初、中级射线检测计算公式
放射医学质量控制指标2020年版
放射医学质量控制指标（2020年版）一、大型X射线设备（含常规X线设备和CT）状态检测达标率定义：状态检测性能评估符合WS 76—2011和GB 17589—2011中状态检测各项性能参数标准的X线设备占同期所有X线设备的比例。
计算公式：大型X射线设备状态检测达标率=意义：大型X射线设备（含常规X线设备和CT）的状态检测是法定检测项目，其性能达标是保证X线设备诊断图像质量的最基本条件，反应了X线设备的总体性能情况，是图像质量的基本保障。
二、大型X射线设备（含常规X线设备和CT）稳定性检测达标率定义：稳定性检测性能评估符合WS 76—2011和GB 17589—2011中稳定性检测各项性能参数标准的设备占同期所有设备的比例。
计算公式：大型X射线设备稳定性检测达标率=意义：大型X射线设备（含常规X线设备和CT）的稳定性检测是确定X线设备相关参数稳定性的基本检测手段，是图像质量稳定的基本保证。
三、医用核磁共振设备（MRI）稳定性检测达标率定义：稳定性检测是指核磁共振设备（MRI）法定质保期以后，按每月、每季度、每年对磁体、梯度、射频、图像质量等相关内容进行稳定性评估（与出厂时和安装调试正式使用时各项参数为标准）的一种检测手段。
稳定性性能评估符合相关参数标准的MRI 设备占同期所有MRI设备的比例。
计算公式：MRI设备稳定性检测达标率=意义：医用核磁共振设备的稳定性检测是确定MRI设备相关参数稳定性的基本检测手段，是磁共振图像质量稳定的基本保证。
四、大型设备开机率定义：大型设备（X线、CT、MRI）年正常开机使用天数（节假日除外）占一年总工作日（节假日除外）的比例。
计算公式：大型设备开机率=意义：大型医疗设备开机率是设备稳定性的最重要指标之一，稳定的设备开机才能提供质量稳定的临床诊断图像。
五、大型设备使用率定义：大型设备（X线、CT、MRI）年正常开机检查人次与院内同期设备平均检查人次的比例。
计算公式：大型设备使用率=意义：大型医疗设备使用率是体现设备管理和使用效率的重要指标。
射线2级资料
（1）质子数=核电荷数=核外电子数=原子序数（2）原子量=质子数+中子数（3）中子数=原子量—质子数=原子量—原子序数（4）电磁波的波长λ和频率v以及波速c（光速）的关系式为：λ=c/v（5）连续谱存在一个最短波长λmin 其数值只依赖于外加电压V而与靶材料无关E=eV=hv=hc/λmin 式中：h—普朗克常数，h=6.626*10-34j.sλmin=hc/eV=12.4/V(KV) c—光速，c=3.0*108m/se—电子电量，e=1.6*10-19C(库仑)V（KV）—管电压单位（千伏）连续谱中最大强度对应的波长λIM=1.5λmin（6）X射线的产生效率ŋ等于连续射线的总强度I T与管电压V和管电流i的乘积之比，即：ŋ =I T /Vi=K i ZV 式中：K i—比例常数V —管电压Z—原子序数可见，X射线的产生效率与管电压和靶材料原子序数成正比。
在其他条件相同的情况下，管电压越高，X射线产生效率越高;管电压的高压波形越接近恒压，X射线产生效率也越高。
（7）γ射线衰变规律：N=N o e-λT式中： N—衰变后强度N o—初始强度λ—比例系数（衰变常数） T—时间半衰期：放射性同位素衰变掉原有核数一半所需时间。
用T1/2表示，单位（年）（8）窄束，单色射线的强度衰减规律：I= I o e-uT式中：I—透射射线强度I o—初始射线强度u—材料的线衰减系数（cm-1）T—透射厚度(cm)半价层：是指使入射射线强度减少一半的吸收物质厚度。
用T1/2表示，单位（年）T1/2= 0.693/ u（9）宽束，多色射线的强度衰减规律：I=I P+I S=I P(1+I S/I P)=I P(1+n) 考虑总的强度衰减结果，可以归纳以下关系式：I= I o e-uT（10）宽束多色射线强度衰减规律：I= I o e-uT（1+n）式中： I—透射射线强度I o—初始射线强度Ln(I/I o)=-uT u—平均衰减系数（cm-1）T—透射厚度(cm)n —散射比I S/I P(11)对斜靶定向X射线管，其有效焦点面积S O=Ssinα式中：靶与垂直管轴线平面的夹角，一般α=200所以近似关系式：S O=S/3 （12）黑度D定义为照射光强L O与透射光强L之比的常用对数值，即：D=lg(L O/L)L= L O/10D容度（L），最大密度（D max）,这些特性可以在胶片特性曲线上定量表示。
射线检测计算公式总结
1、最短波长公式： (能量公式）2、连续谱中最大强度对应的波长与最短波长之间近似有下述关系:3、连续谱射线的总强度I：4、连续谱X射线的转换效率η;5、放射性原子核的衰变公式：6、半衰期公式：(重要公式）放射性原子核数目因衰变减少至原来数目一半时所需的时间7：单色窄束射线的衰减规律：8、线衰减系数μ：9、半值层：10、半值层计算公式：穿过物体后的射线强度为入射强度一半时的穿透厚度(重要公式）11.影响半值层T1/2的因素:12、宽束多色射线的强度衰减规律：13、主因对比度公式：Ⅰ=Ⅰs+Ⅰp=Ⅰp（1+n) 散射比n= I s / I p14、胶片对比度公式：15、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434 GμΔT /（ 1 + n ）16、黑度D：照射光强度与穿过底片的透射光强之比的常用对数值17、射线照相几何不清晰度： Ug = df×L2／L1=d f×L2／（F-L2)18、X射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I与距离F的平方成反比I1/I2=（F2/F1）220、X射线照相的曝光因子：Ψ=i t/F2= i1 t1/F11= i 2t2/F22=……= i2n t n/F nγ射线照相的曝光因子：Ψ=A t/F2= A1 t1/F12= A 2t2/F22=……= A2n t n/F n19、K值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cosθ θ=cos-1(1/K)20、一次透照长度L3: L3= 2L1tanθ21、直缝单壁单影: 底片的有效评定长度： L eff=L3+ΔL纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：l eff=ΔL+L3′+ΔL22、环缝单壁外照法Ｎ＝α=θ-ηθ=cos-1 [] η= sin-1( )K=1.1 θ=cos-1 []当D０＞＞T时，θ≈cos－１Ｋ－１K=1.1 θ=24.62L3=Ｄ０／Ｎ； Ｌ＇3＝．Ｄｉ／Ｎ ΔL≈2T·tanθＬeff＝ΔL／２＋Ｌ３＋ΔL／２α:与ＡＢ／２对应的圆心角； θ:最大失真角或横裂检出角；η- -有效半辐射角； Ｋ- 透照厚度比；Ｔ- 工件厚度； Ｄ０---容器外直径 D i－容器内直径23、环缝单壁内照法 1）F＜R的偏心法N=α=η－θ：θ=cos-1 η=sin－1（）当D0＞＞T时， θ=cos-1K-1 L3= L3′=ΔL≈2T·tgθ（ΔL/2=T·tgθ） L eff=L3′+ΔL2）F>R的偏心法透检N= α=θ-η θ=cos-1η=sin-1( )当D0>>T时,θ=cos-1K-1 L3′= L3= L eff=L3＇24双壁单影法100%透检环缝时的最少曝光次数N 一次透照长度L3N= α=θ+η θ=cos-1 η=sin-1（）当D o>>T时,θ=cos-1K-1 L3= L eff=L325利用曝光曲线求非钢材的曝光量射线等效系数（φm表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度T o与被检材料厚度T m 之比，即：φm=26、椭圆成像法偏心距 L0=（g＋q）L1/ L2=(F-L2)(p+q)/L2=[焦距-(外径+焊缝余高)]×2焊缝宽度/(外径+焊缝余高)27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22。
射线检测基本知识-填空
填空题1.元素中有（13）个质子和（14）个中子2.某X光机发出的最短波长λmin=0.0124nm(0.124)，那么其管电压应为（100）KV3.对于X射线机表征射线的能量是采用（KVP）4.当射线能量小于1.02MeV时，射线与物质相互作用主要是（光电）效应和（康普顿）效应5.单位质量放射物质的活度称为该放射物质的（比活度）6.射线的能量越高，穿透力越（强）；物质的密度越大，对射线的吸收越（大）7.吸收系数μ值的大小取决于（Z、P和射线能量）8.半衰期是指放射性同位素的（强度）衰减一半所需要的时间9.光电效应和康普顿效应都可以产生（高速电子）10.同位素就是（原子序数）相同，（原子量）不同的一种元素11.X射线管的发射效率主要取决于（Z、V）12.X射线管发射的射线强度取决于(灯丝加热温度,即灯丝加热的电压或电流)13.200KV5mA的X光机在额定输出时，射线束的最短波长是（0.0062）nm14.已知光子波长为0.0012395nm，它的能量应为（1）MeV15.X、γ射线与物质相互作用时主要产生（光电）效应、（康普顿）效应和（电子对生成）效应16.X、γ射线与可见光的本质都是电磁波，它们的主要区别就在于射线的波长（短）、能量（高），能穿透（可见光所不能穿透）的物质，包括金属17.连续X射线的能量取决于（管电压），在距离、管电压与阳极靶材料不变时，其强度取决于（管电流）；γ射线的能量取决于（源的种类），其强度取决于（放射性活度或比活度）18.100x109Bq的192Ir源经过5个月后，其活度还有（25）x109Bq19.低能X光机之所以用铅做防护层，是因为铅的原子序数Z大，在此能量范围内衰减系数μ与Z的（3）次方成正比20.常用的伽玛源中，钴60的半衰期是（5.3年），铯137的半衰期是（33年），铱192的半衰期是（75天）21.X、γ射线在真空中的传播速度为（30）万公里/秒22.右图中(C)表示射线强度与管电压的关系；(B)表示射线强度与管电流的关系；(A) Array表示滤波对Χ射线强度的影响。
射线剂量率计算公式
射线剂量率计算公式射线剂量率是指单位时间内单位面积上所接收的射线剂量。
在放射性物质的使用和辐射防护中，射线剂量率的计算是非常重要的。
正确地计算射线剂量率可以帮助我们评估辐射剂量的大小，从而采取相应的防护措施，保护人员的健康和安全。
射线剂量率的计算公式可以通过以下方式进行推导：首先，我们需要了解一些基本的概念和单位。
射线剂量率通常用格雷每小时（Gy/h）或希沃特每小时（Sv/h）来表示。
其中，1格雷等于1焦耳/千克，1希沃特等于1焦耳/千克。
而辐射剂量的单位是格雷（Gy）或希沃特（Sv）。
其次，我们需要知道射线剂量率与辐射剂量之间的关系。
射线剂量率可以表示为单位时间内所接收的辐射剂量与单位面积的比值。
因此，射线剂量率可以用以下公式来表示：D = Φ / A。
其中，D表示射线剂量率，Φ表示单位时间内所接收的辐射剂量，A表示单位面积。
接下来，我们可以将辐射剂量表示为射线剂量率与时间的乘积。
即：Φ = D t。
其中，Φ表示单位时间内所接收的辐射剂量，D表示射线剂量率，t表示时间。
将上述两个公式结合起来，可以得到射线剂量率的计算公式：D = Φ / A = (D t) / A。
通过这个公式，我们可以根据单位时间内所接收的辐射剂量、时间和单位面积来计算射线剂量率。
在实际应用中，我们通常会遇到各种不同的情况和计算需求。
例如，当我们需要计算某个区域的射线剂量率时，可以通过测量单位时间内所接收的辐射剂量和单位面积来得到射线剂量率的值。
而在某些特殊情况下，我们可能需要根据射线剂量率来推算单位时间内所接收的辐射剂量。
无论是哪种情况，射线剂量率的计算公式都可以帮助我们准确地评估辐射剂量的大小。
除了上述的基本计算公式外，还有一些特殊情况下的射线剂量率计算公式。
例如，当辐射源是点源时，可以使用以下公式来计算射线剂量率：D = Φ / (4πr²)。
其中，r表示距离辐射源的距离。
当辐射源是线源或面源时，射线剂量率的计算公式也会有所不同。
射线检测典型计算题
射线检测典型计算题一原子量、质子数、中子数计算公式：原子量 = 质子数 + 中子数 A = Z + N 例： 60Co 中有几个质子、中子？（ 27 个质子、 33 个中子）二最短波长计算公式： hc 12.4••• 入 min =---- = -- （h、c、e 均为常数）Ue U单位：入min埃。
U:千伏。
例： U=200Kv,入 min=12.4 / 200= 0.062 埃三连续 X 射线的效率（转换效率）计算：公式：n =KUZK= 1.1--1.4 X 10-9v ; K= 1.1--1.4 X 10-6Kv例：Z=74; U=200 ;求n n =1.4 X-60 X 74 X 200=2%四半衰期和衰变常数计算公式：T' = 0.693 / 入例：60Co 已知：入=0.130/年，求 T' = 0.693 / 0.130 = 5.3 年或：已知： T' = 5.3年，求入=0.693 / 5.3= 0.130半衰期的简便计算公式N 1 =（）n n= t / T ' No 2例: 60Co 半衰期为 5.3 年，新源放射强度 16居里， 10.6 年后该源的放射强度为多少？解：n=10.6/5.3=2 ; N=NO x （1/2）n=16 x（1/4）=4（居里）五X 射线光子能量和波长计算公式：E = 0.0124/ 或入=0.0124 / E以上二式中，E的单位：Mev;的单位：埃。
或者：入=12.4 / E （与入min=12.4/U 有本质区别）这里：E的单位：Kev; 入的单位：埃。
例 1：波长为 0.25? 的光子能量是多少？E= 0.0124/ 0.25= 0.0496 Mev例 2：能量为 0.25 Mev 的光子波长是多少？入=0.0124 / 0.25 = 0.0496?例 3：管电压为 200Kv 时，连续 X 射线的最大能量是多少？入 min=12.4/U=12.4/200=0.062?E= 0.0124/ 0.062= 0.2 Mev六半值层和衰减系数计算公式：Th=0.693/ 卩或卩=0.693/ Th 例1 :某材料衰减系数□为1.3/cm，求半值层 Th？Th=0.693/ =0.533cm.例 2: 穿过 12mm 厚钢板前后射线强度分别为 50mR/h 和 15mR/h, 求这种钢板的半值层和衰减系数？5015I=lo e- d15=50 e-卩 d d=12 In(15/50)=1 n(e- 卩 d )=- 卩 d=-12 卩卩=In (15/50)/(-12)=0.1Th=0.693/ 0.1=6.93(mm)七平方反比律应用计算公式： I1/ I2= f22/f12 E1/ E2=f12/f22 图 26例1：距源 1.5 米处射线强度为 40mR/ h, 求3. 5 处的射线强度？I2= I1 / ( f22/f12 )=40/ ( 3. 5 2/ 1.5 2 )=7.35 (mR/ h)例 2：焦距为 1 米处透照，得底片黑度为 2。
无损检测射线计算公式
无损检测射线计算公式无损检测射线计算公式这事儿，听起来可能有点专业和枯燥，但其实它在工业领域里可是超级重要的！咱们先来说说什么是无损检测射线。
想象一下，有个大机器零件，你可不能把它切开看看里面有没有问题，这时候无损检测射线就派上用场啦。
它就像给这个零件拍个“透视照”，让我们能在不破坏零件的情况下，了解它内部的情况。
那这射线计算公式到底是啥呢？简单来说，就是通过一些数学的魔法，把射线的强度、穿透的材料厚度、衰减系数等等这些因素都考虑进去，算出我们想要的结果。
比如说，有一次我在工厂里，看到师傅们正在检测一个大型的钢结构。
他们拿着各种仪器，一脸严肃。
我好奇地凑过去，师傅就跟我讲：“这射线检测可不能马虎，这计算公式要是弄错了，得出的结果不准，那可就麻烦大啦！”我当时还不太懂，就问师傅：“这公式真有那么重要吗？”师傅停下手中的活儿，认真地看着我说：“孩子，你想想，如果因为计算错误，没检测出零件内部的裂缝，这零件用在重要的设备上，出了事故，那得造成多大的损失啊！”这射线计算公式里，有个关键的参数叫衰减系数。
它就像是射线在穿过材料时遇到的“阻力”。
不同的材料，衰减系数可不一样。
比如说，钢铁的衰减系数就比铝材的大。
这就意味着，同样强度的射线，穿过同样厚度的钢铁和铝材，在钢铁里衰减得更厉害。
还有个重要的概念是曝光量。
曝光量就像是给射线拍照时的“快门速度”，曝光量不够，照片就不清楚，检测结果也就不准确。
有一次，一个新手技术员在计算曝光量的时候出了错，结果检测出来的片子一片模糊，啥都看不清，大家只能重新检测，浪费了不少时间和材料。
再说说计算材料厚度的公式。
这就像是猜一个盒子里有多少层东西，我们要根据射线穿透后的强度变化来推算。
如果材料里有杂质或者不均匀的地方，那计算起来就更复杂啦。
总之，无损检测射线计算公式虽然复杂，但每一个数字、每一个符号都关系到检测结果的准确性和可靠性。
就像医生给病人看病，诊断错了可不行，我们搞无损检测的，也得对每一个计算结果负责。
射线探伤探伤参数计算公式
射线探伤探伤参数计算公式引言。
射线探伤是一种常用的无损检测技术，通过射线对被检测物体进行照射，然后利用探测器检测射线的传播情况，从而获取被检测物体的内部结构信息。
在射线探伤中，探伤参数的计算是非常重要的，它可以帮助工程师准确地评估被检测物体的内部缺陷情况，为后续的维修和改进提供重要参考。
本文将介绍射线探伤探伤参数的计算公式及其应用。
1. 探伤参数的定义。
在射线探伤中，常用的探伤参数包括透射比、吸收系数、半衰期等。
这些参数可以用来描述射线在被检测物体中的传播情况，从而反映出被检测物体的内部结构信息。
透射比是指射线透过被检测物体后的强度与射线照射被检测物体时的强度之比，它可以用来评估被检测物体的密度情况。
吸收系数是指被检测物体对射线的吸收能力，它可以用来评估被检测物体的材料成分。
半衰期是指射线在被检测物体中衰减到初始强度的一半所需要的时间，它可以用来评估被检测物体的放射性情况。
2. 透射比的计算公式。
透射比可以通过以下公式来计算：T = I/I0。
其中，T表示透射比，I表示射线透过被检测物体后的强度，I0表示射线照射被检测物体时的强度。
透射比的数值越大，表示被检测物体的密度越小；透射比的数值越小，表示被检测物体的密度越大。
3. 吸收系数的计算公式。
吸收系数可以通过以下公式来计算：μ = ln(I0/I)/x。
其中，μ表示吸收系数，I0表示射线照射被检测物体时的强度，I表示射线透过被检测物体后的强度，x表示被检测物体的厚度。
吸收系数的数值越大，表示被检测物体对射线的吸收能力越强；吸收系数的数值越小，表示被检测物体对射线的吸收能力越弱。
4. 半衰期的计算公式。
半衰期可以通过以下公式来计算：T1/2 = ln(2)/μ。
其中，T1/2表示半衰期，μ表示吸收系数。
半衰期的数值越大，表示射线在被检测物体中衰减得越慢；半衰期的数值越小，表示射线在被检测物体中衰减得越快。
5. 探伤参数的应用。
探伤参数的计算可以帮助工程师准确地评估被检测物体的内部结构信息，为后续的维修和改进提供重要参考。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
1、最短波长公式
(能量公式）h 普朗克常数
2、之间近似有下述关系: min 5.1λλ=IM
3、连续谱射线的总强度I ：2ZiV K I i T = Ki 为比例常数、Z 靶原子序数、i 管电流/管电压
4、连续谱X 射线的转换效率η
; ZV K i =η 5、放射性原子核的衰变公式：
T e N N λ-=0
λ衰变常数T 时间
(
为衰变常数 N 为剩余的原子核数N0为原有原子核数 T 为所用时间
7：单色窄束射线的衰减规律：T
e I
I
μ-=0 T 为透照厚度 I 为穿透后辐射强度 0I 为原辐射强度
8、线衰减系数μ：3
3λρμZ K =
T 为透照厚度 I 为穿透后辐射强度
I 为原辐射强度 K
ρZ 原子序数 9、半价层：
μ为线衰减系数
10、
11、影响半值层T1/2
K 康普顿系数、ρ混合物密度、Z 原子序数
12、为散射比 I 透射强度、I0初始强度μ为平均衰减系数T 厚度
13、主因对比度跟透照厚度、衰减系数和散射比有关
14、胶片梯度G 公式 黑度值、E1为对应曝光量、E1’切线与横轴交点曝光量G 为梯度或反差系数
15、黑度D ：照射光强度与穿过底片的透射光强之比常用对数值D
L L 100=
L
L D 0lg
= L 透射光强L0照射光强
宽容度L ：L=10lgE2-lgE1=E2/E1 E1、E2相对曝光量
相对灵敏度K ：K=d/T*100% d 射线可认到最细线直径、T 被检工件穿透厚度 16、射线照相对比度公式：ΔD=-0.434 G μΔT/（1 + n ），G 梯度μ衰减系数ΔT 缺陷尺寸n 散射比
17、射线照相几何不清晰度：Ug = df ×L2／L1=df ×L2/(F-L2) df 焦点尺寸、L1焦点至工件表面距离、L2工件表面至胶片距离、F 焦距
固有不清晰度：Ui=0.0013(kV)0.79
焦距F =L1+L2 L1为交点、L2为透照厚度。
18、X 射线曝光量：E=it γ射线曝光量：E=At
19、平方反比定律：从一点源发出的辐射，强度I 与距离F 的平方成反比 I1/I2=(F2/F1)2
20、X 射线照相的曝光因子：Ψ=i t/F 2= i 1t 1/F 11= i 2t 2/F 22=……= i n t n /F n 2 i 为管电流、F 为焦距t 为曝光时间
γ射线照相的曝光因子：Ψ=A t/F 2= A 1 t 1/F 12= A 2t 2/F 22=……= A n t n /F n 2曝光因子与强度、曝光时间和焦距有关 19、透照厚度比K ：K 值与横向裂纹检出角θ的关系：K=1/Cos θ θ=cos -1(1/K) 20 、一次透照长度L 3: L 3= 2L 1tan θ L1为焦距 21、直缝单壁单影: 底片的有效评定长度： L eff =L 3+ΔL
搭接长度ΔL =L2L3/L1 L2为工件表面到胶片距离
纵缝作双壁单投影：底片的有效评定长度应为：leff=ΔL+L3′+ΔL L3′胶片侧焊缝等分长度
22、环缝单壁外照法Ｎ＝360218000
αα
=
α=θ-η θ=cos-1 [
1120
+-()K T D
K
] η= sin-1(
D D L 0
01
2+sin θ
)
K=1.1 θ=cos-1 [
1.121.0D D T +] 当D ０＞＞T 时，θ≈cos －１Ｋ－１ K=1.1 θ=24.62
L3=πD0/N ； Ｌ＇3＝π*DI/N ΔL ≈2T ·tan θ Ｌeff ＝ΔL ／２＋Ｌ３＋ΔL ／２
α:与ＡＢ／２对应的圆心角； θ:最大失真角或横裂检出角； η- -有效半辐射角； Ｋ- 透照厚度比； Ｔ- 工件厚度； Ｄ０--- 容器外直径 Di －容器内直径
23、利用曝光曲线求非钢材的曝光量 射线等效系数（φm 表示）是指在一定管电压下，达到相同射线吸收效果（或者说获得相同底片黑度）的基准材料厚度To 与被检材料厚度Tm 之比，即： φm=T 0/T m
24、椭圆成像法偏心距 L 0=（b ＋q ）L 1/ L 2=(F-D 0-Δh)(b+q)/( D 0+Δh)=[焦距-(外径+焊缝余高)]×(焊缝宽度+开口
宽度)/(外径+焊缝余高)
25、小径管透照次数T/D0<=0.12相隔90度2次，其余相隔120度或60度三次
26、比释动能K=33.72P P照射量
27、距离防护：对点源来说，在某点的射线强度与该点到源的距离平方成反比D1R12=D2R22D为当处剂量
28、照射量P=AK r t/R2 A放射性活度、R到点源距离、Kr常数、t受照时间照射率P’= AK r/R2（R/h）
29、半价层防护T1/2=0.301T1/10 I0/I=2n d=nT1/2 n半价层个数T1/2半价层厚度d屏蔽层厚度。