材料现代分析与测试技术复习资料

合集下载

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案

现代材料检测技术试题及答案第一章1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

8. 特征X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K 系荧光X 射线波长是否等于它的K 系特征X 射线波长? 9. 连续谱是怎样产生的?其短波限VeV hc 31024.1⨯==λ与某物质的吸收限kk kV eV hc 31024.1⨯==λ有何不同(V 和V K 以kv 为单位)? 10. Ⅹ射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对x 射线分析有何影响?反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同?11. 试计算当管压为50kv 时,Ⅹ射线管中电子击靶时的速度和动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?12. 为什么会出现吸收限?K 吸收限为什么只有一个而L 吸收限有三个?当激发X 系荧光Ⅹ射线时,能否伴生L系?当L 系激发时能否伴生K 系?13. 已知钼的λK α=0.71Å,铁的λK α=1.93Å及钴的λK α=1.79Å,试求光子的频率和能量。

试计算钼的K 激发电压,已知钼的λK =0.619Å。

已知钴的K 激发电压V K =7.71kv ,试求其λK 。

14. X 射线实验室用防护铅屏厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对CuK α、MoK α辐射的透射系数各为多少? 15. 如果用1mm 厚的铅作防护屏,试求Cr K α和Mo K α的穿透系数。

现代分析测试方法复习总结

现代分析测试方法复习总结

第一章X射线衍射分析激发:1.较高能级是空的或未填满,由泡利不相容原理决定。

2.吸收能量是两能级能量之差。

辐射的吸收:辐射通过物质时,某些频率的辐射被组成物质的粒子选择性吸收而使辐射强度减弱的现象,实质为吸收辐射光子能量发生粒子的能级跃迁。

辐射的发射:1.光电效应:以光子激发原子所发生的激发和辐射过程。

被击出的电子称为光电子。

2.俄歇效应:高能级电子向低能级跃迁时,除以辐射X射线的形式释放能量外,这些能量可能被周围某个壳层上的电子所吸引,并促使该电子受激溢出原子成为二次电子,该二次电子具有特定的能量值,可以用来表征这些原子。

所产生的二次电子即为俄歇电子。

原子内层电子受激吸收能量发生跃迁,形成X射线的吸收光谱。

光子激出内层电子,外层电子向空位跃迁产生光激发,形成二次X射线,构成X射线的荧光光谱。

X射线产生条件:1.产生自由电子。

2.使电子做定向高速运动。

3.在运动路径设置使其突然减速的阻碍物。

X射线属于横波,波长为0.01~10nm能使某些荧光物质发光,使照相底片感光,使部分气体电离。

X射线谱是X射线强度与波长的关系曲线。

特征X射线:强度峰的波长反映物质的原子序数特征。

,产生特征X射线的最低电压为激发电压,也叫临界电压。

阳极靶材原子序数越大,所需临界电压值越高。

K层电子被击出的过程定义为K系激发,随之的电子跃迁叫K系辐射。

相干散射:X射线通过物质时,在入射束电场的作用下,物质原子中的电子受迫振动,同时向四周辐射出与入射X射线相同频率的散射X射线,同一方向上各散射波可以互相干涉。

非相干散射:X射线光子冲击束缚力较小的电子或自由电子时,会产生一种反冲电子,而入射X射线光子则偏离入射方向,散射X射线光子波长增大,因能量减小程度不同,故不可干涉。

入射X射线光子能量到达一定阀值,可击出物质原子内层电子,同时外层高能态电子向内层的空位跃迁时辐射出波长一定的特征X射线。

该阀值对应的波长为吸收限或K系特征辐射激发限。

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案【篇一:2012年材料分析测试方法复习题及解答】lass=txt>一、单项选择题(每题 3 分,共 15 分)1.成分和价键分析手段包括【 b 】(a)wds、能谱仪(eds)和 xrd (b)wds、eds 和 xps(c)tem、wds 和 xps (d)xrd、ftir 和 raman2.分子结构分析手段包括【 a】(a)拉曼光谱(raman)、核磁共振(nmr)和傅立叶变换红外光谱(ftir)(b) nmr、ftir 和 wds(c)sem、tem 和 stem(扫描透射电镜)(d) xrd、ftir 和raman3.表面形貌分析的手段包括【 d】(a)x 射线衍射(xrd)和扫描电镜(sem) (b) sem 和透射电镜(tem)(c) 波谱仪(wds)和 x 射线光电子谱仪(xps) (d) 扫描隧道显微镜(stm)和sem4.透射电镜的两种主要功能:【 b】(a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构(c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【c 】(a)–c-h、–oh 和–nh2 (b) –c-h、和–nh2,(c) –c-h、和-c=c- (d) –c-h、和 co2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。

(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。

(√)5.在样品台转动的工作模式下,x射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。

(√ )三、简答题(每题 5 分,共 25 分)1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么?和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。

束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。

2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的?范德华力和毛细力。

以上两种力可以作用在探针上,致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时,探测器可实时地检测悬臂的状态,并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。

现代化材料分析测试方法期末试题及解答

现代化材料分析测试方法期末试题及解答

现代化材料分析测试方法期末试题及解答试卷分析本试卷主要考察了现代化材料分析测试方法的基本概念、原理、技术及其应用。

试题涵盖了各种测试方法的特点、优缺点、适用范围以及相关设备的操作和维护等内容。

试题部分一、选择题(每题2分,共20分)1. 下列哪一项不属于材料分析测试方法的分类?A. 物理方法B. 化学方法C. 力学方法D. 生物学方法2. 扫描电子显微镜(SEM)的分辨率通常高于透射电子显微镜(TEM)。

其主要原因是?A. 加速电压更高B. 样品制备更简单C. 电磁透镜的放大倍数更大D. 信号采集方式更优越3. 在能谱分析中,能量色散谱(EDS)与波谱分析(WDS)的主要区别是什么?A. 能量分辨率不同B. 信号采集方式不同C. 检测元素种类不同D. 谱图形态不同4. 以下哪种测试方法可以同时获得材料的微观形貌和成分信息?A. X射线衍射B. 光学显微镜C. 扫描电子显微镜D. 原子力显微镜5. 某同学在使用X射线光电子能谱(XPS)进行分析时,发现获取的信号强度较低。

可能的原因是?A. 样品制备不充分B. 仪器灵敏度不够C. 加速电压设置不当D. 样品与仪器接触不良二、简答题(每题5分,共25分)6. 请简述透射电子显微镜(TEM)的工作原理及其在材料分析中的应用。

7. 什么是拉曼光谱?请列举其在材料分析中的应用。

8. 请简述原子力显微镜(AFM)的工作原理及其在材料分析中的优势。

三、论述题(每题10分,共30分)9. 论述能谱分析(EDS)在材料分析中的应用范围及其局限性。

10. 结合实际情况,论述现代化材料分析测试方法在科研和工业领域的应用前景。

答案部分一、选择题答案1. D2. D3. A4. C5. B二、简答题答案6. 透射电子显微镜(TEM)的工作原理是利用电子束透过样品,样品对电子束产生散射和吸收,形成衍射图样和吸收图像。

在材料分析中,TEM可以用于观察材料的微观结构、晶体学分析、相变研究等方面。

材料现代测试分析技术

材料现代测试分析技术
以测试方法和仪器的突破为先导,“在诺贝尔物理和化学奖 中,大约有四分之一是属于测试方法和仪器创新的”
材料分析是如何实现的?
通过对表征材料的物理性质参数及其变化 (称为测量信号或特征信息)的检测实现 的。即,材料分析的基本原理是指测量信 号与材料成分、结构等的特征关系 采用各种不同的测量信号(相应地具有与 材料的不同特征关系)形成了各种不同的 材料分析方法
能级跃迁类型
吸收或发射 辐射种类
原子核能级
γ 射线
电子能级跃迁 (低能级到高能级)
X射线
价电子能级跃迁 (低能级到高能级)
紫外线、可见光
分子电子能级跃迁 (低能级到高能级)
紫外线、可见光
分子振动能级跃迁 (低能级到高能级)
红外线
电子自旋能级(磁能级) 微波 跃迁
原子核磁能级跃迁
射频
电子能级跃迁
荧光
价电子能级跃迁 (高能级到低能级)
四、光谱的分类
按辐射与物质相互作用性质
吸收光谱
发射光谱
散射光谱
…….. X
按的 发物
按谱域
生质
作微

用粒


原子光谱 分子光谱 谱
紫 外 光 谱
可 见 光 谱
射 线 谱
按强度对波长的分布特点
钠蒸气吸收光谱 苯蒸气吸收光谱
氢原子发射光谱 氰分子发射光谱
线光谱 带光谱
连续光谱
吸收与发射光谱分类
光谱分类名称
紫外线、可见光
价电子能级跃迁 (高能级到低能级)
紫外线、可见光 (原子荧光)
分子能级
紫外线、可见光 (分子荧光)
分子能级
紫外线、可见光 (分子磷光)
备注

材料现代分析测试方法王富耻答案精选全文完整版

材料现代分析测试方法王富耻答案精选全文完整版

可编辑修改精选全文完整版材料现代分析测试方法王富耻答案【篇一:北航材料考研材料现代研究方法复习资料】第一章晶体学 (1)第二章 x射线相关知识 (6)第三章常见的粉末与单晶衍射技术 (17)第四章扫描与透射电子显微镜 (23)第一章晶体学一、晶体结构概论1,固体无机物质分晶态和非晶态两种。

如:铁、金刚石、玻璃、水晶晶态:构成固体物质的分子或原子在三维空间有规律的周期性排列。

特点:长程有序,主要是周期有序或准周期性。

非晶态:构成物质的分子或原子不具有周期性排列。

特点:短程有序,长程无序2,点阵的概念构成晶体的原子呈周期性重复排列,同时,一个理想晶体也可以看成是由一个基本单位在空间按一定的规则周期性无限重复构成的。

晶体中所有基本单位的化学组成相同、空间结构相同、排列取向相同、周围环境相同。

将这种基本单位称为基元。

基元可以是单个原子,也可以是一组相同或不同的原子。

若将每个基元抽象成一个几何点,即在基元中任意规定一点,然后在所有其他基元的相同位置也标出一点,这些点的阵列就构成了该晶体的点阵(lattice)。

点阵是一个几何概念,是按周期性规律在空间排布的一组无限多个的点,每个点都具有相同的周围环境,在其中连接任意两点的矢量进行平移时,能使点阵复原。

3,点阵和晶体结构阵点(几何点代替结构单元)和点阵(阵点的分布总体)注意与晶体结构(=点阵+结构单元)的区别空间点阵实际上是由晶体结构抽象而得到的几何图形。

空间点阵中的结点只是几何点,并非具体的质点(离子或原子)。

空间点阵是几何上的无限图形。

而对于实际晶体来说,构成晶体的内部质点是具有实际内容的原子或离子,具体的宏观形态也是有限的。

但是空间点阵中的结点在空间分布的规律性表征了晶体格子构造中具体质点在空间排列的规律性。

4,十四种空间点阵根据晶体的对称特点,可分为7个晶系:1) 三斜晶系(triclinic 或anorthic)2) 单斜晶系(monoclinic)3) 正交晶系(orthorhombic)系)。

现代材料分析测试技术材料分析测试技术50页PPT

现代材料分析测试技术材料分析测试技术50页PPT
现代材料分析测试技术材料分 析测试技术
11、战争满足了,或曾经满足过人的 好斗的 本能, 但它 制力的 欲望。 ——查·埃利奥 特 12、不应把纪律仅仅看成教育的手段 。纪律 是教育 过程的 结果, 首先是 学生集 体表现 在一切 生活领 域—— 生产、 日常生 活、学 校、文 化等领 域中努 力的结 果。— —马卡 连柯(名 言网)
11、越是没有本领的就越加自命不凡。——邓拓 12、越是无能的人,越喜欢挑剔别人的错儿。——爱尔兰 13、知人者智,自知者明。胜人者有力,自胜者强。——老子 14、意志坚强的人能把世界放在手中像泥块一样任意揉捏。——歌德 15、最具挑战性的挑战莫过于提升自我。——迈克尔·F·斯特利
13、遵守纪律的风气的培养,只有领 导者本 身在这 方面以 身作则 才能收 到成效 。—— 马卡连 柯 14、劳动者的组织性、纪律性、坚毅 精神以 及同全 世界劳 动者的 团结一 致,是 取得最 后胜利 的保证 。—— 列宁 摘自名言网
15、机会是不守纪律的。——雨果
谢谢

现代材料分析测试技术-第02章-3倒易点阵爱瓦尔德作图法精选全文

现代材料分析测试技术-第02章-3倒易点阵爱瓦尔德作图法精选全文
11
爱瓦尔德球与倒易点阵的关联作用
• 若有倒易点G(指数为hkl)落在球上,则 • G点对应的晶面组(hkl)与入射束oo*,
满足布拉格定律 • 有k‘-k=g • 布拉格定律的另一种表达形式
12
证明:爱瓦尔德作图法- 布拉格定律的几何表达形式
• O*D=oo*sinθ • g=1/d (倒易矢量的定义)
• a*·a = b*·b = c*·c =1
• a* b* c*的表达式为:V空间点阵单位晶胞
的体积
a b c ;b a c ;c a b
V
V
V
4
• 某一倒易基矢垂直于正点阵中和自己异名的二 基矢所成的平面
• 正倒点阵异名基矢点乘为0,同名基矢点乘为1
5
倒易点阵与正点阵的倒易关系及 倒易矢量及性质
• 无数倒易点组成点阵-倒易点阵 • 倒易点阵的倒易是正点阵。 • 倒易矢量及性质:
从倒易点阵原点向任一倒易阵点所 连接的矢量叫倒易矢量,表示为:
Hhkl = ha* + kb* + l c* 两个基本性质
6
两个基本性质 :
1) Hhkl垂直于正点阵中的hkl晶面 2) Hhkl长度等于hkl晶面的晶面间距dhkl的倒数
&2-3 倒易点阵
1
倒易点阵的引入
• 倒易点和倒易原点 • 晶体点阵中的晶面和相应倒易点的关系 • 整个晶体中各种方位、各种面间距的晶
面所对应的倒易点之总和,构成了一个 三维的倒易点阵。正空间与倒空间
2
3
1.倒易点阵中单位矢量的定义式
• a*·b = a*·c = b*·a = b*·c = c*·a = c*·b =0
7
2-4 爱瓦尔德图解法
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

X射线衍射分析(基础与应用) 一.X射线的特性 人的肉眼看不见X射线,但X射线能使气体电离,使照相底片感光,能穿过不透明的物体,还能使荧光物质发出荧光。 ▪ X射线呈直线传播,在电场和磁场中不发生偏转;当穿过物体时仅部分被散射. ▪ X射线对动物有机体(其中包括对人体)能产生巨大的生理上的影响,能杀伤生物细胞。 二。X射线具有波粒二相性 1。X射线的本质是电磁辐射,与可见光完全相同,仅是波长短而已,因此其同样具有波粒二象性。波动性: ▪ 硬X射线:波长较短的硬X射线能量较高,穿透性较强,适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析。 ▪ 软X射线:波长较长的软X射线能量较低,穿透性弱,可用于非金属的分析。 ▪ 三。X光与可见光的区别 ▪ 1) X光不折射,因为所有物质对X光的折光指数都接近1。因此无X光透镜或X光显微镜。 ▪ 2) X光无反射 ▪ 3) X光可为重元素所吸收,故可用于医学造影。 1.3 X射线的产生及X射线管 X射线的产生: X射线是高速运动的粒子(一般用电子)与某种物质相撞击后猝然减速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。 产生原理 X射线是高速运动的粒子(一般用电子)与某种物质(阳极靶)相撞击后猝然减速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子的运动受阻失去动能,其中一小部分(1%左右)能量转变为X射线,而绝大部分(99%左右)能量转变成热能使物体温度升高。 产生X射线条件 ▪ 1。产生自由电子; ▪ 2.使电子作定向的高速运动(阴极阳极间加高电压); ▪ 3.在其运动的路径上设置一个障碍物(阳极靶)使电子突然减速或停止。 ▪ 阴极-—发射电子。一般由钨丝制成,通电加热后释放出热辐射电子. ▪ 阳极—-靶,使电子突然减速并发出X射线. 窗口——X射线出射通道.既能让X射线出射,又能使管密封。窗口材料用金属铍或硼酸铍锂构成的林德曼玻璃。窗口与靶面常成3—6°的斜角,以减少靶面对出射X射线的阻碍.

旋转阳极

高速电子转换成X射线的效率只有1%,其余99%都作为热而散发了。所以靶材料要导热性能好,常用黄铜或紫铜制作,还需要循环水冷却.因此X射线管的功率有限,大功率需要用旋转阳极。3000r/min 因阳极不断旋转,电子束轰击部位不断改变,故提高功率也不会烧熔靶面。目前有100kW的旋转阳极,其功率比普通X射线管大数十倍。

思考: 1、为何X光管应抽真空? 1—4 X射线谱 X射线谱指的是X射线的强度(I)随波长(λ)变化的关系曲线。X射线强度大小由单位面积上的光量子数决定。 ▪ 由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型: ▪ (1)连续(白色)X射线 ▪ (2)特征(标识)X射线 ▪ 连续辐射,特征辐射 (1) 连续X射线 由具有从某个最短波长(短波极限λ0)开始的连续的各种波长的X射线的集合(即:波长范围为λ0 ~λ∝) 短波限 ▪ 连续X射线谱在短波方向有一个波长极限,称为短波限λ0。它是由电子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线,此光子能量最大波长最短。它只与管电压有关,不受其它因素的影响。 ▪ 光子能量为: ▪ 式中 e -电子电荷,等于 (库仑) ▪ V—管电压 h—普朗克常数,等于 X射线的强度是指在单位时间内通过垂直于X射线传播方向的单位面积上光子数目(能量)的总和。 常用单位是J/cm2。s.

• 随着原子序数Z的增加,X射线管的效率提高,但即使用原子序数大的钨靶,在管压高达100kv的情况下,X射线管的效率也仅有1﹪左右,99%的能量都转变为热能。

1、当增加X射线管压时,各波长射线的相对强度一致增高,最大强度波长λm和短波限λ0变小。2、当管压保持不变,增加管流时,各种波长的X射线相对强度一致增高, 但λ0数值大小不变。3、当改变阳极靶元素时,各种波长的相对强度随元素的原子序数的增加而增加。 总结:连续射线的总强度与管电压、管电流及阳极材料(一般为钨靶)的原子序数有关 标识X射线的特征 ▪ 当电压低于临界电压时,只产生连续X射线。当电压达到临界电压时,在连续X射线的基础上产生波长一定的谱线,构成标识X射线谱.当电压、电流继续增加时,标识谱线的波长不再变,强度随电压增加。这种谱线的波长只决定于阳极材料,不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。如钼靶K系标识X射线有两个强度高峰为K

和Kβ,波长分别为0。71 Å和0。63 Å.

产生机理 ▪ 在电子轰击阳极的过程中,当某个具有足够能量的电子将阳极靶原子的内层电子击出时,于是在低能级上出现空位,系统处于不稳定激发态.此时较外层较高能级上的电子向低能级上的空位跃迁,并以光子的形式辐射出标识X射线谱:hn2n1=En2

sj3410625.6ZVKiVZVKXX121电子流功率射线功率射线管效率miZVKI1

连eV

hc0-En1,射线波长 ▪ λ=h/ΔE必然是个仅仅取决于原子外层电子结构特点的常数,或者说是个仅仅取决于原子序数的常数。

莫塞莱定律 ▪ 同系(例如K1、L1等

)特征X射线谱的频率和波长只取决于阳极靶物质的原子能级

结构,是物质的固有特性。且存在如下关系: 莫塞莱定律:同系特征X射线谱的波长λ或频率与原子序数Z关系为:

或者  :波长; C:与主量子数、电子质量和电子电荷有关的常数; Z :靶材原子序数;  :屏蔽常数 根据莫色莱定律,将实验结果所得到的未知元素的特征X射线谱线波长,与已知的元素波长相比较,可以确定它是何元素. 特征X射线波长与靶材料原子序数有关 原子序数越大,核对内层电子引力上升,下降

▪ X射线被物质散射时,产生两种现象: ▪ 相干散射; ▪ 非相干散射. 1. 相干散射 当X射线通过物质时,在入射电场作用下,物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动,同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线,称为经典散



ZC

1ZC

1射。由于散射波与入射波的频率或波长相同,位相差恒定,在同一方向上各散射波发生的相互加强的干涉现象,又称为相干散射.又称为弹性散射。相干散射是X射线在晶体中产生衍射现象的基础 2. 非相干散射 X射线光子与束缚力不大的外层电子 或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子,X射线光子离开原来方向,且能量减小,波长增加称为非相干散射.。 ▪ 非相干散射突出地表现出X射线的微粒特性,只能用量子理论来描述,亦称量子散射。这种散射分布在各方向上,波长变长,相位与入射线之间也没有固定的关系,故不产生相互干涉,不能产生衍射,只会称为衍射谱的背底,给衍射分析工作带来干扰和不利的影响.

▪ X射线的吸收 ▪ X射线通过物质时产生的光电效应和俄歇效应,使入射X射线的能量变成光电子、俄歇电子和荧光X射线的能量,使X射线强度被衰减,是物质对X射线的真吸收过程。 ▪ 光电效应1 -——光电子和荧光X射线 ▪ 当入射X光子的能量足够大时,还可以将原子内层电子击出使其成为光电子,同时辐射出波长严格一定的特征X射线。为区别于电子击靶时产生的特征辐射,由X射线发出的特征辐射称为二次特征辐射,也称为荧光辐射.(荧光光谱分析原理是光电效应) ▪ 光电效应2--—-- 俄歇效应 ▪ 从L层跳出原子的电子称KLL俄歇电子.每种原子的俄歇电子均具有一定的能量,测定俄歇电子的能量,即可确定该种原子的种类,所以,可以利用俄歇电子能谱作元素的成分分析。不过,俄歇电子的能量很低,一般为几百eV,其平均自由程非常短,人们能够检测到的只是表面两三个原子层发出的俄歇电子,因此,俄歇谱仪是研究物质表面微区成分的有力工具. ▪ 光电效应小结 ▪ 1.光电子:被X射线击出壳层的电子即光电子,它带有壳层的特征能量,所以可用来进行成分分析(XPS) ▪ 2. 俄歇电子:高能级的电子回跳,多余能量将同能级的另一个电子送出去,这个被送出去的电子就是俄歇电子带有壳层的特征能量(AES) ▪ 3. 二次荧光:高能级的电子回跳,多余能量以X射线形式发出.这个二次X射线就是二次荧光也称荧光辐射同样带有壳层的特征能量 质量衰减系数μm

▪ 表示单位重量物质对X射线强度的衰减程度.

▪ 质量衰减系数与波长和原子序数Z存在如下近似关系: K为常数 ▪ μm对于一定波长和一定物质来说,是与物质密度无关的常数。其物理意义为每克物

质引起的相对衰减量。它不随物质的物理状态(气态、液态、粉末或块状的固态、机械混合态、化合物或固液体等)而改变. ▪ 吸收限的应用 ---X射线滤波片的选择 ▪ 获得单色光的方法之一是在X射线出射的路径上放置一定厚度的滤波片,可以简便地将Kβ和连续谱衰减到可以忽略的程度。 ▪

▪ 滤波片的选择: ▪ (1)它的吸收限位于辐射源的Kα和K β之间,且尽量靠近K α ,强烈吸收Kβ, 而

对Kα吸收很小; ▪ (2)滤波片的选择以将Kα强度降低一半为最佳。

▪ Z靶<40时 Z滤片=Z靶—1; ▪ Z靶40时 Z滤片=Z靶-2。

相关文档
最新文档