卡尺内校说明
卡尺内校 SOP1
SOP-QR-104三阶文件生效日期2012.06.19 编号SOP-QR-104版本/次A/1卡尺内校作业指导书编制人曲海涛审核人邱丰批准人张述强日期2012.06.19 日期2012.06.19 日期2012.06.19文件修改记录文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期A0 首次发行2012.06.19卡尺内校作业指导书版本/次A/11. 目的1.1 确保校准结果的结果的准确性，使校准作业规范化。
2. 范围2.1 本标准适用于本公司现有各种类型之卡尺，包括高度尺、游标卡尺、戴表卡尺、电子数显卡尺。
3. 职责3.1 卡尺保管人：负责所属卡尺维护和保养。
3.2 品保部：卡尺专用量块的维护和保养。
3.3校验人：卡尺内校结果的记录和校验标识标签的确认。
4. 作业内容说明：4.1 卡尺结构：4.1.1游标卡尺结构如下图所示。
4.1.2 电子数显卡尺结果如下图所示。
4.1.3 戴表卡尺结构如下图所示。
卡尺内校作业指导书版本/次A/14.2 校验/检定条件：4.2.1 室内温度：25±3℃4.2.2 相对温度：65±15％4.3 校验/检定用主要标准器具:成都产二级量块.4.4外观检查4.4.1 检查方法：目检与试验；4.4.2 卡尺表面应无锈蚀，碰伤或其它缺陷，刻度和数字应清晰、均匀；4.4.3 尺框沿尺身移动应平稳，不应有阻滞及明显晃动现象，紧固螺丝的作用可靠。
4.5显示值校验/检定4.5.1所卡尺校正外卡任意选五个点校正，第五点须是该卡尺的最大量程范围，所卡尺校正内卡任意选三个点校正，第三点须是该卡尺的最大量程范围. 所卡尺校正深度，任意选四个点校正，第四点须是该卡尺深度的最大量程范围。
所有卡尺必须校正并须校正卡尺的外卡，内卡，深度。
4.5.2 误差:4.5.2.1 所有游标卡尺、带表卡尺在100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±0.02mm；4.5.2.2 数显卡尺100mm以内（含100mm）受检误差为±0.02mm，受检点在100mm以上误差为±0.02mm。
卡尺内校规范
四.校正方法
4.1将需要校正的卡尺先清洁灰尘,然后合拢对零。
4.2分别用卡尺测量标准量块,测量项目有内径/外径/深度.每个测量项目分别取三个测量点测量,每个测量点分别测量五次,观看卡尺所测量值及平均值与标准值是否在最大允许误差范围内。
4.3校正完毕,取下量块,合好卡尺,做好相关测量校正记录。
五.注意事项
5.1测量、计量、试验仪器应注意轻拿轻放,避免摔落、碰撞影响仪器精密度与准确度。
5.2定期维护仪器清洁及保养,定期给仪器打防锈油,避免仪器生锈影响仪器使用寿命。
一.目的
规范仪器实施管理与定期校验.确保其精密度与准确度靠性符合国家及国际标准。
二.适用范围
适用于本公司的卡尺内校测量作业。
三.校准范围
仪器名称测量项目测量范围最大允许误差
卡尺内径示值测量0～150㎜/ 0～200㎜±0.02㎜/±0.03㎜
外径示值测量0～150Байду номын сангаас/ 0～200㎜±0.02㎜/±0.03㎜
通用卡尺内校标准
通用卡尺内校标准1.目的：通过对卡尺规定其校正方法和周期，确保装置的监视和测量结果准确有效。
2.范围：适用于本厂所用来测量产品的通用卡尺。
3.职责：实验中心负责对卡尺的内部校准。
4.要求：4.1校正环境：温度20±5℃，湿度≤60%RH4.2校正时机：依校准计划（1年1次）或《监视与测试装置管理程序》中规定内容执行校正；4.3校正引用参考文件：JJG 30-2002（国家通用卡尺检定规程）4.44.5校正步骤4.5.1校正前：用防锈油除去卡尺上的锈并清洁油污及灰层。
4.5.2校正中：标准件校验法。
4.5.2.1校验标准工具：经国家级或国家认可的实验室校验合格的标准件卡尺专用量块。
4.5.2.2校正项目步骤:1）外观：a） a.仔细观察卡尺，卡尺表面应镀层均匀，标尺标记应清晰，表蒙透明清洁。
不应有锈蚀，碰伤，毛刺，镀层脱落及明显划痕，有无目力可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其它缺陷；b.使用中和修理后的卡尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷；c.检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
2）各部位相互配合：a）a.尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象。
数字显示应清晰，完整，无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能稳定，工作可靠；b. 紧固螺钉的作用应可靠。
微动装置的空程应不超过1/2转；c. 检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
3）示值变动性：a.移动尺框，使游标卡尺或带表卡尺或电子数显卡尺量爪两外测量而接触；b.重复测量10次并读数；c.示值变动性以最大与最小读数的差值确定；d.带表卡尺和游标卡尺不超过分辨率的1/2，电子数显卡尺不超过0.01mm；e.检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
4）数字显示器的示值稳定性：a.在测量范围内的任意位置紧固尺框，观察1h内显示值的变化不超过0.01mm；b.检定结果以合格与不合格记录于《通用卡尺内校记录表》上。
卡尺 内校指导
文件编号
标准文件
版别
A/0
文件名称:“卡尺”内校指导
页码
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1、校正目的: 说明卡尺校正之程序,确保卡尺在使用期间能维持其准确度。
2、校正范围: 凡本公司所有用于生产及来料质量判定的卡尺（带表卡尺、数显卡尺）均属此范围。
3、校正权责: 计量组。
4、校正环境：温度（20±5）℃；湿度（60±20）％。
10、准备工作：
10.1 应用清洁液清洗平台,再将待校件与量块标准件放置平台上准备清洁。
10.2 以棉花棒沾无水酒精清洁待校件与量块标准件及辅助器具表面,再用干净白布擦干净。
10.3 清洁完毕之后应将待校件与量块标准件放置于平台上至少30分钟以上，使标准件与待校件及校正环境温度同温；校正前应先戴上细纱手套。
a.依校正点拿取标准量块与卡尺直接测量。
b.长度为0-150mm的卡尺的校正点可选择: 5mm、 10mm、20mm、 40mm、60mm、80mm、100mm、130mm、等，每个测量校验点测量2次后取其平均值，并把测量结果记录于校正报告内。
c.长度为0-200mm的卡尺的校正点可选择: 10mm、20mm、40mm、60mm、80mm、100mm、150mm、180mm、等，每个测量点测量2次后取其平均值，并把测量结果记录于校正报告内。
11、校正内容:外观、归零、长度(包括外径、内径、深度)。
11.1外观检查：
卡尺表面镀层均匀、标尺上标记刻度应清晰，无生锈碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，表
盘刻度应清晰，卡尺外部及内外径刀口是否弯曲变形，紧固螺丝是否能牢固，内外径测量面
是否完全密合，尺框沿尺身移动应手感平稳，不应有阻滞或松动现象，数字显示应清晰、完
1游标卡尺内部校准规程
1目的：对游标卡尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
2范围：适用于普通游标卡尺及带表游标卡尺的内部核准。
3校验基准：外校合格的量块。
4环境条件:室温5校验步骤5.1检查卡尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，带表卡尺表头的指针是否完好，有无松动，刻度是否清晰，推动表头是否平稳、平滑。
5.2调校零位，或使指针对准零点。
5.3取2～3块任意基准量块进行度量，量块被测面要干净、平整。
每块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内。
允许误差范围根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm。
5.4测内径接触面磨损程度：取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，然后移动表头，使卡尺上面的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，取平均值。
测量值与标准值根据不同卡尺的精度分为±0.01mm、±0.02mm，将其平均值记录在《检测设备校验记录表》中。
5.5可根据不同量程的卡尺选用不同的基准量块或组合进行校准；5.6历次测量值与标准值之差，均在允许误差范围内，判校准合格；6校准周期:每年一次7相关记录《检测设备校验记录表》1目的：对千分尺进行内部校准，确保其准确度和适用性保持完好。
：适用于千分尺的内部校准。
3校验基准：外校合格的标准量块。
4环境条件：室温2范围5校验步骤5.1检查千分尺测量接触面是否平整、干净、无污渍、锈迹，刻度是否清晰。
5.2扭动千分尺螺栓调校零位，使刻度对准零点。
5.3根据不同量程的千分尺选择适宜的标准量块3～4块，（可对标准量块进行组合测量）。
每块量块连续测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内，将其平均值记录在《检测设备校验记录表》内。
允许误差范围为±0.01mm。
5.4外径千分尺的校验：任意取5-6块标准量块，取两块量块（构成测量的基准面）夹紧一块量块成“H”型，扭动螺栓使外径千分尺的测量端张开后靠紧两基准面进行读数，每块测量三次，每次测量值均应在允许误差范围内。
卡尺内部校准作业指引
卡尺内部校准作业指引本指引适用于公司内所有内部校准的线卡、表卡及数显卡尺。
1标准仪器：精密量块/已外校合格千分尺2校准环境： T=（20±5）℃ R.H=(50±25)%3校准项目: 游标卡尺测量长度之准确度。
4允许误差（单位/mm）:5校准方法:5.1卡尺表面应镀层均匀、标尺标记应清晰，透明清洁。
不应有锈蚀、碰伤、毛刺、镀层脱落及明显划痕，无可见的断线或粗细不匀等以及影响外观质量的其他缺陷。
5.2使用中和修理后的卡尺，允许有不影响使用准确度的外观缺陷。
5.3尺框沿尺身移动应手感平稳,不应有阻滞或松动现象。
数字显示应清晰、完整，无黑斑和闪跳现象。
各按钮功能稳定、工作可靠。
5.4将游标卡尺外侧爪密合，将卡尺朝向光源，两爪间不得有光线透过，内测量爪间有微光透出。
5.5检视针盘或显示器的器视值是否归零，如未归零应予以调整归零，并再重复前一动作检视是否有误差。
5.6针盘式游标卡尺，指针归零前误差如超出10格以上表示该卡尺已失效，应予以标识暂停使用并送修。
5.7清洁工作台，将待校件及量块用无水酒清清洁后放置于平台上一小时，使之同温。
选取五块量块（量程段应分布均匀）来校验游标卡尺，每点校验两次，取其平均值进行记录，内量爪可用经校验合格的千分尺来校验。
5.8以上校准合格，贴上校准合格标签，并填写校准记录，如校准不合格，贴上停止使用标签并及时送修，在送修后应重新校准。
送修及校正记录应保存于该卡尺的履历表中。
6校准周期：该校准周期为3-6个月（具体周期依实际情况定）。
卡尺内校作业指导书
修後的儀器需重新進行校驗.不能維修的可進行降級使用或部分使用 ,並在校 驗報告上注明及知會使用者或保管者. 7.3 對同一卡尺中所有項目 都不在要求範圍內的,且不能內修的先貼上暫停使用標 簽 ,再 報 上 級 進 行 外 修 或 報 廢 處 理 . 8 其它: 在 校 驗 中 在 確 保 量 測 准 確 度 情 況 下 ,由 校 驗 員 自 行 根 據 以 上 校 驗 方 法 來 決 定 校 驗 的
6.2.1.2.5 被檢驗儀器的示值誤差校驗 :
1) 受檢點的分布:對於測量範圍在 300mm 內的卡尺,不少於均勻分布 3
點,對於測量範圍大於 500mm 的卡尺,不少於均勻分布 6 點.
2) 檢定時每一受檢點應在量爪的里端和外端兩位置檢定 ,量塊工作面
的長邊和卡尺測量面長邊垂直.
3) 每一受檢點值用卡尺重復測量 3-5 次,並記錄測量數據於量規儀器
6.3.4 把 校 正 合 格 的 發 給 使 用 者 或 保 管 者 .
6.4 判定標准.
6.4.1 在 保 証 量 測 准 確 度 的 情 況 下 ,可 依 此 判 定 該 量 規 儀 器 的 示 值 誤 差 是 否 可
以 達 到 允 收 標 准 ,即 可 以 追 溯 到 國 家 標 准 :
分 辯 率 (mm)
可另行制定偏差即允差標准.
7 校驗結果處理:
7.1 對所有項目的都在要求範圍內的,在卡尺適當位置貼上儀器不在要求範圍內的 ,能進行維修的可適當維修 ,維
文件名稱:卡尺內校操作指導書
文件編號: 制訂日期:2021/5/20
制訂部門: 品保部
版本:C
頁次:3/3
6.2.1.2.3 示值變動性:
1)移 動 尺 框 ,使 游 標 卡 尺 或 帶 表 卡 尺 或 電 子 數 顯 卡 尺 量 爪 兩 外 測 量 而
卡尺千分尺内校作业指导书
文件编号
GXQ-GM-QI007
版本
1.O
制定日期： 2013-06-06 生效日期： 2013-06-08
制定
核准
A: 卡尺
刀口内测量爪
图一
表盘
制动螺钉
主尺
图二
外测量爪
微调
深度尺
图四
操作内容
1. 以无尘布沾上酒精清洁工作台面，卡尺各部位及卡尺专用量
块两侧面，再以清洁无尘布擦拭清洁。
卡 2. 清洁完毕之待校件与相匹配卡尺专用量块置放于平台上至少 10-30分钟小
司进行校正并提供证书。 4. 校正完成合格时 , 应于卡尺适当位置贴校
正合格标签。 5. 校正完成后，将 2级卡尺专用量块用无尘 布
擦拭干净，并在表面喷 WD-40防锈润滑剂 ，置于防潮箱中存放。
6. 数显卡尺校正前以清洁无尘布擦拭量块量测面与卡尺测量面 , 再依序拿取
相匹配的
专用量块以卡尺直接量测。
7. 外测校正点参见下图，每一校正点读取值 , 应予以记录于《卡尺 / 千分尺
校正记录
表》内。
图三 图六
千分尺图片、手套、 酒精图片略
8. 各部位校正点校正结果之误差值应如下图所示 , 如有超出标准时 , 应予以 禁用标签停止料
待检卡尺 ( 图一 ) 、千分尺
1把
2级卡尺专用量块 ( 图二）
1盒
大理石平台或专用玻璃
1块
温湿度计
1个
酒精
1瓶
无尘布
1-3 块
手套
1副
注意事项
1. 实施前应检视校正环境 , 是否维持在温度 20 ±5℃，湿度 40%R～H 70%RH图( 三 ) 。
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三阶文件生效日期2012.04.15 编号SOP-QR-122版本/次A/0
卡尺内校作业指导书
编制人黄民国审核人批准人
日期2012.04.15日期日期
文件修改记录
文件编号修改版本修改页数修改内容描述修改人批准人生效日期SOP-QR-122A0 / 首次发行/
XRF检测样品拆分原则版本/次A\0
1.0目的：
保证计量仪器的有效使用，确保产品实现过程的质量。
2.0适用范围；
本公司所有卡尺。
3.0职责：
品管部计量管理人员负责计量仪器的校准工作。
相关使用部门配合计量管理人员进行校准工作。
4.0校准方法：
4.1校准项目及要求﹕
量块（外校有效期内）被检卡尺
4.2校准条件与设备
4 .2.1校准条件
环境温度:15~25℃范围内,温度波动不超过±3℃/6h﹔湿度:不大于75%RH﹔. 4.3校准过程
4.3.1外观﹕采用目视观测。
4.3.1.1目测外部是否有弯曲变形。
4.3.1.2检验卡尺游尺与本尺之间是否畅顺
4.3.1.3 归零后检查卡尺内外量量爪测量面是否完全密合
4.3.1.4 检查带表卡尺表针运行是否平稳、顺畅
4.3.1.5 检查数显卡尺显示是否清晰
4.4基本误差校准
4.4.1选取合适的标准量块分用被检卡尺测试量，记录测量结果。
4.4.2 选取10mm量块用深度尺测量并记录测量结果
4.5. 测量结果判定
4.5.1依下表判断测量结果.
卡尺内型允许误差
游标卡尺±0.06 深度±0.02
带表卡尺±0.04
数显卡尺±0.04
XRF检测样品拆分原则版本/次A\0
4.5.2判断合格则贴合格标签，不合格时依具体情况暂停使用或降级使用。
5.0校准记录
《仪器校验记录表》。