材料测试技术计算题

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材料测试技术课后题答案

材料测试技术课后题答案

大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比,在哪两方面有其优越性?答:①提高X射线强度:②缩短了试验时间2、何为特征X射线谱?特征X射线的波长与(管电压)、(管电流)无关,只与(阳极材料)有关。

答:由若干条特定波长的谱线构成。

当管电压超过一定的数值(激发电压V激)时产生。

不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。

因此叫特征X射线。

什么是Ka射线?在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线?答:L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,称之为Ka射线。

Ka射线的强度大约是K 6射线强度的5倍,因此,在实验中均采用Ka射线。

Ka谱线又可分为Kal和Ka 2, K a 1的强度是K a 2强度的2倍,且Kal和Ka 2射•线的波长非常接近,仅相差0.004A左右,通常无法分辨,因此,一般用Ka来表示。

但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。

AI是面心立方点阵,点阵常数a=4.049A,试求(111)和(200)晶面的面间距。

计算公式为:dhkl=a (h2+k2+l2)-l/2答:dlll=4.049/(12+12+12)-l/2=2.338A:d200=4.049/(22)-l/2=2.0245A说说不相干散射对于衍射分析是否有利?为什么?答:有利。

不相干散射线由于波长各不相同,因此不会互相干涉形成衍射,所以它们散布于各个方向,强度一般很低,它们在衍射工作中只形成连续的背景。

不相干散射的强度随sin 0/'的增大而增强,而且原子序数越小的物质,其不相干散射愈大,造成对衍射分析工作的不利影响。

6、在X射线衍射分析中,为何要选用滤波片滤掉KB射线?说说滤波片材料的选取原则。

实验中,分别用Cu靶和M。

靶,若请你选滤波片,分别选什么材料?答:(1)许多X射线工作都要求应用单色X射线,由于Ka谱线的强度高,因此当要用单色X 射线时,一般总是选用Ka谱线。

但从X射线管发出的X射线中,当有Ka线时,必定伴有KB 谱线及连续光谱,这对衍射工作是不利的,必须设法除去或减弱之,通常使用滤波片来达到这一目的。

《岩石力学和测试技术》计算题练习

《岩石力学和测试技术》计算题练习

岩石力学计算题1、有一块尺寸为7×7×7cm的石英岩立方体试件。

当试件承受20T义压力后,试块轴向收缩量0.003cm ,横向增长0.000238cm。

求石英岩立方体试件的弹性模量和泊松比。

解:(1)计算石英岩试件的轴向应变和横向应变:εZ=ΔL Z/L=0.003/7=0.00043εX=ΔL X/L=0.000238/7=0.000034(2)计算试件的轴向应力:бZ=P/A=20000/(7×7)=408.16kg/cm3 =40.816MPa(3)计算石英岩的弹性模量:E=бZ /εZ=408.16/0.00043=9.5×105 kg/cm3=0.95×105MPa(4)计算石英岩的泊松比:µ=εX /εZ=0.000034/0.00043=0.082.将一岩石试件进行抗压强度试验,当侧压为б2=б3=300 kg/cm2时,垂直加压到2700kg/cm2,试件发生破坏,其破坏面与最大主平面夹角成60°,设抗剪强度随正应力呈线性变化。

计算:(1)内摩擦角Φ;(2)破坏面上的正应力和剪应力;(3)在正应力为零的那个面上的抗剪强度。

解:(1)由已知条件作莫尔应力园和强度曲线,可知内摩擦角Φ=30°(2)计算破坏面上的正应力和剪应力:б=(б1+б3)/2+(б1-б3)/2˙Cos2α=(2700+300)/2+(2700-300)/2˙Cos120°=900 kg/cm2 少τ=(б1-б3)/2˙Sin2α=(2700-300)/2˙Sin 120°=1039.2 kg/cm2(3)由已知条件可知,该岩石试件强度曲线方程为:τ= C +бtgΦ,而以上计算的б和τ为破坏面上的应力,必然满足强度曲线方程,所以把以上计算的б和τ值代入得:C = τ-бtg30°=1039.2-900˙tg30°=519.58 kg/cm23.某均质岩体的纵波波速是4720m/s,横波波速是2655m/s,岩石密度为2.63g/cm3,求岩体的动弹性模量和动泊松比。

材料测试技术试题

材料测试技术试题

第一章X射线衍射分析一、填空题1、X射线从本质上说,和无线电波、可见光、γ射线一样,也是一种。

2、尽管衍射花样可以千变万化,但是它们的基本要素只有三个:即、、。

3、在X射线衍射仪法中,对X射线光源要有一个基本的要求,简单地说,对光源的基本要求是、、。

4、利用吸收限两边相差十分悬殊的特点,可制作滤波片。

5、测量X射线衍射线峰位的方法有七种,它们分别是、、、、、、。

6、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、、。

7、特征X射线产生的根本原因是。

8、X射线衍射定性分析中主要的检索索引的方法有三种,它们分别是、和字顺索引。

9、X射线衍射仪探测器的扫描方式可分、、三种。

10、实验证明,X射线管阳极靶发射出的X射线谱可分为两类:和11、当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度会减弱,这种现象称为。

12、用于X射线衍射仪的探测器主要有、、、,其中和应用较为普遍。

13、X射线在近代科学和工艺上的应用主要有、、三个方面14、X射线管阳极靶发射出的X射线谱分为两类、。

15、当X射线照射到物体上时,一部分光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,造成散射线;另一部分光子可能被原子吸收,产生;再有部分光子的能量可能在与原子碰撞过程中传递给了原子,成为。

二、名词解释X-射线的吸收、连续x射线谱、特征x射线谱、相干散射、非相干散射、荧光辐射、光电效应、俄歇电子、质量吸收系数、吸收限、三、问答与计算(只做带下划线部分)1、某晶体粉末样品的XRD数据如下,请按Hanawalt法和Fink法分别列出其所有可能的检2、简述特征X-射线谱的特点。

3、推导布拉格公式,画出示意图。

4、定性物相分析的注意事项?5、回答X射线连续光谱产生的机理。

6、简述以阴极射线的方式获得X射线所必须具备的条件。

7、简述连续X射线谱的特征8. x射线衍射仪对x光源的要求、光源单色化的方法9. 测角仪的调整要求?10. 测角仪的工作原理以及各狭缝作用?11. 哈纳瓦特与芬克索引的规则?电子显微分析部分(第2、3、4章)一、填空题1、电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号,分析试样物质的、和。

建筑材料检测员试题(答案)

建筑材料检测员试题(答案)

2021年建筑材料检测员考试试题〔A卷〕姓名:成绩:一、填空题〔每题1分,共20分〕1. 计量法规定:“国家采用国际单位制。

国际单位制计量单位和国家选定的其他计量单位为国家法定计量单位。

2. 复合硅酸盐水泥的强度等级分为32.5R、42.5、42.5R、52.5、52.5R 等级3. 混凝土的和易性包括流动性、黏聚性和保水性。

4. 砂分为天然砂、机制砂、混合砂。

5. 弹性体改性沥青防水卷材的必试工程包括厚度、拉力、延伸率、不透水性、低温柔性、和耐热性。

6. 腻子型遇水膨胀的必试工程:体积膨胀倍率、高温流淌性、低温试验。

7. 根据混凝土拌合物的稠度确定成型方法,坍落度大于 70mm 的混凝土宜用捣棒人工捣实。

混凝土拌合物坍落度和坍落扩展度值以毫米为单位,测量精确至 1mm ,结果表达修约至5mm 。

8. 龄期28d的水泥试体必须在 28d±8h ,试体龄期是从成型时水泥全部参加水中时算起。

9. 回〔压实〕填土密度试验方法有:环刀法、灌水法、灌砂法。

10. 钢筋原材力学性能检验时,应在任选的两根钢筋上切取试件,其中2 个做拉伸试验, 2 个做弯曲试验。

11. 水泥试体成型试验室温度为 20±2℃,相对湿度大于 50 ,水泥试样、标准砂、拌合水及试模的温度与室温相同。

养护箱温度为20±1℃,相对湿度大于90%。

养护水的温度为20±1℃。

12. 水泥安定性的测定方法分为标准法〔雷氏法〕和代用法〔饼法〕13. 砂用于筛分析的试样,颗粒的公称粒径不应大于 10.0mm 。

试验前应先将来样通过公称直径为 10.0mm 的方孔筛,并计算出筛余量。

14. 碎〔卵〕石的必试工程:含泥量、泥块含量、筛分析、针状和片状颗粒总含量、压碎指标。

15. 按照GB8076检验外加剂、防水剂、防冻剂用砂应符合GB/T14684要求的细度模数2.6-2.9的II区中砂,含泥量小于1%16. 混凝土配合比设计中的三个重要参数是水胶比、用水量、砂率。

现代材料测试技术习题1

现代材料测试技术习题1

习题1-1 试计算当管电压为50kV时,X射线管中电子击靶时的速度与动能,以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大能量是多少?1-2 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

1-3 X射线实验室用防护铅屏,其厚度通常至少为1mm,试计算这种铅屏对CuKα、M oKα辐射的透射因子(I投射/I入射)各为多少?1-4 试计算含w c=0.8%,w Cr=4%,w w=18%的高速钢对MoKɑ辐射的质量吸收系数。

1-5 欲使钼靶X射线管发射的X射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光辐射,问需加的最低的管压值是多少?所发射出的荧光辐射波长是多少?2-1试画出下列晶向及晶面(均属立方晶系):[111],[121],[221],(010),(110),(123),(121)。

2-2 下面是某立方晶系物质的几个面间距,试将它们按大小次序重新排列。

(312),(100),(200),(311),(121),(111),(210),(220),(130),(030),(221),(110)。

2-3 当X射线在原子列中衍射时,相邻原子散射线在某个方向上的程差若不为波长的整数倍,则此方向必然不存在衍射线,这是为什么?2-4 当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的程差是多少?相邻两个(HKL)发射线的程差又是多少?2-5 画出Fe2B在平行于(010)上的部分倒易点。

Fe2B属正方晶系,点阵参数a=b=5.10Å,c=4.24Å。

2-6 判别下列哪些晶面属于[111]晶带:(110),(231),(231),(211),(101),(133),(112),(132),(011),(212)。

2-7 试计算(311)及(132)的共同晶带轴。

材料测试方法复习题

材料测试方法复习题

复习题一.名词解释1.系统消光2.X射线衍射方向3.二次电子4.差热分析5.差示扫描量热法6.外推始点温度7.拉曼效应8.Moseley定律9.化学位移 10.光电效应 11.衍射衬度像 12.质厚衬度像 13.相位衬度像二.简答题1. X射线谱有哪两种基本类型?各自的含义是什么?2.X射线是怎么产生的?连续X射线谱有何特点?3.何谓Kα射线/何谓Kβ射线?这两种射线中哪种射线强度大?哪种射线的波长短?4.什么方向是晶体对X射线的衍射的衍射方向?6. 布拉格方程的由来、表达、阐明的问题及所讨论的问题?7. 晶体使X射线产生衍射的充分条件是什么?何谓系统消光?8.粉晶X射线衍射卡片(JCPDF卡)检索手册的基本类型有哪三种?每种手册如何编排?每种物相在手册上的形式?9.在进行混合物相的X射线衍射线定性分析鉴定时,应特别注意优先考虑的问题有哪些?10.电子束与物质相互作用可以获得哪些信息?12.简述电子透镜缺陷的种类及产生的原因? 如何提高它的分辨率?13.透射电子显微图象包括哪几种类型?14.散射衬度与什么因素有关?这种图象主要用来做什么?15.衍射衬度与什么因素有关?这种图象主要用来做什么?16.何谓明场象?何谓暗场象?17.何谓二次电子?扫描电镜中二次电子象的衬度与什么因素?为什么?最适宜研究什么?18.何背散射电子?扫描电镜中背散射电子象的衬度与什么因素有关?为什么?最适宜研究什么?19.什么是X射线的能谱分析和波谱分析?X射线显微分析方法有哪三种?20.何为差热分析?差热分析的基本原理是什么21.何为差示扫描量热?差示扫描量热分析的基本原理是什么?22.DTA和DSC的主要区别是什么?23.如何确定外推始点温度?24. 影响差热曲线主要因素有哪些?25.分子振动吸收红外辐射必须满足哪些条件?26.简述拉曼光谱的原理及特点。

27. 红外光谱与拉曼光谱的比较?28. X射线光电子能谱是一种什么分析方法?它的基本原理是什么?29. 何为化学位移? 化学位移规律?30. XPS伴线有哪些?并简明说明之?31. X射线光电子能谱的分析应注意哪些问题?三.综合题就具体的测试项目,根据你所学过的现代测试技术挑选最佳的测试方法(是否能测试,是否是最精确、最快速、最经济等):(1).尺寸小于5µ的矿物的形貌观察分析;(2).有机材料中化学键的分析鉴定;(3).多晶材料的物相分析鉴定;(4).热稳定性和相变温度的测定;(5).矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析;(6).表面或界面元素化学状态分析;(7).晶界上杂质的化学成分定量分析;(8).晶界条纹或晶体缺陷(如位错、层错等)的观察分析;(9).粉晶物相的定量分析;(10).纳米材料的形貌观察四.计算题1. Lu2O3,立方晶系,已知a=1.0390 nm,问用Co靶的K1=0.17980nm照射,(400)面网组能产生几条衍射线?五.分析题正交晶系YBa2Cu3O7晶体的X射线衍射数据d(面间距)、I/I(相对强度)、hkl(衍射指数)如下:衍射线编号d(Å)I/I0hkl 衍射线编号d(Å)I/Ihkl1 3.71 15 200 16 2.095 5 1232 3.67 60 121 17 2.020 20 3303 3.60 15 002 18 2.009 15 312,1504 3.14 100 211,1319 1.999 15 0515 3.12 75 031 20 1.982 2 2136 3.09 70 112 21 1.975 15 0337 3.02 20 220 22 1.866 10 4008 2.958 15 022 23 1.835 30 2429 2.590 10 040,20224 1.805 2 00410 2.391 10 231 25 1.780 2 41111 2.365 5 132 26 1.727 2 11412 2.340 2 013 27 1.675 5 40213 2.140 5 321 28 1.642 10 161,32314 2.131 5 204 29 1.623 2 20415 2.108 2 042 30 1.602 2 431 1.将其中的衍射数据整理成一套Hanawalt索引查找物相的形式.2. 根据衍射线出现的规律,判断YBa2Cu3O7晶体空间格子的类型,简述系统消光规律3. 在进行混合物相的X射线衍射线定性分析鉴定时,应特别注意优先考虑的问题有哪些?。

材料测试方法习题

材料测试方法习题

材料测试方法习题1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。

1-2 计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能.1-3 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKβX射线激发CuLα荧光辐射;1-4 X 射线与物质有哪些相互作用?规律如何?对分析有何影响?1-5 为使CuKα线的强度衰减50%,需要多厚的Ni滤波片?(Ni的密度为8.9 g/cm3)1-6 试计算Cu的K系激发电压。

1-7试计算Cu的Kα1射线的波长。

1-8产生X 射线需具备什么条件?1-9连续X射线谱是如何产生的?1-10计算空气对CuKα的质量吸收系数和线吸收系数(假定空气中只有质量数为80%的氮、质量分数20%的氧,空气的密度为1.29*10-3g/cm3)。

1-11标识X 射线与荧光X 射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X 射线波长是否等于它的K 系标识X射线波长?1-12 在立方点阵中画出下面的点阵面和结点方向。

1) (113) [110] [201] [101](010) (011-13 证实(1-10)、(1-21)、(-312)属于[111]晶带。

1-14 当波长为λ的X射线在晶体中发生衍射时,相邻两(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少?1-15 对于晶粒直径分别为100、75、50、25 nm的粉末衍射图形,请计算由于晶粒细化引起的衍射条宽化幅度B(设θ=45°,λ=0.15 nm)。

又,对于晶粒直径为25 nm的粉末,试计算θ=10°,45°,80°的B值。

1-16 用粉末相机得到如下角度的谱线,试求出晶面间距(数字为θ角,所用射线为CuK α)。

金属材料检测技术考试题

金属材料检测技术考试题

金属材料检测技术考试题金属材料检测技术考试题相关参考内容:1. 请简述金属材料检测技术的定义,以及在工业生产和科学研究中的应用。

金属材料检测技术是指利用各种方法和工具对金属材料进行检测、测试和评估的技术。

它可以帮助工业生产和科学研究中的相关人员了解金属材料的性质、结构和品质,以确保其符合要求,并发现可能存在的缺陷和问题。

金属材料检测技术在工业生产中广泛应用于金属制品质检、材料研发、产品可靠性评估以及设备维护等方面;在科学研究中,则应用于材料学、力学、物理学等领域的实验和研究。

2. 请列举并简述金属材料常用的非破坏检测方法。

常用的非破坏检测方法包括:超声波检测、磁粉检测、涡流检测、X射线检测和磁性检测。

超声波检测利用超声波的传播和反射特性对材料进行检测,通过检测超声波的传播速度和反射信号来判断材料的质量和缺陷情况;磁粉检测利用涂有磁粉的表面反应剂和磁场对金属材料进行检测,通过观察磁粉的分布情况来判断是否存在裂纹、缺陷等;涡流检测利用交变磁场感应涡流的现象对金属材料进行检测,通过观察涡流强度和分布情况来判断是否存在问题;X射线检测利用X射线的穿透性对金属材料进行检测,通过观察X射线透射图像来判断材料内部的缺陷和问题;磁性检测是利用磁性材料对金属材料进行检测,通过观察磁性材料在金属表面的反应来判断是否存在缺陷等。

3. 请简述金属材料组织检测的常用方法。

金属材料组织检测的常用方法包括:金相显微镜检测、扫描电镜检测和X射线衍射检测。

金相显微镜检测利用金相显微镜观察金属材料的显微组织和结构,通过观察晶粒、相界、裂纹等微观形貌特征来评估材料的质量和性能;扫描电镜检测利用扫描电镜观察金属材料的表面形貌和微观结构,通过观察材料表面的形态、晶粒、缺陷等来评估材料的性能;X射线衍射检测利用X射线通过材料的晶体结构,通过分析和解释材料的衍射图样来确定材料的组织类型、晶格参数等。

4. 请简述金属材料的拉伸试验和冲击试验。

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以计算题第一题的解法为例:
1.作业四
电子衍射图如图,已知Lλ=30.2㎜Å,测量得:R
A
=14.0mm,
R B =23.2mm,R
C
=23.2mm,R
D
=30.5mm,R
E
=44.3mm
标定衍射斑点的指数,并计算晶带轴
解题过程一般有以下几步:
1.确定N值
2确定晶面族指数
3确定斑点指数
4确定晶带轴
过程:
1.首先要清楚N=h2+k2+l2
在立方晶系中,晶面间距d,满足d2=a2/N
又因为Rd=Lλ , 由于相机常数Lλ一定,实际上可推得R12: R22:···R n2=N1:N2:···N n
1)知道这种关系,开始解题:
为了解题过程清晰明了,建议列表计算:
A B C D E
2) 计算R,看表第三列
3) 计算R2之间的比值,如表第四列
4)将比值同时化为最简整数比,如第五列(注意:化整后,不能出现数字7,因为不可能出现7的
相应衍射面,出现7后,将所有数字再乘2)
这样,化整后的数字就是各斑点对应的N值。

5)由于N=h2+k2+l2,所以知道N值后,就能确定晶面族指数了。

例如:N=1时,晶面族为{100},N=4 时,晶面族为{200}
按照此法,确定了各N对应的晶面族,如表第六列
6)以上过程都较为简单,真正的难点是确定斑点指数,斑点指数和晶面族指数的关系是:斑点指数的三个数字和晶面族指数的三个数字完全相同,但是具体各个数字的位置可以任意发生变化,正负也可发生变化。

如晶面族指数为311时,斑点指数可以为311,也可为131,也可为113,也可为1-31,还可以为-311,但要注意,实际表示时-3表示为3的头顶上加一小横。

7)此时,我们就要对照图片进行解释了,从图中可知,矢量Ra+Rb=Rd
而且Rb+Rc=Re
从式子可知:ha+hb=hd ka+kb=kd la+lb=ld
注意此时的h,k,l已经是斑点指数了
现在我们要做的事情,就是在满足各晶面族指数的情况下,适当改变晶面族指数中数字的位置和正负符号,获得的斑点指数要符合上述的矢量加和关系,这就叫做矢量自恰。

一般方法是先确定一到两个
点的指数,再逐步凑出其他指数,如果在凑的过程中,发现原来假设的斑点指数不符,再做微调。

以下提供一组答案,如表的第七列(还是要注意-2要表示成2上一小横的形式)
8)最后一步是算晶带轴,相对简单,如果只有一组斑点,就只用算一组晶带轴,如果有两组,就要算两组。

(本题仅一组,而第2个大题,就有两组)
计算晶带轴的过程,只用选取任意两个确定矢量,逆时针旋转,假使起始矢量为R1,终止矢量为R2.
例如我们选择Ra,Rb,可以看见如果逆时针旋转的时候,应该Ra为起始矢量,Rb为终止矢量。

将起始矢量和终止矢量的斑点指数列为两排,如下。

0 | 0 -2 0 0 | -2
1 | 3 -1 1 3 | -1
计算时,只取中间八个数字,四个四个一组,从坐往右可形成三个矩阵,计算矩阵值。

如:0 -2
3 -1 得到:0×(-1)-3×(-2)=6 依次得到6, -2 ,0
化简即晶带轴为 [3 -1 0]
要注意,斑点指数并不唯一,只要数字符合晶面族指数,而且矢量相加符合,即可,但是晶带轴却是唯一的,不管斑点指数如何,选取的两个向量如何,其值不变,不信大家可以自己尝试
2.有了以上基础,计算题第二题大同小异
由于有两组斑点,晶带轴有两个,分别为[-1 1 2] [1 0 3]
Na 4Al 3Si 9O 24Cl 为四方晶系晶体,X 射线衍射数据如下:
根据衍射线出现的规律,判断Na 4Al 3S i 9O 24Cl 晶体晶胞的点阵类型 解:由于
作业二
右图为一立方晶系晶体不同晶带引起的电子衍射斑点花样,O 点为透射斑点,
L λ=17.0㎜Å,各斑点距 透射斑点的距离R 、相应 的晶面间距d 及晶面簇 指标{hkl}如下表:
Ra 14.2㎜
Rb 18.2 ㎜ Rc 20.0㎜ Re 21.7 ㎜ Rf 24.6 ㎜
在图上标定各斑点指数,并填入表中 hkl 栏内。

1. 计算两晶带的晶带轴指数,并填入表中。

2. 根据衍射线出现的规律,判断晶体所属点阵类型。

解:
好像是简单点阵
作业四
电子衍射图如图,已知L λ=30.2㎜Å,测量得:R A =14.0mm,
R B =23.2mm,R C =23.2mm,R D =30.5mm,R E =44.3mm 标定衍射斑点的指数,并计算晶带轴
解:
作业五
图(a) 与(b)为立方晶系CaO 的不同方向的电子衍射斑点花样,其中图(b )相对(a )倾转
了49.80°,图中O 点为透射斑点,测得(a)图中OA=10.69, B=17.43, C=20.41,(b)图中的OA ′=12.339, B ′=20.41, OC ′=26.89, L λ=29.6,试解答下列问题: 1. 标定各点的衍射指标
2. 计算斑点花样的晶带轴指标
名词解释题答案:
1电子与阳极碰撞的时间和条件各不相同,而且有的电子还可能与阳极作多次碰撞而逐步转移其能量,情况复杂,从而使产生的X 射线也就有各种不同的波长,构成连续谱。

连续
(a)
(b)
X射线又称白色射线,它由某一短波线λ
0开始直到波长等于无穷大λ

的一系列驳斥组成。

2.在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。

只有当管压超过一定值时才能产生特征射线;特征X射线是叠加在连续X射线谱上的。

3.在晶体的X射线衍射图中,常有不少衍射点有规律地不出现,这种现象称为系统消光。

4.二次电子Secondary electron(二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰出的试样原子核外电子)
入射电子与样品核外电子碰撞,使样品表面的核外电子被激发出来的电子,是作为SEM 的成像信号,代表样品表面的结构特点。

5.背散射电子back scattered electron
电子射入试样后,受到原子的弹性和非弹性散射,有一部分电子的总散射角大于900 ,重新从试样逸出,称为背散射电子,这个过程称为背散射。

背散射电子是由样品反射出来的初次电子,其主要特点是:能量很高,有相当部分接近入射电子能量E0,在试样中产生的范围大,像的分辨率低。

背散射电子发射系数η =I B /I 0 随原子序数增大而增大。

作用体积随入射束能量增加而增大,但发射系数变化不大。

8.X光电子能谱分析的基本原理
一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。

该过程可用下式表示:hn=Ek+Eb+Er ;式中: hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。

10.光电效应由德国物理学家赫兹于1887年发现,对发展量子理论起了根本性??。

在光的照射下,使物体中的电子脱出的现象叫做光电效应(Photoelectric effect)。

光电效应分为光电子发射、光电导效应和光生伏打效应。

前一种现象发生在物体表面,又称外光电效应。

后两种现象发生在物体内部,称为内光电效应。

光照射在物体上可以看成是一连串的具有一定能量的光子轰击这些物体的表面;光子与物体之间的联接体是电子。

所谓光电效应是指物体吸收了光能后转换为该物体中某些电子的能量而产生的电效应。

11.俄歇效应就是伴随一个电子能量降低的同时,另一个电子能量增高的跃迁过程。

将发射光电子后,发射俄歇电子(不能用光电效应解释)使原子、分子成为高阶离子的现象称之为俄歇效应。

12.化学位移:同种原子中处于不同的化学环境的电子引起结合能的变化,在谱线上造成的位移。

1.根据晶体的特征对称元素所进行的分类。

可划分为7个不同的晶系,分属于3个不同的晶族。

高级晶族中只有一个立方晶系;中级晶族中有六方、四方和三方三个晶系;低级晶族中有正交、单斜和三斜三个晶系。

各晶系的晶胞类型一般用晶胞参数a、b、c和α、β、γ表示。

其中a、b和c是晶胞三个边的长度,习惯上叫轴长,α、β和γ叫轴角,它们分别是a和c、b和c、a和b的夹角。

六方晶系(hexagonal system),有一个6次对称轴或者6次倒转轴,该轴是晶体的直立结晶轴C轴。

另外三个水平结晶轴正端互成1200夹角。

轴角α=β=900,γ=1200,轴单位a=b≠c。

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