控制系统设计的根轨迹法

合集下载

自动控制原理第5章根轨迹分析法

自动控制原理第5章根轨迹分析法

04
CATALOGUE
根轨迹分析法的限制与挑战
参数变化对根轨迹的影响
参数变化可能导致根轨迹的形状和位置发生变化 ,从而影响系统的稳定性和性能。
对于具有多个参数的系统,根轨迹分析可能变得 复杂且难以预测。
需要对参数变化进行细致的监测和控制,以确保 系统的稳定性和性能。
复杂系统的根轨迹分析
对于复杂系统,根轨 迹分析可能变得复杂 且难以实现。
02
CATALOGUE
根轨迹的基本概念
极点与零点
极点
系统传递函数的极点是系统动态 特性的决定因素,决定了系统的 稳定性、响应速度和超调量等。
零点
系统传函数的零点对系统的动 态特性也有影响,主要影响系统 的幅值和相位特性。
根轨迹方程
根轨迹方程是描述系统极点随参数变 化的关系式,通过求解根轨迹方程可 以得到系统在不同参数下的极点分布 。
05
CATALOGUE
根轨迹分析法的改进与拓展
引入现代控制理论的方法
状态空间法
将根轨迹分析法与状态空间法相结合,利用状态空间法描述系统的动态行为,从而更全 面地分析系统的稳定性。
最优控制理论
将根轨迹分析法与最优控制理论相结合,通过优化系统的性能指标,提高系统的稳定性 和动态响应。
结合其他分析方法
根轨迹方程的求解方法包括解析法和 图解法,其中图解法是最常用的方法 。
根轨迹的绘制方法
手工绘制
通过选取不同的参数值,计算对应的极点,然后绘制极点分布图。这种方法比较繁琐,但可以直观地了解根轨迹 的形状和变化规律。
软件绘制
利用自动控制系统仿真软件,如MATLAB/Simulink等,可以方便地绘制根轨迹图,并分析系统的动态特性。

自动控制原理第第四章 线性系统的根轨迹法

自动控制原理第第四章 线性系统的根轨迹法

2
自动控制原理
§4.1 根轨迹的基本概念
例:开环传递函数
Gs
k1
ss
a
开环系统两个极点为:P1 0, P2 a R(s)
闭环传递函数为:
GB s
s2
k1 as
k1
-
k1
C(s)
ss a
闭环特征方程: s2 as k1 0
闭环特征根:s1,2
a 2
a 2
2
k1
(闭环极点)
3
自动控制原理
在p5附近取一实验点sd, 则∠sd-p5可以认为是p5点的出射角 Sd Z Sd P1 Sd P2 Sd P3 Sd P4 Sd P5 1800
近似为 P5 Z P5 P1 P5 P2 P5 P3 P5 P4 p 1800
p Sd P5 1800
法则4 实轴上存在根轨迹的条件——
这些段右边开环零极点个数之和为奇
数。
m
n
证明:根据相角条件 S Z j S Pi 18002q 1
j 1
i 1
p4
j s平面
例:sd为实验点
p3
z2 sd
p2 z1 p1
p5
① 实验点sd右侧实 轴上零极点提供 1800相角
③ 共轭复零点,复极点提供的相角和为 3600。
2
s1=-1.172,s2=-6.828
33
自动控制原理
法则6 开环复数极点处根轨迹出射角为
p 1800
开环复数零点处根轨迹入射角为:
Z 1800
其中 z p(不包括本点)
34
自动控制原理
j p5
p5
p3 p3
p2

第四章控制系统的根轨迹法

第四章控制系统的根轨迹法
10
应掌握的内容
180度,0度根轨迹的绘制 参数根轨迹的绘制 增加开环零、极点对根轨迹和系统性能的影响 分析系统的稳定性 分析系统的瞬态和稳态性能 对于二阶系统(及具有闭环主导共轭复数极点的高阶 系统),根据性能指标的要求在复平面上划出满足这一 要求的闭环极点(或高阶系统主导极点)应在的区域。
11
第四章 控制系统的根轨迹法
1
根轨迹概念
根据系统的零极点分布可间接地研究控制系统的性 能。在复平面上由开环零极点确定闭环零极点的图解方 法称为根轨迹法。 根轨迹定义:开环系统某一参数从零变化到无穷大时,
闭环系统特征方程的根在s平面上变化的轨迹。
根轨迹的类型:
常规根轨迹:包括180度等相角根轨迹和零度等相角根 轨迹。轨迹增益kg从0变化到无穷大时的根轨迹称为180度 根轨迹; kg从0变化到负无穷大时的根轨迹称为0度根轨迹。
分别为-2.93和-17.1,
分离(会合)角为90
45
度。根轨迹为圆,如
右图所示。
13

OB,其方程为
2 2
时,阻尼角 45,表示45 角的直线为
,代入闭环特征方程整理后得:
5 k10k j 2 2 5 k 0
令实部和虚部分别为零,有
5 k10k 0
2 5 k 0
增加开环极点对根轨迹的影响 (1)一般可使根轨迹向右半s平面弯曲或移动,降低 系统的相对稳定性,减小系统的阻尼。 (2)改变渐近线的倾角,增加渐近线的条数。
8
利用根轨迹分析系统性能
利用根轨迹可确定使系统稳定的参数范围 根轨迹处于s左半平面部分的系统是稳定的。
瞬态性能分析 闭环系统的零、极点和瞬态响应的关系在前面已讨
9
利用根轨迹分析系统性能(续)

第四章 (1)根轨迹法(基本概念)

第四章 (1)根轨迹法(基本概念)

l
K
* H
(s z j )
H (s)
j 1 h
(s p j )
j 1
K
* H
— 反馈通路的根轨迹增益
f
l
K *
(s zi )
(s z j )
G(s)H (s)
i 1
q
j 1 h
(s pi ) (s p j )
i 1
j 1
K*
K
* G
K
* H
— —开环根轨迹增益
z(i i 1,,f)— 前向通路传递函数的零 点
点处的K值,就是临界稳定的开环增益Kc。 2.稳态性能 开环系统在坐标原点有一个极点,
所以属Ⅰ型系统,因而根轨迹上的K值就是静态
速度误差系数。
如果给定系统的稳态误差要求,则由根轨迹图
确定闭极点位置的允许范围. K
如何分析系统性能?
3.动态性能:当 K>1时,所有闭环极点
均位于实轴上,系统为过阻尼系统,其单位 阶跃响应为单调上升的非周期过程。
另一个问题是,通过解方程求得的闭环 极点,是在系统参数一定的情况下求得的。 但当系统中的参数变化时,如开环增益K变化 时,又得重新解方程求根,因而很不方便。
为了解决以上问题,1948年,伊万斯提 出了控制系统分析设计的根轨迹法。
这种方法是根据反馈控制系统的开环、闭 环极点传递函数之间的关系,根据一定的准 则,直接由开环传递函数的零、极点,求出 闭环极点。从而,比较容易的得到系统的性能.
z j ( j 1,,l) — 反馈通路传递函数的零 点
引言
A.闭环系统的稳定性和动态性能 取决于闭环极点特征方程的根。
B.当待定参数变化时特征根随之变 化,这个根的变化轨迹就形成根轨迹。

自动控制原理 第四章 根轨迹法

自动控制原理 第四章 根轨迹法

第4章 根 轨 迹 法根轨迹法是分析和设计线性控制系统的图解方法,使用简便,在控制工程上得到了广泛应用。

本章首先介绍根轨迹的基本概念,然后重点介绍根轨迹绘制的基本法则,在此基础上,进一步讨论广义根轨迹的问题,最后介绍控制系统的根轨迹分析方法。

4.1 根轨迹的基本概念4.1.1 根轨迹概念所谓根轨迹,就是系统开环传递函数的某一参数从零变化到无穷时,闭环特征根在s 平面上变化的轨迹。

例如某控制系统的结构图如图4.1所示。

图4.1 控制系统其开环传递函数为()K (0.51)KG s s s =+其闭环传递函数为22()22Ks s s KΦ=++式中:K 为系统开环增益。

于是闭环特征方程可写为2220s s k ++=对上式求解得闭环特征根为1,21s =−令开环增益K 从零变化到无穷,利用上式求出闭环特征根的全部数值,将这些值标注在s 平面上,并连成光滑的粗实线,如图4.2所示,该粗实线就称为系统的根轨迹。

箭头表示随K 值增加根轨迹的变化趋势。

这种通过求解特征方程来绘制根轨迹的方法,称之为解析法。

画出根轨迹的目的是利用根轨迹分析系统的各种性能。

通过第3章的学习知道,系统第4章 根轨迹法·101··101·特征根的分布与系统的稳定性、暂态性能密切相关,而根轨迹正是直观反应了特征根在复平面的位置以及变化情况,所以利用根轨迹很容易了解系统的稳定性和暂态性能。

又因为根轨迹上的任何一点都有与之对应的开环增益值,而开环增益与稳态误差成反比,因而通过根轨迹也可以确定出系统的稳态精度。

可以看出,根轨迹与系统性能之间有着比较密切的联系。

图4.2 控制系统根轨迹4.1.2 根轨迹方程对于高阶系统,求解特征方程是很困难的,因此采用解析法绘制根轨迹只适用于较简单的低阶系统。

而高阶系统根轨迹的绘制是根据已知的开环零、极点位置,采用图解的方法来实现的。

下面给出图解法绘制根轨迹的根轨迹方程。

自动控制原理第四章根轨迹法

自动控制原理第四章根轨迹法

i 1
j 1
开环极点到此被测零点 (终点)的矢量相角
8. 根轨迹的平衡性(根之和) ( n-m 2)
特征方程 Qs KPs 0
sn an1sn1 a1s a0 K sm bm1sm1 b1s b0 0
n
Qs KPs s p j sn cn1sn1 c1s c0 0 j 1
i 1
j1
k 0,1,2,
s zoi i 开环有限零点到s的矢量的相角
s poj j 开环极点到s的矢量的相角
矢量的相角以逆时针方向为正。
幅值条件:
s
m
m
s zoi
li
A s
i 1 n
i 1 n
s poj
Lj
j 1
j1
li αi
-zoi
Lj βj
×
-poj
开 环 有 限 零 点 到s的 矢 量 长 度 之 积 开环极点到s的矢量长度之积
, 2 2
c 2k 11800 2
由此可推理得到出射角:
其余开环极点到被测极 点(起点)的矢量相角
n1
m
c 2k 1180o j i
j 1
i 1
有限零点到被测极点
(起点)的矢量相角
同理入射角:
其余开环有限零点到被测 零点(终点)的矢量相角
m1
n
r 2k 1180o i j
1 GsHs 0
m
GsHs
KPs Qs
K
i 1
n
s
s
zoi
poj
j 1
P s sm bm1sm1 b1s b0
Q s sn an1sn1 a1s a0
于是,特征方程

自动控制第五章根轨迹法

自动控制第五章根轨迹法

15
绘制根轨迹的规则
【例5-2】已知负反馈系统的开环传递函数为:
解:(1)根轨迹的分支数和对称性 开环极点分别为: 系统的根轨迹有三条分支 (2)根轨迹的起点与终点 起始于系统的三个开环极点,并趋向于无穷远处
K1 Kb
j Kc
K1

(3)根轨迹的渐近线
Kc K1
16
绘制根轨迹的规则
闭环特征根s1,s2 随着K1值得 改变而变化。
(1) K1= 0:s1 = 0,s2 = 2,是根轨迹的起点,用“”表示。 j K1 (2) 0 < K1<1 :s1 ,s2 均是负实数。 K1 s1 ,s2 。 s1从坐标原点开 始沿负实轴向左移动; s2从(2, K1= 0 K1= 0 K1=1 j0)点开始沿负实轴向右移动。 1 0 2 (3) K1= 1: s1 = s2 = 1,重根。
+

K s(0.5s+1)
C(s)
式中,K为系统的开环比例系数。 K1 = 2K 称为系统的开环 根轨迹增益。
系统的闭环传递函数为:
K1 ( s) 2 s 2s K1
系统的闭环特征方程为: s2 + 2s + 2K1 = 0
4
一、根轨迹
用解析法求得系统的两个闭环特征根为:
s1,2 1 1 K1
K1
分离角为:
Kb

Kc K1
17
绘制根轨迹的规则
一般情况下,如果根轨迹位于实轴上相邻的开环极点之间, 则在这两个极点之间至少存在一个分离点;同样,如果根 轨迹位于实轴上两个相邻的开环零点之间(其中一个可在 无穷远处),则这两个零点之间至少存在一个汇合点。

控制工程基础第4章 根轨迹法

控制工程基础第4章  根轨迹法

n 3, m 0, 故三条根轨迹趋向处。
渐进线与实轴交点的坐标为
[S]
a
0
1
3
2
0
1
渐进线与实轴正向的夹角为
a -2 -1 0
a
2k
1180
3
60 , 180
六、根轨迹的起始角与终止角
起始角:起始于开环极点的根轨迹在起点 处的切线与水平线正方向的夹角。
终止角:终止于开环零点的根轨迹在终点 处的切线与水平线正方向的夹角。
s4
2
1
s3 -2 s20 s1
s3 180 , s3 2 180 s4 1, s4 2 2
若s4位于根轨迹上,则必满足
幅角条件,即1 2 180,
N
s4一定在 2,0的中垂线MN上。
利用幅值条件可算出各根轨迹上的 K 值。

Gs
K
s0.5s 1
2K
ss 2
K
ss 2
终止于 zb 的根轨迹在终点处
的切线与水平正方向的夹角
j 1
i 1
ib
其它零点到 zb 的向量夹角
七、分离点的坐标
几条根轨迹在[S]平面上相遇后又分开的点, 称为根轨迹的分离点(或会合点)。
分离点坐标的求法:
1 d (G(s)H (s)) 0
ds
2 由根轨迹方程
令:dK 0 解出s ds
n
1 180 p1 z p1 p2
180 116.57 90
206.57
由于对称性
2 206.57
会合点 -3
206.57
p1
[S]
z116.57
2.12
-2 -1 0
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

基于根轨迹法的超前校正
说明:
较大的Kv值。在多数情况下,比较大的Kv代表比较好的 系统性能)。 jω ω × 期望的闭环主导极点
在选择极点和零点的位置方面存在多种可能性。下 面介绍求α最大可能值的步骤(比较大的α 值将产生比
φ
×
2
0 图9 角平分线法 σ
滞后校正
滞后校正装置的特性 基于根轨迹法的滞后校正
基于根轨迹法的超前校正
校正步骤:
1 s+ Ts + 1 T , 0 <α <1 Gc ( s ) = K cα = Kc 1 α Ts + 1 s+ αT
α和T由辐角缺额确定, Kc值由开环增益要求确定。
如果没有指定静态误差系数,可以确定超前校正装置的极 点和零点位置,使超前校正装置产生必要的辐角。如果对 系统没有要求,可以试探地将α取得尽可能大。大的α值通 常导致比较大的Kv值,这正是我们需要的(如果指定了具 体的静态误差系数,则采用频率响应法比较简单)。
基于根轨迹法的滞后校正
校正步骤:
绘制校正系统的根轨迹图。在根轨迹上确定要求 的主导闭环极点(如果滞后校正产生的辐角很小, 只有几度,原根轨迹和新根轨迹将几乎相同。换 句话说,它们之间将存在微小的差别)。然后, 根据瞬态响应指标,在新的根轨迹上确定期望的 主导闭环极点。 ) 根据幅值条件,调整校正装置的增益 K c,使主导 闭环极点落在期望的位置上。
零点位于s=-1/T,极点位于s=-1/(αT)。因为0< α <1,所以在复平面上,零点总是位于极点的右方。
基于根轨迹法的超前校正
当性能指标以时域的形式给出时,例如给出期望的主 导闭环极点的阻尼比和无阻尼自然频率、最大超调量、 上升时间和调节时间,这是采用根轨迹法进行设计是 很有效的。 若原系统或者对于所有的增益值均不稳定,或者虽然 属于稳定,但不具有理想的瞬态响应特性。在这种情 况下,有必要在虚轴和原点附近,对根轨迹进行修改, 以便使闭环主导极点位于复平面内期望的位置上。该 问题可以通过在前向传递函数中串联一个适当的超前 校正装置来解决。
2 增加开环零点的影响
在开环传递函数中增加零点,可以使根轨迹向 左方移动,从而增加系统的稳定性,减小系统 响应的调节时间。
超前校正
超前校正装置的特性 基于根轨迹法的超前校正
超前校正装置的特性
超前校正装置的传递函数
1 s+ Ts + 1 T , 0 <α <1 = Kc K cα 1 α Ts + 1 s+ αT
控制系统设计的根轨迹法
魏乐 weile_teacher@
主要内容
初步设计研究 超前校正 滞后校正 滞后-超前校正
初步设计研究
增加极点的影响 增加零点的影响
1 增加开环极点的影响
在开环传递函数中增加极点,可以使根 轨迹向右方移动,从而降低系统的相对 稳定性,增加系统响应的调节时间。
基于根轨迹法的滞后校正
校正步骤:
绘制未校正系统的根轨迹图。根据瞬态响应指标, 确定主导闭环极点在根轨迹上的位置。 计算指定的具体静态误差系数。 确定为了满足性能指标而需要增加的静态误差系 数。 确定滞后校正装置的极点和零点,该滞后校正装 置能够使特定的静态误差系数产生必要的增量, 同时又不会使原来的根轨迹产生明显的变化(性 能指标要求的增益值与未校正系统中求出的增益 值之比,就是零点到原点的距离与极点到原点的 距离之间所要求的比值)。
滞后校正装置的特性
滞后校正装置的传递函数
1 ) ) s+T Ts + 1 Gc ( s ) = K c β = Kc , β >1 1 β Ts + 1 s+ βT
基于根轨迹法的滞后校正
滞后校正装置的主要作用:在闭环主导极点附近,根 轨迹没有明显变化,但是开环增益应根据需要而有显 著增大。 为了避免根轨迹的显著变化,滞后网络产生的辐角应 当限制在较小的范围内,比如说5°。为了保证这一 点,我们将滞后网络的极点和零点配置得相距很近, 并且使他们靠近s平面上的原点。这样,被校正系统 的闭环极点将稍稍偏离原来的位置。因此,瞬态响应 特性将变化很小。
由幅值条件确定校正系统的开环增益。
基于根轨迹法的超前校正
说明:
一旦设计出校正装置,就要着手检查是不是所有的性 能指标都能得到满足。如果已校正的系统不能满足性 能指标,则需要通过调整校正装置的极点和零点,重 复上述设计过程,直到所有的性能指标得到满足为止。 如果需要大的静态误差系数,则应该串联一个滞后网 络,或者将超前校正装置改变成滞后-超前校正装置。 如果被选择的主导闭环极点不是真正的主导极点,则 需要改变此主导闭环极点的位置(主导极点以外的一 些闭环极点改变了由主导闭环极点单独作用而获得的 响应。变化的大小取决于闭环极点的位置)。根据性能指标,确定闭环主导极点的期望位置。 绘制根轨迹图,判断是否能通过调节增益使其产生期 望的闭环主导极点。如果不能,计算出辐角缺额Ф 。 对于闭环主导极点,如果新的根轨迹通过其期望的位 置,则该角度Ф 必须由超前校正装置产生。

Gc ( s )
G(s)
图5 控制系统
相关文档
最新文档