干涉滤光片检定规程
可见分光光度计测量不确定度
二、可见分光光度计波长示值误差和透射比示值误差测量结果的不确定度评定A、可见分光光度计波长示值误差测量结果的不确定度评定（一）、测量过程简述1、测量依据：JJG178-1996可见分光光度计检定规程2、测量环境条件：温度 (10-30)℃相对湿度≤85%3、测量标准：氧化钬滤光片或干涉滤光片①氧化钬滤光片，波长不确定度≤0.2nm，包含因子k95=1.96②干涉滤光片, 波长不确定度≤1.0nm，包含因子k95=1.964、被测对象：可见分光光度计。
波长示值误差：光栅型±1.0 nm；棱镜型±（3.0-10）nm5、测量方法：在规定的条件下，用被测可见分光光度计直接测氧化钬滤光片或干涉滤光片，测得的吸收峰波长，重复测量3次，3次的算术平均值与标准波长之差值，既为波长示值误差。
6、评定结果的使用：在符合上述条件下的测量结果，对光栅型可见分光光度计一般可直接使用本中用氧化钬滤光片测量标准所得的不确定度的评定结果。
对棱镜型可见分光光度计一般可直接使用本中用干涉滤光片测量标准所得的不确定度的评定结果。
（二）、数学模型：∆λ =λ-λs式中：∆λ——被检仪器波长示值误差λ——被检仪器波长示值的算术平均数s λ—— 氧化钬滤光片或干涉滤光片波长实际值（三）、各输入量的标准不确定度分量的评定 1、输入量λ的标准不确定度)(λu 的评定输入量λ的不确定度来源主要是可见分光光度计的测量不重复性，可以通过连续测量得到测量列，采用A 类方法进行评定。
① 对光栅型仪器，当使用氧化钬滤光片时，对一台可见分光光度计用氧化钬滤光片，连续测量10次，得到3组不同波长测量列，其中一组测量列为527.1，527.6，527.6，527.1，528.1，527.1，527.1，527.6，527.1，527.1 nm 。
λ=∑=ni i n 11λ=527.4 nm 单次实验标准差 s =()12--∑n iλλ=0.35 nm任意选取3台同类型可见分光光度计，每台分别用氧化钬滤光片测得不同波长点，各在重复性条件下连续测量10次，共得到9组测量列，每组分别按上述方法计算得到单次实验标准差表2-1 m 组实验标准差如表所示：合并样本标准差为 P s =∑=m j j s m 121=0.48 nm 实际测量情况，在重复性条件下重复测量3次，以该3次次量算术平均值为测量结果，则得到)(λu =P s /3=0.28 nm 自由度为 1v =∑=mj j 11ν=9×(10-1)=81② 对棱镜型仪器，当使用干涉滤光片时，对一台可见分光光度计用干涉滤光片，连续测量10次，得到3组不同波长测量列，其中一组测量列为448,448,449,449,448,448,448,449,448,449 nm.λ =∑=ni i n 11λ=448.4 nm单次实验标准差 s =()12--∑n iλλ=0.52 nm任意选取3台同类型可见分光光度计，每台分别用干涉滤光片得个不同波长点，各在重复性条件下连续测量10次，共得到9组测量列，每组分别按上述方法计算得到单次实验标准差表2-2 m 组实验标准差如表所示：合并样本标准差为 P s =∑=m j j s m 121=0.64 nm 实际测量情况，在重复性条件下重复测量3次，以该3次次量算术平均值为测量结果，则得到)(λu =P s /3=0.4 nm自由度为 1v =∑=mj j 11ν=9×(10-1)=812、输入量s λ的标准不确定度)(s u λ的评定输入量s λ的不确定度来源主要是氧化钬滤光片或干涉滤光片波长定值不确定度，可根据定值证书给出的定值不确定度来评定。
干涉滤光片检定72型分光光度计波长的方法
干涉滤光片检定72型分光光度计波长的方法
李立忠
【期刊名称】《质量天地》
【年(卷),期】2003(000)008
【摘要】干涉滤光片的波长在400nm至750nm的可见光光谱区内,除了能获得单色光外,还可用作较正分光光度计可见光区波长,它较之汞灯、氢灯校正仪器波长,有操作简单、方便等优点。
用干涉滤光片校准72型分光光度计的波长可采取以下方法: 1、仪器在检定前,外观应按规程JJG178-81中规定的1.1～1.5条干涉条纹进行检查。
【总页数】1页(P56)
【作者】李立忠
【作者单位】双鸭山质量市技术监督局
【正文语种】中文
【中图分类】TH744.12
【相关文献】
1.干涉滤光片中心波长检定结论用于分光光度计量值传递的两难性与出具证书形式的探讨 [J], 王文光;孟景华;刘复生
2.检定分光光度计用高稳定度窄带干涉滤光片的研制 [J], 王文光;王文杰
3.谈谈干涉滤光片峰值波长均匀性的检定 [J], 胡国成
4.检定紫外、可见分光光度计波长用标准的选型 [J], 张红亮
5.可见分光光度计波长和透射比检定结果的不确定度分析 [J], 邹立斌;潘贝贝
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02-24.3 干涉滤光片
滤光片的作用是只让某一波段范围的光通过，而其余波长的光不能通过。
性能指标：①中心波长λ0：透光率最大(T M )时的波长；②透射带的波长半宽度∆λ1/2：透过率为最大值(T =T M /2)一半处的波长范围；③峰值透过率T M ：透射率最大的中心波长的透射光强与入射光强之比。
2.4.3干涉滤光片T M T M /2/nmλ1/2nmλ∆0.500.251. 法布里—珀罗型干涉滤光片常用的干涉滤光片有两种：一种是全介质干涉滤光片，在平板玻璃G 上镀两组膜系(HL )p 和(LH )p ，再加上保护玻璃G '制成。
G 'G高反射膜高反射膜间隔层LL G 'GS S F 另一种是金属膜干涉滤光片，在平板玻璃G 上镀一层高反射率的银膜S ，银膜之上再镀一层介质薄膜F ，然后再镀一层高反射率的银膜S ，最后加保护玻璃G '。
在正入射时，透射光产生极大的条件为2 1 2 3nh m m λ==，，，由此可得滤光片的中心波长为2 (118)λ=nh m对于一定的光学厚度nh ，λ的数值只取决于m ，对应不同的m 值，中心波长不同。
由(118)式可以求得相邻干涉级(∆m =1)的中心波长差为(1) 滤光片的中心波长2(119)2λλ∆=nh透射带的波长半宽度∆λ1/2由(56)式确定，21/222(1)1 (120)2ππnh R R nh m RR λλ--∆==(2)透射带的波长半宽度m 1/2222(1)cos Δ(Δ) (56)π2ππ (53)1m R nh m N mN m R R N R λθλε-⎧===⎪⎪⎨⎪==⎪-⎩或表示为1/212ππRmR m Fλλλ-∆==上式表明，m 、R 愈大，∆λ1/2愈小，干涉滤光片的输出单色性愈好。
1ϕπ2π3π2000.87F R ==tiI I 0.20.046F R ==200.64F R ==20.27F R ==21/2222(1)1 (120)2ππ4 (42)(1)nh R Rnh m RR R F R λ∆λ⎧--==⎪⎪⇐⎨⎪=⎪-⎩峰值透射率是指对应于透射率最大的中心波长的透射光强与入射光强之比，即M t m i I T I ⎛⎫= ⎪⎝⎭若不考虑滤光片的吸收和表面散射损失，则峰值透射率为1。
酶标分析仪计量检测
酶标分析仪计量检测本节内容适用于酶标分析仪的检定，所依据的技术文件为JJG 861-2007《酶标分析仪检定规程》。
一、标准装置（1）分光光度计：波长准确度优于±0.5nm。
（2）干涉滤光片5块，峰值波长分别为（405±2）nm、（450±2）nm、（492±2）nm、（540±2）nm、（620±2）nm。
如原检定单位有检定分光光度计的45号、55号及65号滤光片，也可不再备新品。
（3）光谱中性滤光片两块，标称值分别为0.5及1.0。
（4）专用测试板一块。
96孔微孔酶标板若干。
200μg/ml的K2Cr2O7测试溶液若干。
（5）三用表、调压器、频度计、秒表、兆欧表等各1块。
国防科工委化学计量一级站生产的专用酶标仪检定装置，已将3、4两条所用设备合并为一体。
干涉滤光片和光谱中性滤光片与分光光度计的检定所用的相同。
这里仅将分光光度计简介如下。
分光光度计的基本结构由光源、单色器、比色皿、光电检测器、放大和显示等部分组成。
光源发出的复合光经单色器后，变为近似的单色光。
此单色光通过比色皿时，被比色皿中的样品吸收掉一部分，然后照在光电检测器上。
光电检测器将照在它上面的光信号的强弱转变为电信号的大小，这一电信号通常为透射比τ。
透射比信号经对数放大后，被转变成光度A。
显示器可选择性地将透射比τ或吸光度A 显示出来。
分光光度计可以连续给出所需要的测试波长。
除了测量液体之外，分光光度计也可以量透明的固体及气体。
测试滤光片时，将滤光片垂直放在比色皿的位置，可以直接测出滤片的波长准确度、最大透射比及半宽度。
二、酶标分析仪的分类及技术要求1.酶标分析仪的分类酶标分析仪分为A、B、C、D、E5类。
其中：A类：双波长、数字显示并带打印功能的仪器。
B类：单波长、自动打印，最小显示值为0.001的仪器。
C类：单波长、波长连续可调的指针式仪器。
D类：单波长、非多孔酶标板式仪器。
干涉滤光片的渡制
光学多道与氢氘光谱摘要本实验应用真空镀膜机和双光束紫外和可见光分光光度计的实验装置，采用热蒸发的方法在玻璃基片上制作多层介质的干涉滤光片，以及采用极值法进行膜厚监控，镀制了一块多层介质膜法布里—珀罗型干涉滤光片；测量了其参数如滤光片的峰值波长峰值透过率和半高宽以及滤光片的透射特性曲线。
实验镀制的滤光片的峰值波长为690.22nm，峰值透过率为87.8%，相对半宽度为6.3%，滤光片的透射特性曲线如附页所示。
关键词干涉滤光片透射率有效导纳真空镀膜机分光光度计一、引言自然界中有许许多多美丽的观赏效果都是与透明膜层的反射光波的折射有关。
从发现薄膜的干涉色彩现象起，特别是1930年真空蒸发设备出现以后，人们对薄膜科学技术进行了大量的研究，现在可用各种各样的方式将具有不同折射率的多次介质薄膜沉积在玻璃基片或金属基片上，以达到控制光的目的，如减光膜、反射镜和光学滤光片等。
光学薄膜在日常生活、供应和科学技术等许多领域用着重要的应用。
在光学薄膜技术中，多层多周期的光学薄膜最为突出，而再带干涉滤光片则是这一技术中最主要的应用之一，它是将宽带光谱变为窄带光谱的光学元件。
一种典型的干涉滤光片是在玻璃基片上镀制“银—介质—银”三层膜，前后两次银膜构成两个相互平行的高反射率板。
银层反射率的主要作用是决定了法布里—珀罗型干涉腔的精细常数。
因银层具有很强的吸收，用银作反射层的“金属—介质”干涉滤光片的透射率很难高于40%。
而用多层透明介质膜构成的高反射率膜板代替银层构成的干涉滤光片能弥补这一缺点，可使峰值透过率高达80%以上，这就是全介质型干涉滤光片。
光学滤光片在与光学应用技术有关的各个学科技术领域中起着重要的作用。
随着真空镀膜技术的发展，法布里—珀罗型的干涉滤光片得到了真正的巨大发展，使得我们可能在任何一个光谱区内获得窄带的、具有良好透射比的优异光学质量的滤光片。
它在光学、光谱线、光通信、激光以及天文物理学等许多领域得到了广泛的应用。
滤光片知识——精选推荐
滤光片知识滤光片按工作原理分为吸收、反射、散射、组合和干涉五种如果滤光片的滤光波长为520nm那么它对520nm波长的光吸收最大对520nm左右波长光的吸收随着波长的增加或减少而递减这取决于该滤光片的半波宽超过半波宽的两倍光即不被吸收可完全通过。
我们分光光度计上所用的滤光片为529nm波长对此波长下的光有最大的吸光度A值最大。
那就是说此波长下的光吸收最多. 中文名称干涉滤光片英文名称interference filter 定义利用光的干涉原理和薄膜技术来改变光的光谱成分的滤光片。
干涉滤光片interference film 利用干涉原理只使特定光谱范围的光通过的光学薄膜。
通常由多层薄膜构成。
干涉滤光片种类繁多用途不一常见干涉滤光片分截止滤光片和带通滤光片两类。
截止滤光片能把光谱范围分成两个区一个区中的光不能通过截止区而另一区中的光能充分通过通带区。
典型的截止滤光片有低通滤光片只允许长波光通过和高通滤光片只允许短波光通过它们均为多层介质膜具有由高折射率层和低折射率层交替构成的周期性结构。
例如最简单的高通滤光片的结构为gL2HLmHL/2a其中g代表玻璃光学元件材料a代表膜外空气L和H分别代表厚度为1/4波长的低折射率层和高折射率层L/2则代表厚度为1/8波长的低折射率层m 为周期数。
类似地低通滤光片的结为gH/2LHLH/2a。
一种具有对称型周期膜系的高通和低通滤光片的结构分别为g0.5LH0.5Lma和g0.5HL0.5Hma 。
带通滤光片只允许较窄波长范围的光通过常见的是法布里-珀罗型滤光片它实质上是一个法布里-珀罗标准具见法布里-珀罗干涉仪。
具体结构为玻璃衬底上涂一层半透明金属层接着涂一层氟化镁隔层再涂一层半透明金属层两金属层构成了法布里-珀罗标准具的两块平行板。
当两极的间隔与波长同数量级时透射光中不同波长的干涉高峰分得很开利用别的吸收型滤光片可把不允许透过的光滤掉从而得到窄通带的带通滤光片其通频带宽度远比普通吸收型滤光片要窄。
JJG 179-1990 滤光光电比色计检定规程
MV_RR_CNG_0037 滤光光电比色计检定规程1.滤光光电比色计检定规程说明编号JJG179-1990名称(中文）滤光光电比色计检定规程(英文）Verification Regulation of Filter Photoelectric Colorimeter归口单位浙江省标准计量管理局起草单位浙江省计量测试技术研究所主要起草人王洁(浙江省计量测试技术研究所)批准日期 1990年7月4日实施日期 1990年11月1日替代规程号适用范围本规程适用于新制造、使用中和修理后以滤光片获得单色光的光电比色计的检定。
光电比色计包括比色计、浓度比色计、生化分析仪、酶标分析仪等。
主要技术要求1 外观2 稳定度3 灵敏度4 线性误差5 测量重复性6 换档偏差7 滤光片透光特性8 吸收池成套性是否分级 否检定周期（年） 1附录数目 4出版单位中国计量出版社检定用标准物质相关技术文件备注1502. 滤光光电比色计检定规程摘要一概述滤光光电比色计(以下简称仪器) 是依据物质分子对可见光产生的特征吸收光谱及光吸收定律(朗伯－比尔定律)的原理，用未知浓度样品与已知浓度标准物质比较的方法进行定量分析的仪器。
朗伯－比尔定律的表达式如下：A＝－logτ＝abc式中：A——物质的吸光度；τ——物质的透射比；a——物质的吸收系数；b——光路长度；c——物质的量浓度。
仪器的一般工作曲线示意图如图1。
0.80.60.40.2图 1 一般工作曲线示意图二技术要求1 外观1.1 仪器应有下列标志：仪器名称、型号、制造厂名、出厂时间及编号。
1.2 仪器应能平稳置于工作台上，各紧固件均应紧固良好。
各调节器、按钮、开关均能正常工151作，电缆线的接插件均应紧密配合，接触良好。
仪器处于工作状态时，光源发光应稳定。
1.3 仪器样品架应推拉自如，无松动卡住现象，并能正确定位。
各透光孔透光量应一致。
1.4 仪器指示器应显示清晰，刻线、刻字等应完整均匀。
光干涉瓦斯检定器的使用和维护
光干涉瓦斯检定器的使用和维护一、使用光干涉瓦斯检定器的注意事项1.在使用光干涉瓦斯检定器之前，应先对仪器进行校准。
校准时需使用标准气体，将仪器校准至精确的浓度值。
2.在使用过程中，应注意避免瓦斯检定器与有腐蚀性、有害气体的接触。
同时，应尽量避免与亮光距离过近，防止亮光对仪器的检测造成影响。
3.使用过程中，如发现仪器表面出现污垢或损伤，应及时清洁或更换，以免影响仪器的检测精度。
4.注意仪器的存放环境，避免过高温度或过低温度，同时避免仪器长时间暴露在潮湿环境。
5.在使用光干涉瓦斯检定器时，应遵守有关安全操作规程，确保人身安全。
二、光干涉瓦斯检定器的维护方法1.定期进行清洁维护。
可以用软布轻轻擦拭仪器表面，清除杂质和污垢。
注意不要使用有机溶剂或酸碱溶液清洗，以免对仪器产生损害。
2.定期更换消耗品。
光干涉瓦斯检定器的干涉元件是易损件，一般有一定的使用寿命。
根据使用情况，定期更换干涉元件，确保仪器的正常工作。
3.定期进行校准。
由于光干涉瓦斯检定器的测量精度可能会受到环境变化的影响，所以需要定期进行校准以确保测量精度。
可以使用标准气体进行校准，使仪器恢复到精确的测量状态。
4.避免仪器受到机械振动或冲击。
光干涉瓦斯检定器属于精密仪器，对机械振动或冲击非常敏感。
在使用和携带过程中要注意防护，避免对仪器产生损坏。
5.定期对仪器进行检测和维修。
根据使用情况，建议每年进行一次维护，检查仪器的性能和工作状态，及时发现问题并解决。
综上所述，光干涉瓦斯检定器的使用和维护需要遵守相关注意事项，并定期进行清洁、更换消耗品、校准以及维修等操作。
只有正确使用和维护，才能保证光干涉瓦斯检定器的正常工作，提高瓦斯检测的准确性和可靠性。
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MV_RR_CNG_0196 干涉滤光片检定规程
1. 干涉滤光片检定规程说明
编号JJG812-1993
名称（中文）干涉滤光片检定规程
（英文）Verification Regulation of Interference Filter
归口单位上海市技术监督局
起草单位上海市测试技术研究所
主要起草人何玉莉 （上海市测试技术研究所）
批准日期１９９３年２月１３日
实施日期１９９３年６月１日
替代规程号
适用范围本规程适用于新制造和使用中的、波长范围在３３０～７５０ ｎｍ的干涉滤光片的检定。
主要技术要求１ 外观要求
２ 最大透射比不小于表１允差。
３ 中心波长 （或峰值波长） 偏差不超过表１允差。
４ 半宽度不大于表１允差。
５ 截止区域背景光透射比不大于表１允差。
中心波长≥４００ ｎｍ时，短波限：３５０ ｎｍ；长波限：８００ ｎｍ。
中心波长＜４００ ｎｍ时，短波限：２８０ ｎｍ；长波限：８００ ｎｍ。
６ 波形系数不大于表１允差。
７ 波长均匀性不超过表１允差。
是否分级 否
检定周期（年） 1
附录数目 3
出版单位中国计量出版社
检定用标准物质
相关技术文件
备注
2. 干涉滤光片检定规程摘要
一概述
干涉滤光片是利用多光束干涉原理，在光学基底上镀制多层金属和 （或） 介质膜层而制得的。
当白光通过干涉滤光片后，即变成具有一定带宽的单色光，可用它来检定波长和获得近似单色光。
二技术要求
１ 外观要求
１．１ 干涉滤光片表面没有明显的麻点、擦痕、斑点、裂纹等。
１．２ 胶合面没有明显的气泡、灰尘、霉斑、脱胶、龟裂等。
１．３ 干涉滤光片应有相应的编号。
２ 最大透射比不小于表１允差。
３ 中心波长 （或峰值波长） 偏差不超过表１允差。
４ 半宽度不大于表１允差。
５ 截止区域背景光透射比不大于表１允差。
中心波长≥４００ ｎｍ时，短波限：３５０ ｎｍ；长波限：８００ ｎｍ。
中心波长＜４００ ｎｍ时，短波限：２８０ ｎｍ；长波限：８００ ｎｍ。
６ 波形系数不大于表１允差。
７ 波长均匀性不超过表１允差。
三检定条件
（一） 检定环境
８ 周围没有会引起干涉滤光片膜层腐蚀的气体。
９ 室温１５～２５℃；相对湿度不超过７０％。
（二） 检定设备
１０ 紫外可见分光光度计 （其波长范围不小于２８０～８００ ｎｍ）。
分光光度计的光谱带宽在全波段范围内不大于２ ｎｍ。
用来检定１、２级干涉滤光片的紫外可见分光光度计的技术指标应符合ＪＪＧ ６８２—９０“双光束紫外可见分光光度计”Ａ级仪器的要求。
用来检定３级干涉滤光片的紫外可见分光光度计的技术指标应符合ＪＪＧ６８２—９０“双光束紫外可见分光光度计”Ｂ级仪器的要求。
１１ ６０～１００ Ｗ的白炽灯和黑色屏幕。
四 检定项目和检定方法
１２ 检定项目
干涉滤光片的检定项目按表２要求进行。
表 2
检 定 项 目 新 制 造
使 用 中
外观要求 ＋ ＋ 最大透射比 ＋ ＋ 中心波长偏差 (或峰值波长偏差)
＋ ＋ 半 宽 度 ＋ ＋ 背景光透射比 ＋ － 波形系数
＋ － 检验波长用
＋ ＋ 波长均匀性
获得单色光用
＋
－
注： （＋）表示该项目要做，（－）表示该项目不做。
１３ 外观要求检查
用无水乙醇和无水乙醚的混合液清洁滤光片表面，以黑色屏幕为背景，在白炽灯下目测，按第１条要求进行检验。
１４ 作干涉滤光片的透射特性曲线 １４．１ 把清洁后的干涉滤光片装入滤光片架或紧贴在吸收池架子上，使干涉滤光片的中心与测试孔的中心对齐 （用手拿干涉滤光片的两侧，不可触摸透光表面）。
再将装有滤光片的架子放入分光光度计的样品室内，先让分光光度计的测试光束，全部通过滤光片架或吸收池架的参比孔内的空气层，调节分光光度计的透射比示值为１００％，再将装有滤光片的测试孔推入光路中，使测试光束的中心与干涉滤光片的中心重合，测试光束全部垂直地通过干涉滤光片 （见图１），并将分光光度计的带宽置于２ ｎｍ。
图 1 １４．２ 用自动记录式和带微机的分光光度计测试时，可按说明书操作，选择合适的扫描速度，让波长从３５０ ｎｍ到８００ ｎｍ （或２８０ ｎｍ到８００ ｎｍ）进行扫描。
仪器自动作出τ－λ曲线。
１４．３ 用非记录式分光光度计测试时，可按说明书用手调节波长。
每隔５ ｎｍ测一点，在中心波长λ０±８ ｎｍ范围内每隔１ ｎｍ测一点，从３５０ ｎｍ到８００ ｎｍ （或２８０ ｎｍ到８００ ｎｍ） 每改变一个波长，测一次透射比，每次测试都要用参比孔作空白来调节分光光度计的透射比到１００％，记下每次波长λ、透射比τ的数值，作出τ－λ曲线。
１５ 最大透射比的检定
从τ－λ曲线上找出最大透射比τｍａｘ。
+ 干涉滤光片
测试光束
中心
１６ 中心波长或峰值波长偏差的检定
１６．１ 用来获得近似单色光的干涉滤光片的中心波长的偏差是将本次所测之值减去滤光片出厂时标称值之差。
１６．２ 在τ－λ曲线上找出对应于０．５τｍａｘ的二点的波长λ１和λ２（见附录１）。
１６．３ 按式 （１） 计算中心波长λ０：
λ1＋λ2
λ0＝ 2
（１）
１６．４ 用来检定波长的干涉滤光片的峰值波长的偏差，是指本次所测之值减去上一次检定值 （新制造的是指出厂标称值） 之差。
１６．５ 从τ－λ曲线上找出λmax （见附录１）。
１７ 半宽度的检定
１７．１ 在τ－λ曲线上找到对应于０．５τmax 的二点的波长λ１和λ２（见附录１）。
１７．２ 按式 （２） 计算半宽度Δλ０．５：
Δλ０．５＝λ２－λ１ （２）
１８ 背景光透射比的检定
在τ－λ曲线上，除透射主峰外，找出从３５０ ｎｍ到８００ ｎｍ （或２８０ ｎｍ到８００ ｎｍ） 范围内背景光最大的透射比τc （见附录１）。
１９ 波形系数的检定
１９．１ 在τ－λ曲线上找到对应于0.1τmax 的二点的波长λ3和λ4(见附录1)。
１９．２ 按式 （３） 计算波形系数η：
λ4－λ3 η＝ λ2－λ1
（３）
２０ 波长均匀性的检定
２０．１ 用平行移动滤光片的办法，使测试光束分别打到偏离干涉滤光片中心距离为d 的上下左右４个点上 （见图２～５），并使光束全部垂直地通过干涉滤光片，在λｍａｘ±５ ｎｍ范围内，每次都按第１４．２或１４．３款进行测试，得到４个峰值波长λｍａｘｓ、λｍａｘｘ、λｍａｘｚ、λｍａｘｙ，其中d 的大小应符合表３的要求。
表 ３ （ｍｍ）
干涉滤光片直径或宽度
d ＜20 1.5 20～30 3.0 ＞30
6.0
２０．２ 在５个峰值波长λmaxs 、λmaxx 、λmax 、λmaxz 、λmaxy 中找出最大值和最小值，它们之差即为Δj 。
用Δj 来表示波长均匀性。
五 检定结果的处理和检定周期
２１ 按本规程检定合格的干涉滤光片，发给检定证书；不合格的，发给检定结果通知书，并注明不合格项目。
２２ 对新制造的用来检定波长的干涉滤光片，半年检定一次，２年后每年检定一次。
２３ 用以获得单色光的干涉滤光片每年检定１次。
２４ 每次送检时，应带上一次的检定证书。
图 ２ 图 ３
图 ４ 图 ５
注： 图２～５中的d 单位均为ｍｍ。
注：需要查阅全文，请与出版发行单位联系。
光束中心。