材料分析测试技术试题1
材料科学：材料分析测试技术测考试题.doc
材料科学：材料分析测试技术测考试题 考试时间：120分钟 考试总分：100分遵守考场纪律，维护知识尊严，杜绝违纪行为，确保考试结果公正。
1、名词解释 溅射 本题答案： 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？ 本题答案： 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是（ ）A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案： 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态，同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系，如何制备样品？以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析？ 本题答案： 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（ ）A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例姓名：________________ 班级：________________ 学号：________________--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------本题答案：6、名词解释质厚衬度本题答案：7、名词解释伸缩振动本题答案：8、单项选择题菊池线可以帮助（）。
A.估计样品的厚度；B.确定180不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.精确测定晶体取向。
本题答案：9、问答题什么是消光距离？影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么？本题答案：10、问答题制备复型的材料应具备什么条件？本题答案：11、名词解释Hanawalt索引本题答案：12、问答题简述X射线产生的基本条件。
本题答案：13、单项选择题波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（）。
A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。
本题答案：14、问答题如何用红外光谱跟踪二氧化硅湿凝胶变为干凝胶的过程？本题答案：15、单项选择题当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限0；B.激发限k；C.吸收限；D.特征X射线本题答案：16、单项选择题晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（）A、（364）B、（234）C、（213）D、（468）本题答案：17、单项选择题透射电镜成形貌像时是将（）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜本题答案：18、问答题试说明菊池线测试样取向关系比斑点花样精确度为高的原因。
材料类专业试题及答案
材料类专业试题及答案试题一：材料的分类和特性问题1：请列举三种常见的金属材料，并简述它们的特性。
答案：金属材料主要包括铁、铜和铝。
铁具有较高的强度和硬度，常用于制造机械零件和建筑结构。
铜具有良好的导电性和导热性，常用于电气设备和热交换器。
铝则因其轻质和良好的耐腐蚀性而被广泛应用于航空航天和交通运输领域。
问题2：请解释什么是复合材料，并给出一个应用实例。
答案：复合材料是由两种或两种以上不同性质的材料组合而成，这些材料在宏观上保持各自的特性，通过复合作用，使复合材料具有优于单一材料的综合性功能。
例如，碳纤维增强塑料（CFRP）就是一种复合材料，它结合了碳纤维的高强度和轻质特性以及塑料的可塑性和耐腐蚀性，广泛应用于航空航天、汽车制造和体育器材等领域。
试题二：材料的力学性能测试问题1：简述拉伸试验的目的和主要测试参数。
答案：拉伸试验的目的是评估材料的力学性能，包括其弹性、塑性、断裂等特性。
主要测试参数包括屈服强度、抗拉强度、延伸率和断面收缩率。
问题2：简述硬度测试的重要性及其常用的测试方法。
答案：硬度测试是评估材料表面硬度的一种方法，对于预测材料的耐磨性、抗划伤性和加工性能具有重要意义。
常用的硬度测试方法有布氏硬度测试、洛氏硬度测试和维氏硬度测试。
试题三：材料的热处理工艺问题1：解释什么是退火，并说明其对金属材料性能的影响。
答案：退火是一种热处理工艺，通过将金属材料加热到一定温度并保持一段时间，然后缓慢冷却，以消除材料内部的应力，改善其塑性和韧性。
退火可以降低材料的硬度，提高其延展性，从而改善加工性能。
问题2：简述淬火和回火工艺的区别及其对材料性能的影响。
答案：淬火是将金属材料加热到其临界温度以上，然后迅速冷却，以获得马氏体等硬而脆的微观结构，从而提高材料的硬度和强度。
回火则是在淬火之后，将材料加热到较低的温度并保持一段时间，然后冷却，以减少淬火引起的内应力，改善材料的韧性和塑性。
淬火和回火通常结合使用，以获得所需的材料性能。
现代材料分析测试技术材料分析测试技术-1
据说日本电子已经制造了带球差校正器的透射电 镜，但一个球差校正器跟一台场发射透射电镜的 价格差不多。
TEM Cs Corrector
Un-corrected
Corrected
No Fringe
什么原因导致这样的结果呢？原来电磁透镜也和光学透 镜一样，除了衍射效应对分辨率的影响外，还有像差对 分辨率的影响。由于像差的存在，使得电磁透镜的分辨 率低于理论值。电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
一、球差
球差是因为电磁透镜的中心区域磁场和边缘区域磁场对 入射电子束的折射能力不同而产生的。离开透镜主轴较 远的电子（远轴电子）比主轴附近的电子（近轴电子） 被折射程度大。
原来的物点是一个几何点，由于球差的影响现在变成了
半径为ΔrS的漫散圆斑。我们用ΔrS表示球差大小，计
算公式为：
rS
1 4
C
s
3
（1-10）
式中 Cs表示球差系数。 通常，物镜的球差系数值相当于它的焦距大小，
约为1-3mm,α为孔径半角。从式（1-10）中可以 看出，减小球差可以通过减小球差系数和孔径半 角来实现。
引起电子能量波动的原因有两个， 一是电子加速电压不稳，致使入射 电子能量不同；二是电子束照射试 样时和试样相互作用，部分电子产 生非弹性散射，致使能量变化。
最小的散焦斑RC。同 样将RC折算到物平面
上，得到半径为ΔrC 的圆斑。色差ΔrC由 下式来确定：
rC
Cc
E E
（1-12）
更短的波长是X射线。但是，迄今为止还没有找到能使X 射线改变方向、发生折射和聚焦成象的物质，也就是说 还没有X射线的透镜存在。因此X射线也不能作为显微镜 的照明光源。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案材料分析测试技术试题及答案(一)1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14dB、7dC、35dD、28d2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度B、抗剪强度C、扭矩系数D、承载力量3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位B、施工单位C、监理单位D、设计单位4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。
在工程竣工验收前，应对工程档案进展( C )，验收合格后，须出具工程档案认可文件。
A、检查B、验收C、预验收D、指导5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前，图纸排后B、图纸排前，文字材料排后C、文字材料、图纸按时间挨次排列D、文字材料，图纸材料交叉排列6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部C、地基与根底、主体、装饰装修分部D、地基与根底、主体分部7、在原材料肯定的状况下，打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量B、水灰比C、水含量D、砂率8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件B、软盘和硬盘C、数据和数字D、技术和治理9、混凝土同条件试件养护：构造部位由监理和施工各方共同选定，同一强度等级不宜少于10组，且不应少于( A )组。
A、3B、10C、14D、2010、不属于统计分析特点的是( D )。
A、数据性B、目的性C、时效性D、准时性11、施工资料治理应建立岗位责任制，进展( C )。
A、全面治理B、全方位掌握C、过程掌握D、全范围掌握12、目前工程文件、资料用得最多的载体形式有( A )。
A、纸质载体B、磁性载体C、光盘载体D、缩微品载体13、施工资料应当根据先后挨次分类，对同一类型的资料应根据其( A )进展排序。
安徽工业大学材料分析测试技术复习题及答案
复习的重点及思考题以下蓝色的部分作为了解第一章X射线的性质X射线产生的基本原理。
●X射线的本质―――电磁波、高能粒子、物质●X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等●高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线？产生的机理？连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为～特征(标识)X射线：由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。
X射线与物质的相互作用●两类散射的性质●吸收与吸收系数意义及基本计算●二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
俄歇电子：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。
这种效应称为俄歇效应。
●选靶的意义与作用第二章X射线的方向晶体几何学基础●晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体● 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应 ● 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式● 倒易点阵定义、倒易矢量的性质● 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明λ1= 为半径作一球； (b) 将球心置于衍射晶面与入射线的交点。
(c) 初基入射矢量由球心指向倒易阵点的原点。
(d) 落在球面上的倒易点即是可能产生反射的晶面。
(e) 由球心到该倒易点的矢量即为衍射矢量。
布拉格方程要灵活应用，比如结合消光规律等2d hkl sin θ ＝ n λ ‥‥ 布拉格公式d hkl 产生衍射的晶面间距θ 入射线或衍射线与晶面的夹角－布拉格角n 称之为反射级数● 布拉格方程的导出、各项参数的意义，作为产生衍射的必要条件的含义。
材料分析测试技术习题及答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（）A.Kα；B. Kβ；C. Kγ；D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（）A．C u；B. Fe；C. Ni；D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（）A.短波限λ0；B. 激发限λk；C. 吸收限；D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题）A.光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）二、正误题1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。
（）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。
（）3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
（）4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
（）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。
（）三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是，具有性。
5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称，常用于。
习题1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
3.什么叫"相干散射”、"非相干散射”、"荧光辐射”、"吸收限”、"俄歇效应”、"发射谱”、"吸收谱”？4.X射线的本质是什么？它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在？用哪些物理量描述它？5.产生X射线需具备什么条件？6.Ⅹ射线具有波粒二象性，其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中？7.计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案金材02级《材料分析测试技术》课程试卷答案一、选择题：（8分/每题1分）1.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生光电子和俄歇电子，答案为A+C。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生四条衍射线，答案为B。
3.最常用的X射线衍射方法是粉末多晶法，答案为B。
4.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是直接比较法，答案为C。
5.可以提高TEM的衬度的光栏是物镜光栏，答案为B。
6.如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是六方结构或立方结构，答案为A或B。
7.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是中心暗场像，答案为C。
8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是二次电子，答案为B。
二、判断题：（8分/每题1分）1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。
√2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。
√3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。
×4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。
×5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。
√6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。
×7.实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件，这时运动学理论能很好地解释衬度像。
√8.扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。
×三、填空题：（14分/每2空1分）1.电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。
2.当X射线管电压低于临界电压时，只能产生连续谱X射线；当电压超过临界电压时，可以同时产生连续谱X射线和特征谱X射线。
《材料分析测试技术》试卷(答案) (1)
《材料分析测试技术》试卷（答案）一、填空题：（20分，每空一分）1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。
2. X射线透过物质时产生的物理效应有：散射、光电效应、透射X射线、和热。
3. 德拜照相法中的底片安装方法有：正装、反装和偏装三种。
4. X射线物相分析方法分：定性分析和定量分析两种；测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。
5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。
7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
二、选择题：（8分，每题一分）1. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。
a．劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。
2. 已知X光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（b）。
a．Co ；b. Ni ；c. Fe。
3. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（c ）。
a．哈氏无机数值索引；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。
4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（b）。
a．第二聚光镜光阑；b. 物镜光阑；c. 选区光阑。
5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。
a．球差；b. 像散；c. 色差。
6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a）。
a．高阶劳厄斑点；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。
7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（b）。
a．背散射电子；b.俄歇电子；c. 特征X射线。
8. 中心暗场像的成像操作方法是（c）。
a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
三、问答题：（24分，每题8分）1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？答：X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品，首先要求粉末粒度要大小适中，在1um-5um之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一个最佳厚度（t =2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功能？在材料科学中有什么应用？答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记录系统。
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第一章
1、同种材料经过不同的处理后其性能不变（）
2、XRD可以进行样品表面微观形貌观察（）
3、x-ray是电磁波，具有粒子性和波动性（）
4、在医学透视上的x-ray波长很长，故又称为软x-ray（）
5、对于长方形焦点的x-ray管，对这长边的表观焦点形状为线状，它的强度很强（）
6、连续x-ray的强度随着管压的增高而增高（）
7、连续x-ray谱中，能量最大值在光子能量最大的λ0处（）
8、Kα线比Kβ线的波长长而强度高（）
9、每种物质的俄歇电子能量大小只取决于该物质的原子能级结构，是物质的固有特征（）
10、质量吸收系数与物质密度和状态无关，只与原子序数和x-ray的波长有关（）
11、随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小（）
12、经滤波后的X射线是相对的单色光（）
13、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度（）
14、产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态（）
15、X射线是单色的（）
16、x-ray的波长很短，能量和动量很大，具有很强的穿透能力（）
17、连续x-ray谱短波限只与管电压有关（）
18、x-ray管中阳极靶物质的原子序数越大，所需临界激发电压值越高（）
19、线吸收系数与物质种类、密度、x-ray波长有关（）
20、x-ray不反射，几乎不折射（）
21、原子系统中各能级的能量差是不均匀的，越靠近原子核的相邻能极差越大（）
22、光的干涉条件是散射波之间振动方向相同、频率相同、位相差恒定（）
第二章
1、空间点阵只有14种，而晶体结构可以有无限种（）
2、空间点阵与晶体结构是相同的两个概念（）
3、立方晶系的{100}晶面族包含6个晶面（）
4、同一晶带中所有晶面的法线都与晶带轴垂直（）
5、（100）和（110）同属于[001]晶带轴（）
6、单色x-ray的衍射只在满足布拉格定律的若干个特殊角度上产生（）
7、X射线衍射线的强度接近于入射线强度（）
8、X射线的入射线与反射线的夹角永远是2θ（）
9、X射线的衍射是大量原子参与的一种散射现象（）
10、产生X射线衍射现象的必要条件是有一个可以干涉的波和一组周期排列的散射中心（）
11、干涉指数只能是互质的整数（）
12、衍射方向决定于晶胞的大小与形状（）
13、干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数n（）
14、X射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行（）
15、一种布拉菲点阵可以代表许多种晶体结构（）
16、晶面间距越大的晶面其指数也越大（）
17、粉末法多晶体试样的形状可以是任意的（）
18、晶面指数的数值是晶面在三个坐标轴上的截距（）
19、凡是属于[uvw]晶带的晶面，其晶面指数（hkl）必须符合hu+kv+lw=0（）
20、若已知特征x-ray的波长和衍射角，则通过布拉格方程可以计算出晶面间距（）
21、劳埃法是采用连续x-ray作为入射光源的（）
22、粉末法采用的X射线为单色x-ray（）
第三章
1、衍射方向在X射线波长一定的情况下取决与晶面间距（）
2、物质的原子序数越小，非相干散射越弱（）
3、在一个晶面族中，等同晶面越多，参加衍射的概率就越大（）
4、X射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息，峰越宽说明晶粒越大（）
5、在其他条件一定的情况下，晶粒越小，X射线衍射强度越弱（）
6、原子的热振动可使X射线衍射强度增大（）
7、温度一定时，衍射角越大，温度因子越小，衍射强度随之减小（）
8、布拉格方程只涉及X射线衍射方向，不能反映衍射强度（）
9、衍射角一定时，温度越高，温度因子越小，衍射强度随之减小（）
10、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射（）
第四章
1、大直径德拜相机可以提高衍射线分辨率，缩短曝光时间（）
2、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确（）
3、在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。
一个是测角仪圆；另一个是聚焦圆，X射线管的焦点、计数器接受光阑与试样三者必须位于其上（）
4、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好（）
5、德拜相机的底片安装方式中，正装法多用于点阵常数的确定（）
6、根据不消光晶面的N值比值可以确定晶体结构（）
7、为了提高德拜相机的分辨率，在条件允许的情况下，应尽量采用波长较长的x-ray源（）
8、在分析大晶胞的试样时，应尽可能选用波长较长的x-ray源，以便抵偿由于晶胞过大对分辨率的不良影响（）
9、选择小的接受光阑狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度（）
10、时间常数等于接受光阑的时间宽度的一半或更低时，能够记录出分辨能力最佳的强度曲线（）
11、德拜相机的底片安装方式中，反装法多用于物相分析（）
12、衍射角越大，相机的分辨率越高（）
第五章
1、X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分（）
2、X射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是因为没有两种物相的衍射花样是完全相同的（）
3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强（）
4、内标法仅限于粉末试样（）
5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引（）
6、PDF索引中晶面间距数值下脚标的x表示该线条的衍射强度待定（）
7、PDF卡片的右上角标有★说明数据可靠性高（）
8、多相物质的衍射花样相互独立，互不干扰（）
9、物相定性分析时的试样制备，必须将择优取向减至最小（）
第九章
1、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平（）
2、电磁透镜的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加（）
3、光学显微镜的分辨率取决与照明光源的波长，波长越长，分辨率越高（）
4、波长越短，显微镜的分辨率越低，因此可以采用波长较短的γ射线作为照明光源（）
5、用小孔径角成像时可使球差明显减小（）
6、电磁透镜和光学透镜均属于直线汇聚透镜（）
7、限制电磁透镜分辨率的最主要因素是色差（）
8、电磁透镜的景深越大，对聚焦操作越有利（）
第十章
1、TEM的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响（）
2、孔径半角α是影响分辨率的重要因素，TEM中的α角越小越好（）
3、物镜的分辨率主要决定于极靴的形状和加工精度（）
4、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度（）
5、当电磁偏转器的上、下偏转线圈偏转的角度相等但方向相反时，电子束会进行平行移动（）
6、物镜光阑孔越小，被挡去的电子越多，图像的衬度越大（）
7、物镜光阑能使物镜孔径角减小，能减小像差，得到质量较高的图像（）
8、物镜光阑是没有磁性的（）
9、TEM中栅极的作用是限制和稳定束流（）
10、利用电子显微镜进行图像分析时，物镜和样品之间的距离是固定不变的（）。