行业考试射线检测计算公式

1.最短波长公式：eV=ℎv min=ℎc
λmin |
λmin=12.4
V
2.连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:λIM=1.5λmin
3.连续谱射线的总强度:I=K i ZiV2(K i≈1.1~1.4×10−6)
4.连续谱X射线的转换效率:η=K i ZV
5.放射性原子核的衰变公式:N=N0e−λt
6.半衰期公式： (重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间:T1
2⁄=0.693
λ
; N
N0
=(1
2
)
T/T1/2
; N=N0
2T/T1/2
7：单色窄束射线的衰减规律:I=I0e−μT; μ=ln I0 I
T
;
8.线衰减系数:μ=KρZ3λ3
9.半值层：T1/2=ln2
μ=0.693
μ
;
10.半值层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度(重要公式):I
I0=(1
2
)n; n=T
T1/2
; I
I0
=(1
2
)
T
T1/2;
11.影响半值层T1/2的因素: T1/2=ln2
μ=0.693
KρZ3λ3
12.宽束多色射线的强度衰减规律: I=I0(1+n)e−μT
13.主因对比度公式：ΔI
I =μΔT
1+n
; ΔT=
I
缺陷
I
无缺陷
−1
μ
；I=Is+Ip(1+n);散射比:n=Is/Ip
14.胶片对比度公式:G=tgα=D1
IgE1−IgE1′
;
15.射线照相对比度公式:ΔD=−0.434GμΔT
(1+n)
16.黑度 D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比的常用对数值: D=lg L0
L ; L=L0
10D
;
17.射线照相集合不清晰度:U g=df L2
L1=df L2
F−L2
18.X射线曝光量:E=it;γ射线曝光量:E=At
19.平方反比定律:从一点源发出的辐射,强度I与距离F的平方成反比:I1
I2=(F2
F1
)2
20.X 射线照相的曝光因子:Ψ=i∙t
F2=i1t1
F12
=⋯=i n t n
F n2
; γ射线照相的曝光因子: Ψ=A t
F2
=A1t1
F12
=⋯=A n t n
F n2
19.K值与横向裂纹检出θ角的关系:K=1/Cosθ；θ=cos−1(1/K)
20.一次透照长度L3:L3=2L1tanθ;
21.直缝单壁单影:底片的有效评定长度:L eff=L3+ΔL
纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为: I eff=ΔL+L3′+ΔL
22.环缝单壁外照法:N=360°
2α=180°
α
;α=θ−η;
θ=cos−1[1+(K2−1)T/D0
K ];η=sin−1(D0
D0+2L1
sinθ);
K=1.1; θ=cos−1(0.21T+D0
1.1D0
);
当D0≥T时, θ≈cos−1K−1; K=1.1; θ=24.62
L3=πD0
N ;L3′=πD i
N
;ΔL≈2T∙tanθ;
L eff=
ΔL
2
+L3+
ΔL
2
α与AB/2对应的圆心角;θ最大失真角或横裂检出角;η有效半辐射角; Ｋ透照厚度比;Ｔ工件厚度; D0容器外直径;D i容器内直径
23.环缝单壁内照法
1) F<R的偏心法: N=180°
α; α=θ−η; θ=cos−1[1+(K2−1)T/D0
K
]; η=sin−1(D0
D0−2L1
sinθ);
当D0≫T时, θ≈cos−1K−1; L3=πD i
N ; L3′=πD0
N
;L3=πD0
N
;L3′=πD i
N
;ΔL≈2T∙tanθ;L eff=L3′+ΔL
2) F>R的偏心法透检: N=180°
α; α=θ−η;θ=cos−1[1+(K2−1)T/D i
K
]; η=sin−1(D0
2L1−D i
sinθ);
当D0≫T时, θ≈cos−1K−1; L3=πD0
N ; L3′=πD i
N
; L eff=L3′;
24 双壁单影法100%透检环缝时的最少曝光次数N;一次透照长度L3
N=180°
α; α=θ−η; θ=cos−1[1+(K2−1)T/D0
K
]; η=sin−1(D0
2F−D0
sinθ);
当D0≫T时, θ≈cos−1K−1; L3=πD0
N
; L eff=L3;
25.利用曝光曲线求非钢材的曝光量γ射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下,
达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度T0与被检材料厚度T m之比，即:Φm=T0
T m
;
26.椭圆成像法偏心距:L0=(g+q)L1
L2=(p+q)F−L2
L2
;
=[焦距 -(外径 +焊缝余高)] ×2 焊缝宽度 /(外径 +焊缝余高 )
27.距离防护:对点源来说,在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22。