实验报告3
实验3 声光效应实验报告

实验3 声光效应实验数据处理2.声光偏转①测量衍射光相对于入射光的偏转角φ与超声波频率f s的关系,即声光偏转关系频率sf(MHz)两波峰在示波器的距离l对应的偏转角φ(rad)75.52 2.00 0.0131383.09 2.20 0.0144490.82 2.30 0.0151095.32 2.50 0.01641102.28 2.70 0.01772109.02 2.80 0.01838118.14 3.20 0.02100根据公式CCDarctanCCD CCDφ⨯=⨯波峰在示波器的距离实际宽度在示波器上的距离介质与的距离可以算出偏转角φ角的大小sf——φ曲线如下:曲线拟合得:5482 5.332s f ϕ=+ 根据原理可得31.4910m/s s v =⨯②在实验中我们固定功率为1W ,测量出的中心频率约为87.169MHz ,表中的强度用示波器中Y 值的大小表示的s f /MHz 1±级强度0级强度 10±级强度级强度76.597 10.84 9.94 1.0905 84.234 10.14 7.52 1.3484 92.316 10.84 7.6 1.4263 100.23 9.28 9.74 0.9528 108.68 4.16 11.04 0.3768 116.1331.0411.040.0942由1级与0级衍射光的相对强度与超声波频率的关系曲线可确定中心频率为089.75f MHz =,带宽为2(99.2389.75)18.96s f MHz ∇=-=3.声光调制在实验过程中测量的中心频率为87.169MHz ,因此在实验中将超声波频率调至87.169MHz ,测量的1级衍射光的强度与超声波的功率的数据实用文档超声波的功率 1级衍射光的强度 0.2 0.12 0.4 1.24 0.6 3.04 0.8 5.8 18.24描点画图由曲线可知,1级衍射光的强度与超声波的功率也大致成线性关系关系曲线为10.4 2.5S d P I =-。
实验室安全实验报告(3篇)

实验室安全实验报告(3篇)实验室安全实验报告(精选3篇)实验室安全实验报告篇1关于20__年10月18日实验室发生试剂瓶爆炸这一安全事故,回想依旧心有余悸。
实验室安全工作关系到我们自身的安全及整个公司乃至整个社会的稳定,应受到格外的重视。
现简要做实验室安全隐患排查及预防的报告如下:一、实验室用水、用电、用火的控制用水:1、节约用水,用完后及时关掉2、用器皿盛水,不得将水洒在化学试剂上3、相关人员要经常检查上下水是否完好用电:1、实验室用电管理必须符合安全用电管理规定,大功率仪器使用专线,严禁与照明灯公用,谨防因超负荷用电着火2、实验室内各种电路设备开关、插座、插头等要保持完好可用状态3、实验室高压高频设备定期检修,要有可靠防护措施4、实验室内不得用明火取暖,严禁抽烟;有机溶剂与明火要隔开5、手上有水或潮湿勿接触电器用品或用电设备,严禁使用水槽旁的电器插座(防漏电)6、实验室专业人员应该严格按照仪器、设备性能和操作方法规范操作7、电器插座勿接太多插头,避免超负荷引起火灾防火:1、电炉等加热设备谁用用及时关闭开关2、乙醚、酒精、丙酮等易燃有机溶剂,实验室不得存放过多;不得倒入下水道,避免积聚引起火灾3、万一着火,冷静判断,根据不同情况采用氺、沙、泡沫、二氧化碳或四氯化碳灭火器灭火二、易爆品的控制1、预防热爆炸,强氧化剂和强还原剂需分开存放,使用时轻拿轻放,远离热源2、防止支链爆炸,防止可燃气体或蒸气散失在空气中,保持室内良好的通风;大量使用可燃气体或有机溶剂时,严禁使用明火和可能产生火花的电器。
三、化学试剂和毒品及腐蚀品的控制四、实验室人员安全培训五、各部门应指定自己的安全值班员或监督员,负责日常活动时的安全监督六、意外事故的一般处理程序1、当员工在作业时发生意外人身伤亡事故时,实验室的任何人员应根据伤亡程度立即实施救助措施。
当施救无效时可呼救附近任何人员帮助拨打“120”紧急救助电话求助。
采取救助的同时,应设法通知实验室的领导做善后处理。
XRD实验报告_3

XRD实验实验目的:1、了解衍射仪的正确使用方法。
2、掌握立方晶系晶体晶格常数的求法。
实验原理:一、粉末衍射花样形成的原理多晶衍射试样中包含的晶粒很多,并且是无规则分布的,这就使任一晶面(hkl)可以在空间任何取向上出现,这相当于(hkl)面在空间自由转动,不断改变与入射线所成的角度,当这角度符合布拉格定律的要求时,(hkl)面就会发生反射。
图1 X射线衍射示意图图1中实线表示(hkl)面与入射线成θ角时,满足布拉格定律,反射出一束衍射线。
虚线表示另一个取向不同的(hkl)面,这个晶面尽管在空间的取向不同,但也与入射线成θ角,也能产生反射。
可以产生反射的(hkl)面显然不限于图1所示的两种情况。
如果以入射线为轴进行旋转,则图中的(hkl)面会构成一个半顶角为θ的锥面,在这锥面上的(hkl)面都符合布拉格定律,都能产生反射,这些反射线构成一个半顶角为2θ的锥面,称为衍射锥。
衍射锥与垂直于入射线的底片相交,就会在底片上得到一个圆环,这就是德拜环。
但在德拜法中,底片上记录的只是一些近似于圆弧的曲线,称为德拜线。
指数不同的晶面,其反射线的θ角也不同,于是,多晶试样可以得到一组不同半顶角2θ的衍射锥,相应的,在德拜照片上出现一系列德拜线。
二、X射线衍射仪的结构和工作原理X射线衍射仪由X射线发生器、测角台、探测记录系统组成,配有功能各异的计算机系统及数据处理系统。
下面主要介绍X射线发生器和测角台。
1、X射线发生器它有一个高压发生器和X射线管组成。
高压发生器提供可分档调节的稳流稳压电源,其管流管压稳定度一般优于万分之五。
稳定度低于千分之一的高压发生器不能保证光源的稳定性,大多数定量分析工作不宜采用。
X射线管是一只热阴极二极电子管。
在高压发生器输出的高压作用下,带有聚焦罩的热阴极发射的电子被加速到具有数十KeV的能量。
电子束打到阳极靶面上,激发出X射线。
靶面被电子打击处称为焦斑。
从能量转换来看,X射线的转换效率一般都在百分之一以下,其余能量转换成热能,使靶子温度升高。
实验报告(3)

3、完成要求BIOS设置:
4、安装EVEREST软件,启动EVEREST软件,查看本机的CPU、内存、BIOS、硬盘、主板芯片组等性能指标。以及BIOS的升级地址;
结果综述:
本机的CPU、内存、BIOS、硬盘、主板芯片组等性能指标。以及BIOS的升级地址。完成下表内容。
3、练习用DEBIUG程序去除口令。
4、操作BIOS的升级过程。
5、完成以下BIOS设置:
在模拟软件上完成以下BIOS设置:
1)开机自检时,如果键盘出错时计算机挂起,其他情况计算机都可以正常启动;
2)如果设置bios,使得系统不稳定时需要加载什么bios的默认值;
3)安装操作系统,所以需要对病毒保护进行何种设置;
6、将虚拟机设置从硬盘启动。用EVEREST软件,查看本机的CPU、内存、BIOS、硬盘、主板芯片组等性能指标。以及BIOS的升级地址;
实验步骤:
1.基本CMOS设置
(1)进入BIOS设置。
在系统启动时敲DEL键(或启动时第一屏上提示的键,通常的提示是:Press Delete to setup,或其他类似的句子)。
4)将电源设置为最小省电模式;
5)若要使用非板载声卡,如何设置;
6)对CPU进行超频设置,外频为133MHZ,倍频系数为3.5;
在虚拟机上完成以下BIOS设置:
1)启动后,小数字键盘灯是亮的;
2)开机时要求输入密码后才开始自检,如何设置;
3)将系统的BIOS的内容映射到主内存中,以加快系统读取BIOS的速度;
1、了解BIOS作用和功能;
2、掌握BIOS和CMOS的关系和区别;
3、掌握BIOS自检报警判别;
岩石力学实验报告_3

试验一、岩石单向抗压强度的测定一、仪器设备材料试验机、游标卡尺。
二、标准试件规格:采用直接为50mm 的圆柱体,高径比为2 :1;也可采用50×50×100mm的长方体。
三、测定步骤:1、 测试件尺寸(试件直径应在其高度中部两个互相垂直的方向量测,取算术平均值)填入记录表内。
2、 选择压力机度盘:一般应满足0.2P <P max <0.8P 式中:P max ——预计最大破坏载荷,KN P ——压力机度盘最大值,KN3、 开动压力机,使其处于可用状态,将试件置于压力机承压板中心,调整球形坐,使试件上下受力均匀,0.5~1.0MPa 的速度加载直至破坏。
四、测定结果的计算: 试件的抗压强度:FP R式中:R ——试件抗压强度,MPaP ——试件破坏载荷,N F ——试件面积,mm 2试验二、岩石抗拉强度的测定(劈裂法)一、仪器设备:材料试验机、劈裂法实验夹具、游标卡尺。
二、试件规格标准试件采用圆盘形,直径50mm 、厚25mm ;也可采用50×50×50mm 得方形试件。
三、测定步骤:1、2同抗压强度相同。
3、通过试件直径的两端,沿轴线方向画两条互相平行的线作为加载基线,把试件放入夹具内,夹具上下刀刃对准加载基线,放入试验机的上下承压板之间,使试件的中心线和试验机的中心线在一条直线上。
4、开动试验机,以每秒0.03~0.05MPa 的速度加载直至破坏。
四、测定结果计算:DLPR L 14.32式中:R L ——岩石单向抗拉强度,MPaP ——试件破坏载荷,N D ——试件直径,mm L ——试件厚度,mm抗拉强度测定记录表。
有机化学实验报告(3篇)

有机化学实验报告(3篇)一、试验目的学习重结晶法提纯固态有机物的原理和方法;把握抽滤操作方法;二、试验原理利用混合物中各组分在某种溶剂中的溶解度不同,而使它们相互分别;一般过程:1、选择相宜的溶剂:①不与被提纯物起化学反响;②温度高时,化合物在溶剂中的溶解度大,室温或低温时溶解度很小;而杂质的溶解度应当特别大或特别小;③溶剂沸点较低,易挥发,易与被提纯物分别;④价格廉价,毒性小,回收简单,操作安全;2、将粗产品溶于相宜的热溶剂中,制成饱和溶液:如溶质过多则会成过饱和溶液,会有结晶消失;如溶剂过多则会成不饱和溶液,会要蒸发掉一局部溶剂;3、趁热过滤除去不溶性杂质,如溶液颜色深,则应先用活性炭脱色,再进展过滤;4、冷却溶液或蒸发溶液,使之渐渐析出结晶,而杂质留在母液中或杂质析出,而提纯的化合物则留在溶液中;5、过滤:分别出结晶和杂质;6、洗涤:除去附着在晶体外表的母液;7、枯燥结晶:若产品不吸水,可以放在空气中使溶剂自然挥发;不简单挥发的溶剂,可依据产品的性质采纳红外灯烘干或真空恒温枯燥器枯燥,特殊是在制备标准样品和分析样品以及产品易吸水时,需将产品放入真空恒温枯燥器中枯燥;三、主要试剂及物理性质乙酰苯胺(含杂质):灰白色晶体,微溶于冷水,溶于热水;水:无色液体,常用于作为溶剂;活性炭:黑色粉末,有吸附作用,可用于脱色;四、试剂用量规格含杂质的乙酰苯胺:2.01g;水:不定量;活性炭:0.05g;六、试验步骤及现象七、试验结果m乙酰苯胺=2.01gm外表皿=33.30gm外表皿+晶体=34.35g△m=34.35-33.30g=1.05gW%=1.05/2.01*100≈52.24%八、试验争论1、水不行太多,否则得率偏低;2、吸滤瓶要洗洁净;3、活性炭吸附力量很强,不用加许多;4、洗涤过程搅拌不要太用力,否则滤纸会破;5、冷却要彻底,否则产品损失会很大;6、热过滤前,布氏漏斗、吸滤瓶要用热水先预热过;7、当采纳有机物来作为溶剂时,不能用烧杯,而要采纳锥形瓶,并且要拿到通风橱中进展试验;有机化学试验报告2一、试验目的1.了解熔点的意义,把握测定熔点的操作2.了解沸点的测定,把握沸点测定的操作二、试验原理1.熔点:每一个晶体有机化合物都有肯定的熔点,利用测定熔点,可以估量出有机化合物纯度。
最新实验三实验报告xuting

最新实验三实验报告xuting实验名称:最新实验三实验目的:1. 验证新型材料Xuting的物理性质。
2. 研究Xuting在不同环境下的性能变化。
3. 分析Xuting的应用潜力及其对现有技术的影响。
实验材料:- Xuting样品- 高温炉- 压力测试装置- 电子显微镜- 化学分析仪器实验步骤:1. 准备Xuting样品,并对其进行初步的物理和化学性质测试。
2. 将Xuting样品置于高温炉中,分别在200°C、400°C和600°C 的温度下加热2小时,记录其质量、颜色和结构的变化。
3. 使用压力测试装置对Xuting样品施加不同级别的压力,记录其抗压性能。
4. 利用电子显微镜观察Xuting样品的微观结构,分析其晶格排列和缺陷情况。
5. 进行化学分析,确定Xuting的主要成分及其可能的化学反应性。
6. 根据实验数据,评估Xuting在极端条件下的性能,并探讨其在工业、航空等领域的应用前景。
实验结果:1. Xuting在常温下的物理性质稳定,具有良好的硬度和韧性。
2. 高温实验显示,Xuting在400°C时结构开始发生变化,但在600°C时仍保持相对稳定。
3. 抗压测试结果表明,Xuting具有出色的抗压性能,适合用于承载重压的环境。
4. 微观结构分析揭示了Xuting具有独特的晶体结构,这可能是其优异性能的关键。
5. 化学分析确认了Xuting的主要成分,并预测了其与其他物质的反应性。
6. 综合实验数据,Xuting在极端环境下的性能表现良好,有望在多个领域替代传统材料。
结论:Xuting作为一种新型材料,展现出了卓越的物理和化学性质。
其在高温和高压环境下的稳定性,以及独特的微观结构,预示着其在工业应用中的巨大潜力。
未来的研究将集中在提高Xuting的生产效率和降低成本上,以便更广泛地推广其应用。
实验报告3(PN结工艺制备)

学生实验报告(5)运行数据结果保存语句(log),输出结构结果保存语句log 是用来将程序运行后所计算的所有结果数据保存到一个以log为扩展名结尾的文件中的一个语句。
从solve 语句中运算后所得到的结果都会保存在其中。
log outf=diodeex05.log(6)solve 语句,以一定的方式给PN 结外加偏压,将阳极电压从-0.25 提升至-10,间隔为-0.25。
solve vanode=-0.25 vstep=-0.25 vfinal=-10 name=anode(7)保存和绘画IV 曲线图。
tonyplot diodeex05.log -set diodeex05_log.set(8)参数提取语句(extract),根据log 文件获得器件电学参数。
extract init infile="diodeex05.log"extract name="bv" x.val from curve(v."anode",abs(i."anode")) wherey.val=1e-10extract name="leakage" y.val from curve(v."anode",abs(i."anode")) wherex.val=-24.改变器件工艺条件参数(扩散温度﹑热退火时间﹑离子注入角﹑离子注入能量﹑离子注入浓度等),分析工艺参数变化对器件结构及电学特性影响。
四、实验结果(一)器件设计1、器件结构设计如图所示,定义PN结的网络信息x为2.0,y为2.0,该区域块沉积铝厚度为0.2um,刻蚀掉x=1um右边的全部铝(形成铝接触),均匀p掺杂浓度为5e18每立方厘米,对表面进行硼离子注入,pearson分布,浓度为1.0×e15cm-2,离子能为50KeV,注入离子束与晶圆法线的角度为7,注入离子束和仿真面的角度0,硅晶格结构为amorph,从而形成了该结构,包括Al+区域,P+区域,N区域。
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实验报告
课程名称网页设计与制作
实验项目图片处理软件实验
实验仪器计算机
系别信息管理学院
专业电子商务
班级/学号商务1001 2010012176
学生姓名李锋
实验日期 2011.12.01
成绩
指导教师卢益清
北京信息科技大学
计算机信息系统系
(课程上机)实验报告
实验课程名称: 网页设计与制作专业: 电子商务班级:商务1001 学号:201002176
1.实验名称、实验目的、实验内容、实验要求由教师确定,实验前由教师事先填好,然后作为实验报告模
版供学生使用;
2.实验准备由学生在实验或上机之前填写,教师应该在实验前检查;
3.实验过程由学生记录实验的过程,包括操作过程、遇到哪些问题以及如何解决等;
4.实验总结由学生在实验后填写,总结本次实验的收获、未解决的问题以及体会和建议等;
5.源程序、代码、具体语句等,若表格空间不足时可作为附录另外附页。