $ 分别 为 被 测试红 外热像 仪光谱 响应 带宽的 上下限 0>. = 为 被测 试红外热像 仪探 测器 光 谱 响 应 度 0 @ A 为目 标黑 体的 有效发 射比 0 @ E 为背景黑体的有效发射 比 0D 为反射式靶标的光谱反射比 0B . ! = = A A EA. 为 目 标 黑 体 的 光 谱 辐 射 亮 度0B 为背景黑 ! = A E. 体 的 光 谱 辐 射 亮 度 0A 为被测试红外热像 . G = 44’仪的光谱传输 比 0A 为 测 试 系 统 中 主 镜# 次 . G = ’ I J K 镜及大气的光谱传输比 "
第$ /卷 特刊 $ # # (年 " "月 文章编号 ! " # # $ % $ # & $ ’ $ # # ( ) # # $ & % # , * +%