数显卡尺内校标准
深度游标卡尺内校规程
5.5.2.校验时，量块应分别置于离尺身近端和远端，在尺框紧固与松开两种状态下进行的
5.5.3.示值误差以该点读数与量块尺寸之差确定；
5.5.4.校验方法：接受检尺寸依次将两组量块平行放置在检验平台上，使测量面的长边和
块工作面的长边方向垂直接触，再移动尺身，使其测量面和平板接触。
检定是在尺框紧固和松开两种状态下，把量块分别置于离尺身近端、远端两个位置上进行。
无论尺框紧固或松开，尺框对量块的压力不能太大，应能正常摩擦滑动。
接触时，有微动装置的应使用微动装置。
用放大镜观察读数，所读数值与量块尺寸之差就是被检尺的饿示值误差，且近、远端位置示值之差，应不大于允许的示值误差绝对值的1/2。
5.5.5.对于尺身带弯头的深度尺，将尺身、方向调转后再一次进行示值误差的校验。
6、校验结果出来和校验周期：
6.1.凡经校验符合本规程要求的卡尺，贴合格标签，做好校验记录，才能用于产品检测；不
本规程要求的将进行维修，维修后重新校验仍不符合的将其报废，并在《监视和测量装置管理一览表》上注销，贴报废标签，单独放置，有用之零件在后续维修卡尺时使用；
6.2.校验周期：六个月一次。
内校仪器规范
一．数显/带表卡尺校验规范1.校验范围:0-150mm2.校验周期:半年3.使用之标准件:经外校合格(追溯至国家标准)之块规及带表卡尺。
4.校验环境: 环境温度25℃±5℃、相对湿度50%-80%5.校验步骤:5.1校验前先检查卡尺的外观,及各部件相互作用是否正常。
5.2戴上纯棉手套，用脱脂棉粘高纯度酒精（99.5%或以上）对游标卡尺各部件进行擦拭清洗干净,并用纸吸干。
5.3戴上手套将卡尺卡紧,旋转游标卡尺之刻度盘,让指针指正零位或让显示屏显示零数字。
5.4卡尺校验5.4.1卡尺内爪校验:待校验卡尺两端外侧测爪分别平夹于块规两端之量测面上。
5.4.2卡尺外爪校验:将外校合格的带表卡尺调至校验点,待验卡尺外爪与标准卡尺内爪平行,并紧密接触。
5.4.3卡尺深度校验:将标准块规置于平滑的台面,竖起卡尺,深度针抵住台面,并与块规测试面平行,轻轻滑动卡尺,使卡尺尾部与块规测试边缘紧密接触。
5.4.4正确读取卡尺上的量测读数值,并如实记录于“校验记录表”。
5.4.5实测差值:差值=卡尺读示值-块规标准尺寸.5.4.6每一个校验点测试1次,并分别将结果数值记录下来,然后用实际测量值与允许误差作比较来判定是否符合标准。
5.4.7对于所设定之其它校验点,重复以上5.4.1-5.4.4即可。
5.4.8本公司依块规情况,对卡尺所设定校验点及所用块规值和允许误差值列表如下:5.4.9完成校验后需清洗干净所有用过的仪器,将其恢复原状放回仪器柜内,长时间不用需包一层涂有保护油的纸,以免锈蚀。
5.4.10对校验合格之仪器贴上校验“合格标签”,校验不合格的仪器贴上“停用标签”。
5.4.11各项校验之记录“仪器内校记录表”应存于品质部，保存期限为半年。
二．电子称校验规范1.校验范围: 0-3kg2.校验周期: 半年3.使用之标准件:经外校合格之砝码.4.校验环境: 环境温度25℃±5℃相对湿度:50%-80%5.校验步骤:5.1.校验前先检查电子称表面是否有生锈、按钮灵敏度是否正常。
卡尺校验规范
卡尺使用说明,检测设备校验/管理作业方法
7.0附件:
无
100-200mm±0.03mm200mm以上±0.04mm
带表游标卡尺0.02mm0-100 mm±0.04mm
100-200mm±0.05mm
200mm以上±0.06mm
5.2校验设备
块规一级0-100mm
块规三级100-500mm
5.3准备事项
5.3.1准备标准块规及需校验的卡尺放置于仪校室至少4小时,仪校室
环境温度要求在22±2℃,湿度在65%以下.
5.3.2准备手套.
5.3.3用擦拭纸沾酒精把卡尺清洁干凈.
5.3.4熟读整个校正程序与使用说明书.
5.4注意事项:
5.4.1标准块规及卡尺应轻拿轻放,谨防掉落,随时注意人员设备安全.
5.5校验:
5.5.1外观检查:
无锈蚀,碰伤,镀层完好,刻线及数字均匀清晰.数显卡尺数显窗不得
1
5
5
5
5
5
2
10
10
10
10
10
3
50
50
50
100
100
4
100
100
150
300
300
5
150
200
300
450
500
5.5.5深度校验:
按下表对深度进行校验:
步骤
150Hale Waihona Puke m200mm300mm
450mm
500mm
1
5
5
2
10
10
3
50
50
5.5.6校验结果记录于<<检测设备内部校验报告>>.
内校校准规范
XX（科技）有限公司卡尺校准规范文件编编号：发布日期：实施日期：1、目的对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。
2、规范性引用文件本规范引用下列文件：JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。
3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。
4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见表-1的规定。
表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。
其重合度应符合表-2的规定。
带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。
表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。
必要时用工具显微镜校准。
5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。
5.2示值变动性5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读数。
示值变动性以最大与最小读数的差值确定。
5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。
计量器具内校检定规程-通用卡尺
本规程适用于分度值为0.01mm，0.02mm，0.05mm，0.10mm，测量范围0~2000mm各种规格游标、带表、或数显卡尺、I型深度卡尺的检定和检查
二、参考标准
通用卡尺JJG 30-2012国家计量检定规程
三、示值误差和细分误差
四、检定.3各部分相对位置
（以上检定项目的详细技术要求及方法，可参考通用卡尺JJG 30-2012国家计量检定规程）
五、检定条件
5.1检定室内温度（20±5）℃5.2检定室内相对湿度不大于80%
5.3检定前，应将卡尺及量块等检定设备置于平板或木桌上
六、检定设备
用3级或5等量块测量
七、测量点的分布
八、检定周期
检定周期根据实际使用的具体情况确定，一般不超过1年
内校校准规范
XX（科技）有限公司卡尺校准规范文件编编号：发布日期：实施日期：1、目的对内部的卡尺校准，确保准确度和实用性保持完好。
2、规范性引用文件本规范引用下列文件：JJG 30-2012 通用卡尺检定规程。
3、范围本规范适用于公司内部分度值或分辨力为：0.01mm,0.02mm,0.05mm;测量范围：0～500mm，各种规格游标卡尺、带表卡尺、数显卡尺的首次校准、使用中校准和后续校准，其它类型卡尺也可参照执行。
4、校准标准外校合格的标准量块5、环境条件5.1 校准室内温度（20±5）℃，恒温时间不少于2h.5.2 校准室内湿度不超过80%RH5.3校准前，应将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于平大理石平台上或木桌上，其平衡温度时间见表-1的规定。
表-1 平衡温度时间6、技术要求6.1零值误差通用卡尺量爪两测量面相接触（深度通用卡尺的主标尺基准面和测量面在同一平面）时，由表上的“零”标记和“尾”标记与主标尺相应标记应相互重合。
其重合度应符合表-2的规定。
带表卡尺部超过不超过分度值的1/2，数显卡尺不超过0.01mm.6.3示值误差应符合表-3的规定，带深度测量杆的卡尺，深度测量杆在20mm点的示值误差应不超过1个分度值。
表-3 通用卡尺的示值误差5、校准方法5.1零值误差;5.1.1 移动通用卡尺的尺框，使通用卡尺的量爪两外侧面接触，分别在尺框紧固和松开的情况下，用目力观察“零”标记和“尾’标记与主标尺相应标记的重合度。
必要时用工具显微镜校准。
5.1.2 对于深度通用卡尺，将尺框基准面与尺身测量面同时与大理石平台接触。
5.2示值变动性5.2.1在相同条件下，移动尺框，是电子数显卡尺或带表卡尺两外测量面接触，重复测量10次读数。
示值变动性以最大与最小读数的差值确定。
5.3示值误差5.3.1川3级或5等量块校准 5.3.2受校点的分布：对于测量范围在300mm 内的卡尺，不少于均匀分布3点，如测量范围为（0～150mm ）的卡尺，其受教点为30mm;60mm;90mm;如测量范围为（0～300mm ）的卡尺，其受校点为 101.30mm ；102.60mm ；291.90mm ；对于测量范围大于300mm 的卡尺，不少于均匀分布6点，如测量范围为（0～500mm ）的卡尺，其受校点为 80mm ；161.30mm ；240mm ；321.60mm ；400mm ；491.90mm.根据实际使用情况可以适当增加受校点位。
数显卡尺的校准方法
数显卡尺的校准方法嘿，朋友们！今天咱来聊聊数显卡尺的校准方法。
这数显卡尺啊，就像是我们测量世界的小魔杖，可要是它不准了，那可就麻烦啦！咱先说说为啥要校准它。
你想想啊，要是它量出来的尺寸一会儿长一会儿短，那我们的工作不就乱套啦！就好像你要去一个地方，地图一会儿指东一会儿指西，你还能找得着北吗？所以啊，校准数显卡尺那是相当重要滴！那怎么校准呢？别急，听我慢慢道来。
首先呢，你得找一个标准的量块，这就好比是一把尺子的尺子，它得非常精准才行。
然后把数显卡尺轻轻放在量块上，就像给它找了个安稳的家。
这时候，你得瞪大眼睛，仔细看看卡尺显示的数值和量块的标准值是不是一样。
如果不一样，那可就得调整啦！这就像是给走偏了的小马车拉回正道一样。
哎呀，你说这校准是不是挺有意思的？就跟我们平时整理自己的东西一样，得把它们都归置得整整齐齐，规规矩矩的。
还有啊，校准的时候可不能马虎，得认真仔细，一个小细节都不能放过。
不然，等你用它量东西的时候才发现不准，那不就傻眼啦！就像你做饭的时候盐放多了，等吃的时候才发现，那可就晚咯！而且啊，校准也不是一劳永逸的事儿。
就像我们的鞋子穿久了会磨损一样，数显卡尺用久了也可能会不准，所以要定期给它来一次“体检”。
你想想，要是你一直穿着一双歪了的鞋子走路，那能舒服吗？能走得稳吗？同理，数显卡尺要是不准了，咱的工作能顺利进行吗？所以啊，大家可千万别小瞧了这数显卡尺的校准。
它就像是我们工作中的小卫士，守护着我们测量的准确性。
每次校准的时候，都要怀着一颗敬畏的心，把它当成宝贝一样对待。
总之呢，数显卡尺的校准方法虽然不复杂，但却非常重要。
大家一定要记住哦，别到时候因为卡尺不准而闹出笑话来。
希望大家都能和自己的数显卡尺成为好朋友，让它为我们的工作和生活助力！这就是我要告诉大家的数显卡尺校准方法啦，是不是很简单易懂呀？。
卡尺内部校准规范
校点为101.20,201.50,291.80mm。
5.5 内量爪的校准：先将一块尺寸为20mm的3级或5等量块的长边夹持于两外量爪测量面之间，紧固螺
钉后,该量块应能在量爪测量面间滑动而不脱落。用测力（6-7)N的外径千分尺测量内量爪三次，
取平均值，记录在《内校记录表》中。
5.6 示值误差:历次测量值与标准值之差，均要求在允许误差范围内,判断校准合格。对于分度值为
盖红色受控文件印章为受控文件,若印章不是红色则为非受控文件,请只使用受控 印章 文件.
文件编号:WI-QA-0005
标题:卡尺内部校准规范
版本:
A1
页数:
2/2
生效日期:2006-10-25 5.4 用同样的方法，在整个量程上对其它的受校点分别测量三次,再取平均值记入《内校记录表》内 。 对于测量范围在300mm内的卡尺,受校点不少于均匀分布3点,如测量范围为(0-300mm)的卡尺,其受
0.01或0.02mm的卡尺:尺寸范围为0-150mm,允许示值误差±0.02mm;尺寸范围>150-200mm,允许示
值误差为±0.03mm;尺寸范围>200-300mm,允许示值误差为±0.04mm。
6.相关记录《ຫໍສະໝຸດ 校记录表》3.校准用基准件 外校合格的标准量块和数显外径千分尺。
4.校准条件 4.1 温度:20±5℃，湿度：≤80%RH。 4.2 校准前,将被校卡尺及量块等校准用设备同时置于木桌上平衡温度时间2H。
5.校准步骤 5.1 检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，表盘卡尺表头的指针是否完好，有无松
动，刻度是否清楚，推动表头是否平稳、平滑、数显卡尺显示屏是否完好。 5.2 示值的变动性：移动尺框，使卡尺的两外测量面接触，重复测量10次并读数，以最大与最小读 数的差值确定,带表卡尺不超过分度值的1/2;数显卡尺不超过0.01mm。 5.3 取一块20mm基准量块进行度量，量块被测量面要干净、平整。连续测量三次，取平均值记录在 《内校记录表》中，校准时每一受校点应在量爪的里端和外端两位置校准，量块工作面的长边和 卡尺的测量面长边应垂直。
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3. 要求
序号
1
2
3
4
5 f ）检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。
4）数字显示器的示值稳定性：
检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。
3）示值变动性：
a ）移动尺框，使电子数显卡尺量爪两外测量而接触；
b) 每个校准值必须取量爪里端或外端两个位置进行检定
c ）重复测量3次并读数；
d）示值变动性以最大与最小读数的差值确定；
e ）数显卡尺不超过±0.01mm ；
c ）检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。
2）各部位相互配合：
a) 尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象。
数字显示应清晰、完整。
b) 无黑斑和闪跳现象，各按钮功能稳定，工作可靠
c) 紧固螺钉的作用应可靠。
微动装置的空程应不超过1/2转；
d) 检定结果以合格与不合格记录于《卡尺内校履历表》上。
4.2校正中：标准件校验法。
4.3校验标准工具：国家认可的实验室校验合格的标准件卡尺专用量块。
4.4 校正项目步骤
1）外观：
a ）仔细观察卡尺，卡尺表面应镀层均匀，标尺标记应清晰，表蒙透明清洁。
不应有锈蚀，碰伤，毛刺，镀层脱落及明显划痕，有无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷；
b ）使用中和修理后的卡尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷；
数字显示器的示值稳定性目视示值误差量块
4 校正步骤
4.1 校正前：用防锈油除去卡尺上的锈并清洁油污及灰层。
外观目视各部分相互作用目视示值变动性目视3.1校正环境：温度20±5℃，湿度≤80%RH
3.2校正引用参考文件：JJG 30-2002（国家通用卡尺检定规程）
3.3校正人，必需有一定资质者
3.3校正项目
校正项目主要校正方式/设备1. 目的
为了保证公司内部用于生产通用卡尺(即数显游标卡尺）的准确性,使其性能满足测量及测试要求
2. 范围
适用于本厂所用来测量产品的通用卡尺(即数显游标卡尺）
测量范围(mm)
0.050.1
0 ~ 1500 ~ 300
±0.026 校验结果处理
对所有项目的都在要求范围内的，在卡尺适当位置（或卡尺盒上）贴上仪器校验合格标签对同一卡尺中有部分项目的不在要求范围内的，能进行维修的可适当维修，维修后的仪器需重新进行校验。
不能维修的可进行降级使用或部分使用，并在《卡尺内校履历表》上注明及知会使用者或保管者。
±0.05±0.085 判定标准
4.6.1在保证量测准确度的情况下，可依此判定该量规仪器的示值误差是否可以达到允收标准，即可以追溯到国家标准：
分度值 / 分辨率 (mm)0.01，0.02允许误差
±0.01 8）对量块规格值与测得的平均值进行比较并依判定标准进行判定
4.5.3校正后
4.5.3.1给被校正卡尺进行防锈保养，并放于盒内。
4.5.3.2给量块进行防锈保养，并整齐放于盒内。
4.5.3.3把校正合格的发给使用者或保管者。
6）计算每一规格重复测量的平均值
7）在对量块取用时须带上手套，且轻拿轻放
c ）每一受检点值用卡尺重复测量3-5次，并记录测量数据的平均值于《卡尺内校履历表》上；
d ）测量时应在螺钉紧固和松幵两种状态下进行。
无论尺框紧固与否，卡尺的测量面和基准 5）示值误差校验：
a ）受检点的分布：见卡尺受检点分布。
b ）检定时每一受检点应在量爪的里端和外端两位置检定，量块工作面的长边和卡尺测量面。