材料分析方法之课后习题答案

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材料分析方法课后习题答案

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材料分析方法课后习题答案材料分析方法课后习题答案材料分析方法是现代科学研究中非常重要的一门学科,它涉及到材料的组成、结构和性质等方面的研究。

在材料分析方法课程中,我们学习了各种分析方法的原理和应用。

下面,我将根据课后习题,对其中的几个问题进行解答,并对相关的知识进行深入的探讨。

1. 什么是材料分析方法?材料分析方法是指通过一系列的实验技术和仪器设备,对材料的组成、结构和性质进行研究和分析的一门学科。

它可以帮助科学家们了解材料的内部结构和性质,从而为材料的设计、制备和应用提供科学依据。

2. 材料分析方法的分类有哪些?材料分析方法可以根据所使用的原理和技术进行分类。

常见的分类包括:光学分析方法、电子显微镜分析方法、表面分析方法、热分析方法、光谱分析方法等。

每种分类又包含了许多具体的方法和技术。

3. 光学分析方法有哪些?光学分析方法是利用光学原理对材料进行分析的方法。

其中包括:光学显微镜、红外光谱、紫外可见光谱、拉曼光谱等。

这些方法可以用于观察材料的形貌、表面结构以及分子结构等。

4. 电子显微镜分析方法有哪些?电子显微镜分析方法是利用电子束与材料相互作用来对材料进行分析的方法。

常见的电子显微镜包括:扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。

它们可以提供高分辨率的图像,帮助研究人员观察材料的微观结构和成分。

5. 表面分析方法有哪些?表面分析方法是研究材料表面组成和性质的方法。

常见的表面分析方法包括:扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、X射线光电子能谱(XPS)等。

这些方法可以提供关于材料表面的化学成分、形貌和结构等信息。

6. 热分析方法有哪些?热分析方法是通过对材料在不同温度下的热性质变化进行研究的方法。

常见的热分析方法包括:差热分析(DSC)、热重分析(TGA)、热膨胀分析(TMA)等。

这些方法可以用于研究材料的热稳定性、热分解行为等。

7. 光谱分析方法有哪些?光谱分析方法是利用物质与辐射相互作用产生的光谱信息来研究材料的方法。

材料分析测试方法课后答案

材料分析测试方法课后答案

第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。

()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。

()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。

()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。

习题1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。

3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

材料分析测试方法部分习题答案黄新民

材料分析测试方法部分习题答案黄新民

材料分析测试方法课后习题答案1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?答:X射线学分为三大分支:X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。

X射线透射学的研究对象有人体,工件等,用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。

X射线衍射学是根据衍射花样,在波长已知的情况下测定晶体结构,研究与结构和结构变化的相关的各种问题。

X射线光谱学是根据衍射花样,在分光晶体结构已知的情况下,测定各种物质发出的X射线的波长和强度,从而研究物质的原子结构和成分。

2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

答:根据经典原子模型,原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上,在稳定状态下,每个壳层有一定数量的电子,他们有一定的能量。

最内层能量最低,向外能量依次增加。

根据能量关系,M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差,K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。

由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以Kß的能量大于Ka的能量,Ka能量大于La的能量。

因此在不考虑能量损失的情况下:(1)CuKa能激发CuKa荧光辐射;(能量相同)(2)CuKß能激发CuKa荧光辐射;(Kß>Ka)(3)CuKa能激发CuLa荧光辐射;(Ka>la)3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”?答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。

⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

材料分析方法课后答案 更新至

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第一章 X 射线物理学基础3.讨论下列各组概念的关系答案之一(1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:λk 吸收 〈λk β发射〈λk α发射(2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。

答:λk β发射(靶)〈λk 吸收(滤波片)〈λk α发射(靶)。

任何材料对X 射线的吸收都有一个K α线和K β线。

如 Ni 的吸收限为 nm 。

也就是说它对波长及稍短波长的X 射线有强烈的吸收。

而对比稍长的X 射线吸收很小。

Cu 靶X 射线:K α= K β=。

(3)X 射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。

答:Z 靶≤Z 样品+1 或 Z 靶>>Z 样品X 射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱,或X 射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。

在进行衍射分析时,总希望试样对X 射线应尽可能少被吸收,获得高的衍射强度和低的背底。

材料分析方法 综合教育类 2015-1-4 BY :二专业の学渣 材料科学与工程学院答案之二1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:当构成物质的分子或原子受到激发而发光,产生的光谱称为发射光谱,发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。

吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱,吸收光谱则决定于物质的化学结构,与分子中的双键有关。

2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。

答:可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片,放在X射线源和试样之间。

这时滤光片对Kβ射线强烈吸收,而对Kα吸收却少。

6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少激发出的荧光辐射的波长是多少答:eVk=hc/λVk=×10-34××108/×10-19××10-10)=(kv)λ 0=v(nm)=(nm)=(nm)其中 h为普郎克常数,其值等于×10-34e为电子电荷,等于×10-19c故需加的最低管电压应≥(kv),所发射的荧光辐射波长是纳米。

材料分析方法习题答案

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第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。

3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。

4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。

()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。

()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。

()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。

2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。

3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。

4. X射线的本质既是也是,具有性。

5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。

习题1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱“吸收谱”?4.X射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5.产生X射线需具备什么条件?6.Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?127. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。

材料分析方法课后习题答案

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材料分析测试方法复习题第一部分简答题:1. X射线产生的基本条件答:①产生自由电子;②使电子做定向高速运动;③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。

2. 连续X射线产生实质答:假设管电流为10mA,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv(i)的光子序列,这样就形成了连续X射线。

3. 特征X射线产生的物理机制答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。

当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X射线。

4. 短波限、吸收限答:短波限:X射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。

吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。

5. X射线相干散射与非相干散射现象答: 相干散射:当X射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。

非相干散射:当X射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。

6. 光电子、荧光X射线以及俄歇电子的含义答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。

荧光X射线:由X射线激发所产生的特征X射线。

俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。

7. X射线吸收规律、线吸收系数答:X射线吸收规律:强度为I的特征X射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x成比例,即-dI/I=μdx 。

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材料分析方法课后答案第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X 射线学分支是()射线透射学;射线衍射学;射线光谱学;D.其它2. M 层电子回迁到K 层后,多余的能量放出的特征X 射线称()A. K α;B. K β;C. K γ;D. L α。

3. 当X 射线发生装置是Cu 靶,滤波片应选()A . Cu ;B. Fe ;C. Ni ;D. Mo 。

4. 当电子把所有能量都转换为X 射线时,该X 射线波长称()A. 短波限λ0;B. 激发限λk ;C. 吸收限;D. 特征X 射线5.当X 射线将某物质原子的K 层电子打出去后,L 层电子回迁K 层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A. 光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C )二、正误题1. 随X 射线管的电压升高,λ0和λk 都随之减小。

()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。

()3. 经滤波后的X 射线是相对的单色光。

()4. 产生特征X 射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。

()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。

()第二章一、选择题1.有一倒易矢量为*+*+*=*c b a g 22,与它对应的正空间晶面是()。

A. (210);B. (220);C. (221);D. (110);。

2.有一体心立方晶体的晶格常数是,用铁靶K α(λK α=)照射该晶体能产生()衍射线。

A. 三条; B .四条; C. 五条;D. 六条。

3.一束X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于()。

A .是否满足布拉格条件;B .是否衍射强度I ≠0;C .A+B ;D .晶体形状。

4.面心立方晶体(111)晶面族的多重性因素是()。

A .4;B .8;C .6;D .12。

二、正误题1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。

()射线衍射与光的反射一样,只要满足入射角等于反射角就行。

2020智慧树知道网课《材料分析方法》课后章节测试满分答案

2020智慧树知道网课《材料分析方法》课后章节测试满分答案

绪论单元测试
1
【多选题】(2分)
材料研究方法分为()
A.
成分价键分析
B.
组织形貌分析
C.
物相分析
D.
分子结构分析
2
【多选题】(2分)
材料科学的主要研究内容包括()
A.
材料应用
B.
材料的成分结构
C.
材料的性能
D.
材料的制备与加工
3
【单选题】(2分)
下列哪些内容不属于材料表面与界面分析()
A.
晶粒大小、形态
B.
表面结构
C.
气体的吸附
D.
晶界组成、厚度
4
【多选题】(2分)
下列哪些内容属于材料微区分析()
A.
晶格畸变
B.
位错
C.
晶粒取向
D.
裂纹大小
5
【多选题】(2分)
下列哪些内容不属于材料成分结构分析()
A.
物相组成
B.
晶界组成、厚度
C.
杂质含量
D.
晶粒大小、形态
第一章测试
1
【单选题】(2分)
扫描电子显微镜的分辨率已经达到了()
A.
100nm
B.
10nm
C.
1.0nm
D.
0.1nm
2
【单选题】(2分)
利用量子隧穿效应进行分析的仪器是
A.
扫描隧道显微镜
B.
扫描探针显微镜
C.
扫描电子显微镜
D.
原子力显微镜
3
【判断题】(2分)
能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。

A.

B.
错。

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材料结构显微分析内部资料姓名:版权所有 翻版必究编号:绝密文件目录第一章材料X射线衍射分析----------------------------------------------------------------------------1 第二章X射线衍射方向----------------------------------------------------------------------------------1 第三章X射线衍射强度----------------------------------------------------------------------------------2 第四章多晶体分析方法----------------------------------------------------------------------------------3 第八章电子光学基础-------------------------------------------------------------------------------------4 第九章透射电子显微镜----------------------------------------------------------------------------------5 第十章电子衍射-------------------------------------------------------------------------------------------7 第十一章晶体薄膜衍衬成像分析----------------------------------------------------------------------8 第十三章扫描电子显微镜-------------------------------------------------------------------------------10 第十五章电子探针显微分析----------------------------------------------------------------------------10第一章X 射线物理学基础2、若X 射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV 时,容许的最大电流是多少?答:1.5KW/35KV=0.043Å4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。

答:因X光管是Cu 靶,故选择Ni 为滤片材料。

查表得:μmα =49.03cm2/g,μmβ =290cm2/g,有公式故:,解得:t=8.35um t6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?答:eV k=hc/λV k=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)其中h为普朗克常数,其值等于6.626×10-34e为电子电荷,等于1.602×10-19 C故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。

7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应答:⑴当χ 射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。

⑵当χ 射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ 射线长的χ 射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。

⑶一个具有足够能量的χ 射线光子从原子内部打出一个K 电子,当外层电子来填充K 空位时,将向外辐射K 系χ 射线,这种由χ 射线光子激发原子所发生的辐射过程,称荧光辐射。

或二次荧光。

⑷指χ 射线通过物质时光子的能量大于或等于使物质原子激发的能量,如入射光子的能量必须等于或大于将K 电子从无穷远移至K 层时所作的功W,称此时的光子波长λ 称为K 系的吸收限。

⑸原子中一个K层电子被光量子击出后,L层中一个电子跃入K层填补空位,此时多余的能量使L 层中另一个电子获得能量越出吸收体,这样一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应。

第二章X 射线衍射方向1、试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111],[121],[212],(010),[110],(123),(211)自己动手画,按照步骤来2、下面是某立方晶第物质的几个晶面,试将它们的面间距从大到小按次序重新排列:(123),(100),(200),(311),(121),(111),(210),(220),(130),(030),(221),(110)。

答:当波长为入的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hk1)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)答:洛伦兹因数是表示几何条件对衍射强度的影响。

洛伦兹因数综合了衍射积分强度,参加衍射的晶粒分数与单位弧长上的积分强度。

4、多重性因数的物理意义是什么?某立方第晶体,其{100}的多重性因数是多少?如该晶体转变为四方系,这个晶体的多重性因数会发生什么变化?为什么?答:(1)表示某晶面的等同晶面的数目。

多重性因数越大,该晶面参加衍射的几率越大,相应衍射强度将增加。

(2)其{100}的多重性因子是6;(3)如该晶体转变为四方晶系多重性因子是4;(4)这个晶面族的多重性因子会随对称性不同而改变。

5、总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。

产生电子衍射的充分条件是hkl 0F≠, 产生电子衍射必要条件是满足或基本满足2d sin=θλ6、多晶体衍射的积分强度表示什么?今有一张用C uKα摄得的钨(体心立方)的德拜图相,试计算出头4根线的相对积分强度(不计算A(θ)和e -2M,以最强线的强度为100)。

7、总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。

简单点阵-----不存在系统消光体心点阵-----衍射线的系统消光规律是(h+k+l)偶数时出现反射(h+k+l)奇数时消光面心点阵-----衍射线的系统消光规律是h,k,l全奇或全偶出现反射,h,k,l有奇有偶时消光第四章多晶体分析方法2、同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其θ较高还是较低?相应的d较大还是较小?既然多晶粉末的晶体取向是混乱的,为何有此必然的规律。

答:背射区线条与透射区线条比较,θ较高,相应的d较小。

产生衍射线必须符合布拉格方程,2dsinθ=λ,对于背射区属于2θ高角度区,根据d=λ/2sinθ, θ越大,d越小。

3、衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同?答:(1)入射X射线的光束:都为单色的特征X射线,都有光栏调节光束。

不同:衍射仪法:采用一定发散度的入射线,且聚焦半径随2θ变化;德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。

(2)试样形状:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。

(3)试样吸收:衍射仪法吸收时间短,德拜法吸收时间长,约为10~20h(4)记录方式:衍射仪法采用计数率仪作图,德拜法采用环带形底片成相,而且它们的强度(I)对(2θ)的分布(I-2θ曲线)也不同;4、测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈何种几何关系?答:当试样表面与入射X射线束成30°角时,计数管与入射线所成角度为60°,能产生衍射的晶面与试样的自由表面平行。

第八章电子光学基础1、电子波有何特征?与可见光有何异同?答:(1)电子波与其它光一样,具有波粒二象性。

(2)可见光的波长在390—760nm,在常用加速电压下,电子波的波长比可见光小5个数量级。

2、分析电磁透镜对电子波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。

答:聚焦原理:电子在磁场中运动,当电子运动方向与磁感应强度方向不平行时,将产生一个与运动方向垂直的力(洛仑兹力)使电子运动方向发生偏转。

在一个电磁线圈中,当电子沿线圈轴线运动时,电子运动方向与磁感应强度方向一致,电子不受力,以直线运动通过线圈;当电子运动偏离轴线时,电子受磁场力的作用,运动方向发生偏转,最后会聚在轴线上的一点。

电子运动的轨迹是一个圆锥螺旋曲线。

结构的影响:1)增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围几毫米的范围内;2)电磁透镜中为了增强磁感应强度,通常将线圈置于一个由软磁材料(纯铁或低碳钢)制成的具有内环形间隙的壳子里,此时线圈的磁力线都集中在壳内,磁感应强度得以加强。

狭缝的间隙越小,磁场强度越强,对电子的折射能力越大。

3)改变激磁电流可以方便地改变电磁透镜的焦距3、电磁透镜的像差是怎样产生的?如何来消除和减少像差?答:电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。

(1)球差即球面像差,是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的,增大透镜的激磁电流可减小球差。

4、分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对位置关系,并画出光路图。

答:如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合,则在荧光屏上得到一幅放大像,这就是电子显微镜中的成像操作,如图(a)所示。

如果把中间镜的物平面和物镜的后焦面重合,则在荧光屏上得到一幅电子衍射花样,这就是电子显微镜中的电子衍射操作,如图(b)所示。

5、样品台的结构与功能如何?它应满足哪些要求?答:结构:有许多网孔,外径3mm的样品铜网。

(1)样品台的作用是承载样品,并使样品能作平移、倾斜、旋转,以选择感兴趣的样品区域或位向进行观察分析。

透射电镜的样品台是放置在物镜的上下极靴之间,由于这里的空间很小,所以透射电镜的样品台很小,通常是直径3mm的薄片。

(2)对样品台的要求非常严格。

首先必须使样品台牢固地夹持在样品座中并保持良好的热;在2个相互垂直方向上样品平移最大值为±1mm;样品平移机构要有足够的机械密度,无效行程应尽可能小。

总而言之,在照相暴光期间样品图像漂移量应相应情况下的显微镜的分辨率。

6、透射电镜中有哪些主要光阑,在什么位置?其作用如何?答:(1)透镜电镜中有三种光阑:聚光镜光阑、物镜光阑、选区光阑。

(2)聚光镜光阑-----的作用是限制照明孔径角,在双聚光镜系统中,它常装在第二聚光镜的下方;物镜光阑--------通常安放在物镜的后焦面上,挡住散射角较大的电子,另一个作用是在后焦面上套取衍射来的斑点成像;选区光阑-------是在物品的像平面位置,方便分析样品上的一个微小区域。

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