the difference between ppk and cpk

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Ppk,Cpk,Cmk 三者的区别及计算

Ppk,Cpk,Cmk 三者的区别及计算

Cmk是德国汽车行业常采用的参数,称为临界机器能力指数,它仅考虑设备本身的影响,同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移;由于仅考虑设备本身的影响,因此在采样时对其他因素要严加控制,尽量避免其他因素的干扰,计算公式与Ppk相同,只是取样不同CP(或Cpk)工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。

产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK:强调的是过程固有变差和实际固有的能力;CMK:考虑短期离散,强调设备本身因素对质量的影响;CPK:分析前提是数据服从正态分布,且过程受控;(基于该前提,CPK一定>0)CMK:用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况;CPK:至少1.33CMK:至少1.67CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本一旦上限(USL, upper specification limit)与下限(LSL, lowe r specification limit)已经定义,cmk可用来计算贴装精度。

由于极限值一般是对称的,我们可以用简化的规格极限SL=US L=-LSL进行计算,如图一所示。

cmk= 规格极限-贴装偏移3x标准偏差= 3SL-&micr o; 3σ以下的cmk结果是针对图一所提出的条件和客户所定义的50& micro;m规格极限。

cmk= SL-µ 3σ= (50-6)µm 24µ m =1.83Cmk (machine capability index)机器能力指数机器能力指数,是最适合评估机器对于一个特殊要求的可适用性。

CPK、PPK与CMK的区别

CPK、PPK与CMK的区别

CPK、PPK与CMK的区别请问CPK、PPK和CMK在抽样方法、计算公式、对过程的要求上有什么区别?CPK、PPK是不是间隔抽样,同时在抽样过程中是否要进行人员、操作工具的更改工作?即按照正常的生产方式进行,如,涉及到的换班、更换工具等。

而CMK的抽样是不是连续的?是不是在抽样过程中人、环境、量具的始终如一,保持在最佳的状态?CPK、PPK和CMK在抽样方法上可以相同,也可以不同;计算公式当然不同。

在操作过程中都必须先做MSA测量系统分析,且按照制定的计划与程序进行数据收集。

CPK是过程能力指数。

PPK是性能指数。

CMK是设备能力指数。

CPK和PPK是根据安排好的间隔进行抽样的,每次抽样要连续抽取(其实要只要求算PPK在最后的所有产品里随即抽样也是可以的,当然顾客死拧就别根他争这个了)。

CPK与PPK计算公式一样,只是sigma的计算不一样而已,这也就是他们的区别,CPK使用Rbar/d2计算组内变差,PPK用传统的那个公式计算总变差。

CMK是连续抽样的,既然没分组当然计算sigma时就不会用到CPK的公式了,是的也用哪个传统公式计算sigma。

总结:CPK与PPK区别在sigma的计算;CMK与PPK区别在于抽样方法。

CPK是间隔取样,但PPK不一定要求间隔取样,CPK是研究组内变差,而PPK是研究组间变差,CPK是能力指数,而PPK是性能指数.CMK是设备能力指数不矛盾的,第一他们取样不一样的MSA取样必须有特殊性,取样必须分布整个公差带,也就必须遵守2/3原则2/3数据一般最好落在UCL,LCL以外而CPK取样必须是间隔采样,就是说,间隔的时间要相同,在采样时必须要连续哪位强人给详细明确的解说一下,各教材的说法本来就不一样,多少都有点差别.:)我先把我理解的说说:CPK短期过程能力指数,PPK长期过程绩效(短期+偏移),CMK设备能力指数取样(自己了解过程能力和提交客户要求可以自己定):CPK过程受控,20~25组;PPK-100件,可以考虑5~10天收集;CMK过程稳定后连续的50件对于如何计算,习惯全部用过程总波动,我算只是为了看看制造过程是什么情况.CPK≥1.33和1.67要求好象是从三大主机厂出来的,真正能做到的供应商有几个,主机厂有几个过程能保证满足要求.照我说的做,不要照我做的做Ppk、Cpk,还有Cmk三者的区别及计算1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Index of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Pp(Performance Index of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。

Ppk、Cpk、Cmk三者的区别(完整)

Ppk、Cpk、Cmk三者的区别(完整)

Ppk 、Cpk ,还有Cmk 三者的定义是什么有什么区别如何计算1、首先我们先说明Pp 、Cp 两者的定义及公式 Cp (Capability Indies of Process ):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:2^6d R LSL USL Cp σ-=Pp (Performance Indies of Process ):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:^6SLSL USL Pp σ-=(该指数仅用来与Cp 及Cpk 对比,或/和Cp 、Cpk 一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU :稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:^23d R X USL CPU σ-=CPL :稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:^23d R LSL X CPL σ-=2、现在我们来阐述Cpk 、Ppk 的含义Cpk :这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU 与CPL 的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即:)(CPL CPU Min Cpk ,= Ppk :这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为:^3SX USL σ-或^3SLSL X σ-的最小值。

即:)σ,σ(^^33SS LSLX X USL Min Ppk --= 其实,公式中的K 是定义分布中心μ与公差中心M 的偏离度,μ与M 的偏离为ε=| M-μ| ,则:2/T K ε=于是,Cp K Cpk )(-=1 , Pp K Ppk )(-=1 3、公式中标准差的不同含义①在Cp 、Cpk 中,计算的是稳定过程的能力,稳定过程中过程变差仅由普通原因引起,公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差R 估计得出:22^d R d R =σ因此,Cp 、Cpk 一般与控制图一起使用,首先利用控制图判断过程是否受控,如果过程不受控,要采取措施改善过程,使过程处于受控状态。

PPK与CPK的

PPK与CPK的

cpk和ppk区别1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即:Ppk:这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为:或的最小值。

即:其实,公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度,μ与M的偏离为ε=| M-μ|3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中,计算的是稳定过程的能力,稳定过程中过程变差仅由普通原因引起,公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。

因此,Cp、Cpk一般与控制图一起使用,首先利用控制图判断过程是否受控,如果过程不受控,要采取措施改善过程,使过程处于受控状态。

确保过程受控后,再计算Cp、Cpk。

②由于普通和特殊两种原因所造成的变差,可以用样本标准差S来估计,过程性能指数的计算使用该标准差。

4、几个指数的比较与说明①无偏离的Cp表示过程加工的均匀性(稳定性),即“质量能力”,Cp越大,这质量特性的分布越“苗条”,质量能力越强;而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况,Cpk越大,二者的偏离越小,也即过程中心对公差中心越“瞄准”。

Ppk,Cpk,Cmk三者区别及计算

Ppk,Cpk,Cmk三者区别及计算

Ppk、Cpk,还有Cmk三者的定义是什么?有什么区别?如何计算?1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即:Ppk:这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为:或的最小值。

即:Cmk是德国汽车行业常采用的参数,称为临界机器能力指数,它仅考虑设备本身的影响,同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移;由于仅考虑设备本身的影响,因此在采样时对其他因素要严加控制,尽量避免其他因素的干扰,计算公式与Ppk相同,只是取样不同。

目录编辑本段概念CP(或Cpk)工序能力指数,是指工序在一定时间里,处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。

它是工序固有的能力,或者说它是工序保证质量的能力。

这里所指的工序,是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程,也就是产品质量的生产过程。

产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK:强调的是过程固有变差和实际固有的能力;CMK:考虑短期离散,强调设备本身因素对质量的影响;CPK:分析前提是数据服从正态分布,且过程受控;(基于该前提,CPK 一定>0)CMK:用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况;CPK:至少1.33CMK:至少1.67CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本CMK相关知识对Cmk,我们关心的是机器设备本身的能力,在取样过程中要尽量消除其他因素的影响,因此,在尽量短的时间内(减少环境影响),相同的操作者(减少人的因素影响),采用标准的作业方法(法),针对相同的加工材料(同一批原材料),只考核机器设备本身的变差。

Ppk、Cpk、Cmk三者的区别(完整)

Ppk、Cpk、Cmk三者的区别(完整)

Ppk 、Cpk ,还有Cmk 三者的定义是什么?有什么区别?如何计算?1、首先我们先说明Pp 、Cp 两者的定义及公式Cp (Capability Indies of Process ):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移, 一般表达式为:USL - LSL Cp = ^Pp (Performance Indies of Process ):过程性能指数, 一般表达式为: 6σR d 2定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,3、公式中标准差的不同含义 ① 在 Cp 、Cpk 中,计算的是稳定过程的能力,稳定过程中过程变差仅由普通原因引起,公式中的标准差可以通 过控制图中的样本平均极差R 估计得出:σR d 2 = R d因此,Cp 、Cpk 一般与控制图一起使用,首先利用控制图判断过程是否受控,如果过程不受控,要采取措施Pp =USL - LSL 6σS(该指数仅用来与 Cp 及 Cpk 对比,或 / 和 Cp 、 Cpk 一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序) CPU :稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPU =USL -X 3σR d 2CPL :稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为: CPL = X -LSL3σR d 2 2、现在我们来阐述Cpk 、Ppk 的含义 Cpk :这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为 CPU 与 CPL 的最小值。

它等于过程均值与最近的规范 界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即: Cpk = Min (CPU ,CPL ) USL - X X - LSL Ppk :这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为: USL - X 或 X - LSL 的最小值。

即: 3σS3σS USL - X X -LSL ,) Ppk = Min ( 3σS 其实,公式中的K 是定义分布中心μ与公差中心 M 的偏离度, ε K = T /2 3σS 与 M 的偏离为ε =| M- μ | ,则:于是,Cpk =(1- K )CpPpk =(1- K )Pp改善过程,使过程处于受控状态。

CPK,PPK,CMK三者含义及区别

CPK,PPK,CMK三者含义及区别

什么是CPK什么是PPK什么是CMKPpk,Cpk,Cmk三者区别及计算什么是CPK什么是PPK什么是CMKPpk,Cpk,Cmk三者区别是什么如何计算呢?CPK:Complex Process Capability index 的缩写,是现代企业用于表示制程能力的指标。

制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。

制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度,以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上,作为制程持续改善的依据。

当我们的产品通过了GageR&R的测试之后,我们即可开始Cpk值的测试。

CPK值越大表示品质越佳。

Cpk——过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk应用讲议1. Cpk的中文定义为:制程能力指数,是某个工程或制程水准的量化反应,也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数:Ca , Cp. Ca: 制程准确度。

Cp: 制程精密度。

3. Cpk, Ca, Cp三者的关系: Cpk = Cp * ( 1 - |Ca|),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4. 当选择制程站别Cpk来作管控时,应以成本做考量的首要因素,还有是其品质特性对后制程的影响度。

5. 计算取样数据至少应有20~25组数据,方具有一定代表性。

6. 计算Cpk除收集取样数据外,还应知晓该品质特性的规格上下限(USL,LSL),才可顺利计算其值。

7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ),再计算出规格公差(T),及规格中心值(U). 规格公差T=规格上限-规格下限;规格中心值U=(规格上限+规格下限)/2;8. 依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) ,计算出制程准确度:Ca值 (X为所有取样数据的平均值)9. 依据公式:Cp =T/6σ ,计算出制程精密度:Cp值10. 依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ,计算出制程能力指数:Cpk值11. Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级Cpk≥ 特优可考虑成本的降低A+ 级>Cpk ≥ 优应当保持之A 级>Cpk ≥ 良能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级B 级>Cpk ≥ 一般状态一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级>Cpk ≥ 差制程不良较多,必须提升其能力D 级> Cpk 不可接受其能力太差,应考虑重新整改设计制程。

CPK是过程能力指数

CPK是过程能力指数

CPK是过程能力指数。

PPK是性能指数。

CMK是设备能力指数。

CPK和PPK是根据安排好的间隔进行抽样的,每次抽样要连续抽取(其实要只要求算PPK在最后的所有产品里随即抽样也是可以的,当然顾客死拧就别根他争这个了)。

CPK与PPK计算公式一样,只是sigma的计算不一样而已,这也就是他们的区别,CPK使用Rbar/d2计算组内变差,PPK用传统的那个公式计算总变差。

CMK是连续抽样的,既然没分组当然计算sigma时就不会用到CPK的公式了,是的也用哪个传统公式计算sigma。

总结:CPK与PPK区别在sigma的计算;CMK与PPK区别在于抽样方法。

CPK是间隔取样,但PPK不一定要求间隔取样,CPK是研究组内变差,而PPK是研究组间变差,CPK是能力指数,而PPK是性能指数.CMK是设备能力Ppk、Cpk,还有Cmk三者的区别及计算1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Pp(Performance Indies of Process):过程性能指数,定义为不考虑过程有无偏移时,容差范围除以过程性能,一般表达式为:(该指数仅用来与Cp及Cpk对比,或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序)CPU:稳定过程的上限能力指数,定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限,一般表达式为:CPL:稳定过程的下限能力指数,定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限,一般表达式为:2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk:这是考虑到过程中心的能力(修正)指数,定义为CPU与CPL的最小值。

它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。

即:Ppk:这是考虑到过程中心的性能(修正)指数,定义为:或的最小值。

即:其实,公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度,μ与M的偏离为ε=| M-μ|,则:于是,,3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中,计算的是稳定过程的能力,稳定过程中过程变差仅由普通原因引起,公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出:因此,Cp、Cpk一般与控制图一起使用,首先利用控制图判断过程是否受控,如果过程不受控,要采取措施改善过程,使过程处于受控状态。

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the difference between ppk and cpkIn the Six Sigma quality methodology, process performance is reported to the organization as a sigma level. The higher the sigma level, the better the process is performing.Another way to report process capability and process performance is through the statistical measurements of Cp, Cpk, Pp, and Ppk. This article will present definitions, interpretations and calculations for Cpk and Ppk though the use of forum quotations. Thanks to everyone below that helped contributed to this excellent reference.Jump To The Following Sections:DefinitionsInterpreting Cp, CpkInterpreting Pp, PpkDifferences Between Cpk and PpkCalculating Cpk and PpkDefinitionsCp = Process Capability. A simple and straightforward indicator of process capability.Cpk = Process Capability Index. Adjustment of Cp for the effect of non-centered distribution.Pp = Process Performance. A simple and straightforward indicator of process performance.Ppk = Process Performance Index. Adjustment of Pp for the effect of non-centered distribution.Interpreting Cp, Cpk"Cpk is an index (a simple number) which measures how close a process is running to its specification limits, relative to the natural variability of the process. The larger the index, the less likely it is that any item will be outside the specs." Neil Polhemus"If you hunt our shoot targets with bow, darts, or gun try this analogy. If your shots are falling in the same spot forming a good group this is a high cP, and when the sighting is adjusted so this tight group of shots is landing on the bullseye, you now have a high cpK." Tommy"Cpk measures how close you are to your target and how consistent you are to around your average performance. A person may be performing with minimum variation, but he can be away from his target towards one of the specification limit, which indicates lower Cpk, whereas Cp will be high. On the other hand, a person may be on average exactly at the target, but the variation in performance is high (but still lower than the tolerance band (i.e. specification interval In such case also Cpk will be lower, but Cp will be high. Cpk will be higher only when you r meeting the target consistently with minimum variation." Ajit"You must have a Cpk of 1.33 [4 sigma] or higher to satisfy most customers." Joe Perito"Consider a car and a garage. The garage defines the specification limits; the car defines the output of the process. If the car is only a little bit smaller than the garage, you had better park it right in the middle of the garage (center of the specification) if you want to get all of the car in the garage. If the car is wider than the garage, it does not matter if you have it centered; it will not fit. If the car is a lot smaller than the garage (six sigma process), it doesn't matter if you park it exactly in the middle; it will fit and you have plenty of room on either side. If you have a process that is in control and with little variation, you should be able to park the car easily within the garage and thus meet customer requirements. Cpk tells you the relationship between the size of the car, the size of the garage and how far away from the middle of the garage you parked the car." Ben"The value itself can be thought of as the amount the process (car) can widen before hitting the nearest spec limit (garage door edgeCpk=1/2 means you've crunched nearest the door edge (ouch!)Cpk=1 means you're just touching the nearest edgeCpk=2 means your width can grow 2 times before touchingCpk=3 means your width can grow 3 times before touching" Ken K."The general rule of thumb states that if a Cpk value of a process is less than 1.33, then the process is incapable of producing a repeatable part." Larry SeibelInterpreting Pp, Ppk"Process Performance Index basically tries to verify if the sample that you have generated from the process is capable to meet Customer CTQs (requirements It differs from Process Capability in that Process Performance only applies to a specific batch of material. Samples from the batch may need to be quite large to be representative of the variation in the batch. Process Performance is only used when process control cannot be evaluated. An example of this is for a short pre-production run. Process Performance generally uses sample sigma in its calculation; Process capability uses the process sigma value determined from either the Moving Range, Range, or Sigma control charts." PraneetDifferences Between Cpk and Ppk"Cpk is for short term, Ppk is for long term." Sundeep Singh"Ppk produces an index number (like 1.33) for the process variation. Cpk references the variation to your specification limits. If you just want to know how much variation the process exhibits, a Ppk measurement is fine. If you want to know how that variation will affect the ability of your process to meet customer requirements (CTQ's), you should use Cpk." Michael Whaley"It could be argued that the use of Ppk and Cpk (with sufficient sample size) are far morevalid estimates of long and short term capability of processes since the 1.5 sigma shift has a shaky statistical foundation." Eoin"Cpk tells you what the process is CAPABLE of doing in future, assuming it remains in a state of statistical control. Ppk tells you how the process has performed in the past. You cannot use it predict the future, like with Cpk, because the process is not in a state of control. The values for Cpk and Ppk will converge to almost the same value when the process is in statistical control. that is because Sigma and the sample standard deviation will be identical (at least as can be distinguished by an F-test When out of control, the values will be distinctly different, perhaps by a very wide margin." Jim Parnella"Cp and Cpk are for computing the index with respect to the subgrouping of your data (different shifts, machines, operators, etc.), while Pp and Ppk are for the whole process (no subgrouping For both Ppk and Cpk the 'k' stands for 'centralizing facteur'- it assumes the index takes into consideration the fact that your data is maybe not centered (and hence, your index shall be smaller It is more realistic to use Pp & Ppk than Cp or Cpk as the process variation cannot be tempered with by inappropriate subgrouping. However, Cp and Cpk can be very useful in order to know if, under the best conditions, the process is capable of fitting into the specs or not.It basically gives you the best case scenario for the existing process." Chantal"Cp should always be greater than 2.0 for a good process which is under statistical control. For a good process under statistical control, Cpk should be greater than 1.5." Ranganadha Kumar"As for Ppk/Cpk, they mean one or the other and you will find people confusing the definitions and you WILL find books defining them versa and vice versa. You will have to ask the definition the person is using that you are talking to." Joe Perito"I just finished up a meeting with a vendor and we had a nice discussion of Cpk vs PPk. We had the definitions exactly reversed between us. The outcome was to standardize on definitions and move forward from there. My suggestion to others is that each company have a procedure or document (we do not) which has the definitions of Cpk and Ppk in it. This provides everyone a standard to refer to for WHEN we forgot or get confused." John Adamo"The Six Sigma community standardized on definitions of Cp, Cpk, Pp, and Ppk from AIAG SPC manual page 80. You can get the manual for about $7." GaryCalculating Cpk and Ppk"Cp = (USL - LSL)/6*Std.DevCpl = (Mean - LSL)/3*Std.devCpu = (USL-Mean)/3*Std.devCpk = Min(Cpl,Cpu)" Ranganadha Kumar"Cpk is calculated using an estimate of the standard deviation calculated using R-bar/d2. Ppk uses the usual form of the standard deviation ie the root of the variance or the square root of the sum of squares divided by n-1. The R-bar/D2 estimation of the standard deviation has a smoothing effect and the Cpk statistic is less sensitive to points which are further away from the mean than is Ppk." Eoin"Cpk is calculated using RBar/d2 or SBar/c4 for Sigma in the denominator of you equation. This calculation for Sigma REQUIRES the process to be in a state of statistical control. If not in control, your calculation of Sigma (and hence Cpk) is useless - it is only valid when in-control." Jim Parnella"You can have a 'good' Cpk yet still have data outside the specification, and the process needs to be in control before evaluating Cpk."。

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