回损测试方法
iec标准中apc的光纤连接头回损
IEC标准中APC的光纤连接头回损评估一、引言光纤连接头作为光纤通信系统中重要的组成部分，其性能直接关系到光纤通信系统的传输质量和稳定性。
在传统的光纤连接头中，为了减小反射损耗，通常采用平端连接头。
然而，由于光的折射特性，平端连接头在连接时会产生一定的反射损耗，从而影响系统的传输性能。
为了克服这一问题，新型的倒角连接头（Angled Physical Contact，简称APC）应运而生。
在IEC标准中，对APC连接头的回损进行了严格的评估和要求，本文将对IEC标准中APC连接头回损评估进行全面探讨。
二、APC连接头的工作原理APC连接头是在平端连接头的基础上进行了改进，其最大特点是在连接头端面采用了一定的倾斜角度。
这一设计可以有效地减小连接头端面的反射损耗，提高光纤连接的质量。
在实际应用中，APC连接头主要应用于要求更高传输性能的光纤通信系统中，例如光纤传感、军事通信等领域。
三、IEC标准中对APC连接头回损的要求在IEC标准中，对于光纤连接头的回损有着严格的评估要求。
具体来说，IEC标准在光纤连接头的设计、生产和测试等方面都进行了详细的规定，以确保连接头的质量和性能。
对于APC连接头来说，IEC标准要求其回损应低于一定的数值，以保证连接头的反射损耗在合理范围内，从而不影响整个光纤通信系统的传输性能。
四、APC连接头回损评估方法在评估APC连接头的回损时，需要做一系列的测试和分析。
根据IEC标准，主要的评估方法包括插损测试、回损测试和视觉检查。
其中，插损测试用于评估连接头的传输损耗，回损测试则用于评估连接头的反射损耗。
通过这些测试方法，可以全面地了解连接头的性能，并进行有效的评估和比较。
五、个人观点和理解作为一名光纤通信领域的研究人员，我深知连接头的质量对光纤通信系统的重要性。
在实际的工程应用中，我们经常会遇到连接头的性能不佳导致系统传输质量下降的情况。
对于连接头的回损评估是十分重要的。
通过严格遵守IEC标准中对APC连接头回损的要求，并运用有效的评估方法，可以保证连接头的质量和性能，从而提高整个光纤通信系统的传输质量和稳定性。
光器件的回波损耗测试技术
& 结束语
据此方法在 49/::! 回波损耗测 试仪进行试 验 ! 实际 达 到 的 典 型 技 术 指 标 如 图 : 所 示 ! 测 量 值 小 于
!"$ 光纤耦合器偏振敏感性的影响
由于光纤的移动及机械拉伸等均会改变单模光 纤中的偏振状态 ! 偏振状态的改变又将影响耦合器的 耦合比 !从而影响测试准确度 %
部可调谐激光光源 # 它就具有执行波长扫描回波损耗 的测试能力 " 设计的关键在于使用一个额外的功率探测器作 为光源输入功率的监测器 # 它同时记录输入光功率和 返回光功率 # 用于回波损耗测试值的校准 " 这样设计
收稿日期 &!""#="?=". 作者简介 & 王峻宁 男 #-@A- 年生 # 硕士在读 图 ! 回波损耗测试方案 研究方向 & 光电测量仪器 ! 光纤通信 ! 光纤传感
值可根据需要设置 # 使得系统可利用不同的校准
件 # 使用非常灵活方便 " 软件流程如图 ! 所示 "
# 影响准确度因素分析
对回波损耗测试的过程要求较为严格 # 校准件 ! 测试跳线本身的回波损耗值以及各端面的清洁程度 均会对测试结果造成重大影响 # 不洁的端面引起的误
-!1%/0 到 -2#%/0 波长范围的外部光源 " 如果使用外
"’(7 左右 ! 探测器的灵敏度优于82%’(7 % !%( 干涉的影响
当激光光源的相干长度大于两倍的耦合器到被 测端的距离 时 ! 将 会 发 生 干 涉 现 象 ! 从 被 测 端 反 射 回 来的光 与 从 光 源 直 接 过 来 的 光 由 于 具 有 恒 定 的 相 位 差而会在光 功率 探 测 端 产 生 干 涉 ! 当 振 幅 相 同 ! 偏 振 方向一致时 ! 干涉现象最明显 % 主要解决方法是增加 耦 合器 隔 离 度 或 增 加 耦 合 器 到 被 测 端 距 离 以 使 光 程 差超过光源的相干长度 ! 普通 )8- 激光器的相干长度 小于十几毫米 ! 远小于耦合器与被测器件间的距离 ! 所 以干 涉 效 应 的 影 响 很 小 % 只 有 在 使 用 线 宽 很 窄 的
光回损(ORL)和背向反射测试指导
光回损（ORL）和背向反射测试指导简介光回波损耗（ORL）或背反射可能会影响具有以下一项或多项特性的光纤系统：•激光发射器。
•模拟传输。
•链接中的许多连接器。
什么是背向反射或回波损耗？它是在光路中特定点上相对于前向功率反射回来的功率的百分比。
光学回波损耗仪和后向反射仪进行相同的测量。
光学回波损耗和背向反射之间有区别吗？从科学上讲，光学回波损耗（ORL）是反射率的倒数，并且具有相反的符号，例如，-50dB的反射率就是50dB的回波损耗。
但是，这些术语和相关术语的通用用法存在广泛冲突，因此不幸的是，没有安全的假设来确定哪个是什么，因此最好查找上下文。
我们对回波损耗的定义是在一点（通常在ORL测试仪器上）相对于总正向功率的反射功率累计百分比。
由于沿光路在两个方向上的衰减，通常这通常不完全是所有单个反射的总和。
例如，如果沿着光纤链路的某个点的反射为-20 dB，并且该点的光纤衰减为10 dB，则由于该点而测得的回波损耗贡献将为-40 dB。
（例如，背反射+ 2 x衰减）如果损耗点与ORL测量仪之间的损耗可忽略不计，并且该损耗点是反射光的主要来源，则特定点的背反射和测得的回波损耗可能相似。
ORL与系统性能之间的关系与反射相关的系统问题可能令人莫名其妙，因为损耗和功率水平检查正常，但是数据传输显示出过多的错误或降级。
反射的灵敏度通常在传输单元之间变化很大，这令人沮丧。
因此，在ORL性能不佳或平均水平的情况下，只需更换设备即可解决问题。
这实际上是一个真正的实用解决方案，但是可能需要记录和标记。
这也提供了一个线索：ORL和系统性能之间的关系可能很模糊。
最好进行光学裕度和BER测试。
测量单位按照惯例，测试仪器通常显示负的ORL号。
0 dB回波损耗意味着一个完美的反射系统。
较大的负数表示反射功率很小。
理论入射角为法线的简化反射的菲涅尔公式为（dB单位）R = 10 x log（（（（n1-n2）/（n1 + n2））2）例如在标准温度和压力下，空气的折射率= n1 =大约1.00029。
光回损测试原理
光回损测试原理引言:随着光纤通信的发展，高速光纤传输系统的广泛生产和应用（如SDH、大功率CATV等），必须具有很高的回波损耗，DF B激光器由于其线宽窄，输出特性很容易受回波损耗的影响。
从而严重影响系统的性能，即使是普通的激光器，也会不同程度地受回波损耗的影响，因此，系统中各种光纤器件的回波损耗的测试变得越来越重要。
关键词: 回波损耗菲涅尔反射瑞利散射偏振敏感性匹配负载1．回波损耗测试基本原理当光传输在某一光器件中时，总有部分光被反射回来，光器件中回波主要由菲涅尔反射（由于折射率变化引起）、后向瑞利散射（杂质微粒引起）以及方向性等因素产生的，则该器件的回波损耗RL为：RL(dB)=－10lg(反射光功率/入射光功率) (1)回波损耗的测试方法有基于OTDR和光功率计测试两种,OTDR测试方法速度快、显示直观可获得反射点的空间分布，且不需要末端匹配（短光纤仍需匹配），但成本高，重要的是某些场合不能使用（例如：光探测器的回波损耗测试等），如美国RIFOCS688及日本NTT-AT的AR-301型回波损耗测试仪。
光功率计法主要将被测器件反射回来的光分离出来引导至光功率计，简单实用，应用范围广，使用时须进行末端匹配。
本文主要介绍光功率计法测试的原理。
光功率计法回波损耗测试基本原理框图如下：图1光功率计法基本原理框图激光经光模块注入到被测器件,反射光再经光模块引导至光功率计,测试方法分为4步：a．测试端连接校准件测出反射功率值Pref，若光源输出功率为P L，光模块衰减系数为k,校准件反射率为Rref，则：Prel = PL.k.Rref +Pp (2)其中，Pp为附加反射功率（指光模块内部及测试端连接器的反射等）b．测出附加反射功率Pp：将测试端进行匹配，使得测试端反射功率为0，即可测出附加反射功率Pp。
c．测试端连接被测器件,测出反射值PmeasPmeas = ( PL×k) R被测+Pp (3)R被测为被测器件反射率。
元件制造与回损测试
元件制造与回损测试：OCWR 与免缠绕技术随着近来光学宽带网络（例如BPON 和GPON）部署的快速发展，对特定光学元件的需求量剧增。
人们期望这些元件价格便宜，同时又保持最佳的质量和性能。
不过，元件不同，价格不等，它们的成本有时可能主要取决于制造期间对它们执行的测试。
当然，元件供应商并不想把成本转移给他们的客户，因此他们需要找到高效且经济的方法测试并验证关键的参数，比如插入损耗(IL)、反射系数和偏振相关损耗(PDL)。
对于具有高纤数的元件（例如1XN 分光器），反射系数测试是效率低下的主要原因，因为有些技术必需大量的处理。
本文概述并比较了两种反射系数测量方法：传统的光学连续波反射仪(OCWR) 技术和免缠绕新技术。
光学连续波反射仪OCWR 技术测量方法为：首先向被测设备(DUT) 发送连续波(CW) 光学信号，然后使用功率计在返回路径中测量反射的总CW 功率。
图 1 显示了OCWR 测量装置的框图。
图1. 使用OCWR 装置测量连接器反射系数。
测量过程包括两个步骤。
第一步是执行归零参考，以确定到达功率计的背景功率级别，因为此功率受以下几个因素的影响：OCWR 内3-dB 耦合器的方向性OCWR 输出端口的反射系数主测试跳线(MTJ) 中的背向散射执行完归零后，可立即测试DUT。
但要切记，当使用OCWR 测量方法时，为确保获得正确的结果，两个步骤中均需要缠绕绕棒（见图2）。
因此这种技术需要人为介入，缠绕绕棒通常需要将光纤（DUT 之后的光纤）绕小直径工具缠绕约10 圈而成。
图2. 使用OCWR 采用两步骤测量ORL。
测量象1XN 平面光波电路(PLC) 分光器这样光纤数巨大的元件时，这些操作会非常耗时。
例如，为了从1X32 分光器端口对其进行测试，必须同时应用进行32 次缠绕（分光器的每个输出端口各一次；见图3）。
当然，如果将一根带状光纤连接到分光器的输出，则可以对此带状光纤代进行绕棒。
不过，由于带状光纤硬而脆，因此在其上面缠绕线棒是一种危险的做法，建议不要对任何类型涂覆层/护套的带状光纤进行此类操作。
OFDR技术用于测量回损和积分回损
OFDR用于测量回损和积分回损
各类光分路器、连接器、芯片、光模块等光通讯器件的回损值常用标准的光功率计法进行测量，分别测量稳定光源发射光功率及接入待测件后的光功率，将其比值作为回损值。
该方法属于一种整体测试，测量的是整个器件的回损总和，无法分区域单独测量，因此，当测量值与预期不符时，难以判断器件上的故障位置。
OFDR能实现连续的回损测量，空间分辨率为10μm。
选定待测光路上任意长度，OFDR 能准确测量该区域回损值，用于回损评估、故障分析与定位。
在一些小尺寸器件的测试场景中，这种高精度、分布式的测量技术显得尤其适用。
下面是使用OFDR设备（OCI1500）测量的光纤链路中部分平面波导光延时线回损（图2）及光纤光栅回损（图3），扫描中心波长为1550nm,扫描范围20nm。
图1 光纤链路图
图2部分平面波导光延时线回损
图3 光纤光栅回损
图4测量用设备：OCI1500。
线缆回波损耗 测量方法
线缆回波损耗测量方法线缆回波损耗是指信号在传输过程中在线缆中发生的反射和吸收造成的能量损耗。
它是衡量线缆传输质量的一个重要指标。
为了确保线缆传输的稳定性和可靠性，需要对线缆的回波损耗进行测量。
下面将介绍几种常用的线缆回波损耗测量方法。
一、时域回波法时域回波法是一种简单而直接的测量方法。
它通过发送一个脉冲信号到线缆上，然后测量信号的反射波形来计算回波损耗。
具体步骤如下：1. 使用信号发生器产生一个脉冲信号。
2. 将脉冲信号输入到被测线缆的一端。
3. 在线缆的另一端使用示波器测量信号的反射波形。
4. 根据发送信号和反射信号的波形特征计算回波损耗。
二、频域回波法频域回波法是一种基于频谱分析的测量方法。
它通过将线缆连接到信号源和频谱分析仪，测量信号的频谱特性来计算回波损耗。
具体步骤如下：1. 将信号源和频谱分析仪与线缆相连。
2. 发送一个频率范围内的信号。
3. 使用频谱分析仪测量信号的频谱特性。
4. 通过比较发送信号和反射信号的频谱特性计算回波损耗。
三、时域反射法时域反射法是一种利用时域反射仪测量回波损耗的方法。
它通过发送一个特定的信号到线缆上，然后测量信号的反射波形来计算回波损耗。
具体步骤如下：1. 使用时域反射仪发送一个特定的信号。
2. 在线缆的另一端使用时域反射仪测量信号的反射波形。
3. 根据发送信号和反射信号的波形特征计算回波损耗。
四、光时域反射法光时域反射法是一种专用于光纤线缆的回波损耗测量方法。
它利用光时域反射仪测量光信号在光纤中的传输特性，从而计算回波损耗。
具体步骤如下：1. 使用光时域反射仪发送一个特定的光信号。
2. 在光纤线缆的另一端使用光时域反射仪测量光信号的反射波形。
3. 根据发送光信号和反射光信号的波形特征计算回波损耗。
以上介绍了几种常用的线缆回波损耗测量方法，每种方法都有其适用的场景和优缺点。
在实际应用中，需要根据具体情况选择合适的方法进行测量。
通过对线缆回波损耗的准确测量，可以有效评估线缆传输质量，提高网络的性能和可靠性。
插回损测量
1光器件的回损测量引言：随着宽带接入如 LTE, FTTX 的应用越来越多，骨干光纤通信带宽越来越大，光纤本身的和光 纤系统中的无源光器件都变得越来越复杂，光纤系统中无源器件的反射对更高速率的通信系统性 能的影响越发显著，人们对光纤无源器件回波损耗指标测试的关注度在持续上升。
光纤无源器件的回损测试方案自光纤通信系统开始就有了，早期的典型测试仪表如：JDSU 公 司的 RX Meter, Agilent 公司的 816xx 系列。
这些测试仪表的共同特点是：测试方法采用标准的连 续光方法，即 IEC 建议的 OCWR(Optical Continuous Wave Reflectometer)法，测量时通常需要用缠 绕光纤的方法消除额外反射，测量回损的范围在 70dB 以下。
随着光纤通信技术的进步，测试仪 表也在发展，使用 OCWR 方法的测试仪技术非常成熟，随着竞争产品的越来越多，这两种仪表都 早已停止生产。
使用 OCWR 方法测量回损存在许多限制，如：测试步骤多，需要过程复杂的系统校“零”， 不能一次连接进行插损/回损的测试，不能区分瑞利散射和菲涅尔反射回损，只适用于≤55dB 的 回损测量等[1]。
另一方面，由于这些限制，在很多应用场合下不适合或者无法使用 OCWR 法进行测量，如： 无法弯曲也不允许破坏接头的光缆接头盒，特种光缆，MPO 接头等。
图 1：无法弯曲的光纤接头 为了解决这些问题，我们需要采用其他的回损测量方法，如 OTDR 法。
为了比较 OCWR 和OTDR 两种测量方法，让我们首先回顾一下回损测试的原理以及 IEC61300‐3‐6 对回损测试方法的描 述。
1. 原理和测量方法1.1 回损的来源按照 IEC61300‐3‐6 的定义，回损是指在器件输入端、光纤接头或者定义的某一段光路上反射 光功率[mW]与入射光功率[mW]的比值。
23⎛ P ⎞ 即： RL = 10 ⋅ log ⎜ r⎜ ，回损的值是正的。