承压设备声发射检测工艺卡

JBT_4730-2005承压设备无损检测

承压设备无损检测第1部分:通用要求1 范围JB/T 4730的本部分规定了射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测五种无损检测方法的一般要求和使用原则。

本部分适用于在制和在用金属材料制承压设备的无损检测。

2 规范性引用文件下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部分的引用而成为本部分的条款。

凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB/T 12604.1 无损检测术语超声检测GB/T 12604.2 无损检测术语射线检测GB/T 1 2604.3 无损检测术语渗透检测GB/T 12604.4 无损检测术语声发射检测GB/T 12604.5 无损检测术语磁粉检测GB/T 12604.6 无损检测术语涡流检测GB 17925—1999 气瓶对接焊缝x射线实时成像检测GB/T 18182—2000 金属压力容器声发射检测及结果评价方法GB/T 19293—2003 对接焊缝x射线实时成像检测法JB/T 4730.2 承压设备无损检测第2部分:射线检测JB/T 4730.3 承压设备无损检测第3部分:超声检测JB/T 4730.4 承压设备无损检测第4部分:磁粉检测JB/T 4730.5 承压设备无损检测第5部分:渗透检测JB/T 4730.6 承压设备无损检测第6部分:涡流检测国家质量监督检验检疫总局国质锅检字[2003]248号文特种设备无损检测人员考核与监督管理规则。

3术语和定义GB/T 12604.1～12604.6规定的、以及下列术语和定义适用于JB/T 4730的本部分。

3.1公称厚度T nominal thickness受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄。

3.2透照厚度W penetrated thickness射线照射方向上材料的公称厚度。

NBT47013.9声发射检测细则

1为规范声发射检测工作，保证检验工作质量，特制定本细则。

2检验依据JB/T4730.1-2005《承压设备无损检测》第一部分：通用要求NB/T 47013.9-2012《承压设备无损检测》第9部分：声发射检测3适用范围本细则适用于在制和在用金属承压设备活性缺陷的声发射检测与监测，不适用于泄漏声发射检测和监测4声发射检测人员应符合JB/4370.1的有关规定。

5声发射系统要求5.1传感器传感器的响应频率推荐在100kHz~400kHz范围内,其灵敏度不小于60dB［表面波声场校淮,相对于1V/(n? s— 1)］或-77dB〔纵波声场校准，相对于IV/卩bar:. 当选用其他频带范围内的传感器时，应考虑灵敏度的变化，以确保所选频带范围内有足够的接收灵钕度。

应能屏蔽无线电波或电磁噪声干扰。

传感器在响应频率和工作温度范围内灵敏度变化应不大于3dB.传感器与被检件表面之间应保持电绝缘。

5.2信号线传感器到前置放大器之间的电缆信号电缆长度应不超过2m,且能够屏蔽电磁干扰。

5.3信号电缆前置放大器到系统主机之间的信号电缆应能屏蔽电磁噪声干扰。

信号电缆衰减损失应小于1dB/30m.信号电缆长度不宜超过150m5.4耦合剂耦合剂应能在试验期间内保持良好的声耦合效果。

应根据设备壁温选用无气泡、黏度适宜的耦合剂。

可选用真空脂、凡士林及黄油。

检测奥氏体不锈钢、钛和钛合全时，耦合剂中“氯化物、氟化物离子含量应满足相关法规和标准的要求，采用粘接方法固定时，粘接剂中的氯、氟离子含量和硫含量应满足相关法规和标准的要求。

5.5 .前置放大器前置放大短路噪声有效值电压不大于7卩V。

在工作频率和工作温度范围内，前置放大器的频率响应变化不超过 3dB。

前置放大器的频率响应应与传感器的频率响应相匹配,其增益应与系统主机的增益设置相匹配,通常为40dB或34dB.如果前置放大器采用差分电路其共模嗓声抑制应不低于40dB5.6.滤波器放置在前置放大器和系统主机处理器内的滤波器的频率响应应与传感器的频率响应相匹配。

超声检测工艺卡

超声检测工艺卡一台现场组焊反应器,材质为１６MnＲ,壁厚42mm。

现要求对其主体对接环焊缝进行100%超声波检测(检测技术等级为C级),请按JB/T４730—2005填写下表检测工艺超声波探伤工艺卡超声波探伤工艺卡1、表1为某高压气体贮罐超声波检测工艺卡,请将工艺卡中得空白项填写完毕。

(15分,每空1分)与探头系统进行重新核查？(５分)答:(１)校准后得探头、耦合剂与仪器调节旋钮发生改变时;(2)检测人员怀疑扫描量程或扫查灵敏度有变化时;(3)连续工作4h以上时;(4)工作结束时。

3.根据JＢ/Ｔ4７30—2005标准规定,该工件得纵、环焊缝就是否需要作横向检测,如何进行横向检测?(5分)答:应进行斜平行扫查,并把各线得灵敏度均调高6ｄB.4、如果在该容器超声波检测中发现有裂纹存在,应如何处理？(5分)答:(1)首先应将裂纹打磨至肉眼不可见,必要时可进行表面检测,以确认裂纹消除干净;(2)返修后应采用同样得工艺进行超声检测,以确认就是否产生新得超标缺陷;(3)根据相关规程(《容规》、《检规》)应确定就是否需要进行扩探、注:编制等栏填写资格证书级别或职务,不要写名字。

3.2.2、1探伤仪采用A型脉冲反射式超声波探伤仪,其工作频率范围为0.５MHz~10MHz,仪器至少在荧光屏满刻度得80%范围内呈线性显示。

探伤仪应具有80dＢ以上得连续可调衰减器,步进级每档不大于2dB,其精度为任意相邻12dB误差在±１ｄB以内,最大累计误差不超过１dB、水平线性误差不大于1％,垂直线性误差不大于５%。

其余指标应符合JB/Ｔ10061得规定。

3、2、2。

2 探头3、2、２、２、１晶片面积一般不应大于5０0ｍm2,且任一边长原则上不大于２５mm。

3。

２。

2。

２、2单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2°,主声束垂直方向不应有明显得双峰。

3。

２.2、3 超声探伤仪与探头得系统性能3、２。

2、３.1 在达到所探工件得最大检测声程时,其有效灵敏度余量应不小于10dB。

JBT 4730-2005承压设备无损检测

JBT 4730-2005承压设备无损检测1 范围JB/T 4730的本部分规定了射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测和涡流检测五种无损检测方法的一般要求和使用原则。

本部分适用于在制和在用金属材料制承压设备的无损检测。

2 规范性引用文件下列文件中的条款，通过JB/T 4730的本部分的引用而成为本部分的条款。

凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB/T 12604.1 无损检测术语超声检测GB/T 12604.2 无损检测术语射线检测GB/T 1 2604.3 无损检测术语渗透检测GB/T 12604.4 无损检测术语声发射检测GB/T 12604.5 无损检测术语磁粉检测GB/T 12604.6 无损检测术语涡流检测GB 17925—1999 气瓶对接焊缝x射线实时成像检测GB/T 18182—2000 金属压力容器声发射检测及结果评价方法GB/T 19293—2003 对接焊缝x射线实时成像检测法JB/T 4730.2 承压设备无损检测第2部分:射线检测JB/T 4730.3 承压设备无损检测第3部分:超声检测JB/T 4730.4 承压设备无损检测第4部分:磁粉检测JB/T 4730.5 承压设备无损检测第5部分:渗透检测JB/T 4730.6 承压设备无损检测第6部分:涡流检测国家质量监督检验检疫总局国质锅检字[2003]248号文特种设备无损检测人员考核与监督管理规则。

3术语和定义GB/T 12604.1～12604.6规定的、以及下列术语和定义适用于JB/T 4730的本部分。

3.1公称厚度T nominal thickness受检工件名义厚度，不考虑材料制造偏差和加工减薄。

3.2透照厚度W penetrated thickness射线照射方向上材料的公称厚度。

3JB4730.1-2005简介P18

4. 使用原则
4. 使用原则
4.1.3铁磁性材料表面检测时，宜采用
磁粉检测。
当采用两种或两种以上的检测方法对承压设备的同一部位进行检测时，应按各自的方法评定级别。 4.1.5 采用同种检测方法按不同检测工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应以危险度大的评定级别为准。
4.1.4
4.6.1
4.6.2
涡流检测通常能确定表面及近表面缺陷的位置和相对尺寸。
涡流检测适用于导电金属材料和焊接接头表面和近表面缺陷的检测。 4.6.3 涡流检测的具体技术要求应符合JB 4730.6的规定。
4.7 声发射检测
4.7.1
声发射检测通常用于确定内部或表面存在的活性缺陷的强度和大致位置。
4.2 射线检测
4.2.1
射线检测能确定缺陷平面投影的位置、大小，可获得缺陷图像并能据此判定缺陷的性质。

4.2.2 射线检测适用于金属材料制承压设备熔化焊对接焊接接头的检测，用于制作对接焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。射线检测不适用于锻件、管材、棒材的检测。T型焊接接头、角焊缝以及堆焊层的检测一般也不采用射线检测。
JB/T 4730.1-2005 标准简介
JB/T 4730-2005主要内容
JB/T
4730.1~4730.6-2005， 6个部分，相对独立（分标准）通用要求、射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测、涡流检测 33个附录
JB/T 4730.1通用要求主要内容

程序多。 “T”表示推荐性标准。法规引用后成为强制性。锅炉行业采用JB/T4730已经下文以后 GB 150 会变成 GB/T 150.1~150.n !,去掉“钢制”

声发射检测操作指导书-模板

声发射检测操作指导书编号：XXXXXX检测工艺规程编号：XXXXXX 版本号：1/0使用单位受检设备名称制造/安装单位检测部位罐底板受检设备编号公称容积 m3工作介质设计压力/液位 MPa/m 材质几何尺寸内径 m、高 m 操作压力/液位 MPa/m 公称壁厚底板 mm壁板 mm投用日期加载史注：查看储罐检测前六个月内的最高操作液位、操作温度变化范围、叠加的静水压力或气压的大小、可能发生的过载或异常情况等。

缺陷情况—执行标准JB/T 10764-2007检测方式■在线检测□停车检测仪器型号SAEU3H-1016-24 检测频率30～60 KHz 传感器型号SRⅠ150 耦合剂□真空脂□凡士林固定方式磁夹具通道灵敏度测试及说明模拟源Φ0.3mm/2H铅芯平均幅度值之差＜±4dB 通道数对每一个通道进行断铅试验，铅芯规格：φ0.3mm/2H，铅芯与被检件表面的夹角为30°左右，伸出长度约为2.5mm，铅芯距探头中心（100±5）mm处折断，其响应幅度值取三次以上响应的平均值。

或采用仪器的AST功能，进行自动测试。

每个通道响应的幅度值与所有通道的平均幅度值之差应不大于±4dB。

背景噪声测量及说明检测前，应进行背景噪声的测量，测量时间不少于15 min，记录最大噪声dB 值，设置门槛和增益。

如果背景噪声大于所设定的阈值时，应设法消除背景噪声的干扰或中止检测。

信号衰减测量及说明最大探头间距 m 衰减测量探头号模拟源断铅标定1、为确定最大探头间距，检测前应进行与声发射检测条件相同的衰减特性测量，测量方法为采用φ0.3mm/2H铅芯进行断铅试验。

如果已有检测条件相同的衰减特性数据，可不再进行衰减特性测量，但应把该衰减特性数据在本次检测记录和报告中注明。

2、先安装一个传感器，在距离探头中心0.1m、0.5m、1.0m、3.0m、6.0m、9.0m、12.0m及后面每间隔3.0m处沿同一条直线进行断铅标定，其响应幅度值取三次以上响应的平均值。

新版NBT47013.1-2015承压设备无损检测讲解

射线：A/AB/B；超声：A/B/C；DR：AB/B
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4、总体要求
4.3.1.3 应在遵循承压设备安全技术规范和相关产品标准及有关技术文件规定的基础上，根据承压设备的材质、结构、制造方法、工作介质、使用条件和失效模式，预计可能产生的缺陷种类、形状、部位和方向，按照本部分和NB/T 47013.2～NB/T 47013.13的规定，选择一种或多种适宜的无损检测方法，确定其检测技术等级、检测比例、质量要求和合格级别等，以形成明确的检测要求。
4
二、主要修订内容
与JB/T4730.1—2005相比，主要技术变化如下： a）修改了适用范围；
b）修改了无损检测人员要求；
c）修改了名词术语；
d）增加了对无损检测设备器材的要求；
e）增加了对无损检测方法和工艺的技术要求；
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二、主要修订内容
f）修改了无损检测方法的能力范围和局限性；
4 总体要求
人、机、料、法、环
5 各无损检测方法的使用原则
通用原则、各无损检测方法的能力范围和局限性
7 无损检测资料和档案
工艺文件、记录、报告
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三、条款具体解析
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1、范围
1.1 NB/T47013（JB/T4730）的本部分规定了射线检测、超声检测、磁粉检测、渗透检测、涡流检测、泄漏检测、目视检测、声发射检测、衍射时差法超声检测、X射线数字成像检测、漏磁检测和脉冲涡流检测等无损检测方法的一般要求和使用原则。
未列入的无损检测方法按4.3.1.4 关于方法的划分
1.2 本部分适用于在制和在用金属材料制承压设备的无损检测。

承压设备声发射检测工艺卡

加载程序图
P2为压力试验的压力3.875MPa；P1为最高工作压力3.1MPa
编制
***
审核
***
2014年9月18日
2014年9月18日
承压设备声发射检测工艺卡
产品名称
级间分液罐
材料牌号
Q345R
尺寸规格
2300*6926*24mm
热处理
状态
---
检测方式
整体监测
局部检测□
探头耦合表
面要求
光滑金属表面
仪器型号
SAMOS 48通道
检测频率
100~400kHz
通道数
8
探头型号
DT15I
耦合剂
JYX-1
固定方式
磁夹具
模拟源
声发射信号发生器
或￠0.3mm/2H铅笔
加载方式
升压
检测草图
技术要求：
1、探头应交错布置，近似成等边三角形
2、应用Φ0.3mmHB铅笔模拟声发射源，校验灵明度。
3、采集完成后，应校验灵敏度。
4、对Ⅱ级声发射源，可根据被检件的使用情况和声发射源部位的实际结构来确定是否需要验证，Ⅲ、Ⅳ级声发射源应采取其它无损检测方法复验。