材料分析方法习题集
(完整版)材料现代分析方法第一章习题答案解析

第一章1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?答:X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。
X射线透射学的研究对象有人体,工件等,用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。
X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。
X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X射线的波长和强度,从而研究物质的原子结构和成分。
2. 试计算当管电压为50 kV时,X射线管中电子击靶时的速度与动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?解:已知条件:U=50kV电子静止质量:m0=9.1×10-31kg光速:c=2.998×108m/s电子电量:e=1.602×10-19C普朗克常数:h=6.626×10-34J.s电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为:E=eU=1.602×10-19C×50kV=8.01×10-18kJ由于E=1/2m0v02所以电子击靶时的速度为:v0=(2E/m0)1/2=4.2×106m/s所发射连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压:λ0(Å)=12400/U(伏) =0.248Å辐射出来的光子的最大动能为:E0=hv=h c/λ0=1.99×10-15J3. 说明为什么对于同一材料其λK<λKβ<λKα?答:导致光电效应的X光子能量=将物质K电子移到原子引力范围以外所需作的功hV k = W k以kα为例:hV kα = E L– E khe = W k – W L = hV k – hV L ∴h V k > h V k α∴λk<λk α以k β 为例:h V k β = E M – E k = W k – W M =h V k – h V M ∴ h V k > h V k β∴ λk<λk βE L – E k < E M – E k ∴hV k α < h V k β∴λk β < λk α4. 如果用Cu 靶X 光管照相,错用了Fe 滤片,会产生什么现象?答:Cu 的K α1,K α2, K β线都穿过来了,没有起到过滤的作用。
材料现代分析测试方法习题答案

材料现代分析测试方法习题答案【篇一:2012年材料分析测试方法复习题及解答】lass=txt>一、单项选择题(每题 3 分,共 15 分)1.成分和价键分析手段包括【 b 】(a)wds、能谱仪(eds)和 xrd (b)wds、eds 和 xps(c)tem、wds 和 xps (d)xrd、ftir 和 raman2.分子结构分析手段包括【 a】(a)拉曼光谱(raman)、核磁共振(nmr)和傅立叶变换红外光谱(ftir)(b) nmr、ftir 和 wds(c)sem、tem 和 stem(扫描透射电镜)(d) xrd、ftir 和raman3.表面形貌分析的手段包括【 d】(a)x 射线衍射(xrd)和扫描电镜(sem) (b) sem 和透射电镜(tem)(c) 波谱仪(wds)和 x 射线光电子谱仪(xps) (d) 扫描隧道显微镜(stm)和sem4.透射电镜的两种主要功能:【 b】(a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构(c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【c 】(a)–c-h、–oh 和–nh2 (b) –c-h、和–nh2,(c) –c-h、和-c=c- (d) –c-h、和 co2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。
(√)3.透镜的数值孔径与折射率有关。
(√)5.在样品台转动的工作模式下,x射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。
(√ )三、简答题(每题 5 分,共 25 分)1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关?为什么?和所用的信号种类和束斑尺寸有关,因为不同信号的扩展效应不同,例如二次电子产生的区域比背散射电子小。
束斑尺寸越小,产生信号的区域也小,分辨率就高。
2.原子力显微镜的利用的是哪两种力,又是如何探测形貌的?范德华力和毛细力。
以上两种力可以作用在探针上,致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时,探测器可实时地检测悬臂的状态,并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。
材料现代分析方法练习题及答案(XRD,EBSD,TEM,SEM,表面分析)

8. 什么是弱束暗场像?与中心暗场像有何不同?试用Ewald图解说明。
答:弱束暗场像是通过入射束倾斜,使偏离布拉格条件较远的一个衍射束通过物镜光阑,透射束和其他衍射束都被挡掉,利用透过物镜光阑的强度较弱的衍射束成像。
与中心暗场像不同的是,中心暗场像是在双光束的条件下用的成像条件成像,即除直射束外只有一个强的衍射束,而弱束暗场像是在双光阑条件下的g/3g的成像条件成像,采用很大的偏离参量s。
中心暗场像的成像衍射束严格满足布拉格条件,衍射强度较强,而弱束暗场像利用偏离布拉格条件较远的衍射束成像,衍射束强度很弱。
采用弱束暗场像,完整区域的衍射束强度极弱,而在缺陷附近的极小区域内发生较强的反射,形成高分辨率的缺陷图像。
图:PPT透射电子显微技术1页10. 透射电子显微成像中,层错、反相畴界、畴界、孪晶界、晶界等衍衬像有何异同?用什么办法及根据什么特征才能将它们区分开来?答:由于层错区域衍射波振幅一般与无层错区域衍射波振幅不同,则层错区和与相邻区域形成了不同的衬度,相应地出现均匀的亮线和暗线,由于层错两侧的区域晶体结构和位相相同,故所有亮线和暗线的衬度分别相同。
层错衍衬像表现为平行于层错面迹线的明暗相间的等间距条纹。
孪晶界和晶界两侧的晶体由于位向不同,或者还由于点阵类型不同,一边的晶体处于双光束条件时,另一边的衍射条件不可能是完全相同的,也可能是处于无强衍射的情况,就相当于出现等厚条纹,所以他们的衍衬像都是间距不等的明暗相间的条纹,不同的是孪晶界是一条直线,而晶界不是直线。
反相畴界的衍衬像是曲折的带状条纹将晶粒分隔成许多形状不规则的小区域。
层错条纹平行线直线间距相等反相畴界非平行线非直线间距不等孪晶界条纹平行线直线间距不等晶界条纹平行线非直线间距不等11.什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。
形成衍射衬度像和相位衬度像时,物镜在聚焦方面有何不同?为什么?答:质厚衬度:入射电子透过非晶样品时,由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异,导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同,对应各个区域的图像的明暗不同,形成的衬度。
马克思主义基本原理概论材料分析习题及答案

1、[材料1]马克思恩格斯在1872年为《共产党宣言》所写的序言中指出:“不管最近25年来的情况发生了多大的变化,这个《宣言》中所阐述的一般原理整个说来直到现在还是完全正确的……由于最近25年来大工业有了巨大发展而工人阶级的政党组织也跟着发展起来, [材料2]恩格斯在1895年时指出:但是,历史表明我们也曾经错了,暴露出我们当时(1848年革命时期,编者)的看法只是一个幻想。
[材料3]恩格斯指出:“我们还差不多处在人类历史的开端,而将来纠正我们的错误的后代, [材料4]恩格斯在《英国状况——评托马斯·卡莱尔的“过去和现在”》一文中指出:“他说的很对,任何一种社会哲学,只要它还把某几个论点奉为自己的最终结论,还在开莫里逊氏丸(意即‘包医百病的灵丹妙药’——引者注),它就远不是完备的;结合上述材料,谈谈我们对待马克思主义应有的科学态度,怎样才能把坚持和发展马克思主义统一起来。
坚持一切从实际出发,理论联系实际,实事求是,在实践中检验真理和发展真理,是马克思主义最重要的理论品质。
这种与时俱进的理论品质,是150多年来马克思主义始终保持蓬勃生命力的关键所在。
首先,这种品质是马克思主义理论本质的反映。
马克思主义理论的本质属性,在于它的彻底的科学性、坚定的革命性和自觉的实践性,而彻底的科学性是最根本的。
彻底的科学性是与理论的与时俱进紧密联系在一起的。
在一定意义上说,理论上的与时俱进正是科学性的必然要求。
其次,这种品质是人类认识发展规律的具体体现。
坚持一切从实际出发,实事求是,在实践中检验和发展真理,这是人类认识发展规律的基本要求。
从这个意义上讲,与时俱进就要把握规律性。
马克思主义经典作家从不认为他们的理论是一成不变的,而总是要求根据实践的发展和时代的变化丰富发展他们的学说。
马克思主义理论诞生后,马克思恩格斯一直都是着眼实际,着眼历史条件的变化,以实事求是的科学态度对待自己创立的理论。
最后,这种品质是理论创新的内在要求。
材料复习题

材料现代分析复习题一、填空题1、影响透射电镜分辨率的因素主要有:衍射效应和电镜的像差(球差、像散、色差)等。
2、透射电子显微镜的照明系统由电子枪、聚光镜和相应的平移对中、倾斜调节装置组成。
它的作用是提供一束亮度高、照明孔经角小、平行度好、束流稳定的照明源。
它应满足明场和暗场成像需求。
3、透射电子显微镜的成像系统主要是由物镜、中间镜和投影镜组成。
4、当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征谱X射线和连续谱X射线。
5、X射线与物质相互作用可以产生散射、入射、透射、吸收6、经过厚度为H的物质后,X射线的强度为I H=I0exp(-μH)。
7、X射线的本质既是高频率不可见《光》,也是电磁波,具有波粒二象性。
8、短波长的X射线称硬X射线,常用于衍射分析;长波长的X射线称软X射线,常用于荧光分析。
9、德拜相机有两种,直径分别是57.3 和Φ114.6 mm。
测量θ角时,底片上每毫米对应 2 º和1º。
10、衍射仪的核心是测角仪圆,它由试样台、辐射源和探测器共同组成。
11、可以用作X射线探测器的有正比计数器、闪烁计数器和SiLi半导体探测器等12、影响衍射仪实验结果的参数有狭缝宽度、扫描速度和时间常数等。
13、X 射线物相分析包括定性分析和定量分析,而定性分析更常用更广泛。
14、第一类应力导致X 射线衍射线峰线偏移(衍射线条位移);第二类应力导致衍射线峰线宽化(线条变宽);第三类应力导致衍射线衍射强度降低。
15、X 射线物相定量分析方法有内标法、外标法、无标样法等。
16、TEM 中的透镜有两种,分别是磁透镜和电透镜。
17、TEM 中的三个可动光栏分别是第二聚光镜光栏位于第二聚光镜焦点上,物镜光栏位于物镜的背焦面上,选区光栏位于。
18、TEM 成像系统由物镜、中间镜和投影镜与样品室构成组成。
19、TEM 的主要组成部分是照明系统、成像系统和观察记录系统;辅助部分由真空系统、循环冷却系统和控制系统组成。
材料科学基础习题集

0.32 1018 J / 原子 ln10 ln A [13.8 10-24 J / (原子K)] T
3
联立解得:
T=1201K
九、解:Al 晶体为面心立方点阵,设点阵常数为 a,原子直径为 d,则有
hu kv lw 0
且若 2 个不平行的晶面(h1k1l1)、(h2k2l2)同属于一个晶带,则晶带轴[uvw]可以通 过下式求得:
u k1l2 k2l1, v l1h2 l2h1, w h1k2 h2k1
故(110)、(311)面的晶带轴为 [112] ,(110)和(132)面的晶带轴为 [111] 。故三面不为 同一晶带。
63.54 g 1.055 1022 g 23 6.02 10
因此,铜的密度为:
V
晶胞质量 晶胞体积 m 4.22 1022 g = 8.98 g / cm 3 2 3 V 4.70 10 nm
八、解:平衡状态下有:
即 由题目条件
ne u Cv Aexp N kT ne u ln lA n N kT
求得
( x原子 / 晶胞)(55.849g / mol) =7.87g / cm3 8 3 23 (2.866 10 cm) (6.02 10 原子 / mol)
x=1.9971 原子/晶胞
ห้องสมุดไป่ตู้
由于理想 BCC 铁晶体中每个晶胞含 2 个铁原子, 故此 BCC 铁晶胞中包含的空位 数为: 2-1.9971=0.0029 个 每 cm3 中包含的空位数为
材料分析方法习题集

材料结构分析习题集电子显微分析部分习题习题一1.电子波有何特征?与可见光有何异同?2.分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。
3.电磁透镜的像差是怎样产生的,如何来消除和减少像差?4.说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透镜的分辨率?5.电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深大、焦长长、是什么因素影响的结果?6.试比较光学显微镜成像和透射电子显微镜成像的异同点?电子显微分析部分习题习题二1.透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间关系如何?2.照明系统的作用是什么?它应满足什么要求?3.分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,并画出光路图。
4.成像系统的主要构成及其特点是什么?5.样品台的结构与功能如何?它应满足什么要求?6.透射电镜中有哪些主要光阑,在什么位置?其作用如何?7.点分辨率和晶格分辨率有何不同?同一电镜的这两种分辨率哪个高?为什么?8.复型样品在透射电镜下的衬度是如何形成的?9.说明如何用透射电镜观察超细粉末的尺寸和形态?如何制备样品?材料现代分析方法习题集X射线衍射分析习题习题一1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射)、不相干散射(康普顿散射)、荧光辐射、俄歇效应、吸收限、俄歇效应。
2.在原子序24(Cr)到74(W)之间选择7种元素,根据它们的特征谱波长(Kα1),用图解法验证莫塞莱定律。
3.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时,容许的最大电流是多少?4.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
5.为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。
6.画出MoKα辐射的透射系数(I/I0)-铅板厚度(t)的关系曲线(t取0~1mm)。
7.欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?8.X射线的本质是什么?9.如何选用滤波片的材料?如何选用X射线管的材料?10.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
材料分析与测试复习题

• 7. 在一块冷轧钢板中可能存在哪几种内应力?它们的衍射 谱有什么特点? • 答:在一块冷轧钢板中可能存在三种内应力,它们是:第 一类内应力是在物体较大范围内或许多晶粒范围内存在并 保持平衡的应力。称之为宏观应力。它能使衍射线产生位 移。 • 第二类应力是在一个或少数晶粒范围内存在并保持平衡的 内应力。它一般能使衍射峰宽化。 • 第三类应力是在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。 它能使衍射线减弱。 • 8. 什么叫干涉面?当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射 时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻 两个HKL干涉面的波程差又是多少? • 答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面 称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射, 相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL) 晶面的波程差是λ。
• • • • •
X射线测定应力常用方法有Sin2Ψ法和0º-45º法。 德拜照相法中的底片安装方法有: 正装 、 反装 和 偏装 三种。 测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于X射线物 相分析方法中的 定量 分析方法。 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。 扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子。
5. 可以提高TEM的衬度的光栏是(B )。 A. 第二聚光镜光栏;B. 物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。 6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( D ) A. 六方结构;B. 立方结构;C. 四方结构;D. A或B。 7.下面分析方法中分辨率最高的是( C )。 A. SEM B. TEM C. STM D AFM 8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是( B )。 A. 背散射电子;B. 二次电子;C. 吸收电子;D.透射电子。 9.透射电镜的两种主要功能:( b ) (a)表面形貌和晶体结构 (b)内部组织和晶体结构 (c)表面形貌和成分价键 (d)内部组织和成分价键 10.表面形貌分析的手段包括( d ) (a)X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM) (b) SEM和透射 电镜(TEM)(c) 波谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS) (d) 扫描隧道显微镜(种基本方法及其用途? 答:获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉 末法。劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向; 旋转晶体法主要用于研究晶体结构;粉末法主要用于物相分 析。 14.简要说明多晶(纳米晶体)、单晶及非晶衍射花样的特征 及形成原理。 答:单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列, 具有明显对称性,且处于二维网络的格点上。因此表达花样 对称性的基本单元为平行四边形。单晶电子衍射花样就是 (uvw)*0零层倒易截面的放大像。 多晶面的衍射花样为:各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏 或照相底片的相交线,为一系列同心圆环。每一族衍射晶面 对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d的倒易球面,与 Ewald球的相惯线为园环,因此,样品各晶粒{hkl}晶面族晶 面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴、2q为半锥角的衍 射圆锥,不同晶面族衍射圆锥2q不同,但各衍射圆锥共顶、 共轴。 非晶的衍射花样为一个圆斑。
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材料结构分析习题集电子显微分析部分习题习题一1.电子波有何特征?与可见光有何异同?2.分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。
3.电磁透镜的像差是怎样产生的,如何来消除和减少像差?4.说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么?如何提高电磁透镜的分辨率?5.电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深大、焦长长、是什么因素影响的结果?6.试比较光学显微镜成像和透射电子显微镜成像的异同点?电子显微分析部分习题习题二1.透射电镜主要由几大系统构成?各系统之间关系如何?2.照明系统的作用是什么?它应满足什么要求?3.分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,并画出光路图。
4.成像系统的主要构成及其特点是什么?5.样品台的结构与功能如何?它应满足什么要求?6.透射电镜中有哪些主要光阑,在什么位置?其作用如何?7.点分辨率和晶格分辨率有何不同?同一电镜的这两种分辨率哪个高?为什么?8.复型样品在透射电镜下的衬度是如何形成的?9.说明如何用透射电镜观察超细粉末的尺寸和形态?如何制备样品?材料现代分析方法习题集X射线衍射分析习题习题一1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射)、不相干散射(康普顿散射)、荧光辐射、俄歇效应、吸收限、俄歇效应。
2.在原子序24(Cr)到74(W)之间选择7种元素,根据它们的特征谱波长(Kα1),用图解法验证莫塞莱定律。
3.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时,容许的最大电流是多少?4.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。
5.为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。
6.画出MoKα辐射的透射系数(I/I0)-铅板厚度(t)的关系曲线(t取0~1mm)。
7.欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?8.X射线的本质是什么?9.如何选用滤波片的材料?如何选用X射线管的材料?10.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片。
11.计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X射线振动频率和能量。
12.为使CuKα的强度衰减1/2,需要多厚的Ni滤波片?(Ni 的密度为8.90)。
13.试计算Cu的K系激发电压。
14.试计算Cu的Kα1射线的波长。
15.X射线实验室用防护铅屏,若其厚度为1mm,试计算其对CuKα、MoKα辐射的透射因子(I透射/I入射)各为多少?材料现代分析方法习题集X射线衍射分析习题习题二1.名词解释:晶面指数与晶向指数、晶带、干涉面、X射线散射、衍射与反射2.试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111],[121],[21-2],(0-10),[110],(123),(21-1)。
3.下面是某立方晶系物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(12-3),(100),(200),(-311),(121),(111),(-210),(220),(130),(030),(2-21),(110)。
4.证明(011-)、(121-)、(213-)晶面属于[111]晶带。
5.判别下列哪些晶面属于[-111]晶带:(-1-10),(-2-31),(231),(211),(-101),(1-33),(1-12),(1-32),(0-11),(212)。
6.晶面(110)、(311)、(132)是否属于同一晶带?晶带轴是什么?再指出属于这个晶带的其他几个晶面。
7.试计算(-311)及(-1-32)的共同晶带轴。
8.试述布拉格公式2dHKLsin θ=λ中各参数的含义,以及该公式有哪些应用?9.试述获取衍射花样的三种基本方法? 它们的应用有何不同?10.当X 射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍,则此方向上必然不存在放射,为什么?11.当波长为λ的X 射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl )晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL 干涉面的波程差又是多少?12.“一束X 射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”,此种说法是否正确?13.α-Fe属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm。
如用CrKαX射线(λ=0.2291nm)照射,试求(110)、(200)及(211)可发生衍射的掠射角。
14.画出Fe2B在平行于()上的部分倒易点。
Fe2B属晶系,点阵参数a=b=0.510nm,c=0.424nm。
材料现代分析方法习题集X射线衍射分析习题习题三1.名词解释:结构因子、多重因子、罗仑兹因子、系统消光2.原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系?3.总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。
4.洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响?其表达式是综合了哪几个方面考虑而得出的?5.多重性因数的物理意义是什么?某立方系晶体,其{100}的多重性因数是多少?如该晶体转变成四方晶系,这个晶面族的多重性因数会发生什么变化?为什么?6.多晶体衍射的积分强度表示什么?今有一用CuK α摄得的钨(体心立方)的德拜图相,试计算出头4根线的相对积分强度(不计算A (θ)和e -2M ,以最强线的强度为100)。
头4根线的θ值如下:线 条 θ1 20.202 29.203 36.704 43.607.试述衍射强度公式中各参数的含义?8.对于晶粒直径分别为100,75,50,25nm 的粉末衍射图形,请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B 。
(设θ=45°,λ=0.15nm )。
对于晶粒直径为25nm 的粉末,试计算:θ=10°、45°、80°时的B 值。
9.某斜方晶体晶胞含有两个同类原子,坐标位置分别为:(43,43,1)和(41,41, 21),该晶体属何种布拉菲点阵?写出该晶体(100)、(110)、(211)、(221)等晶面反射线F 2值。
10.说明原子散射因子f 、结构因子F 、结构振幅F 各自的物理意义。
11.多重性因子、吸收因子及温度因子是如何引入多晶体衍射强度公式?衍射分析时如何获得它们的值?12.金刚石晶体属面心立方点阵,每个晶胞含8个原子,坐标为:(0,0,0)、(21,21,0)、(21,0,21)、(0,21,21)、(41,41,41)、(43,43,41)、(43,41,43)、(41,43,43)原子散射因子f a ,求其系统消光规律(F 2最简表达式),并据此说明结构消光的概念。
13.“衍射线在空间的方位仅取决于晶胞的形状与大小,而与晶胞中的原子位置无关;衍射线的强度则仅取决于晶胞中原子位置,而与晶胞形状及大小无关”,此种说法是否正确?14.CuK α射线(λk α=0.154nm )照射Cu 样品,已知Cu 的点阵常数a =0.361nm ,试用布拉格方程求其(200)反射的θ角。
材料结构分析试题1(参考答案)一、基本概念题(共8题,每题7分)1.X 射线的本质是什么?是谁首先发现了X 射线,谁揭示了X 射线的本质?答:X射线的本质是一种横电磁波?伦琴首先发现了X射线,劳厄揭示了X射线的本质?2.下列哪些晶面属于[111]晶带?(111)、(321)、(231)、(211)、(101)、(101)、(133),(-1-10),(1-12),(1-32),(0-11),(212),为什么?答:(-1-10)(321)、(211)、(1-12)、(-101)、(0-11)晶面属于[111]晶带,因为它们符合晶带定律:hu+kv+lw=0。
3.多重性因子的物理意义是什么?某立方晶系晶体,其{100}的多重性因子是多少?如该晶体转变为四方晶系,这个晶面族的多重性因子会发生什么变化?为什么?答:多重性因子的物理意义是等同晶面个数对衍射强度的影响因数叫作多重性因子。
某立方晶系晶体,其{100}的多重性因子是6?如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4;这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。
4.在一块冷轧钢板中可能存在哪几种应力?它们的衍射谱有什么特点?答:在一块冷轧钢板中可能存在三种应力,它们是:第一类应力是在物体较大围或许多晶粒围存在并保持平衡的应力。
称之为宏观应力。
它能使衍射线产生位移。
第二类应力是在一个或少数晶粒围存在并保持平衡的应力。
它一般能使衍射峰宽化。
第三类应力是在若干原子围存在并保持平衡的应力。
它能使衍射线减弱。
5.透射电镜主要由几大系统构成? 各系统之间关系如何?答:四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。
其中电子光学系统是其核心。
其他系统为辅助系统。
6.透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何?答:主要有三种光阑:①聚光镜光阑。
在双聚光镜系统中,该光阑装在第二聚光镜下方。
作用:限制照明孔径角。
②物镜光阑。
安装在物镜后焦面。
作用: 提高像衬度;减小孔径角,从而减小像差;进行暗场成像。
③选区光阑:放在物镜的像平面位置。
作用: 对样品进行微区衍射分析。
7.什么是消光距离? 影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?答:消光距离:由于透射波和衍射波强烈的动力学相互作用结果,使I0和Ig在晶体深度方向上发生周期性的振荡,此振荡的深度周期叫消光距离。
影响因素:晶胞体积,结构因子,Bragg角,电子波长。
8.倒易点阵与正点阵之间关系如何? 画出fcc和bcc晶体的倒易点阵,的点阵的倒易点阵。
二、综合及分析题(共4题,每题1.决定X 射线强度的关系式是c V V mc e R I I 22223032⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛=πλ试说明式中各参数的物理意义?答:I 0为入射X 射线的强度;λ 为入射X 射线的波长R 为试样到观测点之间的距离;V 为被照射晶体的体积V c 为单位晶胞体积P 为多重性因子,表示等晶面个数对衍射强度的影响因子;F 为结构因子,反映晶体结构中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子;φ(θ) 为角因子,反映样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒数目和衍射线位置对衍射强度的影响;A(θ) 为吸收因子,圆筒状试样的吸收因子与布拉格角、试样的线吸收系数μl 和试样圆柱体的半径有关;平板状试样吸收因子与μ有关,μθ21)(∝A 而与θ角无关。
M e 2-表示温度因子。
衍射强度无热振动理想情况下的强度有热振动影响时的衍射=-M e 22.比较物相定量分析的外标法、标法、K 值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点?答:外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定,并作曲线图。