几种典型的数字电路测试技术
EDA技术
1. 5、EDA软件工作平台 目前支持EDA技术软件工作平台非常丰富， 归类后一般有： 在模拟电路设计中，目前最好的EDA软件 应属于EWB（Elctrinic Work bench），具有界 面直观，操作方便、灵活，采用图形输入方式 （而不是文本输入方式）输入和创建电路。 在数字电路设计中， EDA软件的种类比较多 ，不同的器件制造商推出不同的EDA软件。
通往 I/O 模块
乘 积 项 选 择 矩 阵
时钟
清零 共 享
清零 选择
逻辑阵列
逻 辑 扩 展 项 通往 PIA 18
2）基于查找表的结构模块
• 一个N输入查找表 (LUT，Look Up Table)可以 实现N个输入变量的任何逻辑功能，如 N输入 “与”、 N输入“异或”等。 • 输入多于N个的函数、方程必须分开用几个查 找表（ LUT）实现
波形输入
Synopsys, ViewLogic, Mentor Graphi 等厂商的EDIF文 .xnf
文本 文件
.gdf 图形 文件
.wdf
.tdf
.vhd
.sch 图形 文件
.edf 文本 文件
图形输入
波形 文件
文本 文本 文件 文件
Xilinx MAX+PLUS II 自身产生 从其他 EDA 工具输入
9
适配器功能是将由综合器产生的网表 文件配置于定的目标器件中，产生最终的 下载文件，如：JEDLC格式的文件。适配 所选定的目标器件（FPGA/CPLD芯片） 必须属于原综合指定的目标器件系列。适 配器则需由FPGA/CPLD供应商自己提供， 因为适配器的适配对象直接与器件结构相 对应。
10
FPGA/CPLD 开发流程图
【电子设计】数字电子技术基础实验指导书
『数字电子技术基础实验指导书』实验一实验设备认识及门电路一、目的：1、掌握门电路逻辑功能测试方法；2、熟悉示波器及数字电路学习机的使用方法；3、了解TTL器件和CMOS器件的使用特点。
二、实验原理门电路的静态特性。
三、实验设备与器件设备1、电路学习机一台2、万用表两快器件1、74LS00 一片（四2输入与非门）2、74LS04 一片（六反向器）3、CD4001 一片（四2输入或非门）四、实验内容和步骤1、测试74LS04的电压传输特性。
按图1—1连好线路。
调节电位器，使VI在0~+3V间变化，记录相应的输入电压V1和输入电压V的值。
至少记录五组数据，画出电压传输特性。
2、测试四二输入与非门74LS00的输入负载特性。
测试电路如图1—2所示。
请用万用表测试，将VI 和VO随RI变化的值填入表1—1中,画出曲线。
表1－13、测试与非门的逻辑功能。
测量74LS00二输入与非门的真值表：将测量结果填入表1—2中。
表1—24、测量CD4001二输入或非门的真值表，将测量结果填入表1-2中。
注意CMOS 电路的使用特点：应先加入电源电压，再接入输入信号；断电时则相反，应先测输入信号，再断电源电压。
另外，CMOS 电路的多余输入端不得悬空。
五、预习要求1、阅读实验指导书，了解学习机的结构；2、了解所有器件（74LS00，74LS04，CD4001）的引脚结构；3、TTL 电路和CMOS 电路的使用注意事项。
图1－1 图1－2300V O一、实验目的1、学习并掌握小规模芯片（SSI）实现各种组合逻辑电路的方法；2、学习用仪器检测故障，排除故障。
二、实验原理用门电路设计组合逻辑电路的方法。
三、实验内容及要求1、用TTL与非门和反向器实现“用三个开关控制一个灯的电路。
”要求改变任一开关状态都能控制灯由亮到灭或由灭到亮。
试用双四输入与非门74LS20和六反向器74LS04和开关实现。
测试其功能。
2、用CMOS与非门实现“判断输入者与受血者的血型符合规定的电路”，测试其功能。
数字电路实验实验总结归纳
数字电路实验实验总结1.【数电实验报告】交通信号灯故障检测系统一、实验目的1、熟悉各种逻辑门的使用；2、锻炼学生应用各种逻辑门设计组合逻辑电路的能力•二、实验原理组合逻辑电路的设计方法,三、实验内容及要求交通信号灯的正常工作情况为:红灯（A）亮表示停车、黄灯（B）亮表示注意、绿灯（C）亮表示通行，任何时刻只有一盏灯亮；交通信号灯的故障情况为：任意两盏灯同时亮,三盏灯都亮或三盏灯都不亮,请将故障状态以指示灯亮显示出来,要求如下：1,列出逻辑状态表；2,写出逻辑表达式；3,对表达式化简或变换；4.画出实验电路图；5.在数字实验仪上实现.四、预习要求设计电路；列出所用元件清单；制定实验方案；记录实验结果,五、报告要求有详细设计步骤、逻辑图、实验结果分析2.数字电路实验心得体会原发布者：tqgqiaoe7342数字电子技术实验总结心得数字电子技术是一门理论与实践密切相关的学科，如果光靠理论，我们就会学的头疼，如果借助实验，效果就不一样了，特别是数字电子技术实验，能让我们自己去验证一下书上的理论，自己去设计，这有利于培养我们的实际设计能力和动手能力。
通过数字电子技术实验，我们不仅仅是做了几个实验，不仅要学会实验技术,更应当掌握实验方法，即用实验检验理论的方法，寻求物理量之间相互关系的方法，寻求最佳方案的方法等等，掌握这些方法比做了几个实验更为重要。
在数字电子技术实验中，我们可以根据所给的实验仪器、实验原理和一些条件要求，设计实验方案、实验步骤，画出实验电路图，然后进行测量，得出结果。
在数字电子技术实验的过程中，我们也遇到了各种各样的问题，针对出现的问题我们会采取相应的措施去解决，比如：1、线路不通一一运用逻辑笔去检查导线是否可用；2、芯片损坏一一运用芯片检测仪器检测芯片是否正常可用以及它的类型；3.数电实验总结最低0∙27元开通文库会员，查看完整内容›原发布者：zxyl21380数字电子技术实验总结本学期一共进行了六次实验：L常用集成门电路逻辑测试。
数字电子技术基础第三章
二、交流噪声容限
反相器对窄脉冲 的噪声容限—交 流噪声容限远高 于直流噪声容限。
交流噪声容限受 电源电压和负载 电容的影响。
图3.3.23 CMOS反相器的交流噪声容限
三、动态功耗
动态功耗：当CMOS 反相器从一种稳定工 作状态突然转变到另 一种稳定的过程中， 将产生附加的功耗。
PD=PC+PT PD为总动态功耗 PC为对负载电容充放
图3.3.xx CMOS三态门电路结构之三 可连接成总线结构。还能实现数据的双向传输。
3.3.6 CMOS电路的正确使用
一、输入电路的静电防护
1、在存储和运输CMOS器件时最好采用金属屏蔽层 作包装材料，避免产生静电。
2、组装、调试时，应使电烙铁和其他工具、仪表、 工作台面等良好接地。操作人员的服装、手套等选用 无静电的原料制作。
图3.5.34 OC门输出并联的接法及逻辑图
2.1 概述
常用的门电路在逻 辑功能上有: 与门、 或门、非门、与非 门、或非门、与或 非门、异或门等几 种。
单开关电路 互补开关电路
图3.1.1 获得高、低电平的基本原理
图3.1.2 正逻辑与负逻辑
一些概念
1、片上系统（SoC） 2、双极型TTL电路 3、CMOS
1961年美国TI公司,第一片数字集成电路 （Integrated Circuits, IC）。
C=1时 Vo=RL*Vi/(RL+RTG) RTG越小越好，并且希望不 受输入电压变化。
图3.3.39 CMOS模拟开关接 负载电阻的情况
四、三态输出的CMOS门电路
高阻态。 此电路结构 总是接在集 成电路的输 出端。
图3.3.40 CMOS三态门电路结构之一
数字电子技术实验-组合逻辑电路设计
学生在使用实验箱时，应注意遵守实验室规定，正确连接电源和信号线， 避免短路和过载等事故发生。
实验工具介绍
实验工具类型
数字电子技术实验中常用的实验工具包括万用表、示波器、信号 发生器和逻辑分析仪等。
实验工具功能
这些工具用于测量电路的各种参数，如电压、电流、波形等，以及 验证电路的功能和性能。
01
02
03
逻辑门
最基本的逻辑元件，如与 门、或门、非门等，用于 实现基本的逻辑运算。
触发器
用于存储一位二进制信息， 具有置位、复位和保持功 能。
寄存器
由多个触发器组成，用于 存储多位二进制信息。
组合逻辑电路的设计方法
列出真值表
根据逻辑功能，列出输入和输 出信号的所有可能取值情况。
写出表达式
根据真值表，列出输出信号的 逻辑表达式。
05 实验结果与分析
实验结果展示
实验结果一
根据给定的逻辑函数表达式，成 功设计了对应的组合逻辑电路， 实现了预期的逻辑功能。
实验结果二
通过仿真软件对所设计的组合逻 辑电路进行了仿真测试，验证了 电路的正确性和稳定性。
实验结果三
在实际硬件平台上搭建了所设计 的组合逻辑电路，经过测试，实 现了预期的逻辑功能，验证了电 路的可实现性。
路图。
确保电路图清晰易懂，标注必要 的说明和标注。
检查电路图的正确性，确保输入 与输出之间的逻辑关系正确无误。
连接电路并测试
根据逻辑电路图，正确连接各 逻辑门和输入输出端口。
检查连接无误后，进行功能测 试，验证电路是否满足设计要 求。
如果测试结果不符合预期，检 查电路连接和设计，并进行必 要的调整和修正。
数字电子技术实验-组合逻辑电路 设计
数字逻辑电路实验教案
绪论数字逻辑电路是高等学校计算机科学技术专业中的一门主要的技术基础课程，它是为培养计算机科学技术专业人才的需要而设置的，它为计算机组成原理、微型机及其应用等后续课程打下牢固的硬件基础。
数字逻辑电路是一门理论性和实践性均较强的专业基础课，实验是数字逻辑电路课程中极其重要的实践环节。
通过数字逻辑电路实验可以使学生真正掌握本课程的基本知识和基本理论，加强对课本知识的理解，有利于培养各方面的能力；有利于实践技能的提高；有利于严谨的科学作风的形成。
一、常用电子仪器的使用1、示波器2、THD—4型数字电路实验箱3、万用表二、实验课的程序1．实验预习由于实验课的时间有限，因此，每次实验前要作好预习，写好预习报告。
预习的要求：a．理解实验原理，包括所用元器件的功能。
b．粗略了解实验具体过程。
c．根据实验要求，画好实验线路及数据表格。
2．实验操作每次测量后，应立即将数据记录下来，并由实验老师签字。
实验操作一般步骤：（1）在连接实验线路之前，必须保证“数字电路实验箱”所有电源关闭；（2）按所画的实验线路图连接实验线路，所用短路线必须事先用万用表检查，以减少故障点；（3）实验线路连接完成后，必须仔细检查实验线路，以保证实验线路连接无误；（4）实验线路连接正确后，接通电源，进行具体实验。
（5）如变动实验线路，必须从（1）重新进行。
故障检查方法及处理：（1）检查元器件的接入电源是否正确；（2）使实验线路处于静态，用万用表“直流电压挡”，从输入级向输出级逐级检查逻辑电平，确定故障点；（3）关闭“数字电路实验箱”电源，用万用表“欧姆挡”，检查实验线路连接是否正确，确定故障点；（4）关闭“数字电路实验箱”电源，按实验操作一般步骤（2）（3）（4）将故障排除。
3．实验报告写实验报告应有如下项目：（1）实验目的（2）实验内容（3）实验设备及元器件（4）实验元器件引脚图（5）实验步骤、实验线路及实验记录等（6）实验结果及故障处理分析、讨论和体会等（7）“思考题”要求同学在完成基本实验内容的前提下去做，并将实验内容、实验所用器件、线路、结果及分析等做副页附在实验报告最后，其副页由实验老师签字确认。
《数字电子技术》实验指导书
数字电子技术实验指导书电气与电子工程学院实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1. 熟悉门电路逻辑功能2. 熟悉数字电路实验仪及示波器使用方法二、实验仪器及材料1. 双踪示波器2. 器件74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1 片三、实验内容1.测试门电路逻辑功能（1）.选用双四输入与非门74LS20一只，插入14P锁& 紧插座上按图1.1接线、输入端接K1-K16（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（L1-L16任意一个）（2）.将电平开关按表1.1置位，分别测输出电压及逻辑状态。
表 1.1输出输出1 2 4 5 Y 电压（V）H H H HL H H HL L H HL L L HL L L L2．异或门逻辑功能测试（1）.选二输入四异或门电路74LS86，按图1.2接线，输入端1、2、4、5接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
（2）.将电平开关按表1.2置位拨动，将输出结果填入表中。
表 1.2输入输出A B Y Y电压L L L LH L L LH H L LH H H LH H H HL H L H3、逻辑电路的逻辑关系（1）.用74LS00、按图1.3，1.4接线，将输入输出逻辑关系分别填入表1.3、表1.4中，表1.3输入输出A B YL LL HH LH H表1.4输入输出A B Y ZL LL HH LH H（2）.写出上面两个电路逻辑表达式。
五、实验报告1.按各步骤要求填表并画逻辑图。
2.回答问题：（1）怎样判断门电路逻辑功能是否正常？（2）与非门一个输入接连续脉冲，其余端什么状态时允许脉冲通过？什么状态时禁止脉冲通过？（3）异或门又称可控反相门，为什么？实验二组合逻辑电路（半加器、全加器）一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的功能测试。
2.验证半加器和全加器的逻辑功能。
3.学会二进制数的运算规律。
数字电路板时序电路测试方法
数字电路板时序电路测试方法I. 引言A. 研究背景与意义B. 研究目的和内容C. 论文框架介绍II. 数字电路板时序电路测试方法概述A. 数字电路板概述B. 时序电路概述C. 时序电路测试方法概述III. 时序电路测试技术A. 时序电路测试分类B. 时序电路建模和仿真技术C. 自动测试技术D. 辅助测试技术IV. 数字电路板时序电路测试案例A. 测试对象介绍B. 测试流程和方法介绍C. 测试结果和分析V. 结论与展望A. 论文主要贡献B. 研究不足和未来展望C. 总结参考文献第一章节是论文的引言部分，主要是对研究背景、研究意义和研究目的进行介绍，并概述论文的框架。
数字电路板是现代电子设备中不可或缺的一部分，广泛应用于计算机、通讯、医疗、汽车、工业等领域。
它是由数字电路组成的，数字电路有严格的时序要求，时序电路测试是数字电路设计与生产中必不可少的环节。
时序电路测试是为了验证数字电路在满足时序要求的情况下能否正常工作、对时序敏感的故障能否被检测到以及提高电路可靠性的关键步骤。
传统的时序电路测试方法一般采用手工根据产品手册设计测试方案，实现多种信号波形与时序要求，手动调试测试仪器来进行测试。
这种方法费时费力，人力成本高，难以满足大批量产品的测试要求。
自动测试技术相应出现并得到发展，主要包括仪器自动化、测试程序自动化、测试数据处理与分析自动化以及测试过程自动化等方面的技术。
这些技术的应用可以降低测试的成本、提高测试的效率、增强测试的稳定性与精确性。
论文目的是探索数字电路板时序电路测试技术的方法与应用，以提高测试效率、精度和测试结果分析和处理的能力，以期为相关领域的研究和实际工程提供参考和借鉴。
本论文将对时序电路测试技术进行梳理、分类和总结，不仅介绍传统手工测试方法，而且着重讲解数字电路板时序电路的自动测试方法，并给出实际测试案例分析，全面探讨时序电路测试技术应用的优缺点和应用前景。
本论文的框架分为五个章节，除了引言外，另外的四个章节主要包括时序电路测试方法概述、时序电路测试技术、数字电路板时序电路测试案例和结论与展望。