超声相控阵检测教材超声相控阵技术
超声相控阵检测教材-第七章-ISONIC相控阵操作说明

ISONIC相控阵设备操作指南焊缝高级检测软件功能一、进入检测界面1、根据所使用的仪器进入相控阵检测模式,在相控阵界面下点击,见图1所示。
图12、点击进入选项模式,见图2所示。
图23、点击进入焊缝检测模式。
见图3所示。
图34、相控阵探头选择根据检测选用的相控阵探头选择相应的探头型号,如图4所示,图4右上角所显示的即为探头楔块及探头的参数。
如果在“选择探头”的下拉选项中无检测所用的探头型号,则点击手动输入探头及楔块的参数进行保存。
然后点击。
图45、点击进入相控阵扇形扫描参数设置界面,如图5所示。
图5二、检测参数设置:1、基础参数设置:●增益:根据检测对象所需的检测灵敏度进行设置。
●声程:根据检测对象设置声程范围。
●声速:设置为横波声速(例如:钢中横波声速为3230m/s)。
●显示延迟:就是常说的“零偏”设置。
点击(如图6所示),通过点击左键或右键,将“表面补偿”设置为激活状态(如图7、图8所示),点击,仪器将自动校准“零偏”。
自动校准后的显示延迟将会自动修正为探头延迟,如图6所示。
注:此处“表面补偿”为调节检测参数时所选用的入射角度(“激发设置”中所选取的调节检测参数的入射角度)在探头楔块中传播的延时,及探头延时,仪器自动校准“表面补偿”,即零偏后,显示延迟与“测量参数”中的探头延迟相同。
“测量参数”中的探头延迟,当选定入射角度后,仪器自动计算生成,所以是不可修改的,调节的左键右键为灰色图标。
如图9、图10所示。
本次示例选择的入射角度为55°,探头延时为13.45us。
图6图7图8图9图10●抑制:设置为0%2、激发参数设置:●增益:根据检测对象所需的检测灵敏度进行设置。
●激发模式:设置为单晶。
●脉冲宽度:主要用于优化脉冲回波信号。
初始设置为探头频率周期的一半,将探头置于放置在被检工件或标准试块上,根据脉冲回波的信号质量,点击左键或右键进行微调。
如图11所示。
注:调节依据准则为:脉冲回波信号脉宽最窄且相对回波高度最高。
超声相控阵检测教材-第四章-超声检测设备探头及试块

第四章超声相控阵检测设备、探头及试块4.1 相控阵检测的设备4.1.1 相控阵检测设备概述1、设备的作用相控阵检测设备时超声波相控阵检测的主体设备,它的作用是通过改变相控阵探头晶片的激发接受延迟产生超声波,同时将探头送回的电信号进行放大,通过一定图像方式显示出来,从而得到被检测工件内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。
2、相控阵检测设备系统结构超声相控阵检测设备主要包括超声发射部分和接收部分,目前国内外大型超声检测设备的系统设设计方案主要有三种:发射与接收分离系统;发射与接收集成且发射与接收板集成和发射与接收集成但是发射与接收板级分离。
它们的优缺点如下所示。
数字相控阵超声成像检测系统是一个复杂的系统,通道数多,而且通道之间一致性要求很高,为了较高的综合指标,采用发射与接收集成但是发射与接收板级分离的方案。
板卡之间通过总线相连。
总线的带宽对于系统的性能也有着较大的影响,也是系统设计的关键之一。
目前仪器系统中采用的总线主要有PXI总线和VXI总线。
表4-1 PXI总线与VXI总线对比4.1.2 数字相控阵超声成像检测硬件系统数字相控阵超声成像检测的硬件系统,其内容包括相控阵超声发射和接收电路、前置放大与阻抗转换、程控放大、滤波与检波、A/D转换、同步与相位延迟控制、程控与逻辑控制等硬件。
图4-1 数字相控阵超声成像检测硬件系统(1)发射电路有较高的发射效率。
原因是相控阵超声系统的通道数比较多,系统的发射功率和散热是一个非常重要的问题。
相关研究表明,当探头的激励脉冲宽度为探头中心频率对应周期的一半时,发射电路的发射效率较高。
由于检测不同的工件需要使用不同频率的探头,为保证系统较高的发射效率,在设计相控阵超声发射电路时,需要所设计的发射电路能够调节激励脉宽。
(2)由于相控很超声检测对通道之间的一致性要求比较高,因此要求发射电路通道间一致性好,易于模块化,便于系统的调试与维护。
(3)可以用聚焦扫描成像,可以实时成像。
超声相控阵检测教材_第五章_超声相控阵检测系统的输出显示

第五章超声相控阵检测系统的输出显示5.1输出显示记录相控阵图像的强大之处在于可以提供大量数据的实时可视化成像。
在手动和自动系统中,通过电子扫描过程,实时地实现真实成像,从而提高缺陷的检出能力。
尤其在自动相控阵设备及更先进的相控阵设备中,显示整个检测中的幅度图像及完全记录检测缺陷波形信息的能力实现了检测结果后处理分析。
因为所有的超声波形数据都被百分百全纪录了,对检测结果的后分析处理可以在任意检测位置创建与A扫描信息相对应的S扇形扫描,C扫描及B 扫描、D扫描、P扫描、3D扫描、TOFD成像等图像模式。
图5-1、图5-2、图5-3、图5-4所示为ISONINC系列便携式相控阵成像系统、便携式双通道相控阵成像系统、自动化AUT 相控阵成像系统及大壁厚相控阵成像系统的显示记录模式。
图5-1 便携式相控阵成像系统显示记录模式图5-2 便携式双通道相控阵成像系统显示记录模式图5-3 自动化AUT相控阵成像系统显示记录模式图5-4 厚壁焊缝全自动超声相控阵检测(BIG-PA-AUT)显示记录模式5.2显示方式相控阵检测系统一般有六种基本显示方式:A扫描显示、B扫描显示、C扫描显示、D扫描显示、S扫描显示、P扫描显示及3D显示。
表5-1 相控阵检测显示方式说明名称显示意义示意图A扫描缺陷的检波波形显示。
见图5-1 B扫描缺陷在工件厚度方向的投影图,即侧视图。
见图5-2 C扫描缺陷在工件底面方向的投影图,即俯视图。
见图5-3 D扫描缺陷在工件端面方向的投影图,即端视图。
见图5-4 S扫描沿探头扫描方向,所有角度声束的采集结果的图像显示。
见图5-5 P扫描沿探头扫描方向,所有工件真实几何结构部位检测结果显示,即断层图。
见图5-6 3D显示通过软件将扫查所得到的俯视图、侧视图、端视图合成为3D图像显示。
见图5-7 5.2.1 A扫描显示A扫描显示是一种波形显示,仪器屏幕的横坐标代表声波的传播时间(或距离),纵坐标代表反射波的幅度。
超声相控阵检测技术

相控阵接收 (jiēshōu)
换能器发射的超声波遇到目标后产生回波 信号(xìnhào),其到达各阵元的时间存在差 异。按照回波到达各阵元的时间差对各阵元 接收信号(xìnhào)进行延时补偿,然后相加 合成,就能将特定方向回波信号(xìnhào)叠 加增强,而其它方向的回波信号(xìnhào)减 弱甚至抵消。同时,通过各阵元的相位、幅 度控制以及声束形成等方法,形成聚焦、变 孔径、变迹等多种相控效果。
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相控阵发射(fāshè)
超声相控阵应用许多的单元换能器来产生 和接收超声波波束。通常在一维或多维上排 列若干单元换能器组成阵列。利用事先设计 确定好的各自独立的发射和时间延迟电路来 依次激励一个或几个单元换能器,产生具有 可控的人为预定的确定相位的声波,所有单 元换能器在检测对象中产生的超声声场相互 干涉迭加,从而(cóng ér)得到预先希望的 波束入射角度和焦点位置,形成发射聚焦或 声束偏转等效果;
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波束(bōshù)的产生与聚焦
用不同的延时 激发晶片产生 不同外形的波 束 这是一个纵波 (zònɡ bō)各个 晶片延时相等
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波束(bōshù)偏转
用不同的延 时激发晶片产 生不同外形 (wài xínɡ)的 波束
需要精确计 算延迟时间, 才能指向性好
这种显示方式能给出缺陷的水平投影位置,但不能 确定缺陷的深度;
一般A扫和C扫结合: A扫显示深度信息; C扫显示缺陷形状及当量信息;
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超声轴+扫查轴 B扫
编码(biān mǎ) 轴+扫查轴 C扫
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编码(biān mǎ)轴 +扫查轴 C扫
超声相控阵检测教材 第九章 超声相控阵设备现场使用注意事项

第九章超声相控阵检测系统的故障维修及维护9.1 仪器基本使用环境要求1、操作温度:0’C~45’2、湿度范围:35%~80%(45%~60%最佳);3、海拔高度低于2000米(过高的海拔将对元件的绝缘层造成影响)4、IP53以内的环境下正常使用。
特殊情况下请采用必要的防护措施。
9.2 关于仪器数据安全问题1、可采用电脑对仪器进行远程操控。
远程控制时,数据直接存入电脑硬盘中。
2、在仪器上进行数据操作时,请首先对U盘进行格式化以防止病毒的入侵,以造成仪器故障.仪器设置参数均是专用格式,同样将u盘格式化后,只拷入设置参数到仪器上.3、随机附带仪器系统恢复盘,每台仪器有唯一专用恢复U盘,恢复盘采用特殊制作.请勿将此U盘做其它之用造成仪器软件故障需要恢复时,无法使用.请妥善保管.内部附有操作说明. (操作人员需会简单的电脑系统操作.)如无相关人员,请邮寄厂家进行恢复.切勿强行操作造成硬件加密码涂改以超声板失效。
9.3 设备现场使用注意事项9.3.1 使用AC/DC电源时:a.请确保主电源220V电源插座零/火线正确.(一般直接采用试电笔测量左零右火即可;如是三相插座请确保第3相保护接地)b.请确保该供电总线和接线插排的总功率足够.(至少150W的稳定供电给仪器)c.对于不确定的电力网络,请确保220V(10%偏差;输入180VAC-1A);可采用稳压、UPS或隔离器对仪器进行辅助安全供电.d.由于仪器是高端电子设备,请勿与其它交流电器设备同时施工工作,以避免由于交流地线带电或意外火线搭接和大电流、大能量反串入仪器造成设备损坏.接地说明:对设备进行独立安全接地;采用6平方地线连接仪器外壳,另一端连接一根铜钢或钢棒放在地上或埋入地下湿润土壤,对于微机或仪器仪表设备接地电阻小于1 Ohm。
注意由于设备外壳与内部板卡电源共地,请确保接入的交流地线与零线电压在1V以下,以免由于交流三相负载不平衡的零点偏移造成地线带电透过探头外壳、仪器外壳、编码器接口和USB等和电路板共地部分,反串大电流进入设备造成板卡器件损坏或烧毁.e.在大功率交流变频设备旁工作,由于工频信号耦合,可能会对信号产生干扰.请采用可靠的完全屏蔽、隔离和接地及对变频设备电能抑制和调频双向处理,以杜绝和降低对仪器超声信号的叠加干扰.(IEC61800-3)9.3.2 使用电池时:a.确保电池和充电器的可靠性.(正常电池低电量11V左右,此时仪器有报警声和报警灯提示,大约30分钟后.供电电量不够,仪器白屏,直到电池没电;低于10V电池损坏,充电器正常输出电压19~20V,正常充电时间5~6小时;充电器指示灯正常;单块电池在不同仪器使用时间不同,具体以仪器实际为准)b.使用正常的电池为设备工作(可以正常充放电至少1小时以上),必免瞬间掉电对仪器闪存盘内系统造成引导瘫痪和数据丢失.c.由于仪器是高端电子设备,请勿与其它交流电器设备同时施工工作,以避免由于交流地线带电或意外火线搭接和大电流、大能量反串入仪器造成设备损坏.接地说明:对设备进行独立安全接地;采用6平方地线连接仪器外壳,另一端连接一根铜钢或钢棒放在地上或埋入地下湿润土壤,对于微机或仪器仪表设备接地电阻小于1 Ohm。
超声相控阵检测教材 第八章 现场实际应用

第八章现场实际应用现场实际应用的实质就是超声检测工艺的执行及验证。
超声检测工艺就是检测前对检测条件的选择,这必然要涉及到检测设备、探头及试块等。
相控阵设备也是如此。
超声相控阵设备分为便携式超声相控阵设备和全自动超声相控阵设备两种。
因此,相控阵的检测工艺也是按这两种类型的设备进行介绍。
8.1便携式超声相控阵检测8.1.1相控阵设备的选择在进行相控阵检测时,首先检测选取的相控阵设备应满足以下要求:◆水平线性误差小◆垂直线性好,衰减器精度高。
◆对于检测大型工件,选择灵敏度余量高、信噪比高、功率大的设备。
◆选择盲区小、分辨力好的设备。
◆选择重量轻、抗干扰能力强、性能稳定、检测结果重复性好的设备。
相控阵设备除了满足常规超声设备的要求外,重点从以下几方面选择:◆穿透能力:穿透能力取决于脉冲电压。
脉冲电压高穿透能力强,脉冲电压低穿透能力弱。
根据被检工件的厚度选择穿透能力。
工件薄的,选择脉冲电压低的设备;工件厚的,选择脉冲电压高的。
目前,市场上普遍流行的相控阵设备脉冲电压有80V(单向)、150V(单向)等。
◆分辨力:相控阵设备属于成像设备,因此,要求成像质量必须好,分辨力必须高。
分辨力低,成像质量差,成像质量差,进而影响缺陷定量。
因为成像质量差,能将两个相邻且独立的缺陷连在一起,进而使缺陷放大。
◆图像显示:相控阵设备是成像设备,对成像显示方式主要有两种类型:1)按声程显示成像2)按真实几何结构成像。
按真实几何结构成像显示优点:图像显示直观、易懂,数据分析容易,很容易让人接受。
见图8-1所示。
(a)按声程显示成像(b)按真实几何结构成像图8-1 成像显示方式◆抗干扰能力便携式设备适用范围广,环境复杂。
因此要选择抗干扰能力强、性能稳定及检测结果重复性好的相控阵设备。
8.1.2探头的选择1、基本术语1)相控阵探头晶片相控阵探头的晶片由压电复合材料制作。
压电复合材料的探头信噪比比一般压电陶瓷探头高10dB~30dB。
超声相控阵检测教材超声相控阵技术

第三章超声相控阵技术3.1 相控阵的概念3.1.1相控阵超声成像超声检测时,如需要对物体内某一区域进行成像,必须进行声束扫描。
相控阵成像是通过控制阵列换能器中各个阵元激励(或接收)脉冲的时间延迟,改变由各阵元发射(或接收)声波到达(或来自)物体内某点时的相位关系,实现聚焦点和声束方位的变化,从而完成相控阵波束合成,形成成像扫描线的技术,如图3-1所示。
图3-1 相控阵超声聚焦和偏转3.2 相控阵工作原理相控阵超声成像系统中的数字控制技术主要是指波束的时空控制,采用先进的计算机技术,对发射/接收状态的相控波束进行精确的相位控制,以获得最佳的波束特性。
这些关键数字技术有相控延时、动态聚焦、动态孔径、动态变迹、编码发射、声束形成等。
3.2.1相位延时相控阵超声成像系统使用阵列换能器,并通过调整各阵元发射/接收信号的相位延迟(phase delay),可以控制合成波阵面的曲率、指向、孔径等,达到波束聚焦、偏转、波束形成等多种相控效果,形成清晰的成像。
可以说,相位延时(又称相控延时)是相控阵技术的核心,是多种相控效果的基础。
相位延时的精度和分辨率对波束特性的影响很大。
就波束的旁瓣声压而言,文献研究表明,延时量化误差产生离散的误差旁瓣,从而降低图像的动态范围。
其均方根(RMS)延时量化误差与旁瓣幅值之比为(式3-1)式中,;N-----阵元数目;μ----中心频率所对应一个周期与最小量化延时之比。
图3-2示出了延时量化误差引起的旁瓣随N、μ变化的关系曲线。
早期的超声成像设备如医用B超中,由LC网络组成多抽头延迟线直接对模拟信号进行延迟,用电子开关来分段切换以获得不同的延迟量。
这种延迟方式有两大缺点:①延迟量不能精细可调,只能实现分段聚焦,当聚焦点很多时需要庞大的LC网络和电子开关矩阵;②由于是模拟延迟方式,电气参数难以未定,延时量会发生温漂、时漂、波形容易被噪声干扰。
(a)μ=8时,旁瓣随N变化曲线(b)μ=16时,旁瓣随μ变化曲线图3-2旁瓣与N、μ关系图近来采用数字延时来代替原来的模拟延时。
超声相控阵检测教材-第一章-相控阵技术的发展史及优点

第一章超声相控阵检测技术发展史及优点1.1 超声相控阵检测技术的发展史20世纪20年代,苏联科学家S.J.Slkolov就已经开始了超声成像的研究。
其后由于技术上的种种原因,超声成像研究进展缓慢。
之后随着电子技术和计算机技术的迅速发展,大大推动了超声成像的研究和应用。
目前,在无损检测领域,已被发展或正在研究的超声检测成像方法主要有以下几种。
1、扫描超声成像:脉冲超声回波(实际上是超声回波通过超声换能器转换成电信号的波形)在显示屏上可以由不同的显示方式,包括A型、B型、C型、P型、F型扫描显示。
2、超声全息:基于波前重建原理,即通过物波和参考波干涉形成的图案(全息图),然后经过反衍射积分的重建过程,获得物体的图像。
早期的超声全息模仿光全息原理,使用液面成像方式。
目前研究比较活跃的声全息方法是扫描声全息,大致分为激光束扫描声全息和计算机重建声全息两类。
3、超声显微镜:利用声波对物体内部的声不连续性(如缺陷、力学特性或微观组织变化等)进行高分辨率成像检测的系统和技术。
其原理是用高频(工作频率可高达2GHz)超声波照射样品,形成样品的微观声学参数分布,能获得被测物体表面和近表面结构的高分辨率图像。
4、超声CT:计算机层析超声成像,它是借鉴X射线CT而发展的超声成像技术。
其用一束超声波依次沿不同方位角照射物体,并同时检测物体中目标的散射波(即投影),再由投影来计算反演重建目标的像。
目前超声CT主要有透射型和反射型两种,而图像重建也有两种理论,射线理论和衍射理论。
5、ALOK超声成像(amplituden and laufzeit orts kurven)技术,即幅度—传播时间—位置曲线技术。
利用幅度—传播时间—位置曲线,通过传播时间补偿和信号叠加的方法,从回拨信号中识别来自缺陷的回波信息而去除噪声信号,并可给出用B型显示的缺陷图像。
6、衍射传播时间技术(TOFD):依靠超声波和缺陷端部相互作用发出的衍射波来检出缺陷并对其进行定量的检测技术,并可给出A型扫描显示及D扫描、B扫描灰度图像显示。
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第三章超声相控阵技术3.1 相控阵的概念3.1.1相控阵超声成像超声检测时,如需要对物体内某一区域进行成像,必须进行声束扫描。
相控阵成像是通过控制阵列换能器中各个阵元激励(或接收)脉冲的时间延迟,改变由各阵元发射(或接收)声波到达(或来自)物体内某点时的相位关系,实现聚焦点和声束方位的变化,从而完成相控阵波束合成,形成成像扫描线的技术,如图3-1所示。
图3-1 相控阵超声聚焦和偏转3.2 相控阵工作原理相控阵超声成像系统中的数字控制技术主要是指波束的时空控制,采用先进的计算机技术,对发射/接收状态的相控波束进行精确的相位控制,以获得最佳的波束特性。
这些关键数字技术有相控延时、动态聚焦、动态孔径、动态变迹、编码发射、声束形成等。
3.2.1相位延时相控阵超声成像系统使用阵列换能器,并通过调整各阵元发射/接收信号的相位延迟(phase delay),可以控制合成波阵面的曲率、指向、孔径等,达到波束聚焦、偏转、波束形成等多种相控效果,形成清晰的成像。
可以说,相位延时(又称相控延时)是相控阵技术的核心,是多种相控效果的基础。
相位延时的精度和分辨率对波束特性的影响很大。
就波束的旁瓣声压而言,文献研究表明,延时量化误差产生离散的误差旁瓣,从而降低图像的动态范围。
其均方根(RMS)延时量化误差与旁瓣幅值之比为(式3-1)式中,;N-----阵元数目;μ----中心频率所对应一个周期与最小量化延时之比。
图3-2示出了延时量化误差引起的旁瓣随N、μ变化的关系曲线。
早期的超声成像设备如医用B超中,由LC网络组成多抽头延迟线直接对模拟信号进行延迟,用电子开关来分段切换以获得不同的延迟量。
这种延迟方式有两大缺点:①延迟量不能精细可调,只能实现分段聚焦,当聚焦点很多时需要庞大的LC网络和电子开关矩阵;②由于是模拟延迟方式,电气参数难以未定,延时量会发生温漂、时漂、波形容易被噪声干扰。
(a)μ=8时,旁瓣随N变化曲线(b)μ=16时,旁瓣随μ变化曲线图3-2旁瓣与N、μ关系图近来采用数字延时来代替原来的模拟延时。
数字延时精度高、控制方便、稳定性好,可以大大提高相控阵超声成像质量。
数字延时的实现可以分成粗延时和细延时,粗延时一般基于采样时钟计数,延时值为采样周期的整数倍,而采样周期通常为几十纳秒以上。
细延时量为采样周期的小数倍,一般能达到10ns以内的延时分辨率。
实现数字粗延时比较简单,但是实现细延时比较困难。
目前有几种方法实现细延时:一种是流水线式采样延迟聚焦,其延时分辨率一般大于10ns。
另一种方法是采用数据做时域内插,获得N倍密集的输出序列从而减小量化延时,这需要很高的运算量和存储器支持。
即便如此,延时量化误差仍然不够小。
有人采用坐标变换的CORDIC算法实现采样序列的相位旋转。
也有人提出基于多种速率数字信号处理技术的多相滤波方法,可以实现5ns级精细延时,并且可以把动态变迹技术等一起考虑。
还有人提出基于FIR滤波的延时方法,延时精度可达到5ns。
3.2.2 动态聚焦(1)相控聚焦原理相控发射聚焦原理如图3-3(a)。
设阵元中心距为d,阵列换能器孔径为D,聚焦点为P,焦距为f,媒质声速为c。
根据几何声程差,可以计算出为使各阵元发射波在P点聚焦,激励信号延迟时间应为(式3-2)式中,n----阵元序号;----为一个足够大的时间常数,目的是为了避免出现负的延迟时间。
接收聚焦如图3-3(b)所示,它是一个和发射聚焦互逆的过程,同样遵守几何聚焦延迟规律。
各阵元接收回波信号,按设计的聚焦延迟量进行延迟,然后相加。
(a)发射聚焦(b)接收聚焦图3-3相控聚焦原理示意图(2)动态聚焦声束特性在声场中,聚焦点区域的声束宽度最小,即在焦点附近的有限区域内,聚焦声束宽度小于各阵元同时激励(即不聚焦)时的声束宽度;但在此区域之外,聚焦声束宽度反而扩散开来,大于不聚焦声束宽度,如图3-4所示。
图3-4聚焦深度和焦点直径对于强聚焦方式,在聚焦深度内聚焦声束变细,可获得优良的侧向分辨率;但聚焦深度很短,焦区以外的声束比未聚焦时发散得更快。
为了使相控声束扫描的整个声场范围内都能得到均匀清晰的成像,就要对声场中每一点进行聚焦发射和接收,以便在各点都有连续一致的侧向分辨率。
这就要求相控声束能沿扫描线跟踪目标,以形成一个滑动的焦点,并同步改变阵列孔径。
在早期的分段动态聚焦系统中,使发射和接收声束分别在近距离、中距离和远距离聚焦,进行几次成像。
在几幅成像中,都只是在各自的焦点附近能得到清晰成像,而在其他区域,由于偏离了焦点使图像模糊。
将几幅图像拼合起来,就能得到从近距离到远距离比较均匀、分辨特性较好的成像。
这种分段聚焦方式合成一幅清晰图像需要转换几次焦点,因而实时性较差。
在改进的实时分段动态聚焦方式中,在一次声束发射/接收过程中,同步地改变焦点深度。
焦点分段更加细密、平滑,常采用8、16段等动态聚焦方式。
由于发射波形一般是短脉冲,发射出去就不能控制,因此不能在一次发射过程中改变焦点;而接收信号则具有一定持续时间,可以由浅渐深的改变焦距,即动态地改变聚焦延迟,使来自各深度的接收声束多处于聚焦状态,如图3-5所示。
图3-5实时分段动态聚焦示意图(3)动态孔径(dynamic aperture)当需要在不同深度下侧向分辨力一致时,就要求随扫查深度(焦距F)增加,阵列换能器的孔径D也同步增加。
在聚焦点处,声束宽度可表示为(式3-3)由式(3-2)可见,最大延迟时间随焦距减小而增大,与孔径D=nd大致呈正比。
所以当焦点较近时,如果不见效孔径D,过大的将使相控电子聚焦难以实现。
同时在离换能器很近的区域内,由于超声波束的衍射效应使波束变得很宽,甚至与换能器孔径相当,这会使侧向分辨率变得很差。
减小孔径可改善近场侧向分辨率。
而在中、远场,聚焦声束宽度有随着焦距增加而增大的趋势,因此要求增大孔径,力图保持恒定的声束宽度。
动态孔径的实现原理如图3-6所示。
动态孔径和动态聚焦配合使用,克服了只能在某一区域聚焦的现象,使得在整个视场中获得均匀的分辨率,保证了图像中的每一点总是在最佳聚焦状态,从而大大改善图像质量。
图3-6可变孔径原理示意图(4)动态变迹动态变迹(dynamic apodization),技术是一种改变主瓣和旁瓣的相对大小及各波瓣夹角的技术,它的作用主要是为了抑制旁瓣,提高分辨率。
当换能器各阵元采用幅度相同的电脉冲激励时,其波瓣图中除了主瓣之外还有旁瓣。
相位延迟的量化误差也会造成旁瓣。
对于32阵元相控阵系统,相位延迟量化误差对于旁瓣的影响如图3-7所示。
(a)无相位量化误差(b)存在相位量化误差图3-7相位量化误差对波瓣的影响用变迹技术可以有效降低旁瓣电平,使波瓣图中的旁瓣明显减小。
变迹处理可分为孔径尺寸变迹,幅度加权变迹和幅度加权动态变迹等几种,其中最常用的是幅度加权变迹。
幅度加权变迹的做法是:对换能器阵中心阵元赋予较大的加权系数,向两端加权系数逐渐减小。
发射或接收状态都可以实现幅度变迹,在发射状态就是中心阵元激励弱、两端阵元激励增强,在接收状态就是叠加时中心阵元权重、两端阵元权轻。
对于图3-7(b)所示相位量化误差产生的旁瓣,当采用图3-8(a)所示线性下降幅度变迹处理后,波瓣图如图3-8(b)所示。
可见,由相位延迟量化误差产生了较大的旁瓣消失。
除了幅度变迹之外,还可以采用孔径变迹等技术来抑制旁瓣。
动态变迹技术与动态聚焦技术、动态孔径技术相结合,可以获得最窄的主波束宽度和最小的旁瓣幅度。
(a)线性下降变迹函数(b)变迹处理后波瓣图3-8线性幅度变迹处理(5)编码发射在超声检测中,窄脉冲激励的频带宽度(范围)宽,因而检测分辨率高;宽脉冲激励带宽窄,分辨率低。
如果对宽脉冲进行频率调制,采用编码发射的形式,则可显著增加频带宽度,从而提高检测分辨率。
同时由于宽脉冲激励的发射强度大,所以检测灵敏度高,可以增加检测距离。
为此目的,实现激励脉冲频率调制的一种方案,如图3-9所示。
图3-9线性调频激励信号波形图3-9中,激励信号是5个周期的线性调频信号,频率逐渐增大。
发射多个脉冲使激励信号的强度增大,检测灵敏度增加。
但是发射多个激励脉冲也使回波信号长度增加,从而降低纵向分辨率。
如果能采取措施将回波信号在时域上进行压缩,就能得到幅度增强、宽度相当于单脉冲激励的接收信号,这就是脉冲压缩的思路。
比如,让调频信号经过接收延时网络,对于不同频率的接收信号,延时时间不同。
频率为f1的信号延时量最大,频率为f2的信号延时量次之……频率为f5的信号延时量最小。
通过这样的延时网络处理,各频率分量的信号在调频发射时具有的时差得到补偿,在延时网络的输出端同时抵达,叠加成为幅度增强的窄脉冲。
实际上超声成像中可采用的编码激励方案不止是线性调频信号,还可以用非线性调频、相位编码等。
超声编码激励的设想来源于雷达信号脉冲压缩理论。
与常规的脉冲激励方式相比,超声编码激励可使信噪比(SNR)得到改善,其改善因子等于相关接收时的时间—带宽积。
当时间—带宽积为30时,SNR可改善15dB。
但是编码激励方式会带来距离旁瓣的副作用,需要采取措施加以避免或抑制。
在相控阵超声中,所采用的编码序列的时间—带宽积通常较小,一般在30到50以内。
用线性调频发射超声波进行发射,在接收中使用匹配滤波等技术,可使距离旁瓣电平降到-50dB左右。
还有文献研究证明了随机调相连续信号具有最优的模糊函数特性,可以克服速度模糊和距离模糊,提高图像质量和分辨率。
(6)数字声束形成在相控阵超声系统中,采用电子聚焦、变迹及方向控制等技术来形成指向性良好的声束特性,这就是数字声束形成技术。
早期声束形成技术采用模拟方式,其信号流程为:各阵元接收信号—延迟相加—幅度检波—A/D转换。
其中延迟环节使用较多的模拟延迟线构成,这影响了声束形成性能的提高。
数字声束形成技术采用数字延时环节,大大改善了声束形成质量,其信号流程是:各阵元接收信号—A/D转换—延迟相加—正交分解。
图3-10是相控接收的数字声束形成示意图。
图3-10数字声束形成原理框图与模拟声束形成过程相比,数字声束形成中的A/D转换环节移到了延迟相加环节之前,直接对各接收通道放大后的信号进行A/D采样,然后在计算机或逻辑器件(FPGA)的控制下对A/D转换的结果用数字方法进行延迟,能够大大提高延迟的精度、分辨率、稳定性,再加上其他一些技术的应用,数字声束形成方式的性能指标明显提高。
多声束形成技术是指发射一次超声脉冲后,从接收信号中形成多条接收声束的技术。
这时发射采用弱聚焦,发射的超声束宽度比较均匀、焦深大,在声束“照射”区域内声场分布均匀。
对各阵元接收的回波信号采用几组不同的延时序列处理,即可得到声场中几个不同方向上的接收声束。
多声束形成需要并行处理技术,对同一个阵元接收的信号要经过N套不同的延时、变迹等参数处理,以形成N条接收声束。