薄膜渗透率的测定

薄膜渗透率的测定
薄膜渗透率的测定

薄膜渗透率的测定

摘要

根据问题的要求,我们对题目进行恰当的分析,通过合理的假设,们建立微积分数学模型和数据拟合数学模型,求出不同关系量之间的关系。

对于问题,我们运用高等数学和高中物理和生物学的相关知识,同时也用MATLAB进行求解,得出A=0.00006985525148 B=-0.00002994067803 K=0.10117070586401关键词:数据拟合,渗透率,质量守恒

一、问题的重述

某种医用薄膜有允许一种物质的分子穿透它,从高浓度的溶液向低浓度的溶液扩散的功能,在试制时,需要测定薄膜被这种分子穿透的能力。测定方法如下:

用面积S的薄膜将容器分成体积分别为V A,V B的两部分,在两部分中分别注满该物质的两种不同浓度的溶液。此时该物质分子就会从高浓度溶液穿过薄膜向低浓度溶液中扩散。通过单位面积膜分子扩散的速度与膜两侧溶液的浓度差成正比,比例系数K表示薄膜被该物质

分子穿透的能力,称为渗透率。

V A=V B=1000cm3,S=10cm2,求容器的B部分溶液浓度 V A

的测试结果如下表(其中C j的单位为毫克/cm3)

S

V B

1、

2、物质从膜的任何一侧向另一侧

渗透的性能是相同的。

三、符号说明:

t: 时间

CA(t):t时刻A侧溶液的浓度。

CB(t):t时刻B侧溶液的浓度。

aA:A侧初始时刻的浓度

aB::B侧初始时刻的浓度

Cj::B侧在j时刻测得的浓度

V:体积

SK:物质质量的增加

四、问题的分析

渗透率和浓度差是本文所要求的关系量,我们先用质量守恒建立溶质间的渗透关系,用微分方程,建立微分数学模型来求t时刻薄膜两侧的浓度,体积差。最后通过数据拟合,得出K的值。

四、模型的建立与求解

令时刻t,膜两侧溶液的浓度分别为CA(t)和CB(t), 初始时刻两侧的浓度分别为aA和aB,单位为 mg/cm3. 又设B侧在tj时刻测得的浓度为cj(j=1,2,3……n).

在A侧经△t 物质质量增加为:VACA(t+△t)-VACA(t)

从B侧渗透到A侧的物质质量为:SK(CB-CA)△t.

由质量守恒:

V(CA(t+△t)-CA(t))=SK(CB-CA)△t

两边同除VA△t 得:

dCA/dt=SK(CB-CA)/VA (1)

在B侧,经△t 物质增加为:

VBCB(t+△t)-VBCB(t)

从A侧渗透到B侧的物质质量为:

SK(CA-CB)△t

由质量守恒定律得:

VB(CB(t+△t)-CB(t))=SK(CA-CB)△t

dCB/dt=SK(CA-CB)/VB (2)

得到薄膜两侧溶液满足微分方程组的初值问题:

dCA/dt=SK(CB-CA)/VA (1)

dCB/dt=SK(CA-CB)/VB (2)

CA(0)=Aa, CB(0)=aB

又能有整个容器的溶液中含有该物质的质量不变,即成立

VACA(t)+VBCB(t)=常数=VAaA+VbaB (3)

即:CA(t)=Aa+VB*Ab/VA-VB*CB(t)/VA (4)

将(4)式代入(2 )式;根据积分中值定理:

dCB/dt=SK(Aa+VB*Ab/VA-VB*CB(t)/VA -CB)/VB (5)

dCB/dt=a-bCB

CB(0)=aB

其中a= SK(Aa/VB+Ab/VA)

b=SK(1/VA+1/VB);

解得:

CB(t)=(aAVA+aBVB)/(VA+VB)+(VA(aB-aA)/(VA+VB))*e.^(-sk(1/VA+1/VB)*t 令

A=(aAVA+aBVB)/(VA+VB)=0.2

B=VA(aB-aA)/(VA+VB)=0.05

CB(t)=A+B*E.^(-SK(1/VA+1/VB)*t

将已知数据代入,通过数据拟合求参数k :

s=10,VA==VB=1000

A=0.00006985525148 B=-0.00002994067803 K=0.10117070586401

附录:

运用MATLAB:

函数一:function f=curvefun1(x,tdata)

f=x(1)+x(2)*exp(-0.02*x(3)*tdata) %其中x(1)=a;x(2)=b;x(3)=k;

调用函数一:

tdata=100:100:1000;

cdata=1e-05*[4.54,4.99,5.35,5.65,5.90,6.10,6.26,6.39,6.50,6.59];

x0=[0.2,0.05,0.05];

x=curvefit('curvefun1',x0,tdata,cdata);

f=curvefun1(x,tdata);

x,f

x =

0.00006985525148 -0.00002994067803 0.10117070586401

f =1.0e-004 *

0.45399226319512 0.49879178593386 0.53538475333677 0.56527447495634

0.58968887810267 0.60963095346149 0.62591995988254 0.63922508111045

0.65009291714129 0.65896993960280

(注:本资料素材和资料部分来自网络,仅供参考。请预览后才下载,期待您

的好评与关注!)

常见金属电阻率

常用金属导体在20℃时的电阻率材料电阻率(Ωm) (1)1.65×10-8 (2)1.75×10-8 (3)2.40×10-8 (4)2.83×10-8 (55.48×10-8 (6)9.78×10-8 (7)2.22×10-7 (8)4.4×10-7 (9)9.6×10-7 (10)5.0×10-7 (11)镍铬1.0×10-6 (12)铁铬1.4×10-6 (13)铝镍铁合金1.6×10-6 可以看出金属的电阻率较小,合金的电阻率较大,非金属和一些更大,而的电阻率极大。锗、硅、硒、氧化铜、硼等的电阻率比绝缘体小而比金属大,我们把这类材料叫做(semiconductors)。 另外一些金属和非金属的电阻率 金属温度(0℃)ρ(×10-8Ωm),αo(×10-3) 锌20 5.94.2

铝(软)202.754.2 铝(软)–781.64 (8~13)×10-6 阿露美尔合金20331.2 锑038.75.4 铱206.53.9 铟08.25.1 殷钢0752 锇209.54.2 镉207.44.2 钾206.95.1① 钙204.63.3 金202.44.0 银201.624.1 铬(软)2017 镍铬合金(克露美尔)—70—110.11—.54钴a06.376.58 康铜—50–.04–1.01 锆30494.0 黄铜–5—71.4–2 水银094.080.99 水银2095.8

锶030.33.5 青铜–13—180.5 铯20214.8 铋201204.5 铊20195 钨205.55.3 钨100035 钨3000123 钨–783.2 钽20153.5 金属温度(0℃)ραo,100杜拉铝(软)—3.4 铁(纯)209.86.6 铁(纯)–784.9 铁(钢)—10—201.5—5 铁(铸)—57—114 铜(软)201.724.3 铜(软)1002.28 铜(软)–781.03 铜(软)–1830.30 钍20182.4

测定金属电阻率-

测定金属的电阻率 实验目的: 学会用伏安法测量电阻的阻值,测定金属的电阻率。 实验原理: 用刻度尺测一段金属导线的长度L ,用螺旋测微器测导线的直径d ,用伏安法测 导线的电阻R ,根据电阻定律,金属的电阻率ρ=RS /L =πd 2 R /4L 实验器材: 金属丝、千分尺、安培表、伏特表、(3伏)电源、(20Ω)滑动变阻器、电键一个、导线几根 【点拨】被测金属丝要选用电阻率大的材料,如铁铬铝合金、镍铬合金等或300瓦电炉丝经细心理直后代用,直径0.4毫米左右,电阻5~10欧之间为宜,在此前提下,电源选3伏直流电源,安培表选0 0.6安量程,伏特表选0 3伏档,滑动变阻器选0 20欧。 实验步骤: (1)用螺旋测微器三次测量导线不同位置的直径取平均值D 求出其横 截面积S =πD 2 /4. (2)将金属丝两端固定在接线柱上悬空挂直,用毫米刻度米尺测量接入电路的金属丝长度L ,测三次,求出平均值L 。 (3)根据所选测量仪器和选择电路的原则画好电路图1,然后依电路图按顺序给实物连线并将滑动变阻器的阻值调到最大。 【点拨】为避免接线交叉和正负极性接错,接线顺序应遵循:电源正极→电键(断开状态)→滑动变阻器→用电器→安培表正极→安培表负极→电源负极,最后将伏特表并接在待测电路的两端,即先接干路,后接支路。 (4)检查线路无误后闭合电键,调节滑动变阻器读出几组I 、U 值,分别计算电阻R 再求平均值,设计表格把多次测量的D 、L 、U 、I 记下来。 【点拨】测量时通过金属丝的电流应控制在1.00A 以下,本实验由于安培表量程0~0.60A ,每次通电时间应尽量短(以能读取电表数据为准),读数完毕立即断开电键S ,防止温度升高使金属丝长度和电阻率发生明显变化。 计算时,务必算出每次的电阻值再求平均值,不能先分别求电压U 和电流I 的平均值,再由欧姆定律得平均值,否则会带来较大计算误差。 实验记录 图1

高中物理测定金属的电阻率实验检测题

高中物理测定金属的电阻率实验检测题 1.(2019·天津高考)现测定长金属丝的电阻率。 (1)某次用螺旋测微器测量金属丝直径的结果如图所示,其读数是________mm 。 (2)利用下列器材设计一个电路,尽量准确地测量一段金属丝的电阻。这段金属丝的电阻R x 约为100 Ω,在方框中画出实验电路图,并标明器材代号。 电源E (电动势10 V ,内阻约为10 Ω) 电流表A 1(量程0~250 mA ,内阻R 1=5 Ω) 电流表A 2(量程0~300 mA ,内阻约为5 Ω) 滑动变阻器R (最大阻值10 Ω,额定电流2 A) 开关S 及导线若干 (3)11A 2的读数为I 2,则这段金属丝电阻的计算式R x =________。从设计原理看,其测量值与真实值相比 (填“偏大”“偏小”或“相等”)。 解析:(1)d =20.0×0.01 mm =0.200 mm 。 (2)本题中测量金属丝的电阻,无电压表,故用已知内阻的电流表A 1充当电压表;由于A 1的内阻已知,因此A 2应采用外接法;由于电流表A 1的额定电压U A1=I m R 1=1.25 V ,比电源电动势小得多(或滑动变阻器的总电阻比待测电阻的阻值小得多),故电路采用分压式接法,电路图如图所示。 (3)当电流表A 1、A 2读数分别为I 1、I 2时,通过R x 的电流为I =I 2-I 1,R x 两端电压U =I 1R 1,故R x =U I = I 1R 1 I 2-I 1 ,不考虑读数误差,从设计原理看测量值等于真实值。 答案:(1)0.200(0.196~0.204均可) (2)见解析图 (3) I 1R 1 I 2-I 1 相等 2.(2019·江苏高考)某同学测量一段长度已知的电阻丝的电阻率。实验操作如下: (1)螺旋测微器如图所示。在测量电阻丝直径时,先将电阻丝轻轻地夹在测砧与测微螺杆之间,再旋动________(选填“A ”“B ”或“C ”),直到听见“喀喀”的声音,以保证压力适当,同时防止螺旋测微器的损坏。

四探针测量金属薄膜电阻率

实验三(I)探针测量半导体或金属薄膜电阻率 一.实验目的 1.熟悉四探针测量半导体或金属薄膜电阻率的原理 2.掌握四探针测量材料电阻率的方法 二.实验原理 薄膜材料是支持现代高新技术不断发展的重要材料之一,已经被广泛地应用在微电子器件、微驱动器/ 微执行器、微型传感器中。金属薄膜的电阻率是金属薄膜材料的一个重要的物理特性,是科研开发和实际生产中经常要测量的物理特性,对金属薄膜电阻率的测量也是四端法测量低电阻材料电阻率的一个实际的应用,它比传统的四端子法测量金属丝电阻率的实验更贴近现代高新技术的发展。 直流四探针法也称为四电极法,主要用于半导体材料或超导体等的低电阻率的测量。使用的仪器以及与样品的接线如图3-1所示。由图可见,测试时四根金属探针与样品表面接触,外侧两根1、4为通电流探针,内侧两根2、3为测电压探针。由电流源输入小电流使样品内部产生压降,同时用高阻抗的静电计、电子毫伏计或数字电压表测出其他二根探针的电压即V23(伏)。 (a)仪器接线(b)点电流源(c)四探针排列 图3-1 四探针法测试原理示意图 若一块电阻率为ρ的均匀半导体样品,其几何尺寸相对于探针间距来说可以看作半无限大。当探针引入的点电流源的电流为I,由于均匀导体内恒定电场的等位面为球面,则在半径为r处等位面的面积为2πr2,电流密度为 j=I/2πr2(3-1)

根据电导率与电流密度的关系可得 E =2222r I r I j πρσπσ== (3-2) 则距点电荷r 处的电势为 r I V πρ2= (3-3) 半导体内各点的电势应为四个探针在该点形成电势的矢量和。通过数学推导可得四探针法测量电阻率的公式为: I V C r r r r I V 2313413241223)1111(2=+--?=-πρ (3-4) 式中,134 132412)1111(2-+--=r r r r C π为探针系数,单位为cm ;r 12、r 24、r 13、r 34分别为相应探针间的距离,见图3-1c 。若四探针在同一平面的同一直线上,其间距分别为S 1、S 2、S 3,且S 1=S 2=S 3=S 时,则 S I V S S S S S S I V ππρ2)1111(223133221123=++-+-?=- (3-5) 这就是常见的直流等间距四探针法测电阻率的公式。 为了减小测量区域,以观察电阻率的不均匀性,四根探针不—定都排成—直线,而可排成正方形或矩形,此时,只需改变计算电阻率公式中的探针系数C 。 四探针法的优点是探针与半导体样品之间不要求制备合金结电极,这给测量带来了方便。四探针法可以测量样品沿径向分布的断面电阻率,从而可以观察电阻率的不均匀情况。由于这种方法可迅速、方便、无破坏地测量任意形状的样品且精度较高,适合于大批生产中使用。但由于该方法受针距的限制,很难发现小于0.5mm 两点电阻的变化。 根据样品在不同电流(I )下的电压值(V )计算出该样品的电阻值及电阻率,例如某一种薄膜样品,在薄膜的面积为无限大或远大于四探针中相邻探针间距的时候,金属薄膜的电阻率ρ可以由以下式算出。

测量金属丝的电阻率(含答案)

测量金属丝的电阻率 一、实验题 1.在“测定金属的电阻率”的实验中,测定阻值约为3?6Ω的金属丝的电阻率,实验中所用的电压 表规格:量程0?3V、内阻3kΩ;电流表规格:量程0?0.6A、内阻0.1Ω;还有其他一些器材: (1)用螺旋测微器测得金属丝的直径,如图2所示,可知金属丝的直径d=______mm (2)需要通过实验直接测量的物理量有:____________________________________________(写出 名称和符号).电阻率的测量计算公式为ρ=______ 电流表、电压表的示数如图1所示.可计算出金属丝的电阻为______Ω. 2.在“测定金属的电阻率”的实验中,金属丝的阻值约为5Ω,某同学先用刻度尺测量金属丝的长度 l=50.00cm,用螺旋测微器测量金属丝直径时刻度位置如图1所示,再用伏安法测出金属丝的电阻,然后根据电阻定律计算出该金属材料的电阻率。 ①该电阻丝直径的测量值d=______mm; ②实验中能提供的器材有: A.电压表V1(量程0~3V,内阻约3kΩ) B.电压表V2(量程0~15V,内阻约15kΩ) C.电流表A1(量程0~3A,内阻约0.01Ω) D.电流表A2(量程0~0.6A,内阻约0.1Ω)

E.滑动变阻器R1(0~20Ω) F.滑动变阻器R2(0~500Ω) G.电源E(电动势为3.0V)及开关和导线若干 该同学从以上器材中选择合适的器材连接好电路进行测量,则电压表应选择______,电流表应选择______,滑动变阻器应选择______,(选填各器材前的字母)。要求在流过金属丝的电流相同情况下,电源消耗功率最小,并能较准确地测出电阻丝的阻值,实验电路应选用图2的______。 ③该同学建立U?I坐标系,如图3所示,图中已标出了与测量数据对应的五个坐标点,还有一 次测量的电压表和电流表示数如图4所示,请根据测量数据将坐标点补全,并描绘出U?I图线。 由图线数据可计算出金属丝的电阻为______Ω(保留两位有效数字)。设被测金属丝电阻为R,则该金属材料电阻率的表达式是_________(用题目给出的物理量符号表示)。 ④实验中使用的电流表内阻为R A,电压表内阻为R V,若考虑电流表和电压表内阻的影响,图3 中U?I图象中图线斜率k与该金属材料的电阻率ρ的关系是k=______(用题目给出的物理量符号表示)。 3.现有一合金制成的圆柱体,为测量该合金的电阻率,现用伏安法测圆柱体两端之间的电阻,用螺 旋测微器测量该圆柱体的直径,用游标卡尺测量该圆柱体的长度.螺旋测微器和游标卡尺的示数如图(a)和图(b)所示. (1)由上图读得圆柱体的直径为______mm,长度为______cm. (2)若流经圆柱体的电流为I,圆柱体两端之间的电压为U,圆柱体的直径和长度分别用D、L表 示,则用测得的D、L、I、U表示的电阻率的关系式为ρ=______. 4.为了测量一精密金属丝的电阻率: Ⅰ.先用多用电表×1Ω挡粗测其电阻为______ Ω,然后用螺旋测微器测其直径为______ mm,游标卡尺测其长度是______ mm.

物理实验金属薄膜电阻率的测量

银薄膜电阻率测量数据记录表 膜厚:44.4nm 电流I/mA 正向电压U+/Mv 反向电压U-/mV 平均电压U/mV 0.151 0.162 0.163 0.163 0.172 0.186 0.185 0.186 0.193 0.207 0.208 0.208 0.223 0.241 0.240 0.241 0.281 0.301 0.302 0.302 0.316 0.340 0.339 0.340 0.356 0.383 0.384 0.384 0.402 0.433 0.434 0.434 0.448 0.482 0.483 0.483 电阻率为216.879(Ω/nm) 膜厚:88.8nm 电流I/mA 正向电压U+/Mv 反向电压U-/mV 平均电压U/mV 0.532 0.121 0.126 0.124 1.743 0.404 0.409 0.407 3.264 0.759 0.764 0.762 4.744 1.105 1.110 1.108 5.642 1.314 1.320 1.317 7.539 1.758 1.763 1.761 9.163 2.138 2.143 2.141 10.679 2.492 2.497 2.495 12.221 2.854 2.859 2.857 电阻率为94.11(Ω/nm) 膜厚:133.2nm 电流I/mA 正向电压U+/Mv 反向电压U-/mV 平均电压U/mV 0.794 0.107 0.112 0.110 2.372 0.327 0.332 0.330 3.988 0.553 0.558 0.556 5.235 0.727 0.732 0.730 6.904 0.960 0.965 0.963 8.488 1.181 1.187 1.184 9.785 1.362 1.368 1.365 13.193 1.839 1.844 1.842 14.871 2.073 2.079 2.076 电阻率为84.35(Ω/nm) 膜厚:222nm 电流I/mA 正向电压U+/Mv 反向电压U-/mV 平均电压U/mV 3.970 0.376 0.382 0.379 10.090 0.962 0.967 0.965 14.480 1.382 1.387 1.385

常见金属电阻率

常用金属导体在20℃时的电阻率 材料电阻率(Ω m) (1)银 1.65 × 10-8 (2)铜 1.75 × 10-8 (3)金 2.40×10-8 (4)铝 2.83 × 10-8 (5钨 5.48 × 10-8 (6)铁9.78 × 10-8 (7)铂 2.22 × 10-7 (8)锰铜 4.4 × 10-7 (9)汞9.6 × 10-7 (10)康铜 5.0 × 10-7 (11)镍铬合金 1.0 × 10-6 (12)铁铬铝合金1.4 × 10-6 (13) 铝镍铁合金1.6 × 10-6 可以看出金属的电阻率较小,合金的电阻率较大,非金属和一些金属氧化物更大,而绝缘体的电阻率极大。锗、硅、硒、氧化铜、硼等的电阻率比绝缘体小而比金属大,我们把这类材料叫做半导体(semiconductors)。

另外一些金属和非金属的电阻率 金属温度(0℃)ρ(×10-8Ω m), αo(×10-3) 锌 20 5.9 4.2 铝(软) 20 2.75 4.2 铝(软)–78 1.64 石墨(8~13)×10-6 阿露美尔合金 20 33 1.2 锑 0 38.7 5.4 铱 20 6.5 3.9 铟 0 8.2 5.1 殷钢 0 75 2 锇 20 9.5 4.2 镉 20 7.4 4.2 钾20 6.9 5.1① 钙 20 4.6 3.3 金 20 2.4 4.0 银 20 1.62 4.1 铬(软) 20 17 镍铬合金(克露美尔)— 70—110 .11—.54 钴a 0 6.37 6.58 康铜— 50 –.04–1.01 锆 30 49 4.0 黄铜– 5—7 1.4–2 水银 0 94.08 0.99 水银 20 95.8 锡 20 11.4 4.5 锶 0 30.3 3.5 青铜– 13—18 0.5 铯 20 21 4.8 铋 20 120 4.5 铊 20 19 5 钨 20 5.5 5.3 钨 1000 35 钨 3000 123 钨–78 3.2 钽 20 15 3.5 金属温度(0℃)ραo , 100

常见金属电阻率

常见金属的电阻率,都来看看哦 很多人对镀金,镀银有误解,或者是不清楚镀金的作用,现在来澄清下。。。 1。镀金并不是为了减小电阻,而是因为金的化学性质非常稳定,不容易氧化,接头上镀金是为了防止接触不良(不是因为金的导电能力比铜好)。 2。众所周知,银的电阻率最小,在所有金属中,它的导电能力是最好的。 3。不要以为镀金或镀银的板子就好,良好的电路设计和PCB的设计,比镀金或镀银对电路性能的影响更大。 4。导电能力银好于铜,铜好于金! 现在贴上常见金属的电阻率及其温度系数: 物质温度t/℃电阻率电阻温度系数aR/℃-1 银20 1.586 0.0038(20℃) 铜20 1.678 0.00393(20℃) 金20 2.40 0.00324(20℃) 铝20 2.65480.00429(20℃) 钙0 3.91 0.00416(0℃) 铍20 4.00.025(20℃) 镁20 4.45 0.0165(20℃) 钼 0 5.2

铱20 5.3 0.003925(0℃~100℃) 钨27 5.65 锌20 5.196 0.00419(0℃~100℃) 钴20 6.64 0.00604(0℃~100℃) 镍20 6.84 0.0069(0℃~100℃) 镉0 6.83 0.0042(0℃~100℃) 铟208.37 铁209.71 0.00651(20℃) 铂20 10.6 0.00374(0℃~60℃) 锡0 11.0 0.0047(0℃~100℃) 铷20 12.5 铬0 12.9 0.003(0℃~100℃) 镓20 17.4 铊0 18.0 铯20 20.0 铅20 20.684 0.00376 (20℃~40℃) 锑0 39.0

高二物理测定金属的电阻率

实验 测定金属的电阻率 一、实验目的:学会用伏安法测量电阻的阻值,测定金属的电阻率。 二、实验原理:用刻度尺测一段金属导线的长度L ,用螺旋测微器测导线的直径d ,用伏安法测导线的电阻R ,根据电阻定律,金属的电阻率ρ=RS/L=πd 2R/4L 三、实验器材:①金属丝②千分尺③安培表④伏特表⑤(3伏)电源⑥(20Ω)滑动变阻器⑦电键一个⑧导线几根 【点拨】被测金属丝要选用电阻率大的材料,如铁铬铝合金、镍铬合金等或300瓦电炉丝经细心理直后代用,直径0.4毫米左右,电阻5~10欧之间为宜,在此前提下,电源选3伏直流电源,安培表选0 0.6安量程,伏特表选0 3伏档,滑动变阻器选0 20欧。 四、实验步骤 (1)用螺旋测微器三次测量导线不同位置的直径取平均值D 求出其横截面积S=πD 2/4. (2)将金属丝两端固定在接线柱上悬空挂直,用毫米刻度米尺测量接入电路的金属丝长度L ,测三次,求出平均值L 。 (3)根据所选测量仪器和选择电路的原则画好电路图1,然后依电路图按顺序给实物连线并将滑动变阻器的阻值调到最大。 点拨:为避免接线交叉和正负极性接错,接线顺序应遵循:电源正极→电键(断开状态)→滑动变阻器→用电器→安培表正极→ 安培表负极→电源负极,最后将伏特表并接在待测电路的两端,即先接干路,后接支路。 (4)检查线路无误后闭合电键,调节滑动变阻器读出几组I 、U 值,分别计算电阻R 再求平均值,设计表格把多次测量的D 、L 、U 、I 记下来。 【点拨】测量时通过金属丝的电流应控制在1.00A 以下,本实验由于安培表量程0~0.60A ,每次通电时间应尽量短(以能读取电表数据为准),读数完毕立即断开电键S ,防止温度升高使金属丝长度和电阻率发生明显变化。 计算时,务必算出每次的电阻值再求平均值,不能先分别求电压U 和电流I 的平均值,再由欧姆定律得平均值,否则会带来较大计算误差。 五、实验记录 图1

实验八 测量金属的电阻率

实验八测量金属的电阻率 主干梳理对点激活 1.掌握电流表、电压表和滑动变阻器的使用方法。 2.学会使用螺旋测微器测量金属丝直径。 3.会用伏安法测电阻,进一步测定金属的电阻率。 由R=ρl S得ρ=RS l,因此,只要测出金属丝的长度l、横截面积S和金属丝的 电阻R,即可求出金属丝的电阻率ρ。实验电路图和实物连线图分别如图甲、乙所示。 毫米刻度尺、螺旋测微器、直流电流表和直流电压表、滑动变阻器(阻值范围0~50 Ω)、电池组、开关、被测金属丝、导线若干。 1.求金属丝横截面积S:在准备好的金属丝上三个不同位置用螺旋测微器各测一次直径,求出其平均值d。 2.按照电路图连好电路。 3.测量金属丝有效长度l:将金属丝两端固定在接线柱上悬空挂直,用毫米刻度尺测量接入电路的金属丝长度(即有效长度),反复测量三次,求出平均值l。 4.求金属丝的电阻R x:把滑动变阻器调到接入电路中的阻值最大的位置,检查无误后,闭合开关S,改变滑动变阻器滑片的位置,读出几组相应的电流值和电压值记录在表格中,断开开关S,求出金属丝电阻R x的平均值。 5.整理仪器。

6.将测得的R x、l、d值,代入公式S=πd2 4和ρ= RS l中,计算出金属丝的电 阻率。 1.求R x的两种方法 (1)用R x=U I算出各次的数值,再取平均值。 (2)用U-I图线的斜率求出。 2.计算电阻率:将记录的数据R x、l、d的值,代入电阻率计算公式ρ=R x S l= R x πd2 4l。 1.金属丝直径、长度的测量及电流表、电压表读数带来的偶然误差。 2.电路中因为电流表外接,所以R测

常见金属电阻率

常见金属电阻率 集团企业公司编码:(LL3698-KKI1269-TM2483-LUI12689-ITT289-

常用金属导体在20℃时的电阻率材料电阻率(Ωm) (1)1.65×10-8 (2)1.75×10-8 (3)2.40×10-8 (4)2.83×10-8 (55.48×10-8 (6)9.78×10-8 (7)2.22×10-7 (8)4.4×10-7 (9)9.6×10-7 (10)5.0×10-7 (11)镍铬1.0×10-6 (12)铁铬1.4×10-6 (13)铝镍铁合金1.6×10-6 可以看出金属的电阻率较小,合金的电阻率较大,非金属和一些更大,而的电阻率极大。锗、硅、硒、氧化铜、硼等的电阻率比绝缘体小而比金属大,我们把这类材料叫做(semiconductors)。 另外一些金属和非金属的电阻率 金属温度(0℃)ρ(×10-8Ωm),αo(×10-3)

锌20 5.94.2 铝(软)202.754.2 铝(软)–781.64 (8~13)×10-6 阿露美尔合金20331.2 锑038.75.4 铱206.53.9 铟08.25.1 殷钢0752 锇209.54.2 镉207.44.2 钾206.95.1① 钙204.63.3 金202.44.0 银201.624.1 铬(软)2017 镍铬合金(克露美尔)—70—110.11—.54钴a06.376.58 康铜—50–.04–1.01 锆30494.0 黄铜–5—71.4–2 水银094.080.99

水银2095.8 锡2011.44.5 锶030.33.5 青铜–13—180.5 铯20214.8 铋201204.5 铊20195 钨205.55.3 钨100035 钨3000123 钨–783.2 钽20153.5 金属温度(0℃)ραo,100杜拉铝(软)—3.4 铁(纯)209.86.6 铁(纯)–784.9 铁(钢)—10—201.5—5 铁(铸)—57—114 铜(软)201.724.3 铜(软)1002.28 铜(软)–781.03 铜(软)–1830.30

测定金属电阻率.

测定金属的电阻率 实验目的 学会用伏安法测量电阻的阻值,测定金属的电阻率。 实验原理 用刻度尺测一段金属导线的长度,用螺旋测微器测导线的直径,用伏安法测导线 的电阻,根据电阻定律,金属的电阻率。 实验器材 被测金属导线、米尺、螺旋测微器、电流表、电压表、直流电源、电键、滑动变阻器、导线若干。 实验步骤 1. 用螺旋测微器在被测金属导线上的三个不同位置各测一次直径,求出其平均值d; 2. 按图所示的电路图连接好用伏安法测电阻的实验电路; 3. 用毫米刻度尺测量接入电路中的被测金属导线的有效长度,反复测量3次,求 出其平均值L ; 4. 把滑动变阻器的滑动片调节到使接入电路中的电阻值最大的位置,电路经检查 确认无误后,闭合电键K。改变滑动变阻器滑动片的位置,读出几组相应的电流表、电压表的示数I和U的值,记入记录表格内,断开电键求出导线电阻R的平均值; 5. 将测得R、L、d的值,代入电阻率计算公式中,计算出金属导线的电阻率; 6. 拆去实验线路,整理好实验器材。 实验结论 P = = 根据电阻定律,得金属的电阻率,所以只要先用伏安法测出金属丝 电阻,用刻度尺测金属丝长度,用螺旋测微器测金属丝直径,然后代入公式即可。在测电阻时,如果是小电阻,则电流表用外接法;反之,如果电阻较大,则电流表用内接法。由于金属丝电阻一般较小(相对于电压表内阻来说),故做本实验时应采用电流表外接法.至于滑动变 阻器是采用限流式还是分压式,可根据实验所提供的器材及要求而灵活选取.若无特别要求, 一般可用限流式。 实验考点 通过本实验考查刻度尺和螺旋测微器的读数;伏安法测电阻(注意电流表的内、外接和滑动变阻器的限流、分压接法);电阻定律。

《金属薄膜电阻率的测量》鉴定报告.

金属薄膜电阻率的测量》鉴定报告 一、主题把当今高新技术领域中的科研开发和生产中实际应用的物理测量技术放到大学本科的普通物理实验教学中,不断提高和更新普通物理实验教学的档次,使普通物理实验教学更贴近当今高新技术的发展,从而使学生们在学校期间就能够接触到一些同高新技术领域相关的实验内容,对于提高学生们的学习兴趣和培养将来实际科研开发能力将起到很大的帮助。培养创新型人才,使高等学校培养的毕业生进入社会后能够更快的担负起发展国家高新技产业的重担,这是当前普通物理实验教学改革的重要方向之一。 把科研开发中实际应用的方法向工科物理实验教学转化。科研开发中实际应用的方法包括二部分——(1)具体的实验方法、原理和设备(统称:硬件);(2)提出问题、分析问题和解决问题的思维方法(统称:软件)。 本实验是把科研开发中实际应用的方法——用四探针法测量金属薄膜电阻率引入到工科物理实验教学中。 二、目的 1.让同学们直接地接触薄膜材料,对薄膜材料有一个直观的感性认识;了解和学会现在科研开发和生产中使用的四探针法测量金属薄膜电阻率的原理和方法; 2.了解薄膜的膜厚对金属薄膜电阻率的影响(即,金属薄膜电阻率的尺寸效应);薄膜材料同普通块体材料的差异; 3.分析用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源;4.使学生们在直接感受到工科物理实验在当今高新技术中的应用实例,从而提高学生们的学习兴趣和探索自然的积极性; 5.培养学生们提出问题、分析问题和解决问题的科研开发能力,培养学生们的创新能力; 6.使低价格同时又具有一定科学实用价值的实验仪器进入工科物理实验教学中,降低实验教育的成本。 三、实验讲义 《实验讲义》在内容上有以下几个特点:(1)主要标题中的[引言]、[实验目的]、[实验仪器]、[实验原理]、[实验测量及数据处理]、[讨论]、[结论]、[参考文献]为通常科学论文所用的形式,其目的是让学生们在阅读实验讲义和写实验报告时能够熟悉科学论文的写作方式。(2)讲义中的[引言]部分主要介绍了与相关实验有关的应用背景、在物理学发展史 中的作用等知识,其目的是提高学生们的学习兴趣、探索自然奥秘的积极性以及开阔学生们的眼界。(3)讲义中的[讨论]、[研究性题目]和[思考题]部分主要分不同层次地给学生们提出一些与实验相关的问题,要求学生们认真思考后,通过自己设计、编排实验,用实验数据回答提出的问题,其目的是提高学生们提出问题、分析问题、解决问题能力,培养创新意识和创新能力,体现分层次教育的思想。(4)讲义中的[结论]部分让学生们通过实验给出自己想说的结论,其目的是让同学们从自己感兴趣的视角给出结论,拓宽学生们的思维空间,培养学生们的科学概括、总结能力。(5)讲义中的[参考文献]部分提醒、培养同学们在科研开发工作中应该养成参考学习前人的结果的工作习惯和实事求是的科学道德。 四、实验内容 1.实验仪器 主要实验仪器包括,四探针组件、SB118精密直流电流源、PZ158A直流数字电压表、 具有七种不同膜厚的金薄膜材料、具有七种不同膜厚的铁薄膜材料。 SB118精密直流电流源是精密恒流源,它的输出电流在1微安(1微安=10-6安培)一一 200毫安(1毫安=10-3安培)范围内可调,其精度为土0.03%。PZ158A直流数字电压表是具

测定金属的电阻率(高三、教案)

实验七测定金属的电阻率(练习使用螺旋测微器) 一、螺旋测微器的构造原理及读数 1.螺旋测微器的构造 如图1所示是常用的螺旋测微器.它的测砧A和固定刻度B固定在尺架C上.旋钮 D、微调旋钮D′和可动刻度 E、测微螺杆F连在一起,通过精密螺纹套在B上. 图1 2.螺旋测微器的原理 测微螺杆F与固定刻度B之间的精密螺纹的螺距为0.5 mm,即旋钮D每旋转一周,F前进或后退0.5 mm,而可动刻度E上的刻度为50等份,每转动一小格,F前进或后退0.01 mm.即螺旋测微器的精确度为0.01 mm.读数时估读到毫米的千分位上,因此,螺旋测微器又叫千分尺. 3.读数:测量时被测物体长度的整数毫米数由固定刻度读出,小数部分由可动刻度读出.测量值(毫米)=固定刻度数(毫米)(注意半毫米刻度线是否露出)+可动刻度数(估读一位)×0.01(毫米) 二、游标卡尺 1.构造:主尺、游标尺(主尺和游标尺上各有一个内外测量爪)、游标尺上还有一个深度尺,尺身上还有一个紧固螺钉.(如图2所示) 图2 2.用途:测量厚度、长度、深度、内径、外径. 3.原理:利用主尺的最小分度与游标尺的最小分度的差值制成. 不管游标尺上有多少个小等分刻度,它的刻度部分的总长度比主尺上的同样多的小等分刻度少1 mm.常见的游标卡尺的游标尺上小等分刻度有10个的、20个的、50个的,其读数见下表:

游标尺 精度 1 n (mm) 测量长度L=N +k 1 n (mm)(游 标尺上第k格 与主尺上的 刻度线对齐时) 总刻度格数n 刻度总长 度(mm) 每小格 与主尺 1格 (1 mm) 相差 1090.10.1 N(主尺上读的整毫米数)+ 1 10 k 20190.050.05 N(主尺上读的整毫米数)+ 1 20 k 50490.020.02 N(主尺上读的整毫米数)+ 1 50 k 三、伏安法测电阻 1.电流表、电压表的应用 电流表内接法电流表外接法电路图 误差原因 电流表分压 U测=U x+U A 电压表分流 I测=I x+I V 电阻测量值R测= U测 I测 =R x+R A>R x 测量值大于真实值 R测= U测 I测 = R x R V R x+R V R V R A时,用电流表内接法.

四探针测试仪测量薄膜的电阻率题库

四探针测试仪测量薄膜的电阻率 一、 实验目的 1、掌握四探针法测量电阻率和薄层电阻的原理及测量方法; 2、了解影响电阻率测量的各种因素及改进措施。 二、实验仪器 采用SDY-5型双电测四探针测试仪(含:直流数字电压表、恒流源、电源、 DC-DC 电源变换器)。 三、实验原理 电阻率的测量是半导体材料常规参数测量项目之一。测量电阻率的方法很 多,如三探针法、电容---电压法、扩展电阻法等。四探针法则是一种广泛采用的标准方法,在半导体工艺中最为常用。 1、半导体材料体电阻率测量原理 在半无穷大样品上的点电流源, 若样品的电阻率ρ均匀, 引入点电流源的 探针其电流强度为I ,则所产生的电场具有球面的对称性, 即等位面为一系列以点电流为中心的半球面,如图1所示。在以r为半径的半球面上,电流密度j的分布是均匀的: 若E 为r处的电场强度, 则: 由电场强度和电位梯度以及球面对称关系, 则: 取r为无穷远处的电位为零, 则: (1) dr d E ψ -=dr r I Edr d 22πρψ-=-=???∞∞I -=-=)(022r r r r dr Edr d ψπρ ψ r l r πρψ2)(=

图3 四探针法测量原理图 上式就是半无穷大均匀样品上离开点电流源距离为r的点的电位与探针流 过的电流和样品电阻率的关系式,它代表了一个点电流源对距离r处的点的电势 的贡献。 对图2所示的情形,四根探针位于样品中央,电流从探针1流入,从探针4 流出, 则可将1和4探针认为是点电流源,由1式可知,2和3探针的电位为: 2、3探针的电位差为: 此可得出样品的电阻率为: 上式就是利用直流四探针法测量电阻率的普遍公式。 我们只需测出流过1、 4 探针的电流I 以及2、3 探针间的电位差V 23,代入四根探针的间距, 就可以 求出该样品的电阻率ρ。实际测量中, 最常用的是直线型四探针(如图3所示), 即四根探针的针尖位于同一直线上,并且间距相 等, 设r 12=r 23=r 34=S ,则有:S I V πρ223= 需要指出的是: 这一公式是在半无限大样 品的基础上导出的,实用中必需满足样品厚度及 边缘与探针之间的最近距离大于四倍探针间距, 这样才能使该式具有足够的精确度。 如果被测样品不是半无穷大,而是厚度,横向尺寸一定,进一步的分析表明, 在四探针法中只要对公式引入适当的修正系数B O 即可,此时: (223I V πρ=134132412)1111-+--r r r r )11(224122r r I -=πρψ)11(234 133r r I -=πρψ)1111(234 1324123223r r r r I V +--=-=πρψψS IB V πρ20 23=

测量金属丝的电阻率的实验报告

测量金属丝的电阻率的 实验报告 集团文件版本号:(M928-T898-M248-WU2669-I2896-DQ586-M1988)

《测量金属丝的电阻率》实验报告 徐闻一中:麦昌壮 一、实验目的 1.学会使用伏安法测量电阻。 2.测定金属导体的电阻率。 3.掌握滑动变阻器的两种使用方法和螺旋测微器的正确读数。 二、实验原理 设金属导线长度为l ,导线直径为d ,电阻率为ρ,则: 由S l ρR =,得: l R d l RS 42?==πρ。 三、实验器材 已知长度为50cm 的被测金属丝一根,螺旋测微器一把,电压表、电流表各一个,电源一个,开关一个,滑动变阻器一只,导线若干。 四、实验电路 五、实验步骤 1.用螺旋测微器测三次导线的直径d ,取其平均值。 2.按照实验电路连接好电器元件。 3.移动滑动变阻器的滑片,改变电阻值。 4.观察电流表和电压表,记下三组不同的电压U 和电流I 的值。 5.根据公式计算出电阻率ρ的值。 六、实验数据

七、实验结果 ρ平均=(1.97+2.06+2.18)÷3×10-7Ω·m=2.07×10-7Ω·m 八、实验结论 金属丝的电阻率是2.07×10-7Ω·m。 九、【注意事项】 1.本实验中被测金属导线的电阻值较小,因此实验电访必须采用电流表外接法 2.实验连线时,应先从电源的正极出发,依次将电源、电键、电流表、待测金属导线、滑动变阻器连成主干线路(闭合电路),然后再把电压表并联在待洲金属导线的两端 3.测量被测金属导线的有效长度,是指测量待测导线接入电路的两个端点之间的长度,亦即电压表两并入点间的部分待测导线长度.测量时应将导线拉直. 4.闭合电键S之前,一定要使滑动变阻器的滑动片处在有效电阻值最大的位置 5.在用伏安法测电阻时,通过待测导线的电流强度正的值不宜过大(电流表用0~0.6A量程),通电时间不宜过长,以免金属导线的温度明显升高,造成其电阻率在实验过程中逐渐增大.

金属电阻率及其温度系数

金属电阻率及其温度系数金属电阻率及其温度系数 物质物质 温度温度 t/℃ t/℃ t/℃ 电阻率电阻率 Ω·m 电阻温度系数电阻温度系数 a a R /℃-1 银 20 1.586×10-8 0.0038(20℃) 铜 20 1.678×10-8 0.00393(20℃) 金 20 2.40×10-8 0.00324(20℃) 铝 20 2.6548×10-8 0.00429(20℃) 钙 0 3.91×10-8 0.00416(0℃) 铍 20 4.0×10-8 0.025(20℃) 镁 20 4.45×10-8 0.0165(20℃) 钼 0 5.2×10-8 铱 20 5.3×10-8 0.003925(0℃~100℃) 钨 27 5.65×10-8 锌 20 5.196×10-8 0.00419(0℃~100℃) 钴 20 6.64×10-8 0.00604(0℃~100℃) 镍 20 6.84×10-8 0.0069(0℃~100℃) 镉 0 6.83×10-8 0.0042(0℃~100℃) 铟 20 8.37×10-8 铁 20 9.71×10-8 0.00651(20℃) 铂 20 10.6×10-8 0.00374(0℃~60℃) 锡 0 11.0×10-8 0.0047(0℃~100℃) 铷 20 12.5×10-8 铬 0 12.9×10-8 0.003(0℃~100℃) 镓 20 17.4×10-8 铊 0 18.0×10-8 铯 20 20×10-8 铅 20 20.684×10-8 0.00376(20℃~40℃) 锑 0 39.0×10-8 钛 20 42.0×10-8 汞 50 98.4×10-8 锰 23~100 185.0×10-8 锰铜 20 44.0×10-8 康铜 20 50.0×10-8 镍铬合金 20 100.0×10-8 铁铬铝合金 20 140.0×10-8 铝镍铁合金 20 160.0×10-8 不锈钢 0~900 70~130×10-8 不锈钢304 20 72×10-8 不锈钢316 20 74×10-8

实验测定金属的电阻率

实验八 测定金属的电阻率 1.实验原理(如图1所示) 由R =ρl S 得ρ=RS l ,因此,只要测出金属丝的长度l 、横截面积S 和金属丝的电阻R ,即可求 出金属丝的电阻率ρ. 图1 2.实验器材 被测金属丝,直流电源(4 V),电流表(0~0.6 A),电压表(0~3 V),滑动变阻器(0~50 Ω),开关,导线若干,螺旋测微器,毫米刻度尺. 3.实验步骤 (1)用螺旋测微器在被测金属丝上的三个不同位置各测一次直径,求出其平均值d . (2)连接好用伏安法测电阻的实验电路. (3)用毫米刻度尺测量接入电路中的被测金属丝的有效长度,反复测量三次,求出其平均值l . (4)把滑动变阻器的滑片调节到使接入电路中的电阻值最大的位置. (5)闭合开关,改变滑动变阻器滑片的位置,读出几组相应的电流表、电压表的示数I 和U 的值,填入记录表格内. (6)将测得的R x 、l 、d 值,代入公式R =ρl S 和S =πd 2 4 中,计算出金属丝的电阻率. 1.数据处理 (1)在求R x 的平均值时可用两种方法 ①用R x =U I 分别算出各次的数值,再取平均值.

②用U -I 图线的斜率求出. (2)计算电阻率 将记录的数据R x 、l 、d 的值代入电阻率计算公式ρ=R x S l =πd 2U 4lI . 2.误差分析 (1)金属丝的横截面积是利用直径计算而得,直径的测量是产生误差的主要来源之一. (2)采用伏安法测量金属丝的电阻时,由于采用的是电流表外接法,测量值小于真实值,使电阻率的测量值偏小. (3)金属丝的长度测量、电流表和电压表的读数等会带来偶然误差. (4)由于金属丝通电后发热升温,会使金属丝的电阻率变大,造成测量误差. 3.注意事项 (1)本实验中被测金属丝的电阻值较小,因此实验电路一般采用电流表外接法. (2)实验连线时,应先从电源的正极出发,依次将电源、开关、电流表、被测金属丝、滑动变阻器连成主干线路(闭合电路),然后再把电压表并联在被测金属丝的两端. (3)测量被测金属丝的有效长度,是指测量被测金属丝接入电路的两个端点之间的长度,亦即电压表两端点间的被测金属丝长度,测量时应将金属丝拉直,反复测量三次,求其平均值. (4)测金属丝直径一定要选三个不同部位进行测量,求其平均值. (5)闭合开关S 之前,一定要使滑动变阻器的滑片处在有效电阻值最大的位置. (6)在用伏安法测电阻时,通过被测金属丝的电流强度I 不宜过大(电流表用0~0.6 A 量程),通电时间不宜过长,以免金属丝的温度明显升高,造成其电阻率在实验过程中逐渐增大. (7)若采用图象法求R 的平均值,在描点时,要尽量使各点间的距离拉大一些,连线时要尽可能地让各点均匀分布在直线的两侧,个别明显偏离较远的点可以不予考虑. 命题点一 教材原型实验 例1 在“测定金属的电阻率”实验中,所用测量仪器均已校准.待测金属丝接入电路部分的长度约为50 cm. (1)用螺旋测微器测量金属丝的直径,其中某一次测量结果如图2所示,其读数应为 mm(该值接近多次测量的平均值). 图2

相关文档
最新文档