可靠性试验简介.
可靠性试验方案
可靠性试验方案1. 引言可靠性试验是用于评估产品或系统在实际使用环境下的可靠性性能的一种手段。
通过可靠性试验，可以检测产品或系统在长时间运行中的故障率、寿命、可用性等指标，并为改进产品或系统的可靠性提供参考依据。
本文档旨在提供一个可靠性试验方案的模板，以供参考。
2. 试验目的本次可靠性试验的目的是评估产品或系统在预定条件下的可靠性性能，包括但不限于以下方面：•测试产品或系统在工作负荷下的故障率；•测试产品或系统在长时间使用过程中是否存在逐渐增加的故障率；•测试产品或系统在突发负荷下的故障应对能力；•测试产品或系统的寿命。
3. 试验计划3.1 试验样本选择一批代表性样本，以确保试验结果能够有效推广到整体产品或系统。
3.2 试验环境确定试验所需的环境条件并加以控制，包括但不限于以下方面：•温度：设定试验环境温度，确保符合产品或系统的使用环境要求；•湿度：设定试验环境湿度，确保符合产品或系统的使用环境要求；•压力：设定试验环境压力，确保符合产品或系统的使用环境要求。
3.3 试验方法根据试验目的和产品或系统的特点，选择合适的试验方法，并确保试验过程可重复。
3.4 试验时间确定试验的时间安排，包括但不限于以下方面：•持续时间：确定试验的总持续时间；•间隔时间：确定每次试验之间的间隔时间，以确保试验结果能够有效分析。
4. 数据收集与分析4.1 数据收集在试验过程中，记录并存储与试验目的相关的数据，包括但不限于以下方面：•故障事件：记录产品或系统在试验过程中出现的故障事件及其相关信息；•寿命数据：记录产品或系统在试验过程中的寿命数据；•其他关键指标：根据试验目的，记录与指标相关的数据。
4.2 数据分析对收集到的数据进行分析，以评估产品或系统的可靠性性能，包括但不限于以下方面：•故障率分析：计算故障率并绘制故障率曲线，用于评估产品或系统在不同时间阶段的可靠性表现；•寿命分析：对寿命数据进行统计和分析，确定产品或系统的寿命分布特征；•可用性分析：根据试验过程中的数据，计算产品或系统的可用性指标；•其他分析：根据试验目的，进行其他合适的数据分析。
可靠性试验标准
可靠性试验标准可靠性试验标准是指对产品在一定条件下的可靠性进行验证和评估的一系列规范和方法。
在现代工业生产中，产品的可靠性是一个非常重要的指标，它直接关系到产品的质量和使用寿命，也是衡量产品优劣的重要标准之一。
因此，建立科学合理的可靠性试验标准对于提高产品质量、降低生产成本具有重要意义。
首先，可靠性试验标准需要明确产品的可靠性指标。
产品的可靠性指标包括可靠性水平、可靠性增长率、失效率、平均寿命等。
通过对这些指标的测定和评估，可以全面了解产品在一定条件下的可靠性表现，为制定可靠性试验标准提供依据。
其次，可靠性试验标准需要考虑产品的使用环境和条件。
不同的产品在不同的使用环境下，其可靠性表现会有所差异。
因此，在制定可靠性试验标准时，需要充分考虑产品的使用环境和条件，确保试验结果能够真实反映产品在实际使用中的可靠性表现。
另外，可靠性试验标准还需要考虑试验方法和过程。
试验方法和过程的选择直接影响到试验结果的准确性和可靠性。
因此，在制定可靠性试验标准时，需要选择科学合理的试验方法和过程，并严格控制试验过程中的各项因素，确保试验结果的可靠性和可重复性。
此外，可靠性试验标准还需要考虑试验样本的选择和试验时间的安排。
试验样本的选择应该具有代表性，并且需要考虑到产品的使用寿命和可靠性指标，以确保试验结果的准确性和可靠性。
同时，试验时间的安排也需要充分考虑产品的使用寿命和可靠性指标，避免试验时间过长或者过短导致试验结果不准确。
最后，制定可靠性试验标准还需要考虑试验结果的评定和分析。
试验结果的评定和分析是制定可靠性试验标准的最终目的，只有通过对试验结果的评定和分析，才能够全面了解产品的可靠性表现，并据此制定科学合理的可靠性试验标准。
综上所述，制定可靠性试验标准是一个复杂而又重要的工作，需要充分考虑产品的可靠性指标、使用环境和条件、试验方法和过程、试验样本的选择和试验时间的安排，以及试验结果的评定和分析。
只有通过科学合理的制定可靠性试验标准，才能够全面提高产品的可靠性，确保产品的质量和使用寿命，从而满足市场和用户的需求。
可靠性试验程序
可靠性试验程序一、引言可靠性试验是评估产品在特定条件下的可靠性性能的一种方法。
本文旨在描述可靠性试验的标准程序，以确保试验的可靠性和准确性。
二、试验目的本试验的目的是评估产品在正常使用条件下的可靠性性能，包括故障率、失效模式、寿命等指标。
通过试验结果，可以为产品的设计和改进提供依据，提高产品的可靠性。
三、试验准备1. 确定试验对象：选择符合试验要求的产品作为试验对象。
2. 确定试验条件：根据产品的使用环境和预期工作条件，确定试验的温度、湿度、振动等条件。
3. 设计试验方案：根据试验目的和试验条件，设计试验方案，包括试验时间、样本数量、试验方法等。
4. 准备试验设备：根据试验方案，准备相应的试验设备，包括温度控制装置、振动台等。
5. 编制试验记录表：根据试验方案，编制试验记录表，用于记录试验过程中的数据和观察结果。
四、试验过程1. 样本准备：根据试验方案确定的样本数量，从试验对象中选择合适的样本进行试验。
2. 试验前检查：在试验开始前，对试验设备进行检查，确保其正常工作，并校准相关的测量仪器。
3. 试验执行：按照试验方案的要求，将样本放置在试验设备中，设置相应的试验条件，并记录试验开始时间。
4. 数据记录：在试验过程中，按照试验记录表的要求，记录样本的工作状态、故障情况等数据。
5. 试验观察：观察样本在试验过程中的工作状态和故障情况，记录相关的观察结果。
6. 试验结束：根据试验方案确定的试验时间，试验结束时住手试验设备，并记录试验结束时间。
五、数据分析1. 故障率计算：根据试验记录中的故障数据，计算样本的故障率，包括平均故障率和积累故障率。
2. 失效模式分析：根据试验观察结果和故障数据，分析样本的失效模式和失效原因。
3. 寿命评估：根据试验结束时样本的工作状态和故障情况，评估样本的寿命分布和可靠性指标。
六、试验报告根据试验过程和数据分析结果，编制试验报告，包括试验目的、试验方法、试验结果和数据分析等内容。
可靠性试验大纲
试验结果可以为航空器和航天器的设计、生产和维护提供重要的参考依据，提高产品的可靠性 和安全性。
其他机械产品
航空航天设备
汽车和轨道交通车辆
船舶和海洋工程装备
农业机械和林业机：XX
优化产品设计
可靠性试验的目的是为了评估产品的可靠性水平，发现潜在的设计和 制造缺陷，并优化产品设计。
通过可靠性试验，可以了解产品在不同环境和工作条件下的性能表 现，为产品的设计和改进提供依据。
可靠性试验可以帮助设计团队识别产品的薄弱环节和易损部位，针对 性地进行优化设计。
可靠性试验是产品开发过程中不可或缺的一环，通过不断优化产品 设计，可以提高产品的质量和可靠性，降低产品故障率和维修成本。
指标
分类：常规性 能试验、极限 性能试验、可 靠性性能试验
等
意义：为产品 的设计、改进 和优化提供依
据
结构试验
目的：验证产品结构是否满足设计要求 方法：通过施加外部载荷来测试产品的结构强度和稳定性 试验条件：模拟产品在实际使用中可能遇到的各种环境条件 试验标准：根据产品行业标准和相关法规进行试验
定期检查样品的 状态和性能
遵循试验程序和 操作规程
试验结束后及时 对样品进行清洁 和维护
合理安排试验时间和资源
试验时间：确保试验时间充足，避免试验过程中出现时间不足的情况 资源分配：合理分配试验所需的资源，包括人力、物力和财力等 试验进度：制定详细的试验计划，确保试验按照预定时间进行 资源协调：及时协调资源，确保试验过程中各项资源的充足和稳定
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01
可靠性试验的目的
02
验证产品可靠性
如何进行可靠性测试保证系统的稳定性
如何进行可靠性测试保证系统的稳定性在现代社会中，计算机系统已经贯穿了各行各业的方方面面。
为了确保系统的稳定性和可靠性，可靠性测试成为了必不可少的一环。
本文将介绍如何进行可靠性测试，以确保系统的正常运行。
一、什么是可靠性测试可靠性测试是通过一系列的测试和分析来评估系统在特定环境中连续工作的能力。
它旨在发现系统在长时间运行过程中可能出现的缺陷和故障，并提供可靠性指标，用于评估系统的稳定性。
二、可靠性测试的步骤1. 需求分析：在进行可靠性测试之前，首先需要明确系统的需求和目标，包括系统的工作环境、用户需求等。
这有助于测试团队明确测试的方向和重点。
2. 测试计划：编制一份详细的测试计划，包括测试的范围、测试的方法和技术、测试的时间和资源等。
测试计划应该综合考虑系统的功能、性能、可用性等方面。
3. 测试设计：根据测试计划，设计一系列的测试用例，覆盖系统的各个功能和模块。
测试用例应该具有充分的代表性，能够模拟真实的使用场景。
4. 测试执行：执行测试用例，并记录测试过程中的关键信息，包括测试结果、错误日志等。
测试过程中需要保证环境的稳定，并及时处理测试中发现的问题。
5. 缺陷修复：根据测试结果，对系统中发现的问题进行修复。
修复后需要重新进行测试，确保问题彻底解决。
6. 统计分析：根据测试结果，进行统计分析，得出系统的可靠性指标。
常见的可靠性指标包括故障率、平均无故障时间（MTTF）等。
7. 报告撰写：编制一份详细的测试报告，包括测试的目的、范围、方法、结果和分析等。
测试报告可以为系统开发人员提供改进和优化的依据。
三、可靠性测试的方法和技术1. 功能测试：验证系统的各项功能是否满足需求，检查系统在各种条件下是否能正常工作。
2. 性能测试：测试系统在正常工作情况下的性能表现，包括响应时间、吞吐量、并发用户数等。
3. 负载测试：通过模拟实际使用情况下的工作负载，测试系统在高负载条件下的可靠性和性能。
4. 强度测试：测试系统在超过正常工作负荷的情况下的可靠性和性能。
可靠性试验体系.
工程试验-环境应力筛选-2
典型应力及其效果：恒定高温、温度循环、温度冲击、随机振
动等。
工程试验-环境应力筛选-3
常规筛选方法：
常规筛选所用的方法是凭经验确定的，以能筛选出早期故障为目标。 是目前广泛应用的一种手段。其过程一般包括试验前准备工作、初始 性能检测、寻找和排除故障及无故障检验、最终性能检测四个阶段。
向电子产品施加合理的环境应力和电应力，将其内部的潜在缺陷激发 成为故障，并通过检测发现和排除的过程，是一种工艺手段。环境应 力筛选的目的是发现和排除不良元器件、制造工艺和其他原因引入的 缺陷所造成的早期故障。这种早期故障通常是用常规的方法如目视检 查或测试等无法发现的。
条件：良好的环境应力筛选应具备以下条件
概念：可靠性增长试验(reliability growth test,RGT)是一个有计划
地试验-分析-改进的过程，其目的是把受试设备处于近似于工作环境 条件下进行试验，使其暴露故障，进而分析故障、改进设计，并验证 改进措施的有效性，以提高产品的固有可靠性。一般安排在工程研发 基本完成之后和可靠性鉴定试验之前。
环境应力筛选标准：
电子产品以GJB1032为基础，根据受筛产品特点进行适当的剪裁。
工程试验-可靠性研制试验-1
目的：在产品研发阶段，通过对受试产品施加应力，将产品中存在
的材料、设计、工艺缺陷激发成为故障，进行分析定位后，采取纠正 措施加以排除。是一个TAAF(test,analysis and fix)过程。
可靠性试验-分类
工程试验：目的是暴露产品在设计、工艺、原材料等方面存在的缺
可靠性寿命试验
共二十九页
Coffin-Manson Model
ACMD = (ΔTA/ΔTu)2 x (fA/fu) = Du/DA Du= DA*(ΔTA/ΔTu)2 x (fA/fu)
ACMD = Acceleration factor for number of cycles (dimensionless)
盐雾,霉菌,低气压,超高真空,红外谱检测,X射线检测, 辐射等
低温/低压,低温/振动,高温/振动,振动/温循/潮湿试验 等
温度-湿度-气压试验
长期贮存寿命试验
长期工作寿命试验->连续工作寿命试验(动态,静态)
-
>间隙工作寿命试验
恒定应力加速试验,步进应力加速试验等
实际工作试验，现场贮存试验，现场环境试验
解：
n=7, r=6
T=650+450+120+530+600+450+(7-6)*700=3500hrs
置信水平为90%的单侧置信下限为θL=332.32hrs
置信度为80%双侧置信区间[θL, θU]为[332.32,1110.44]
共二十九页
例4: 设产品寿命服从指数分布.抽其n个样品进行无替换的定时截尾 寿命试验。如果在测试中无失效发生，那么在置信水平0.95下， 为了满足平均寿命的单侧置信下限为1000hrs,总的试验时间
ΔTA = Thermal cycle temperature change in accelerated environment (°K) ΔTu = Thermal cycle temperature change in use environment (°K)
fu = Frequency of thermal cycles in use environment (cycles/day) fA = Frequency of thermal cycles in accelerated environment (cycles/day) Du = Time duration in use environment (days) DA = Time duration in accelerated environment (days)
可靠性试验包括哪些
可靠性试验包括哪些1. 引言可靠性试验是评估和验证产品、系统或设备在特定条件下的稳定性和可靠性的过程。
通过进行可靠性试验，可以评估产品在正常使用情况下的寿命、故障率、可用性和可靠性等指标。
本文将介绍几种常见的可靠性试验方法。
2. 寿命试验寿命试验是一种常见的可靠性试验方法，通过将产品在特定条件下加速使用，以评估其在实际使用中的寿命。
寿命试验通常需要在加速条件（例如高温、高湿度、高压力等）下对产品进行长时间运行，并记录产品的故障率和寿命数据。
通过对试验数据的分析，可以估计产品在正常使用情况下的寿命。
3. 环境试验环境试验是一种对产品在不同环境条件下的可靠性进行评估的方法。
环境试验可以包括高温试验、低温试验、温度循环试验、湿热试验等。
这些试验旨在模拟产品在实际使用中可能遇到的不同环境条件，以评估产品在不同环境条件下的可靠性和稳定性。
4. 动态负载试验动态负载试验是一种通过对产品施加动态负载来评估其在不同工作状态下的可靠性的方法。
在动态负载试验中，产品会被持续工作，并在不同负载条件下进行测试。
通过观察产品在不同负载下的性能和可靠性变化，可以评估产品在实际使用中的可靠性。
5. 故障模式和影响分析（FMEA）故障模式和影响分析（FMEA）是一种通过系统性地识别和分析潜在故障模式，评估其对系统性能和可靠性的影响的方法。
FMEA通过对系统设计和功能进行全面的分析，识别可能发生的故障模式，并评估这些故障对系统性能和可靠性的潜在影响。
通过FMEA可以帮助设计和开发团队在系统设计阶段排除潜在的故障和缺陷，提高产品的可靠性。
6. 可靠性增长试验可靠性增长试验是一种通过对产品进行连续运行和监测来评估产品可靠性增长情况的方法。
在可靠性增长试验中，产品会在实际使用条件下连续运行一段时间，并进行定期的监测和维护。
通过对试验期间的故障和维修情况进行分析，可以评估产品可靠性的增长情况，及时发现和修复潜在问题。
7. 可靠性验证试验可靠性验证试验是一种通过对产品进行真实场景下的测试和验证来评估产品可靠性的方法。
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Infant Mortality 初期失效率
Wear out 老化
Random failure 随机失效
) (
Useful Life 可用时期
) (
时间
短时间可靠性试验 (Burn-In)
5/22/08
长时间可靠性试验 (Reliability stress test)
6 AOS Confidential
2
5/22/08
AOS Confidential
接上页
ESD Test （Electrostatic Discharge 静电放电测试）
– HBM ESD （Human Body Model 人体模式） – MM ESD （Machine Model 设备模式） – CDM ESD （Charged Device Model 器件放电模式）
接上页
♦ 初期失效区域
大多数半导体元器件共性 主要有设计，制造原因引起 能够被筛选 大致需要3-15个月，通常为1年
♦ 可用时期区域
随机失效, EOS（过电） 一般需要10年
♦ 老化区域
材料疲劳破坏，老化
7 5/22/08 AOS Confidential
可靠性试验
♦ 可靠性试验: A series of laboratory tests carried out
可靠性试验介绍
金杰
纲领
♦ 可靠性定义
可靠性 Vs 质量 浴盆曲线
♦ ♦ ♦ ♦
可靠性试验 可靠性试验目的 可靠性试验分类 AOS 可靠性试验类型
HTS （High Temperature Storage 高温储存试验） HTGB (High Temperature Gtae Bias 高温Gate偏压试验） HTRB (High Temperature Reverse Bias 高温反相偏压试验）
可靠性试验分类
♦ 对于不同的产品，为了达到不同的目的，可以选择不同的 可靠性试验方法。可靠性试验有多种分类方法:
以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场 试验 以试验项目划分，可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种 特殊试验 按试验目的来划分，则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验 按试验性质来划分，也可分为破坏性试验和非破坏性试验 通常惯用的分类法，是把它归纳为五大类
Precon （Precondition 预处理）
– Delamination Type （分层类型）
PCT （Pressure Cooking Test 压力蒸煮试验） TC （Temperature Cycling 温度循环试验） HAST (Highly Accelerated Stress Test 高压加速寿命试验）
High Temperature Gate Bias （高温Gate偏压试验）
High Temperature Reverse Bias （高温反相偏压试验）
Condition （条件）
温度=150度, 无偏压 500hrs, 1000hrs
温度=150度, Vgs=100%Vgsmax 168hrs, 500hrs, 1000hrs 温度=150度, Vds=80%Vdsmax 168hrs, 500hrs, 1000hrs (1) 湿度吸收 :168小时的85度/85%相 对湿度的恒温恒湿 or 1hr PCT (2) Reflow: 3 次，最高温度大于260度 零下65度 至150度 250cyc, 500cyc, 1000cyc 121度, 100%RH, 205kPa(29.7psia), 96hrs 130度, 85%RH, 230kPa(33.3psia), Vgs=80%Vgsmax, 100hrs
stress that the semiconductor device may encounter during all phases of its life, including mounting, aging, field installation and operation. ♦ 可靠性试验的目标是通过模拟和加速半导体元器件在整个 寿命周期中遭遇的各种情况（包括贴片，寿命，应用和运 行）
under known stress conditions to evaluate the life span of a device or system. （在已知试验条件情况下通过实验室试验
测试来评估器件或系统的寿命）
♦ Reliability tests aim to simulate and accelerate the
– – – – –
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环境试验 寿命试验 筛选试验 现场使用试验 鉴定试验
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AOS 可靠性试验
Item
1 2 3
Test Name （试验名）
HTS HTGB HTRB **Precon
High Temperature Storage （高温储存试验）
8 5/22/08 AOS Confidential
可靠性试验目的
♦ 可靠性试验目的：
使试制阶段的产品达到预定的可靠性指标。 对产品的制作过程起监视作用。 根据试验制定出合理的工艺筛选条件。
通过试验可以对产品进行可靠性鉴定或验收。
通过试验可以研究器件的失效机理。
9 5/22/08 AOS Confidential
4 5/22/08 AOS Confidential
可靠性 Vs 质量
♦ 可靠性: 衡量器件寿命期望值，也就是说可以通过可靠性
结果计算器件需要多久持续满足规范要求。
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ
♦ 质量：衡量器件在当前是否满足规定的标准要求。
5 5/22/08 AOS Confidential
浴盆曲线
失效率 (1/time)
♦ AOS可靠性试验设备
3 5/22/08 AOS Confidential
可靠性定义
♦ Reliability: The ability of a device to conform to its electrical and visual/mechanical specifications over a specified period of time under specified conditions at a specified confidence level. ♦ 可靠性：产品在规定的条件下，规定的时间内完 成规定功能的能力