第四章控制系统根轨迹绘制

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自动控制原理 第四章根轨迹

自动控制原理 第四章根轨迹

第四章根轨迹法4-1 根轨迹法的基本概念4-2 常规根轨迹的绘制法则4-3 广义根轨迹4-1 根轨迹法的基本概念一、根轨迹的概念根轨迹:系统中某个参数从零到无穷变化时,系统闭环特征根在s平面上移动的轨迹。

根指的是闭环特征根(闭环极点)。

根轨迹法是根据开环传递函数与闭环传递函数的关系,通过开环传递函数直接分析闭环特征根及系统性能的图解法。

K =0 s 1=0 s 2=-40 < K <1s 1 s 2为不等的负实根K =1s 1=-2 s 2=-21 < K < ∞s 1s2 实部均为-2由根轨迹可知:1)当K =0时,s 1=0,s 2=-1,这两点恰是开环传递函数的极点,同时也是闭环特征方程的极点.2)当0<K < 1 时,s 1,2都是负实根,随着k 的增长,s 1从s 平面的原点向左移,s 2从-1点向右移。

3) 当K = 1时, s 1,2= -2,两根重合在一起,此时系统恰好处在临界阻尼状态。

4) 1 <K <∞,s 1,2为共轭复根,它们的实部恒等于-2,虚部随着K 的增大而增大,系统此时为欠阻尼状态。

★在s平面上,用箭头标明K增大时,闭环特征根移动的方向,以数值表明某极点处的增益大小。

有了根轨迹图就可以分析系统的各种性能:(1)稳定性:根轨迹均在s的左半平面,则系统对所有K>0都是稳定的。

(2)稳态性能:如图有一个开环极点(也是闭环极点)s=0。

说明属于I型系统,阶跃作用下的稳态误差为0。

在速度信号V0t作用下,稳态误差为V0/K,在加速度信号作用下,稳态误差为∞。

(3)动态性能:过阻尼临界阻尼欠阻尼K越大,阻尼比ξ越小,超调量σ%越大。

由此可知:1、利用根轨迹可以直观的分析K的变化对系统性能的影响。

2、根据性能指标的要求可以很快确定出系统闭环特征根的位置;从而确定出可变参数的大小,便于对系统进行设计。

由以上分析知:根轨迹与系统性能之间有着密切的联系,但是,高阶方程很难求解,用直接解闭环特征根的办法来绘制根轨迹是很麻烦的。

自动控制原理第第四章 线性系统的根轨迹法

自动控制原理第第四章 线性系统的根轨迹法

2
自动控制原理
§4.1 根轨迹的基本概念
例:开环传递函数
Gs
k1
ss
a
开环系统两个极点为:P1 0, P2 a R(s)
闭环传递函数为:
GB s
s2
k1 as
k1
-
k1
C(s)
ss a
闭环特征方程: s2 as k1 0
闭环特征根:s1,2
a 2
a 2
2
k1
(闭环极点)
3
自动控制原理
在p5附近取一实验点sd, 则∠sd-p5可以认为是p5点的出射角 Sd Z Sd P1 Sd P2 Sd P3 Sd P4 Sd P5 1800
近似为 P5 Z P5 P1 P5 P2 P5 P3 P5 P4 p 1800
p Sd P5 1800
法则4 实轴上存在根轨迹的条件——
这些段右边开环零极点个数之和为奇
数。
m
n
证明:根据相角条件 S Z j S Pi 18002q 1
j 1
i 1
p4
j s平面
例:sd为实验点
p3
z2 sd
p2 z1 p1
p5
① 实验点sd右侧实 轴上零极点提供 1800相角
③ 共轭复零点,复极点提供的相角和为 3600。
2
s1=-1.172,s2=-6.828
33
自动控制原理
法则6 开环复数极点处根轨迹出射角为
p 1800
开环复数零点处根轨迹入射角为:
Z 1800
其中 z p(不包括本点)
34
自动控制原理
j p5
p5
p3 p3
p2

自动控制原理 第四章 根轨迹法

自动控制原理 第四章 根轨迹法

第4章 根 轨 迹 法根轨迹法是分析和设计线性控制系统的图解方法,使用简便,在控制工程上得到了广泛应用。

本章首先介绍根轨迹的基本概念,然后重点介绍根轨迹绘制的基本法则,在此基础上,进一步讨论广义根轨迹的问题,最后介绍控制系统的根轨迹分析方法。

4.1 根轨迹的基本概念4.1.1 根轨迹概念所谓根轨迹,就是系统开环传递函数的某一参数从零变化到无穷时,闭环特征根在s 平面上变化的轨迹。

例如某控制系统的结构图如图4.1所示。

图4.1 控制系统其开环传递函数为()K (0.51)KG s s s =+其闭环传递函数为22()22Ks s s KΦ=++式中:K 为系统开环增益。

于是闭环特征方程可写为2220s s k ++=对上式求解得闭环特征根为1,21s =−令开环增益K 从零变化到无穷,利用上式求出闭环特征根的全部数值,将这些值标注在s 平面上,并连成光滑的粗实线,如图4.2所示,该粗实线就称为系统的根轨迹。

箭头表示随K 值增加根轨迹的变化趋势。

这种通过求解特征方程来绘制根轨迹的方法,称之为解析法。

画出根轨迹的目的是利用根轨迹分析系统的各种性能。

通过第3章的学习知道,系统第4章 根轨迹法·101··101·特征根的分布与系统的稳定性、暂态性能密切相关,而根轨迹正是直观反应了特征根在复平面的位置以及变化情况,所以利用根轨迹很容易了解系统的稳定性和暂态性能。

又因为根轨迹上的任何一点都有与之对应的开环增益值,而开环增益与稳态误差成反比,因而通过根轨迹也可以确定出系统的稳态精度。

可以看出,根轨迹与系统性能之间有着比较密切的联系。

图4.2 控制系统根轨迹4.1.2 根轨迹方程对于高阶系统,求解特征方程是很困难的,因此采用解析法绘制根轨迹只适用于较简单的低阶系统。

而高阶系统根轨迹的绘制是根据已知的开环零、极点位置,采用图解的方法来实现的。

下面给出图解法绘制根轨迹的根轨迹方程。

自动控制原理根轨迹法

自动控制原理根轨迹法

21
二、根轨迹绘制的基本法则(4)
法则2
根轨迹的分支数和对称性 根轨迹的分支数与开环极点数n相等(n>m),或与开
环有限零点数m相等(n<m)。 根轨迹连续:根轨迹增益是连续变化导致特征根也连
续变化。 实轴对称:特征方程的系数为实数,特征根必为实数
或共轭复数。
22
二、根轨迹绘制的基本法则(5)
法则3
s(s 2.5)( s 0.5 j1.5)( s 0.5 j1.5)
试绘制该系统概略根轨迹。
解:将开环零、极点画在后面图中。按如下典型步骤
1)确定实轴上的根轨迹。本例实轴上区域

为轨迹。
0,-1.5
2)确定-根2.轨5,迹-的渐 近线。本例n=4,m=3,故只有
一条 的渐近线。 180
36
K均* 有关。
15
一、 根轨迹法的基本概念(13)
4 -1- 4 根轨迹方程
1、系统闭环特征方程
由闭环传函可得系统闭环特征方程为:
(s)
G(s)
1 G(s)H(s)
1 G(s)H (s) 0
2 、根轨迹方程
当系统有m个开环零点和n个开环极点时,下式称为
根轨迹方程
m
(s z j )
K * j1 n
i 1
j 1
n
n
n
(s si ) sn ( si )sn1 ... (si ) 0
i 1
i 1
i 1
式中,s i 为闭环特征根。
31
二、根轨迹绘制的基本法则(14)
当n m 2 时,特征方程第二项系数与K * 无关,无
论 K * 取何值,开环n个极点之和总是等于闭环特征方程n

自动控制原理第四章根轨迹法

自动控制原理第四章根轨迹法

i 1
j 1
开环极点到此被测零点 (终点)的矢量相角
8. 根轨迹的平衡性(根之和) ( n-m 2)
特征方程 Qs KPs 0
sn an1sn1 a1s a0 K sm bm1sm1 b1s b0 0
n
Qs KPs s p j sn cn1sn1 c1s c0 0 j 1
i 1
j1
k 0,1,2,
s zoi i 开环有限零点到s的矢量的相角
s poj j 开环极点到s的矢量的相角
矢量的相角以逆时针方向为正。
幅值条件:
s
m
m
s zoi
li
A s
i 1 n
i 1 n
s poj
Lj
j 1
j1
li αi
-zoi
Lj βj
×
-poj
开 环 有 限 零 点 到s的 矢 量 长 度 之 积 开环极点到s的矢量长度之积
, 2 2
c 2k 11800 2
由此可推理得到出射角:
其余开环极点到被测极 点(起点)的矢量相角
n1
m
c 2k 1180o j i
j 1
i 1
有限零点到被测极点
(起点)的矢量相角
同理入射角:
其余开环有限零点到被测 零点(终点)的矢量相角
m1
n
r 2k 1180o i j
1 GsHs 0
m
GsHs
KPs Qs
K
i 1
n
s
s
zoi
poj
j 1
P s sm bm1sm1 b1s b0
Q s sn an1sn1 a1s a0
于是,特征方程

第四章控制系统的根轨迹法

第四章控制系统的根轨迹法
9
应掌握的内容
180度,0度根轨迹的绘制 参数根轨迹的绘制 增加开环零、极点对根轨迹和系统性能的影响 分析系统的稳定性 分析系统的瞬态和稳态性能 对于二阶系统(及具有闭环主导共轭复数极点的高阶 系统),根据性能指标的要求在复平面上划出满足这一 要求的闭环极点(或高阶系统主导极点)应在的区域。
10
[例4-1]系统的开环传递函数为:Gk (s)
由根轨迹图可知,当0 k 0.858时,闭环系统有一对
不等的负实数极点,其瞬态响应呈过阻尼状态。当 0.858 k 29.14 时,闭环系统有一对共轭复数极点,其瞬 态响应呈欠阻尼状态。当29.14 k 时,闭环系统又有一 对不等的负实数极点,瞬态响应又呈过阻尼状态。
14
[例4-3]控制系统的结构图如下图所示。试绘制以a为参变 量时的根轨迹。
解得 k 5, 5 由图可知当k 5 时直线OB与圆相切,系统的阻 尼比 1 ,特征根为 5 j5 。
2
13
对于分离点 2.93 ,由幅值条件可知
2.93 5 2.93 k1 10 2.93 0.858
对于会合点17.07 ,有
45
17.07 5 17.0 k2 10 17.07 29.14
论过,利用根轨迹可清楚地看到开环根轨迹增益或其他参 数变化时,闭环系统极点位置及其瞬态性能的改变情况。
利用根轨迹确定系统的有关参数 对于二阶系统(及具有闭环主导共轭复数极点的高阶系 统),通常可根据性能指标的要求在复平面上划出满足 这一要求的闭环极点(或高阶系统主导极点)应在的区 域。如下页图所示,具有实部 和阻尼角 划成的左区域 满足的性能指标为:
17
例4-4(续2)
其分离回合点计算如下:
N(s) s2 3s, N ' (s) 2s 3

自动控制原理 第四章.

自动控制原理 第四章.

s1.2 1 1 K1 1 1 2 K
第 4章
根轨迹
根轨迹的基本概念(续)
s1 0 ① K 0 s 2 2
j
2
② K 0.5 s1 s2 1 ③ K 1 s1 , 2 1 j ④ K 2.5 s1 , 2 1 j 2 p2
由于实际控制系统闭环特征方程的系数或为已知
实数,或为根轨迹增益Kg 的函数,所以当Kg 由0→∞
连续变化时,闭环特征根的变化必然也是连续的,所
以根轨迹具有连续性。 系统闭环特征方程的系数仅与系统的参数有关。
对于实际控制系统而言,这些参数都是实数。具有实
系数的闭环特征方程的根为共轭复数的形式,必然对
称于实轴。因而,根轨迹也必然பைடு நூலகம்于实轴对称。
s pi s zj
j 1
n
而 ( s z j ) ( s pi ) ( 2 K 1) ——相角方程
j 1 i 1
m
n
第 4章
根轨迹
根轨迹的基本概念(续)
若s平面上的点是闭环极点,则它与zj 、pi所组成
的相量必定满足上述两方程,而且模值方程与Kg有
第四章 根轨迹法
§4-1 根轨迹的基本概念 §4-2 绘制根轨迹的基本法则 §4-3 广义根轨迹
主要内容
1.根轨迹基本概念和根轨迹方程
2.绘制常规根轨迹的九大法则
3.参量根轨迹与零度根轨迹
第 4章
根轨迹
重点与难点
重 点
1、绘制常规根轨迹的九大法则 2、参量根轨迹与零度根轨迹 3、控制系统根轨迹法分析
§4—2 绘制根轨迹的基本法则
绘制根轨迹的基本法则(续)

控制工程基础第4章 根轨迹法

控制工程基础第4章  根轨迹法

n 3, m 0, 故三条根轨迹趋向处。
渐进线与实轴交点的坐标为
[S]
a
0
1
3
2
0
1
渐进线与实轴正向的夹角为
a -2 -1 0
a
2k
1180
3
60 , 180
六、根轨迹的起始角与终止角
起始角:起始于开环极点的根轨迹在起点 处的切线与水平线正方向的夹角。
终止角:终止于开环零点的根轨迹在终点 处的切线与水平线正方向的夹角。
s4
2
1
s3 -2 s20 s1
s3 180 , s3 2 180 s4 1, s4 2 2
若s4位于根轨迹上,则必满足
幅角条件,即1 2 180,
N
s4一定在 2,0的中垂线MN上。
利用幅值条件可算出各根轨迹上的 K 值。

Gs
K
s0.5s 1
2K
ss 2
K
ss 2
终止于 zb 的根轨迹在终点处
的切线与水平正方向的夹角
j 1
i 1
ib
其它零点到 zb 的向量夹角
七、分离点的坐标
几条根轨迹在[S]平面上相遇后又分开的点, 称为根轨迹的分离点(或会合点)。
分离点坐标的求法:
1 d (G(s)H (s)) 0
ds
2 由根轨迹方程
令:dK 0 解出s ds
n
1 180 p1 z p1 p2
180 116.57 90
206.57
由于对称性
2 206.57
会合点 -3
206.57
p1
[S]
z116.57
2.12
-2 -1 0
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Tuesday, December 16, 2014
总结:
开环零点对根轨迹的影响
1、改变了根轨迹在实轴上的分布; 2、改变了渐近线的条数、倾角和分离点; 3、若增加的开环零点和某个极点重合或距离很 近,构成开环偶极子,则两者相互抵消,因 此,可加入一个零点来抵消有损于系统性能 的极点; 4、根轨迹曲线将向左移,有利于改善系统的动 态性能。
2


离虚轴最近的闭环极点对系统动态过程的性能影响最大,起着决定性 的主导作用,故称它为主导极点。通常,若主导极点离虚轴的距离比 其他极点离虚轴距离的五分之一还小,而且附近又没有闭环零点存在, 则其他极点便可忽略;
4
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闭环零点的存在,可以削弱或抵消其附近的闭环极点的作用。当某零 点Zi与其极点Sj靠得很近时,它们便称为偶极子。它们靠得越近,则Zi 对Sj得抵消作用就越强。这时由Sj所对应得暂态分量很小,可以忽略; 单位反馈系统的开环零点和闭环零点是相同的,在设计时可以有 意识的在系统中加入适当的零点,以抵消对动态过程影响较大的不利 极点,使系统的动态性能获得改善。
作出根轨迹图:
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8
根轨迹与虚轴的交点为 s1, 2 j 2 ,对应的kc=6。 • 当K=3时,系统处于临界稳定状态(等幅振荡); • 当K>3时,有两条根轨迹进入S右半平面,系统不稳定; • 当K<3时,三个闭环极点全在S平面左半部,系统稳定。
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cos60 0.5 n (0.33) 2 (0.58) 2 0.667
超调量:
系统在单位阶跃信号作 用下的性能指标为:
%=e

1 2
e
0.5
1 0.5 2
16.3%
调整时间: 4 4 ts 12( s ) n 0.5 0.667
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开环极点对根轨迹的影响
1、改变了根轨迹在实轴上的分布; 2、改变了根轨迹的分支数; 3、改变了渐近线的条数、倾角和分离点; 4、根轨迹曲线将向右移,不利于改善系统的动 态性能。
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17
开环不稳定系统和条件稳定系统
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解: 该系统的特征方程式为: s(s 1)(Ts 1) k 0 等效变换得:
s 2 (Ts 1) s(Ts 1) k
写成标准形式为:
s 2 (Ts 1) 1 s(Ts 1) k
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通过改造根轨迹改善系统的品质
系统根轨迹的形状、位置决定于系统的开环传递函数的 零、极点。因此,可通过增加开环的零、极点来改造根轨迹, 从而改善系统的品质。
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12
例:已知某系统开环传递函数为 k G( s) H ( s) s( s 1) 若给此系统增设一个开环极点(p=-2),或增设一 个开环零点(z=-2)。试分别讨论对系统根轨迹和 系统动态性能的影响。 k 解:附加极点后: G ( s) H ( s) s( s 1)(s 2) 附加零点后: G( s) H ( s) k ( s 2)
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参数根轨迹和一般根轨迹一样,只能确定控制 系统闭环极点的分布。
例:已知某系统开环传递函数为 k G( s) H ( s) s(s 1)(Ts 1)
其中参数 k、T已确定,而参数 (时间常数)为待定。 试绘制以待定参数 为可变参数的参数根轨 迹。
注意:
后两步可能不存在;
在判断大致形状时,需知道根轨迹的支数、连续性和对称性。
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3
闭环零、极点的分布与系统的阶跃响应的关系

要求系统稳定,则系统的全部闭环极点均应为于S平面左半部; 要求系统快速性好,则闭环极点均应远离虚轴,以便阶跃响应中的每 个分量都衰减的快; 由二阶系统的分析可知,共轭复数极点位于 45°线上时,其对应的 阻尼比 2 cos45 0.707 为最佳阻尼比,这是系统的平稳性与快速性都比较理想。超过45°线, 则阻尼比减小,振荡加剧;
按照以前讲过的规则,绘制出根轨迹图
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24
从根轨迹图可知:
若使系统稳定,待定参 数 的取值范围是
T 0 kT 1
注意:根轨迹中将有一 个分支起始于无限极点
p3
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25
取=0.02
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10
分析




当0≤K≤0.192(根轨迹的分离点对应的K值)时,闭环极点 均为负实数,系统阶跃响应为非周期过程,且由于最靠近虚 轴的实数闭环极点离开虚轴向左移动,所以系统的调整时间 ts逐渐减小。 当0.192<K <3时,闭环极点有一对实部为负的共轭复数。 阶跃响应为衰减振荡过程。由于根轨迹移向虚轴,响应衰减 渐慢。 K=3时,闭环极点有一对在虚轴上,阶跃响应为等幅振荡过 程。 K>3时,两条根轨迹进入S平面右半部分,系统不稳定,阶 跃响应为发散振荡。

以上结论为我们利用根轨迹分析或设计系统提供了 主要的依据。
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5
利用主导极点估算系统的性能指标
由于主导极点在动态过程中起主要作用,因此, 计算性能指标时,在一定的条件下,就可以只考虑主 导极点所对应的暂态分量,忽略其余的暂态分量。将 高阶系统近似看作一阶或二阶系统,直接应用第三章 中计算性能指标的公式和曲线。
系统开环传递函数的极点有一个或一个 以上在S右半平面,系统开环是不稳定的。此 类系统闭环后是否稳定,这要看闭环特征根 的分布情况,根轨迹法可以解决这一问题。
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18
例:已知某系统开环传递函数为
k ( s 1) G( s) H ( s) s( s 1)(s 2 4s 16)
第四节 控制系统根轨迹分析
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1
前面学习了根轨迹的基本概念和绘制基本准则(性质), 这里将手工绘制控制系统根轨迹的步骤罗列如下: 标注开环极点“ “ ”; ”和零点○ 确定实轴上的根迹区间; 画出n-m条渐进线。其与实轴的交点和倾角分别为:
(2k 1) ; , k 0,1,2,3... nm nm 计算极点处的出射角和零点处入射角: 出射角 (2k 1) (从其他极点到该极点的 矢量幅角 )
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20
参数根轨迹
定义:前面所讲到的绘制根轨迹一般以开环 增益K作为参变量。其实,绘制根轨迹时,可 变参数可以是控制系统开环传递函数的任意 参数(如某一待定系数或校正元件的时间常 数等)。为了与以开环增益K作为可变参数的 根轨迹相区别,我们称非开环增益系数为可 变参数绘制的根轨迹为参数根轨迹。
绘制系统的根轨迹,并讨论系统的稳定性。 解: 开环有四个极点:
p1 0,p2 1,p3,4 2 j 2 3
P2位于S平面右半部,所以属于开环不稳定系统。
按照绘制根轨迹图的一般规则,绘制出该系统的根轨迹:
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从根轨迹图可知:
起始于开环极点P1(=0)、 P2(=1)的两条根轨迹分支 的大部分轨迹位于S平面的右 半部,只有当23.3<k<35.7时, 其根轨迹才在左S平面内。因 此该系统稳定工作的条件是 23.3<k<35.7,而当k<23.3或 k>35.7时,系统都是不稳定的。 具有这种性质的系统称为条件 稳定系统。
j i
p z
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(从各个零点到该极点的 矢量幅角 ) 入射角 (2k 1) (从各个极点到该零点的 (从其他零点到该零点的 矢量幅角 )
矢量幅角 )
2
计算根轨迹和虚轴的交点)D(s)- N(s)D' (s) 0求解
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21
绘制参数根轨迹的规则与绘制一般根轨迹的规则完 全相同。只是在绘制参数根轨迹之前,需将控制系 统的特征方程进行等效变换,写成符合于以非开环 增义系数的待定参数k′为可变参数时的标准形式, 即: M (s) 1 k N (s) 其中M ( s ), N ( s )都是复变量s的多项式; k 是可变参数,而且它们必须满足方程: N ( s )+k M ( s )=1+G ( s ) H ( s )=0
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6
例:已知某系统开环传递函数为
K G( s) H ( s) s( s 1)(0.5s 1)
其中H(s)=1,试用根轨迹分析系统的稳定性,并计算 K=0.525时的暂态性能指标。 解: K k
G( s) H ( s) s( s 1)(0.5s 1) s( s 1)(s 2)
s( s 1)
依据根轨迹的绘制规则,绘出根轨迹
Tuesday, December 16, 2014
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