常见电阻率法问题与思考

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物探:电阻率法的基础知识

物探:电阻率法的基础知识

AB在MN间产生的电位差
U MN I 1 1 1 1 ( ) 2 AM AN BM BN (5.2.12 )
由上式解出大地电阻率,大地电阻率的 计算公式为
U MN K I (5.2.13)
K
2 1 1 1 1 AM AN BM BN
(5.2.14)
(5.2.13)式即为在均匀大地的地表采用
jMN s MN j0
(5.3.4)
表明某点的视电阻率和测量电极所在介质 的真电阻率成正比,其比例系数就是测量电 极间实际电流密度与假设地下为均匀介质时 正常场电流密度之比。
显然,jMN包含了在电场分布范围内各种电
性地质体的综合影响。当地下半空间有低阻 不均匀体存在时,由于正常电流线被低阻体 所吸引,使地表MN处的实际电流密度减少, 所以 j MN<j 0 , s< MN ;
三、大地电阻率的测定

测量均匀大地的电阻率,原则上可以采 用任意形式的电极排列来进行,即在地表任 意两点(A、B)供电,然后在任意两点(M、N) 测量其间的电位差,根据 (5.2.10)式便可 求出M、N两点的电位.
UM
I 1 1 ( ) 2 AM BM
I 1 1 UN ( ) 2 AN BN
一般土层结构疏松,孔隙度大,且与地表水
密切相关,因而它们的电阻率均较低,一般 为林几十Ω· m。表5.1.2为几种常见浮土和地 表水的电阻率及其变化范围 二、影响电阻率的因素 自然状态下,岩土的电阻率除了和组份 有关外,还和其它许多因素有关,如岩石的 结构、构造,孔隙度及含水性等。
表5.1.1

在电法勘探中,电阻率的单位为欧姆· 米
(.m)。天然状态下的岩石具有非常复 杂的结构与组份。不仅组份不同的岩石 会有不同的电阻率

电阻率法原理

电阻率法原理

电阻率法原理电阻率法是一种常用的物理测量方法,它通过测量材料的电阻率来间接推断材料的导电性能。

在实际应用中,电阻率法被广泛用于材料的质量控制、工程设计以及科学研究等领域。

本文将介绍电阻率法的原理及其在实际应用中的一些特点。

电阻率法的原理基于欧姆定律,即电流与电压成正比,电阻率与电阻成反比。

在电阻率法测量中,通常会采用四线法来消除导线电阻对测量结果的影响。

四线法利用两对电极,一对电极用于施加电流,另一对电极用于测量电压,从而可以准确地测量材料的电阻率。

通过测量电流和电压,可以计算出材料的电阻率,并据此推断材料的导电性能。

电阻率法的优点之一是可以用于各种类型的材料,包括金属、半导体、绝缘体等。

不同类型的材料具有不同的导电性能,因此需要采用不同的测量方法和仪器。

在实际应用中,需要根据具体材料的特性选择合适的电阻率测量方法,以确保测量结果的准确性和可靠性。

另一个优点是电阻率法可以在不同温度和压力条件下进行测量。

由于材料的导电性能受温度和压力的影响,因此需要在不同条件下进行测量以获取全面的数据。

电阻率法可以通过调节测量参数来适应不同条件下的测量需求,从而满足实际应用的要求。

在实际应用中,电阻率法常常与其他测量方法结合使用,以获取更全面的材料性能数据。

例如,可以将电阻率法与热导率测量方法结合使用,从而获得材料的热电性能数据。

这种综合应用可以提高测量结果的准确性和可靠性,为材料的工程设计和科学研究提供重要参考。

总的来说,电阻率法是一种简单、灵活、可靠的物理测量方法,具有广泛的应用前景。

通过对材料的电阻率进行测量,可以间接推断材料的导电性能,为材料的质量控制、工程设计和科学研究提供重要数据支持。

随着科学技术的不断发展,电阻率法在材料领域的应用将会更加广泛和深入。

电阻率法原理

电阻率法原理

电阻率法原理电阻率法是一种常用的材料物理性质测试方法,它通过测量材料的电阻率来推断材料的导电性能。

电阻率法原理的核心在于利用材料的电阻率与其导电性能之间的关系,通过测量电阻率来间接地了解材料的导电性能。

本文将详细介绍电阻率法的原理及其在材料测试中的应用。

首先,我们需要了解什么是电阻率。

电阻率是指单位长度和单位横截面积的材料在单位温度下的电阻。

它的计量单位是Ω·m(欧姆·米)。

电阻率越小,表示材料的导电性能越好;反之,电阻率越大,表示材料的导电性能越差。

因此,通过测量材料的电阻率,我们可以推断材料的导电性能。

在进行电阻率测试时,通常会采用四引线法来消除引线电阻的影响。

四引线法通过在测量电阻时采用两对引线,一对用于传递电流,另一对用于测量电压,从而消除了引线电阻对测试结果的影响,提高了测试的准确性。

电阻率法的原理是基于欧姆定律的。

欧姆定律表明,电流与电压成正比,电阻与电流成反比。

当我们施加电压到材料上时,根据欧姆定律,电流的大小与电压成正比,而与材料的电阻成反比。

因此,我们可以通过测量施加电压后的电流大小,以及测量施加电压后材料两端的电压,来计算出材料的电阻率。

电阻率法在材料测试中有着广泛的应用。

它可以用于测试各种类型的材料,包括金属、半导体、绝缘体等。

通过测量材料的电阻率,我们可以了解材料的导电性能,进而推断材料的材料成分、结构特性等。

在材料研究、工程设计、生产制造等领域,电阻率法都扮演着重要的角色。

总之,电阻率法是一种常用的材料物理性质测试方法,它通过测量材料的电阻率来推断材料的导电性能。

电阻率法的原理基于欧姆定律,通过测量施加电压后的电流大小和电压大小,来计算出材料的电阻率。

电阻率法在材料测试中有着广泛的应用,可以用于测试各种类型的材料,并在材料研究、工程设计、生产制造等领域发挥重要作用。

物理电阻率知识点

物理电阻率知识点

物理电阻率知识点物理电阻率知识点. 电.. 表示导体对电流的阻碍作.. 导体的电阻越大,它对电流的阻碍作用就越大.. 电阻是导体的一种性质,与是否加电压、是否有电流无关.. 电阻器:具有一定电阻值的元件,简称电阻.. 电路图中的符号.. 导体的电阻与横截面积有.. 材料、长度相同,导体的横截面积越大,电阻越小.. 导体的电阻与温度有.. 1、对大多数导体来说,温度越高,电阻越大,即电阻随温度的升高而增大.. 2、但也有少数导体,电阻随温度的升高而减小,如:碳、玻璃.. 1.王梅发现她家新买的白炽灯用过一段时间后,在相同电压下发光时要暗一些,从物理学的角度看是因为灯发光时,温度升高,灯丝发生.现象(填物态变化的名称),使灯丝变细,导致灯丝电阻.,消耗的实际功率.的缘故.. 升华;大;.. 【解析.. 白炽灯的灯丝用钨制成,钨的熔点为3000多摄氏度,而灯泡发光时的温度低于钨的熔点,所以钨不会熔化,而是直接变为气态,发生了升华现象导致灯丝变细,电阻变大,根据公式可知,实际功率变小.. 2.假如科学家研制出常温下超导体,则它可用作( .. A.电热.. B.保险.. C.变阻.. D.输电导.. .. 【解析.. 超导体电阻为0,电阻为0,电流通过时,就不会产生电流热效应。

保险丝、电热丝和变阻器都是利用电流热效应工作的,它不能使用超导体。

远距离输电中的输电导线会因为电流的热效应而消耗电能,输电导线利用超导体可以节约电能。

正确的选择是D.. 3.关于导体的电阻,以下说法正确的是... A.铜导线的电阻比铝导线的电阻.. B.粗导线的电阻比细导线的电阻.. C.将一根铜导线均匀拉长后,其电阻会变.. D.灯泡不发光时灯丝的电阻,比该灯泡发光时灯丝的电阻.. 利用电阻大小的决定因素:长度、材料、横截面积、温度,结合选择项中告诉的各因素大小关系来确定两电阻丝的电阻大小.. 【解析.. A、电阻大小的决定因素有四个,这儿只告诉了两导体材料的关系,而导体的横截面积、长度和温度关系没告诉,故不能确定两者电阻大小.故A错误.. B、电阻大小的决定因素有四个,这儿只告诉了两导体长度和横截面积的关系,导体的材料和温度关系没告诉,故不能确定两者电阻大小.故B错误.. C、将一根铜导线均匀拉长后,其材料、温度均不变,长度变大,横截面积变细,因此它的电阻将变大.故C正确.. D、灯泡不发光时灯丝的电阻,比该灯泡发光时灯丝的电阻小.故D错误.. 应选:C.. 4.铅笔芯是石墨和黏土混合制成的.不同类型的铅笔的笔芯软硬程不同,其中6H的铅笔芯最硬,6B的铅笔芯最软,HB的铅笔芯软硬居中.铅笔芯是导体,那么铅笔芯的电阻大小与其软硬度是否有关呢?小明用如图所示的装置探究这个问题.他先后将6B、HB和6H的铅笔芯分别接入电路A、B两点间,通过观.. (1.比较出三者电阻的大小.. (2)用此方法比较电阻大小的依据是... (3)他选取的这三支铅笔芯应满足的条件是... (1)电源电压一定,电路电阻不同,电路电流不同,通过观察电流表示数可以知道电路电阻大小,即铅笔芯电阻大小.. (2)根据欧姆定律可知,电压一定时,电阻越大,电流越小.. (3)探究铅笔芯电阻与硬度的关系时,应控制铅笔芯的粗细和长度相同.. 【解析.. (1)电源电压一定,电路电阻不同,电路电流不同,通过观察电流表示数可以知道电路电阻大小,即铅笔芯电阻大小.. (2)通过电流表示数比较电阻大小的原理为欧姆定律.. (3)探究铅笔芯电阻与硬度的关系时,应控制铅笔芯的粗细相同和长度相同,硬度不同.. 故答案为.. (1)电流表示数的大小.. (2)欧姆定律.. (3)粗细相同、长度相同.. 物理学习方.. 1、理象记忆法:如当车起步和刹车时,人向后、前倾倒的现象,来记忆惯性概念.. 2、浓缩记忆法:如光的反射定律可浓缩成三线共面、两角相等,平面镜成像规律可浓缩为“物象对称、左右相反〞.. 3、口诀记忆法:如“物体有惯性,惯性物属性,大小看质量,不论动与静。

3电阻率法(3) 电阻率测深法

3电阻率法(3)   电阻率测深法
cth1 th1

T
(2) 1

cth 1th
mh
1
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3

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1
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2

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mh
2

cth1 th1
3

cth1 th1
推广到n层条件下T1(m)式有:
T
(n) 1
(m)
cth 1th
Taiyuan University of technology
式中y为观测点距离连线的以下水平距离;z为深度;I为供电电流强
度。透入给定深度z以下的相对电流强度为
Taiyuan University of technology
Taiyuan University of technology
Taiyuan University of technology
§1.4电阻率测深法

电阻率测深法的全称为“垂向电阻率测深法”,也 可简称为电测深法。它用逐步改变供电电极大小的办 法来控制勘探深度,由浅入深,了解一个测点地下介 质电阻率的垂向变化。可以将在一个测点上做电测深 测量与做一条测线的电剖面测量做一个类比,前者用 于了解该测点地下介质电阻率的垂向变化,后者则是 了解沿测线方向地下介质电阻率的横向变化。这两种 方法相辅相成,使电阻率法成为一种能够详细研究地 质构造的空间分布状态的方法。
U1i
z Hi
U1i 1
z Hi
1 U1i i z
z Hi

1 U1i 1 i 1 z
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U1 U 0 U
I1 U 2R

电阻率法原理

电阻率法原理

电阻率法原理电阻率法是一种常用的物理测量方法,通过测量材料的电阻率来研究材料的电学性质。

电阻率是指单位长度和单位截面积的材料所具有的电阻。

电阻率法主要用于研究材料的导电性和电阻特性,广泛应用于材料科学、电子工程、地质勘探等领域。

电阻率法的原理基于欧姆定律和电阻率的定义。

根据欧姆定律,电流与电压成正比,而电阻率则是描述了材料本身对电流的阻碍程度。

在材料内部施加电场,通过测量电流和电压的关系,可以计算出材料的电阻率。

电阻率法的关键在于精确测量电流和电压,并据此计算出材料的电阻率。

电阻率法的实验装置通常包括电源、电流表、电压表和试样。

首先,将试样加工成标准形状,然后将电流引入试样,通过电压表测量试样两端的电压,根据欧姆定律计算出试样的电阻率。

在实验过程中,需要注意消除外界干扰,保证测量的准确性。

电阻率法可以用于研究材料的导电性能。

不同材料的电阻率差异很大,金属通常具有较低的电阻率,而绝缘体通常具有较高的电阻率。

通过测量不同材料的电阻率,可以评估其导电性能,为材料选择和应用提供参考。

电阻率法还可以用于研究材料的电阻特性。

材料的电阻率与其成分、结构、形貌等密切相关,通过测量材料的电阻率变化,可以了解材料的内部结构和性质变化。

这对于材料的研究和应用具有重要意义。

除此之外,电阻率法还可以应用于地质勘探。

地球内部的岩石、矿石等材料具有不同的电阻率,通过测量地下材料的电阻率分布,可以推断地下结构和成分,为地质勘探和资源勘探提供重要信息。

总的来说,电阻率法作为一种重要的物理测量方法,具有广泛的应用前景。

通过测量材料的电阻率,可以研究材料的导电性和电阻特性,为材料科学、电子工程、地质勘探等领域提供重要的实验手段和理论依据。

随着科学技术的不断发展,电阻率法在材料研究和应用中将发挥越来越重要的作用。

《电阻定律 电阻率》 知识清单

《电阻定律电阻率》知识清单一、电阻定律电阻定律是描述导体电阻大小与导体自身特性之间关系的定律。

简单来说,它告诉我们导体的电阻取决于哪些因素。

电阻定律的表达式为:R =ρL/S其中,R 表示电阻,ρ 是材料的电阻率,L 是导体的长度,S 是导体的横截面积。

从这个表达式可以看出,电阻与导体的长度成正比,导体越长,电阻越大;电阻与导体的横截面积成反比,横截面积越大,电阻越小。

举个例子,如果我们有两根相同材料的导线,一根长 10 米,另一根长 20 米,那么 20 米长的导线电阻就是 10 米长导线电阻的两倍。

再比如,有两根同样长度的导线,一根横截面积是 1 平方毫米,另一根是 2 平方毫米,那么横截面积为 1 平方毫米的导线电阻就是横截面积为 2 平方毫米导线电阻的两倍。

二、电阻率电阻率是一个反映材料导电性能的物理量。

不同的材料具有不同的电阻率。

电阻率的定义是:在单位长度和单位横截面积的情况下,材料的电阻值。

电阻率的单位是欧姆·米(Ω·m)。

常见材料的电阻率差别很大。

例如,银的电阻率很小,是良好的导电材料;而橡胶的电阻率很大,是很好的绝缘材料。

电阻率不仅取决于材料的种类,还与温度有关。

对于大多数金属材料,温度升高,电阻率增大;而对于一些半导体材料,温度升高,电阻率反而减小。

三、影响电阻率的因素1、材料的种类不同的元素和化合物具有不同的原子结构和化学键,这直接影响了它们的导电性能。

比如,金属中的自由电子较多,导电性能好,电阻率小;而绝缘体中的电子几乎不能自由移动,电阻率很大。

2、温度温度对电阻率的影响因材料而异。

对于金属,温度升高时,原子的热运动加剧,阻碍了电子的定向移动,导致电阻率增大。

但对于半导体,温度升高会激发更多的电子参与导电,从而使电阻率减小。

3、杂质含量在纯净的材料中掺入少量杂质,可能会显著改变其电阻率。

例如,在半导体中掺入特定的杂质可以大大改变其导电性能,从而制造出各种电子器件。

电阻率法

电阻率法1、电阻率法是以地壳中岩石的导电性差异为基础,通过观测与研究人工建立的地中稳定直流或者脉动电场,按某种极距的装置形式沿测线逐点观测,研究某一深度范围内岩(矿)石沿水平方向电阻率变化,以查明矿产资源和研究有关地质问题的一组直流电发勘探方法。

2、电阻率剖面法的应用主要在于:填图、追索断层破碎带、确定基岩起伏,追索各种高低阻陡倾斜地电体及接触面、查岩溶发育带。

3、电阻率装置如下:1、二级装置(AM)如图这种装置的特点是供电电极B和测量电极N均置于“无穷远”处接地。

无穷远是相对概念,若B极在M点产生的电位或A极在N点所产生的电位相对于A极在M点所产生的电位可以忽略不计时,便可以认为B极或N极位于“无穷远”。

因此,二极装置实际上时一种测量电位的装置。

一般OB、ON>10AM,且OB,ON>5 倍的剖面长度。

观测结果记录点O一般为AM中点。

2、三级装置(AMN)如图;将电极B置于无穷远处,并OB垂直于剖面线方向;观测记录点O为MN 中点;且OB≥5OA。

3、联合剖面装置(AMN或MNB):本质为将两个三极装置对称于测量点布置,负极C 为理论上的“无穷远”垂直剖面方向布极,观测点O为MN中点,且OC≥5AO。

装置系数K计算公式为4、对称四极装置(AMNB):这种装置是AM=NB,记录点O在MN中点,当AM=MN=NB时,称为温纳装置当AM>MN时,称为施仑贝尔装置装置系数K计算公式为5、中间梯度装置(MN)这种装置供电电极AB的距离取得很大,且固定不动;测量电极MN在AB中间三分之一地段逐点测量,记录点O取MN中点。

一般情况下,取MN=(1/30—1/50)AB6、偶极装置(ABMN):AB 与MN 均以偶极方式对称置于观测点两侧,记录点O取BM中点装置应用(复制)1 四极对称(Wenner)方法四极对称在传统电阻率法占有很重要的地位,也是我们常用的一种方法,其装置示意图如图1所示。

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1 前言 近十年来,高密度电阻率法在工程勘察中的应用越来越广泛,尤其在岩溶、水文、构造、检测等领域,高密度电法的应用效果,已远远超过了理论上的预期。在国内,从事高密度电阻率法的单位和人员正呈逐年上升的趋势,可以说是形势喜人。

2 问题及分析 2.1 有效数据的分辨 这是个最基本的问题。不仅是本方法,其它的物探方法也是如此。在数据采集的现场,我们必需能有效地分辨:采集到的数据是不是有效的数据,用句简单的话就是:原始数据是否真实? 我曾不少次碰到这样的情况:一些技术人员需要得到高密度电阻率法解释方面的帮助,可实际上,其原始数据的质量太差,根本无法进行资料解释,原始数据不行,就是再高级的大师也无法帮忙。如果在得到此类数据却不自知的话,其后果可想而知。这种情况在初学者中很普遍,而在一些多年的“老手”也会存在,如果其未对此进行过深入思考的话。 图1是最近见到的两个剖面的数据:从A剖面数据可以看出:在145m处,数据明显出现异常,有两条非常有规律的高阻异常斜向右下角,其间距越来越大——这实际上是由于145m附近,电极接地条件太差,形成的“假异常”;有时,如电缆的某一点或多路转换开关的某点断开也会形成类似的“八字异常”,如该点位位于观测剖面中间,则会出现“双八字”异常;点位在两端,则会出现“半八字”异常。在现场采样时,应及时发现此类异常并及时处理。 图1中B剖面的问题则更为严重,图左侧出现了太多的漩涡状封闭异常,这在地电断面中是不真实的。一般而言,我们直流电法采集到的地电断面,其等值线的起伏会比较缓,较难形成小型的封闭异常,更不用说形成如图中的密集型“漩涡异常”。图中剖面形成的原因是:剖面左侧是水泥路面,接地条件很差,现场操作人员未对接地条件进行有效改善就进行了数据采集,其数据当然是不可信的。 一般而言,有效的高密度电阻率法成果数据有如下特征:等值线较为平缓,没有突变起伏点,高阻、低阻区的变化是渐变的;视电阻率数值上没有孤值畸变异常,反应到等值线上是没有“漩涡异常”(独立的漩涡状异常是可以通过编辑原始数据来解决,密集的,如出现较多的漩涡状异常则需要重测);等值线上没有出现规律的“八字异常”及其演变而成的“半八字”或“双八字”异常。

2.2 观测方式对数据成果的影响 目前,高密度电阻率法仪器发展得相当快,几乎所有的电阻率法观测装置都可以在高密度仪器中实现。总体而言,我倾向于将高密度电阻率法的观测方式分为两大类:剖面类观测方式和测深类观测方式。如图2所示:剖面类观测是以电剖面法为主体的,如图2(A)——观测方式由电剖面开始,由左至右,依次增大AMNB之间的间距,一层一层采集数据,从而建立电法剖面,其剖面资料是倒梯形的;测深类观测是以电测深为主体的,如图2(B),其由左至右(有些仪器是从两端往中间),逐点进行电测深法观测(有时,甚至不用专门的高密度仪器,直接将电测深资料编绘成等值线图,用以代替高密度工作),由图可知,其成果是矩形的。 在不少技术人员的眼里,这两种方法是等效的,其实不然。 图3是这两种观测方式的典型剖面,由图中可以看出两种观测方式的等值线图的主要差异:在测深类观测方式的等值线图中,其深部的曲线,其等值线基本上都呈垂直向下,水平点之间的电阻率异常多呈垂直分带;而剖面类观测方式的等值线尽管有起伏、甚至有封闭,但总体而言是与地平线平行或斜交,水平点之间的接触关系基本上是连续的。 为什么会这样呢?倒底哪一种数据更接近地电实际呢? 从图2就可以看出:剖面类观测方式是水平观测为主,相互点之间的影响较大,数据变化是渐缓的,上下相邻的深度处的采样点是交叉的,如果按纵向单点取测深资料的话,其测深点间距是a/2(a为电极间距),尽管其数据要稀一点。因此同样多的采样点, 其分布得更“密”更均匀合理。而且,在不少采用这种观测方式时,其观测电极间距MN会随着AB间距的增大而增大,因此浅层地电条件、接地电阻等对数据的影响更小;而测深类观测方式呢,其单个测点的观测是相对“独立”的,测深点的间距是a(a为电极间距),而更为重要的是,采用该方式观测时,MN的间距一般是不变的,这样,实际观测到的数值受MN点的接地电阻及其之间表层电阻数值的影响较大,可以这么说:各点的数值由于接地电阻、表层电阻等的缘故,而在实际数据上加了个“系数”,从而导致水平两点间数值原本接近的视电阻率值却相差较大。在接地电阻、表层电阻差异很大的区域,这种观测方式所受的影响就更加明显,可以得到自上而下垂直交替的高低阻,呈现出峡谷状的电阻率等值线断面(即自上而下,其等值线基本与地平线垂直)。 实际的地电条件是如何的呢,从地质基本知识可知,从宏观上讲,地层的分布是以水平状、倾斜状的为主(大多数情况下,电阻率等值线基本与构造线、地层线相平行),似图3(B)式的垂直交替的情形并不多见。如果完全按照测深类观测方式的等值线图进行地质解释的话,其结果肯定更容易出现错误。当然,在不少场地,由于场地条件的影响,采用剖面类观测方式的观测深度难以保证,只能采用测深类装置(三极测深、二极测深装置要比四极剖面装置节约大约一半的场地)。 因此,根据笔者的经验与思考,设计现场作业及处理时,应按如下原则选择观测装置:只要场地条件许可,尽量采用剖面类观测方式,尤其是首选四极剖面装置,因为这种观测方式是真正集中了电剖面和电测深法的优点,其采集点分布更均匀合理,在不少场合、不同要求的勘探项目中都可以取得好的效果。在剖面烃观测时,其资料的反演解释时应以二维剖面为主,单点测深、水平曲线分析为辅。 而在场地限制只能采用测深类装置时,要尽可能改善各点的接地条件,资料反演解释时应以单点测深反演为主,二维剖面为辅,尤其是解释出直立状接触带时,一定要谨慎,以免贻笑大方。

2.3 如何对待反演成果? 几乎所有的仪器厂商都会为用户配置至少一种反演软件(其中比较好的有:国外 M.H.Loke工作组开发的“RES2DINV软件”,中国地质大学“2.5维反演软件”和河北廊坊中石油物探所的“电法工作站”等)。在和不少生产单位接触的过程中,笔者发现有一种倾向危害很大:有一些单位和技术人员非常迷信反演软件的力量,每一条剖面都经过反演,甚至于在资料解释时只看反演剖面不看原始剖面,最终的报告也只附反演成果,这是非常幼稚的,常常会遭至较大的失败。更可悲的是:不少单位、个人在勘探失败后,不在工作方式上进行反思,反而怀疑高密度电阻率法方法的有效性! 笔者从事高密度电阻率法工作十多年,工作的电极间距由0.5m至10m,解决过不少的实际问题,从浅部的2、3米至深部的数十米都有相当成功的经验,总结多年的经验,笔者认为:高密度电阻率法的解释应以视电阻率等值线图为主,附以一定的反演工作,即可达到解释需要。一定要慎用反演成果! 为什么? 第一,高密度电阻率法,特别是采用剖面类观测方式时,集合了电剖面法和电测深法的优点,加上高密度的布极与观测,其效力已远非传统的电测深、电剖面法所能比拟的。其视电阻率等值线图已与实际的地电剖面接近(在浅部更是如此)。只要肯钻研,广泛收集钻探资料,我们就可以发现,在视电阻率等值线图中,不仅是电阻率数值、交接带,就连等值线的疏密、拐弯、起伏,都蕴含着丰富的信息可供解释。 第二,就目前而言,我们很难保证我们采集的视电阻率剖面中的数百个点都是准确的,也许永远也无法办到。采集到的视电阻率值与仪器、电极、接地条件、浅部异常等都有密切关系,由于这些方面出现问题而采集到的异常数据经过反演后往往会得到无限放大,造成严重误判。更为重要的是,即便是资料没有问题,目前反演软件的水平,也无法保证能反演出完全正确的地电剖面,那些迷信反演、迷信所谓“真电阻率”的想法是多么的可笑而且危险! 当然,并不是说,当前的反演软件一无是处,所有的反演都一无是处,按照笔者的思路,高密度电阻率的反演处理应按如下思路进行:首先要判断原始数据的可靠性,接地条件很差,原始数据质量较差的数据千万不要进行反演;对于地形平缓、接地条件好、数据质量高的剖面,可进行反演工作。 而在资料解释时一定要采用视电阻率剖面与反演剖面相结合的办法:其主次关系要视原始数据的质量而定,在数据质量较好时,以反演剖面为主、视电阻率剖面为辅;反之,以视电阻率剖面为主、为反演剖面辅。在资料解释的目标性上还要贯彻如下思路:宏观上,以视电阻率剖面为主进行全面解释,如分层、定性等。对于局部异常,用反演剖面进行范围圈定、大小,如溶洞、土洞等。

2.4 视电阻率的负值异常问题 在电法勘探中经常会遇到视电阻率的负值异常问题,高密度电阻率法也不例外。一般而言,视电阻率是不应该出现负值的,有负值就说明有问题。 引起负值的原因很多,大致有:首先是仪器,如果仪器的阻抗低,抗干扰能力弱,极化补偿能力差,其测试中负值出现的机会就比较大(有一些仪器已经在设计上将ρs值取为绝对值,以此来“消灭”负值异常,如果用到这类仪器,可以通过观察电压值△V是否为负以确定是否有负值异常的存在)。目前国内的各种仪器的性能都还可以,一般初期使用都还可以,但到后来,随着仪器的磨损、老化,其负值异常会越来越多。如果您发现,在您的测试剖面中,负值异常越来越多的话,就应该考虑仪器的维修与更新了;其次是接地条件:这包括电极的接地情况及连接电缆的性能,可以通过仪器自动的接地电阻检查或采用万用电表直接检查的方式来检测,这一影响是可以消除的,也是必须消除的,高密度电阻率法现场技术人员最基本的任务就是确保接地条件和电缆通畅。另外,较大的自然干扰电场也会产生负值异常。 还有一种情况,地下较为独立的高阻体、低阻体也可能产生负值异常,这是最需要引起注意的:一般而言,这种负值异常是有规律的,无法有效消除的,更换仪器、改善接地条件等都无法将其彻底消除。从某种意义上讲,这种负值异常,就是我们需要的目标异常。据笔者经验,在以下条件下,会出现此类负值异常:1、断层接触带,尤其是出露地表的、有温泉出露的断层接触带,其超低阻性质会导致视电阻率的负值异常,此时的负值异常会成带出现,同时在其相邻处一般都会有高阻异常伴生出现,如图4所示的温泉出露点附近的负值异常,该图中90-160m处为断层带,有温泉点直接出露,在该剖面进行高密度电阻率法时,在断层带中有一定的负值异常出现(如图中深蓝色表示的色块);2、较大型的溶洞、土洞,有时也会出现有规律的负值异常,其规模一般不大,而且在负值异常出现之前,会出现有规律的超低阻异常;3、浅部的较大型的高阻体,这一点应该可以理解,因为高阻体对电流的排斥作用,导致其正上方测点处的观测电流很小,会出现超低阻甚至负值异常——这是非常值得注意的:初学者很容易根据视电阻率剖面直观地将其解释成低阻体,那可是会犯大错误的。此时可以通过正演模拟、反演等工作来增加解释的准确率,必要时应增加钻探工作量。需要指出的是:对于水泥砼地面,由于其高阻层较薄,不会产生负值异常,尤其是电极间距大于

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