实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试
实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试
一、实验目的
1、了解TTL与非门各参数的意义。
2、掌握TTL与非门的主要参数的测试方法。
3、掌握基本逻辑门的功能及验证方法。
4、学习TTL基本门电路的实际应用。
5、了解CMOS基本门电路的功能。
6、掌握逻辑门多余输入端的处理方法。
二、实验仪器
三、实验原理
(一) 逻辑门电路的基本参数
用万用表鉴别门电路质量的方法：利用门的逻辑功能判断，根据有关资料掌握电路组件管脚排列，尤其是电源的两个脚。按资料规定的电源电压值接
好（5V±10%）。在对TTL与非门判断时，输入端全悬空，即全
“1”，则输出端用万用表测应为以下，即逻辑“0”。若将其
中一输入端接地，输出端应在左右（逻辑“1”），此门为合格
门。按国家标准的数据手册所示电参数进行测试：现以手册中
74LS20二-4输入与非门电参数规范为例，说明参数规范值和测试条件。
TTL与非门的主要参数
空载导通电源电流I
CCL （或对应的空载导通功耗P
ON
）与非门处于不同的工作状态，电
源提供的电流是不同的。I
CCL
是指输入端全部悬空（相当于输入全1），与非门处于导通状态，
输出端空载时，电源提供的电流。将空载导通电源电流I
CCL
乘以电源电压就得到空载导通功
耗P
ON ，即 P
ON
= I
CCL
×V
CC
。
测试条件：输入端悬空，输出空载，V
CC
=5V。
通常对典型与非门要求P
ON
＜50mW，其典型值为三十几毫瓦。
2、空载截止电源电流I
CCh （或对应的空载截止功耗P
OFF
）
I
CCh
是指输入端接低电平，输出端开路时电源提供的电流。空载截止功耗POFF为空载
截止电源电流I
CCH 与电源电压之积，即 P
OFF
= I
CCh
×V
CC
。注意该片的另外一个门的输入也要
接地。
测试条件： V
CC =5V，V
in
=0，空载。
对典型与非门要求P
OFF
＜25mW。
通常人们希望器件的功耗越小越好，速度越快越好，但往往速度高的门电路功耗也较大。
3、输出高电平V
OH
输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平的输出电平。空载时，输出
高电平必须大于标准高电压（V
SH
=）；接有拉电流负载时，输出高电平将下降。
4、输出低电平V
OL
输出低电平是指与非门所有输入端接高电平时的输出电平。空载时，输出低电平必须低于标准低电压（VSL=）；接有灌电流负载时，输出低电平将上升。
5、低电平输入电流I
IS （I
IL
）
I
IS
是指输入端接地输出端空载时，由被测输入端流出的电流值，又称低电平输入短路
电流，它是与非门的一个重要参数，因为入端电流就是前级门电路的负载电流，其大小直
接影响前级电路带动的负载个数，因此，希望I
IS
小些。
测试条件： VCC=5V，被测某个输入端通过电流表接地，其余各输入端悬空，输出空载。
通常典型与非门的I
IS
为。
6、电压传输特性
电压传输特性是指输出电压随输入电压变化的关系曲线Vo=f(Vi)。它能够充分地显示与非门的逻辑关系，即：
当输入Vi为低电平时，输出Vo为高电平；
当输入Vi为高电平时，输出Vo 为低电平，
在Vi由低电平向高电平过渡的过程中，Vo也由高电平向低电平转化。
通常对典型TTL 与非门电路要求V
OH ＞3V（典型值为）、V
OL
＜、V
ON
=、V
OFF
=。
7、扇出系数N
扇出系数N
是指输出端最多能带同类门的个数，它反映了与非门的最大负载能力。TTL 与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载，因此有两种扇出系数，即低
电平扇出系数N
OL 和高电平扇出系数N
OH
。通常I
IH
＜I
IL
，则N
OH
＞N
OL
，故常以N
OL
作为门的扇出
系数。扇出系数可用输出为低电平（≤）时的允许灌入的最大灌入负载电流I
Omax
与输入短
路电流I
IS 之比求得，即N
= I
Omax
/I
IS
。一般N＞8，被认为合格。
(二) 逻辑门电路的逻辑功能与使用
最基本的逻辑门可归结为与门、或门和非门。实际应用时，它们可以独立使用，但用的更多的是经过逻辑组合组成的复合门电路。目前广泛使用的门电路有TTL门电路和CMOS 门电路。
1、TTL门电路 TTL门电路是数字集成电路中应用最广泛的，由于其输入端和输出端的结构形式都采用了半导体三极管，所以一般称它为晶体管-晶体管逻辑电路，或称为TTL 电路。这种电路的电源电压为+5V，高电平典型值为（≥合格）；低电平典型值为（≤合格）。常见的复合门有与非门、或非门、与或非门和异或门。有时门电路的输入端多余无用，因为对TTL电路来说，悬空相当于“1”，所以对不同的逻辑门，其多余输入端处理方法不同。
（1）TTL与门、与非门的多余输入端的处理如图为四输入端与非门，若只需用两个输入端A和B，那么另两个多余输入端的处理方法是：
并联悬空通过电阻接高电平并联、悬空或通过电阻接高电平使用，这是TTL型与门、与非门的特定要求，但要在使用中考虑到，并联使用时，增加了门的输入电容，对前级增加容性负载和增加输出电流，使该门的抗干扰能力下降；悬空使用，逻辑上可视为“1”，但该门的输入端输入阻抗高，易受外界干扰；相比之下，多余输入端通过串接限流电阻接高电平的方法较好。
（2）TTL或门、或非门的多余输入端的处理如图为四输入端或非门，若只需用两个输入端A和B，那么另两个多余输入端的处理方法是：并联、接低电平或接地。
并联接低电平或接地
（3）异或门的输入端处理
异或门是由基本逻辑门组合成的复合门电路。如图为二输入端异或门，一输入端为A，
若另一输入端接低电平，则输出仍为A；若另一输入端接高电平，则输出为A，此时的异或门称为可控反相器。
在门电路的应用中，常用到把它们“封锁”的概念。如果把与非门的任一输入端接地，则该与非门被封锁；如果把或非门的任一输入端接高电平，则该或非门被封锁。由于TTL 电路具有比较高的速度，比较强的抗干扰能力和足够大的输出幅度，在加上带负载能力比较强，因此在工业控制中得到了最广泛的应用，但由于TTL电路的功耗较大，目前还不适合作大规模集成电路。
2、CMOS门电路 CMOS门电路是由NMOS和PMOS管组成，初态功耗也只有毫瓦级，电源电压变化范围大+3V～+18V。它的集成度很高，易制成大规模集成电路。由于CMOS电路输入阻抗很高，容易接受静电感应而造成极间击穿，形成永久性的损坏，因此，在工艺上除了在电路输入端加保护电路外，使用时应注意以下几点：
（1）器件应在导电容器内存放，器件引线可用金属导线、导电泡沫等将其一并短路。
（2）VDD接电源正极，VSS接电源负极（通常接地），不允许反接。同样在装接电路，拔插集成电路时，必须切断电源，严禁带电操作。
（3）多余输入端不允许悬空，应按逻辑要求处理接电源或地，否则将会使电路的逻辑混乱并损坏器件。
（4）器件的输入信号不允许超出电源电压范围，或者说输入端的电流不得超过10mA。
（5）CMOS电路的电源电压应先接通，再接入信号，否则会破坏输入端的结构，工作结束时，应先断输入信号再切断电源。
（6）输出端所接电容负载不能大于500pF，否则输出级功耗过大而损坏电路。
（7）CMOS电路不能以线与方式进行连接。
另外，CMOS门不使用的输入端，不能闲置呈悬空状态，应根据逻辑功能的不同，采用下列方法处理：
①对于CMOS与门、与非门，多余端的处理方法有两种：多余端与其它有用的输入端
并联使用；将多余输入端接高电平。如图所示。
②对于CMOS或非门，多余输入端的处理方法也有两种：多余端与其它有用的输入端
并联使用；将多余输入端接地。如图所示。
四、实验步骤
在合适的位置选取一个14P插座，按定位标记插好74LS20集成块
1、空载导通电源电流ICCL和空载截止电源电流ICCH的测试
2、输出高电平V
OH 和输出低电平V
OH
的测试
*3、低电平输入电流I
IS
的测试
*4、扇出系数N
的测试
5、电压传输特性的测试
利用电位器调节被测输入电压，逐点测出输出电压Vo ，将结果记入表中，再根据实测
数据绘出电压传输特性曲线，从曲线上读出V
OH 、V
OL
、V
ON
和V
OFF
。
6、TTL 与非门的逻辑功能及应用芯片的引脚号查法是面对芯片有字的正面，从缺口处的下方（左下角），逆时针从1 数起。芯片要能工作，必须接电源和地。本实验所用与非门集成芯片为74LS00 四-二输入与非门，其引脚排列如图
（1）测试74LS00 四-2 输入与非门的逻辑功能选中74LS00 一个与非门，将其输入端A 和B 分别接至电平输出器插孔，由电平输出控制开关控制所需电平值，扳动开关给出四种组合输入。将输出端接至发光二极管的输入插孔，并通过发光二极管的亮和灭来观察门的输出状态。
（2）用74LS00 实现下表所示的逻辑函数。写出设计函数式，画出标明引脚的逻辑电路图
输入输出输入输出
A B C Y A B C Y
0 0 00 1 0 00
0 0 10 1 0 10
0 1 00 1 1 01
0 1 11 1 1 11
*7、TTL 异或门的逻辑功能及应用
（1）测试74LS86 四-2 输入异或门的逻辑功能
接线如图所示，用开关改变输入变量A、B 的状态，
通过发光二极管观测输出端Y 的状态，将观测结果填
入表中。
（2）用74LS86 设计一个四位二进制取反电路。写出设计函数式，列出功能表，画出标明引脚的逻辑电路图，并通过实验验证之。
实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试
实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试 一、实验目的 1、了解TTL与非门各参数的意义。 2、掌握TTL与非门的主要参数的测试方法。 3、掌握基本逻辑门的功能及验证方法。 4、学习TTL基本门电路的实际应用。 5、了解CMOS基本门电路的功能。 6、掌握逻辑门多余输入端的处理方法。 二、实验仪器 三、实验原理 (一) 逻辑门电路的基本参数 用万用表鉴别门电路质量的方法：利用门的逻辑功能判断，根据有关资料掌握电路组件管脚排列，尤其是电源的两个脚。按资料规定的电源电压值接 好（5V±10%）。在对TTL与非门判断时，输入端全悬空，即全 “1”，则输出端用万用表测应为以下，即逻辑“0”。若将其 中一输入端接地，输出端应在左右（逻辑“1”），此门为合格 门。按国家标准的数据手册所示电参数进行测试：现以手册中 74LS20二-4输入与非门电参数规范为例，说明参数规范值和测试条件。 TTL与非门的主要参数 空载导通电源电流I CCL （或对应的空载导通功耗P ON ）与非门处于不同的工作状态，电 源提供的电流是不同的。I CCL 是指输入端全部悬空（相当于输入全1），与非门处于导通状态，
输出端空载时，电源提供的电流。将空载导通电源电流I CCL 乘以电源电压就得到空载导通功 耗P ON ，即 P ON = I CCL ×V CC 。 测试条件：输入端悬空，输出空载，V CC =5V。 通常对典型与非门要求P ON ＜50mW，其典型值为三十几毫瓦。 2、空载截止电源电流I CCh （或对应的空载截止功耗P OFF ） I CCh 是指输入端接低电平，输出端开路时电源提供的电流。空载截止功耗POFF为空载 截止电源电流I CCH 与电源电压之积，即 P OFF = I CCh ×V CC 。注意该片的另外一个门的输入也要 接地。 测试条件： V CC =5V，V in =0，空载。 对典型与非门要求P OFF ＜25mW。 通常人们希望器件的功耗越小越好，速度越快越好，但往往速度高的门电路功耗也较大。 3、输出高电平V OH 输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平的输出电平。空载时，输出 高电平必须大于标准高电压（V SH =）；接有拉电流负载时，输出高电平将下降。 4、输出低电平V OL 输出低电平是指与非门所有输入端接高电平时的输出电平。空载时，输出低电平必须低于标准低电压（VSL=）；接有灌电流负载时，输出低电平将上升。 5、低电平输入电流I IS （I IL ） I IS 是指输入端接地输出端空载时，由被测输入端流出的电流值，又称低电平输入短路 电流，它是与非门的一个重要参数，因为入端电流就是前级门电路的负载电流，其大小直 接影响前级电路带动的负载个数，因此，希望I IS 小些。
组合逻辑电路的设计与测试
四、实验内容 1、设计用与非门及用异或门、与门组成的半加器电路。 要求按本文所述的设计步骤进行，直到测试电路逻辑功能符合设计要求为止。 解: 逻辑表达式：S= A 2、设计一个一位全加器，要求用异或门、与门、或门组成。 解: i C B A AB )(C C B A S o i ⊕+=⊕⊕= A B 0 00 11 01 1 0 01 01 01 1 S C A B S C 74LS08 74LS86 74LS08 A B C i 0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1 0 01 01 00 11 00 10 11 1 S C o A B C i CC4085
A B C i 0 0 00 0 10 1 00 1 11 0 01 0 11 1 01 1 1 0 01 01 00 11 00 10 11 1 S C o A B C i 5 6 3、设计一位全加器，要求用与或非门实现。 解: 11i 1-i i i 1-i i i i B A C B A C B A S --+++=i i i i i C B A C 1i 1-i i i i i A C B B A C -++=i C A i C B i 4、设计一个对两个两位无符号的二进制数进行比较的电路；根据第一个数是否大于、等于、小于第二个数，使相应的三个输出端中的一个输出为“1”，要求用与门、与非门及或非门实现。
解: A 0 B 0 A 1 B 1 B 74LS04六反相器入与门(1) 入与门(2) 五、实验预习要求 1、根据实验任务要求设计组合电路，并根据所给的标准器件画出逻辑图。 2、如何用最简单的方法验证“与或非”门的逻辑功能是否完好？ 3、“与或非”门中，当某一组与端不用时，应作如何处理？ 六、实验报告 1、列写实验任务的设计过程，画出设计的电路图。 2、对所设计的电路进行实验测试，记录测试结果。 1、组合电路设计体会。 A 0B 0A 0B 0A 0=B 0 A 1=A 1= B 1A 1=B 1010× A < B 001×A 1>F AB A 0A 1输出输入F A>B = (A 1>B 1) + (A 1=B 1)(A 0>B 0)F A=B =(A 1=B 1)(A 0=B 0) F A数字电路实验：基本逻辑门
数字电路实验：基本逻辑门 一、实验目的 研究TTL 门电路的性能及测试方法。 二、实验仪器 (1) 双线示波器 （2）数字万用表 (3) TES-1电子技术学习机 三、实验内容 实验10.1 TTL 与非门7400逻辑功能的测试 1. 将输出Y 接发光二极管（Y=1时二极管亮；否则灭），改变A 、B 的电平值，记录实验结果，并将该结果列成真值表形式。 2. 在A 端加入连续脉冲（频率f=1Hz ），将输出Y 接发光二极管。当B 端分别接+5伏和0伏时，观察Y 端的输出变化，验证逻辑“0”对与非门的封锁作用。 A B Y 图10.1 实验10.2 TTL 与非门7400传输延迟时间的测量 按图10.2接线，输入端接1MHz 连续脉冲，通过用示波器观察其输入、输出波形相位差的办法，测量出四个与非门的累计传输延迟时间。 实验10.3 TTL 与非门7400电压传输特性的测定 按图10.3接线。 U i 接直流稳压电源，调节U i 使之在0~5V 范围内变化（注意：U i 值不能≥6V ，否则将损坏芯片），测出U o 随U i 变化的值，将它们填入表10.1中，并用曲线表示之，试粗糙确定U T 值。 u i u o 图10.2 +5V Uo
实验10.4 TTL 与非门7400输入端特性测试 按图10.4接线。 改变B 端所接的电阻值，分别测量并纪录相应的电压U B 及U o ，将结果填入表10.2中。 四、总结要求 (1) 根据表21.1，画出与非门7400的电压传输曲线。 (2) 根据表21.2，总结与非门7400的输入端特性。 表10.1 表10.2 +5V Uo 图10.4
数电实验__门电路逻辑功能及测试
一、实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、学习数字电路实验的一般程序及方法。 3、熟悉数字电路设备的使用方法。 二、实验仪器及材料 1、数字万用表 2、器件： 74LS00 二输入端四“与非”门2片 4LS20 四输入端二“与非”门1片 74LS86 二输入端四“异或”门1片 三、预习要求 1、复习门电路的工作原理及相应的逻辑表达式。 2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途（功能）。 四、实验内容 实验前先检查设备的电源是否正常。然后选择实验用的集成电路，按设计的实验原理图（逻辑图）接好连线，特别注意V CC及地线（GND）不能接错。线接好后经检查无误方可通电实验。实验中改动接线须断开电源，改接好线后再通电实验。 1、测试门电路逻辑功能 ⑴、选用四输入端二“与非”门芯片74LS20一片，按图1.1接线。输入端接四只电平开关（电平开关输出插口），输出端接任意一个电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。 2、异或门逻辑功能测试 ⑴、选二输入端四“异或”门芯片74LS86一片，按图1.2接线。输入端A、B、C、D接四只电平开关，E点、F点和输出端Y分别接三只电平显示发光二极管。 ⑵、将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。
4、用“与非”门组成其它门电路并测试验证⑴、组成“或非”门。用一片二输入端四“与非”门芯组成一个“或非”门：Y=A+B，画出逻辑电路图，测试并填表1.5。 ⑵、组成“异或”门。 A、将“异或”门表达式转化为“与非”门表达式。 B、画出逻辑电路图。 C、测试并填表1.6。
思考题： （1）、怎样判断门电路的逻辑功能是否正常? 答：门电路功能正常与否的判断：(1)按照门电路功能，根据输入和输出，列出真值表。(2)按真值表输入电平，查看它的输出是否符合真值表。(3)所有真值表输入状态时，它的输出都是符合真值表，则门电路功能正常；否则门电路功能不正常。 （2）、“与非”门的一个输入端接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过? 答：与非门接髙电平则其他信号可以通过，接低电平则输出恒为0，与非门的真值表是“有0出1，全1出0”。所以一个输入接时钟，就是用时钟控制与非门，当时钟脉冲为高电平时，允许信号通过，为低电平时关闭与非门。 （3）、“异或”门又称可控反相门，为什么？ 答：“异或”函数当有奇数个输入变量为真时，输出为真！ 当输入X＝0，Y＝0 时输出S＝0 当输入X＝0，Y＝1 时输出S＝1 0代表假1代表真 异或门主要用在数字电路的控制中！ 实验小结 由于是第一次数字电路动手试验，操作不是很熟悉，搞得有些手忙脚乱，加之仪器有一点陈旧，电路板上有些地方被烧过，实验中稍不留神接到了烧过的电路板就很难得出正确的结果。 本次试验加深了我对门电路逻辑功能的掌握，对数字电路实验的一般程序及方法有了一定的了解，对数字电路设备的使用方法也有了初步掌握。 在以后的实验中，我会好好预习，认真思考，实验的时候小心仔细，对实验结果认真推敲，勤于思考勤于动手，锻炼自己的动手能力。
数字逻辑电路实验报告
数字逻辑电路 实验报告 指导老师: 班级: 学号: 姓名： 时间： 第一次试验一、实验名称：组合逻辑电路设计
二、试验目的： 1、掌握组合逻辑电路的功能测试。 2、验证半加器和全加器的逻辑功能。 3、、学会二进制数的运算规律。 三、试验所用的器件和组件： 二输入四“与非”门组件3片，型号74LS00 四输入二“与非”门组件1片，型号74LS20 二输入四“异或”门组件1片，型号74LS86 四、实验设计方案及逻辑图： 1、设计一位全加/全减法器，如图所示： 电路做加法还是做减法是由M决定的，当M=0时做加法运算，当M=1时做减法运算。当作为全加法器时输入信号A、B和Cin分别为加数、被加数和低位来的进位，S 为和数，Co为向上的进位；当作为全减法时输入信号A、B和Cin分别为被减数，减数和低位来的借位，S为差，Co为向上位的借位。 （1）输入/输出观察表如下： （2）求逻辑函数的最简表达式 函数S的卡诺图如下：函数Co的卡诺如下： 化简后函数S的最简表达式为： Co的最简表达式为：
（3）逻辑电路图如下所示： 2、舍入与检测电路的设计： 用所给定的集成电路组件设计一个多输出逻辑电路，该电路的输入为8421码，F1为“四舍五入”输出信号，F2为奇偶检测输出信号。当电路检测到输入的代码大于或等于5是，电路的输出F1=1;其他情况F1=0。当输入代码中含1的个数为奇数时，电路的输出F2=1，其他情况F2=0。该电路的框图如图所示： （1）输入/输出观察表如下： B8 B4 B2 B1 F2 F1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0 1 0 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 0 1 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 0 1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1
实验一基本门电路的逻辑功能测试
实验一基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为： 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1、数字逻辑电路用PROTEUS 2、显示可用发光二极管。 3、相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。 四、实验内容 1.测试TTL门电路的逻辑功能： a）测试74LS08的逻辑功能。(与门)000 010 100 111 b）测试74LS32的逻辑功能。（或门）000 011 101 111 c）测试74LS04的逻辑功能。（非门）01 10 d）测试74LS00的逻辑功能。（两个都弄得时候不亮，其他都亮）（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）001 011 101 110 e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。（两个都不弄得时候亮，其他不亮）001 010 100 110 f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。 2.测试CMOS门电路的逻辑功能：在CMOS 4000分类中查询 a）测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。（与门） b）测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。（或门） c）测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。（非门） d）测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。（与非门）（如果只接一个的话，就是非门）
e）测试CC4001(74HC02)（或非门）的逻辑功能。 f) 测试CC4030(74HC86)（异或门）的逻辑功能。 五、实验报告要求 1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。 2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并分析如何判断逻辑门的好坏。 3.比较一下两类门电路输入端接入电阻或空置时的情况。 4．查询各种集成门的管脚分配，并注明各个管脚的作用与功能。 例：74LS00 与门 Y=AB
实验一 常用基本逻辑门电路功能测试
实验一常用基本逻辑门电路功能测试 一、实验目的 1.验证常用门电路的逻辑功能。 2.了解常用74LS系列门电路的引脚分布。 3.根据所学常用集成逻辑门电路设计一组合逻辑电路。 二、实验原理 集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件。任何复杂的组合电路和时序电路都可用逻辑门通过适当的组合连接而成。目前已有门类齐全的集成门电路,例如“与门”、“或门”、“非门”、“与非门”等。虽然,中、大规模集成电路相继问世,但组成某一系统时,仍少不了各种门电路。因此,掌握逻辑门的工作原理,熟练、灵活地使用逻辑门是数字技术工作者所必备的基本功之一。 TTL门电路 TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度较大、种类多、不易损坏而使用较广,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路比较合适。因此,本书大多采用74LS（或74）系列TTL 集成电路。它的工作电源电压为5V土0.5V,逻辑高电平1时≥2.4V,低电平0时≤0.4V。2输入“与门”,2输入“或门”,2输入、4输入“与非门”和反相器的型号分别是：74LS08:2输入端四“与门”,74LS32:2输入端四“或门”,74LS00:2输入端四“与非门”,74LS20:4输入端二“与非门”和74LS04六反相器（“反相器”即“非门”）。各自的逻辑表达式分别为：与门Q=A?B,或门Q=A+B,与非门Q=A.B,Q=A.B.C.D,反相器Q=A。
TTL集成门电路集成片管脚分别对应逻辑符号图中的输入、输出端,电源和地一般为集成片的两端,如14管脚集成片,则7脚为电源地（GND）,14脚为电源正（V cc）,其余管脚为输入和输出,如图1所示。 管脚的识别方法是：将集成块正面（有字的一面）对准使用者,以左边凹口或小标志点“ ? ”为起始脚,从下往上按逆时针方向向前数1、2、3、…… n脚。使用时,查找IC 手册即可知各管脚功能。 图1 74LS08集成电路管脚排列图 三、实验内容与步骤 TTL门电路逻辑功能验证 （1）与门功能测试：将74LS08集成片（管脚排列图1）插入IC空插座中,输入端接逻辑开关,输出端接LED发光二极管,管脚14接+5V电源,管脚7接地,即可进行实验。将结果用逻辑“0”或“1”来表示并填入表1中。
数字逻辑电路实验实习31页word
实验指导 第1章数字逻辑电路实验常识 1.1、数字逻辑电路实验的一般要求 实验是数字逻辑电路课程重要的数学环节，通过实验不仅能巩固和加深理解所学的数字电子技术知识，更重要的是在建立科学实证思维方面，在掌握基本的测试手段和方法上，在电平检测，波形测绘、数据处理方面，为学生毕业后的岗位工作起到打基础的作用。尽管各个实验的目的和内容不同，但为了培养良好的学风，充分发挥学生的主观能动作用，促使其独立思考、独立完成实验并有所创新，我们对实验前、实验中和实验后分别提出如下基本要求： 1.1.1、实验前的要求 （1）认真阅读实验指导书，明确实验目的要求，理解实验原理，熟悉实验电路及集成芯片，拟出实验方法和步骤，设计实验表格。 （2）完成实验指导书中有关预习的相关内容。 (3) 初步估算(或分析)实验结果(包括各项参数和波形)，写出预习 报告。 1.1.2、实验中的要求 (1) 参加实验者要自觉遵守实验室规则。 （2）严禁带电接线、拆线或改接线路。 （3）根据实验内容合理分置实验现场。准备好实验所需的仪器设备和装置并安放适当。按实验方案，选择合适的集成芯片，连接 实验电路和测试电路。
（4）要认真记录实验条件和所得各项数据，波形。发生小故障时，应独立思考，耐心排除，并记下排除故障过程和方法。实验过 程中不顺利，并不是坏事，常常可以从分析故障中增强独立工 作的能力。相反，实验“一帆风顺”不一定收获大，能独立解 决实验中所遇到的问题，把实验做成功，收获才是最大的。 （5）发生焦味、冒烟故障，应立即切断电源，保护现场，并报告指导老师和实验室工作人员，等待处理。 (6) 实验结束时，可将记录结果送有关指导老师审阅签字。经老师 同意后方可拆除线路，清理现场。 （7）室内仪器设备不准随意搬动调换，非本次实验所用的仪器设备，未经老师允许不得动用。没有弄懂仪器设备的方法前，不得贸 然使用。若损坏仪器设备，必须立即报告老师，作书面检查， 责任事故要酌情赔偿。 （8）实验要严肃认真，要保持安静，整洁的实验环境。 1.1.3、实验后的要求 实验后要求学生认真写好实验报告 1、实验报告的内容 (1)实验目的 (2)列出实验的环境条件，使用的主要仪器设备的名称编号，集成芯片 的型号、规格、功能。 (3)扼要记录实验操作步骤，认真整理和处理测试的数据，绘制实验原 理电路图和测试的波形，并列出表格或用坐标纸画出曲线。
数电实验 组合逻辑电路
实验报告 课程名称： 数字电子技术实验 指导老师： 成绩：__________________ 实验名称： 组合逻辑电路 实验类型： 设计型实验 同组学生姓名：__________ 一、实验目的和要求（必填） 二、实验内容和原理（必填） 三、主要仪器设备（必填） 四、操作方法和实验步骤 五、实验数据记录和处理 六、实验结果与分析（必填） 七、讨论、心得 一．实验目的和要求 1. 加深理解典型组合逻辑电路的工作原理。 2. 熟悉74LS00、74LS11、74LS55等基本门电路的功能及其引脚。 3. 掌握组合集成电路元件的功能检查方法。 4. 掌握组合逻辑电路的功能测试方法及组合逻辑电路的设计方法。 5. 熟悉全加器和奇偶位判断电路的工作原理。 二．实验内容和原理 组合逻辑电路设计的一般步骤如下： 1．根据给定的功能要求，列出真值表； 2. 求各个输出逻辑函数的最简“与-或”表达式； 3. 将逻辑函数形式变换为设计所要求选用逻辑门的形式； 4. 根据所要求的逻辑门，画出逻辑电路图。 实验内容： 1. 测试与非门74LS00和与或非门74LS55的逻辑功能。 2. 用与非门74LS00和与或非门74LS55设计一个全加器电路，并进行功能测试。 专业： 电子信息工程 姓名： 学号： 日期： 装 订 线
3. 用与非门74LS00和与或非门74LS55设计四位数奇偶位判断电路，并进行功能测试。 三. 主要仪器设备 与非门74LS00，与或非门74LS55，导线，开关，电源、实验箱 四．实验设计与实验结果 1、一位全加器 全加器实现一位二进制数的加法，他由被加数、加数和来自相邻低位的进数相加，输出有全加和与向高位的进位。输入：被加数Ai，加数Bi，低位进位Ci-1输出：和Si，进位Ci 实验名称：组合逻辑电路 姓名：学号： 列真值表如下：画出卡诺图： 根据卡诺图得出全加器的逻辑函数：S= A⊕B⊕C； C= AB+(A⊕B)C 为使得能在现有元件（两个74LS00 与非门[共8片]、三个74LS55 与或非门）的基础上实现该逻辑函数。所以令S i-1=!(AB+!A!B)，Si=!(SC+!S!C)， Ci=!(!A!B+!C i-1S i-1)。 仿真电路图如下（经验证，电路功能与真值表相同）：
门电路功能测试及组合逻辑电路设计
实验报告门电路功能测试及组合逻辑电路设计 实验题目：门电路功能测试及组合逻辑电路设计 实验目的： （1）掌握常用门电路的逻辑功能及测试方法； （2）掌握用小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法。 实验仪器及器材： 数字电路实验箱一个；双踪示波器一台；稳压电源一台；数字万用表一个。 74LS00一片；74LS10一片；74LS20一片。 实验内容： 实验一：对74LS00进行功能测试 ○1.静态测试 （1）A、B都为低电平，输出结果为高电平 （2）A为低电平，B为高电平或A为高电平，B为低电平时，输出结果为高电平
（3）A、B均为高电平，输出结果为低电平 实验结论：测试结果与74LS00逻辑功能功能表相同。○2动态测试 电路的逻辑表达式：F=ˉVK 分析： 当K为0时，示波器的A通道是V的波形，为方波信号，B通道是F的波形，为高电平（一条直线）； 当开关闭合后，K=1，B通道应该是与V波形刚好相反的波形；小灯泡也是一闪一闪的状态。 实验的电路图
实验现象： 开关断开： 示波器的显示：
开关闭合后，小灯泡开始一闪一闪，示波器波形如下图： 现象分析：实验所得现象与预先分析的实验结果一样。比较输入与输出的波形，发现输出F的波形与V的波形刚好相反，但是F波形的最大值较V的最大值偏小，究其原因，这属于正常现象，因为输出会有损失。 实验结论：所得到的波形符合功能要求。 实验2 实验目的：分析一个电路的逻辑功能 实验器材：74LS00、74LS10各一片 F=AB*BC*AC，所以F的结果应为以下表格：
实验结论：实验结果与预期的一样，符合该电路的逻辑功能表达式 实验三 实验目的：设计一个控制楼梯电灯的开关控制器，逻辑功能为课本表2-1-5的真值表。 实验原理分析：根据电路所实现的真值表，可以得出输出Y的逻辑表达式： Y=AB*AB 实验电路及现象： 1.A=1，B=0；A=0，B=1，时灯泡发光； 2.A=B=0或1时，灯泡不发光
实验1数字逻辑电路设计
实验一组合逻辑电路设计 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的功能测试 2.验证半加器与全加器的逻辑功能 3.学会二进制数的运算规律 二、实验器材 二输入四与非门74LS00 四输入二与非门74LS20 二输入四异或门74LS86 三、实验内容 内容A 一位全加/全减器的实现 电路做加法还是做减法由M控制。当M=0时做加法运算，M=1时做减法运算，当作为全加器输入信号A、B和Cin分别作为加数、被加数和低位来的进位，S为和数，C0向上位的进位。当作为全减器输入信号A、B和Cin分别作为减数、被减数和低位来的借位，S为差数，C0向上位的借位。 内容C 舍入与检测电路的设计 用所给定的集成电路组件设计一个多输出逻辑电路，输入为8421码.F1为四舍五入输入信号，F2为奇偶检测输出信号。当输入的信号大于或等于（5）10时，电路输出F1=1，其他情况为0；当输入代码中含1的个数为奇数是，输出F2=1，其他情况为0.框图如图所示：
四、实验步骤 内容A 一位全加/全减器的实现、 由要求得如下得： 真值表
化简得： S A B C =⊕⊕ ()()o C BC B S A C S A =?⊕?⊕ 由S 与C o 表达式画出电路图: 根据电路图，连接电路。接线后拨动开关，结果如图： 内容C 舍入与检测电路的设计 由题意得：
化简得： F A BC BD =?? 1 F A B C D =⊕⊕⊕ 2 由F1和F2表达式画出电路图 按照所示的电路图连接电路，将电路的输出端接实验台的开关，通过拨动开关输入8421代码，电路输出接实验台显示灯。每输出一个代码后观察显示灯，并记录结果如下表：
实验六 组合逻辑电路的设计与测试
实验六组合逻辑电路的设计与测试 1．实验目的 (1)掌握组合逻辑电路的设计方法； (2)熟悉基本门电路的使用方法。 (3)通过实验，论证所设计的组合逻辑电路的正确性。 2．实验设备与器材 1)数字逻辑电路实验箱，2)万用表，3)集成芯片74LS00二片。 3．预习要求 (1)熟悉组合逻辑电路的设计方法； (2)根据具体实验任务，进行实验电路的设计，写出设计过程，并根据给定的标准器件画出逻辑电路图，准备实验； (3)使用器件的各管脚排列及使用方法。 4．实验原理 数字电路中，就其结构和工作原理而言可分为两大类，即组合逻辑电路和时序逻辑电路。组合逻辑电路输出状态只决定于同一时刻的各输入状态的组合，与先前状态无关，它的基本单元一般是逻辑门；时序逻辑电路输出状态不仅与输入变量的状态有关，而且还与系统原先的状态有关，它的基本单元一般是触发器。 (1)组合电路是最常用的逻辑电路，可以用一些常用的门电路来组合完成具有其他功能的门电路。设计组合逻辑电路的一般步骤是： 1)根据逻辑要求，列出真值表； 2)从真值表中写出逻辑表达式； 3)化简逻辑表达式至最简，并选用适当的器件； 4)根据选用的器件，画出逻辑电路图。 逻辑化简是组合逻辑设计的关键步骤之一。为了使电路结构简单和使用器件较少，往往要求逻辑表达式尽可能化简。由于实际使用时要考虑电路的工作速度和稳定可靠等因素，在较复杂的电路中，还要求逻辑清晰易懂，所以最简设计不一定是最佳的。但一般来说，在保证速度、稳定可靠与逻辑清楚的前提下，尽量使用最少的器件，以降低成本。 (2)与非门74LS00芯片介绍 与非门74LS00一块芯片内含有4个互相独立的与非门，每个与非门有二个输入端。其逻辑表达式为Y=AB，逻辑符号及引脚排列如图6-1(a)、(b)所示。 (a)逻辑符号(b)引脚排列 图6-1 74LS20逻辑符号及引脚排列 (3)异或运算的逻辑功能 当某种逻辑关系满足：输入相同输出为“0”，输入相异输出为“1”，这种逻辑关系称为“异或”逻辑关系。 (4)半加器的逻辑功能 在加法运算中，只考虑两个加数本身相加，不考虑由低位来的进位，这种加法器称为半加器。 5．实验内容 (1)用1片74LS00与非门芯片设计实现两输入变量异或运算的异或门电路 要求：设计逻辑电路，按设计电路连接后，接通电源，验证运算逻辑。输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”；电路的输出端接由LED发光二极管组成的0-1指示器的显示插口，LED亮红色为逻辑“1”，亮绿色为逻辑“0”。接线后检查无误，通电，用万用表直流电压20V档测量输入、输出的对地电压，并观察输出的LED颜色，填入表6-1。
实验一TTL各种门电路功能测试
实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试 实验时间实验室 1．实验元件（元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称） 1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个 2.数字万用表1块 3.74LS20双四输入与非门1片 4.74LS02四二输入或非门1片 5.74LS51双2-3输入与或非门1片 6.74LS86 四二输入异或门1片 7.74LS00四二输入与非门2片 （1）74LS20引脚结构及逻辑功能（2）74LS02引脚结构及逻辑功能 （3）74LS51引脚结构及逻辑功能（4）74LS86引脚结构及逻辑功能 （5）74LS00引脚结构及逻辑功能
2．实验目的 （1）熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。（2）熟悉万用表的使用方法。 3．实验电路原理图及接线方法描述： （1）74LS00实现与电路电路图 （2）74LS00实现或电路电路图
（3）74LS00实现或非电路电路图 （4）74LS00实现异或电路
4．实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置；输出信号的指示类型；总结完成实验条件） 5．逻辑验证与真值表填写 （1）74LS00实现与电路电路图逻辑分析 逻辑运算过程分析： 1 21 Y=AB Y=Y=AB=AB 真值表： （2）74LS00实现或电路电路图 逻辑运算过程分析： 1 2 312 Y=AA=A Y=BB=B Y=Y Y=AB=A+B=A+B 真值表： 输入输出 A B 2 Y 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 输入输出 A B 3 Y 0 0 0 0 1 1 1 0 1 1 1 1
MSI组合电路逻辑功能测试
实验五 MSI 组合电路逻辑功能测试 一、实验目的 1．会正确测试全加器、编码器、译码器、数据选择器等组合逻辑功能模块的逻辑功能，并能正确描述。 2.了解组合逻辑功能模块的工作特点。 二、实验仪器与器材 1．XST-5B 数字电路实验装置、实验模板 2．集成电路74LS148、74LS138、74LS151等。 3．导线若干、+5V 电源 三、预习要求 预习半加器、全加器、编码器、译码器、数据选择器、数值比较器的逻辑功能。 四、实验原理 中规模的器件，如译码器、数据选择器等，它们本身是为实现某种逻辑功能而设计的，但由于它们的一些特点，我们也可以用它们来实现任意逻辑函数。 1．全加器 全加器－－考虑低位进位数的两个一位二进制数的加法运算逻辑电路。二进制全加器的输入有加数Ai ，被加数Bi ，来自低位的进位数Ci-1；输出也有两个，分别是和数Si 和进位数Ci 。 表5-1是全加器的真值表，其中i A ，i B 表示两个加数，1i C -表示来自低位的进位，i S ，i C 表示相加后得到的和及进位。 1i i i i S A B C -=⊕⊕ (i C =
表5-1 全加器真值表 2.编码器 编码器是一种常用的组合逻辑电路，用于实现编码操作。编码操作就是将具体的事物或状态表示成所需代码的过程。按照所需编码的不同特点和要求，编码器主要分成二类：普通编码器和优先编码器。 普通编码器：电路结构简单，一般用于产生二进制编码。包括：a．二进制编码器：如用门电路构成的4—2线，8—3线编码器等。 b．二一十进制编码器：将十进制的0～9编成BCD码， 优先编码器：当有一个以上的输入端同时输入信号时，普通编码器的输出编码会造成混乱。为解决这一问题，需采用优先编码器。如8线—3线集成二进制优先编码器74LS148、10线—4线集成BCD码优先编码器74LS147等。 表5-2 8线3线编码器功能表 3．译码器 译码器是一个多输入、多输出的组合逻辑电路。它的作用是把给
数字逻辑电路实验
1.1 数电实验仪器的使用及门电路逻辑功能的测试 1.1.1 实验目的 （1）掌握数字电路实验仪器的使用方法。 （2）掌握门电路逻辑功能的测试方法。 1.1.2 实验设备 双踪示波器一台 数字电路实验箱一台 万用表一块 集成芯片：74LS00、74LS20 1.1.3 实验原理 图1.1是TTL系列74LS00（四2输入端与非门）的引脚排列图。 Y A B 其逻辑表达式为：=? 图1.2是TTL系列74LS20（双4输入端与非门）的引脚排列图。 Y A B C D 其逻辑表达式为：=??? 与非门的输入中任一个为低电平“0”时，输出便为高电平“1”。只有当所有输入都为高电平“1”时，输出才为低电平“0”。对于TTL逻辑电路，输入端如果悬空可看作逻辑“1”，但为防止干扰信号引入，一般不悬空。对于MOS逻辑电路，输入端绝对不允许悬空，因为MOS电路输入阻抗很高，受外界电磁场干扰的影响大，悬空会破坏正常的逻辑功能，因此使用时一定要注意。一般把多余的输入端接高电平或者和一个有用输入端连在一起。 1.1.4 实验内容及步骤 （1）测量逻辑开关及电平指示功能 用导线把一个数据开关的输出端与一个电平指示的输入端相连接，将数据开关置“0”位，电平指示灯应该不亮。将数据开关置“1”位，电平指示灯应该亮。以此类推，检测所有的数据开关及电平指示功能是否正常。
（2）检测脉冲信号源 给示波器输入脉冲信号，调节频率旋钮，可观察到脉冲信号的波形。改变脉冲信号的频率，示波器上的波形也应随之发生变化。 （3）检测译码显示器 用导线将四个数据开关分别与一位译码显示器的四个输入端相连接，按8421码进位规律拨动数据开关，可观察到译码显示器上显示0～9十个数字。 （4）与非门逻辑功能测试 ①逻辑功能测试 将芯片74LS20中一个4输入与非门的四个输入端A、B、C、D分别与四个数据开关相连接，输出端Y与一个电平指示相连接。电平指示的灯亮为1，灯不亮为0。根据表1.1中输入的不同状态组合，分别测出输出端的相应状态，并将结果填入表中。 表1.2 ②与非门对脉冲信号的反相传输及控制功能的测试 将芯片74LS00中一个2输入与非门的A输入端接频率为1kHz脉冲信号，B输入端接数据开关，输出端Y接示波器。用双踪示波器同时观察A输入端的脉冲波形和输出端Y的波形，并注意两者之间的关系。按表1.2中的不同输入方式测试，将结果填入表中。 1.1.5 预习要求与思考题 （1）阅读实验原理、内容及步骤。 （2）了解集成芯片引脚的排列规律。 （3）TTL集成电路使用的电源电压是多少？ （4）TTL与非门输入端悬空相当于输入什么电平？为什么？ （5）如何处理各种门电路的多余输入端。 1.1.6 实验报告及要求 （1）画出规范的测试电路图及各个表格。
逻辑门电路实验报告(精)
HUBEI NORMAL UNIVERSITY 电工电子实验报告 电路设计与仿真—Multisim 课程名称 逻辑门电路 实验名称 2009112030406 陈子明 学号姓名 电子信息工程 专业名称 物理与电子科学学院 所在院系 分数
实验逻辑门电路 一、实验目的 1、学习分析基本的逻辑门电路的工作原理； 2、学习各种常用时序电路的功能； 3、了解一些常用的集成芯片； 4、学会用仿真来验证各种数字电路的功能和设计自己的电路。 二、实验环境 Multisim 8 三、实验内容 1、与门电路 按图连接好电路，将开关分别掷向高低电平，组合出（0,0）（1，0）（0,1）（1，1）状态，通过电压表的示数，看到与门的输出状况，验证表中与门的功能： 结果：（0,0）
（0,1） （1,0） （1，1） 2、半加器 （1）输入/输出的真值表
输入输出 A B S(本位和（进位 数）0000 0110 1010 1101 半加器测试电路： 逻辑表达式：S= B+A=A B；=AB。 3、全加器 （1）输入输出的真值表 输入输出
A B (低位进 位S（本位 和） （进位 数） 0 0 0 0 0 00110 01010 01101 10010 10101 11001 11111（2）逻辑表达式：S=i-1；C i=AB+C i-1（A B） （3）全加器测试电路：
4、比较器 （1）真值表 A B Y1(A>B Y2(A Y3(A=B 0 0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0 0 1 （2）逻辑表达式： Y1=A;Y2=B;Y3=A B。 （3）搭接电路图，如图： 1位二进制数比较器测试电路与结果：
实验六 MSI组合逻辑电路的逻辑功能测试
实验六MSI 组合逻辑电路的逻辑功能测试 一、实验目的 熟悉中规模全加器、译码器、数据选择器组件的逻辑功能、外形及外引线排列。 二、实验仪器与器材 1．XST-5B 数字电路实验装置、实验模板 2．集成电路： 74LS283、74LS138、74LS153、74LS151 3．导线若干、+5V 电源 三、预习要求 预习半加器、全加器、译码器、数据选择器的逻辑功能。 四、实验内容与步骤 1．全加器的逻辑功能测试 表6-1是全加器的真值表，其中i A ，i B 表示两个加数，1i C -表示来自低位的进位，i S ，i C 表示相加后得到的和及进位。 1i i i i S A B C -=⊕⊕ 1()i i i i i i C A B C A B -=⊕+ 将全加器的输入端i A ，i B ，1i C -分别接逻辑电平，输出i S ，i C 接状态显示灯（LED ），按表6-1所列i A ，i B ，1i C -的状态，测试i S ，i C 的相应状态，将测试结果与表6-1进行比较。
2．译码器逻辑功能测试 表6-2是3线/8线译码器74LS138的真值表。按表中给定的输入状态。测试输出，将测得的结果与表6-2进行比较。
表6-2 3．数据选择器逻辑功能测试 ①表6-3是4选1数据选择器74LS153的功能表，按表中给定的输入状态。测试输出，将测得的结果与表6-3进行比较。
表6-3 ②八选一数据选择器74LS151功能测试（自己根据管脚排列和测试结果写出功能表及函数表达式） 五、实验报告 1、整理实验结果、图表，并对实验结果进行分析讨论。 2、写出各芯片的函数表达式。 3、总结本次实验体会。
门电路逻辑功能及测试实验报告记录
门电路逻辑功能及测试实验报告记录
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深圳大学实验报告实验课程名称：数字电路实验 实验项目名称：门电路逻辑功能及测试学院：信息工程学院 报告人：许泽鑫学号：201 班级：2班同组人： 指导教师：张志朋老师 实验时间：2016-9-27 实验报告提交时间：2016-10-11
一、实验目的 （1）熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。 （2）熟悉RXS-1B数字电路实验箱。 二、方法、步骤 1.实验仪器及材料 1)RXS-1B数字电路实验箱 2)万用表 3)器件 74LS00四2输入与非门1片 74LS86四2输入异或门1片 2.预习要求 1)阅读数字电子技术实验指南，懂得数字电子技术实验要求和实验方 法。 2)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。 3)熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能。 4)学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。 3.说明 用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。 非逻辑关系：Y=A 与逻辑关系：Y=A B + 或逻辑关系：Y=A B 与非逻辑关系：Y=A B + 或非逻辑关系：Y=A B + 与或非逻辑关系：Y=A B C D ⊕ 异或逻辑关系：Y=A B
三、实验过程及内容 任务一：异或门逻辑功能测试 集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A ⊕1B ，2Y=2A ⊕2B ， 3Y=3A ⊕3B ，4Y=4A ⊕4B ，其外引线排列图如图1.3.1所示。它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A 、1B 、2A 、2B 、3A 、3B 、4A 、4B ，3、6、8、11号引脚为输出端1Y 、2Y 、3Y 、4Y ，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V 。 （1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B 数字电路实验箱的任意14引脚的IC 空插座中。 （2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。14号引脚+5V 接至数字电路实验箱的+5V 电源的“+5V ”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V 电源的“⊥”插孔。 （3）将电平开关按表1.3.1设置，观察输出端A 、B 、Y 所连接的电平显示器的发光二极管的状态，测量输出端Y 的电压值。发光二极管亮表示输出为高电平（H ），发光二极管不亮表示输出为低电平（L ）。把实验结果填入表1.3.1中。 图1.3.1 四2输入异或门74LS86外引线排列图 1A 1B 1Y 2A 2B 74LS86 V CC 4B 4A 4Y 3B 4A 3Y 1 2 3 4 5 14 13 12 11
实验一 原理图输入方式设计数字逻辑电路
实验一原理图输入方式设计数字逻辑电路 一、实验目的： 1、了解基本组合逻辑电路的原理及利用Quartus II 软件进行设计的一般方法。 2、熟悉Quartus II 原理图输入法的设计流程，掌握编辑、编译和仿真的方法。 3、掌握原理图的层次化设计方法。 4、了解Quartus II 软件的编程下载及引脚锁定的方法。 5、了解Quartus II宏功能模块的使用方法。 二、实验的硬件要求： 1、EDA/SOPC实验箱。 2、计算机。 三、实验原理 见附件《Quartus设计的一般步骤》、《元件例化和调用的操作步骤》、《QuartusII基于宏功能模块的设计》 四、实验内容： 1、用原理图方式设计1位二进制半加器半加器。 新建一个工程“HalfAdder”，选择芯片“Cyclone III EP3C16Q240C8”，建立原理图如图1-1，保存为“HalfAdder.BDF”。 图1-1 半加器电路图 编译工程。 建立波形文件，对半加器电路分别进行时序仿真和功能仿真，其波形如下： 图1-2半加器时序仿真波形，注意观察输出延时，以及毛刺的产生原因 图1-3半加器功能仿真波形 2、原理图层次化设计。 新建一工程，取名“FullAdder”；将上面设计的半加器“HalfAdder.BDF”复制到当前工程目录，并生成“符号元件”HalfAdder.BSF。 建立一个原理图文件，取名“FullAdder.BDF”，利用“符号元件”HalfAdder.BSF及其它元件设计全加器电路如下图：
用功能仿真测试全加器的逻辑功能。 图1-5 全加器功能仿真波形 图1-6是输入输出信号与FPGA连接示意图，图中用到了“拨档开关”作为输入，“LED 显示模块”显示输出值。表1-1是本实验连接的FPGA管脚编号。