电子元件接触热阻详述(米克)
接触压力 接触电阻-概述说明以及解释

接触压力接触电阻-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述:在电气领域中,接触压力和接触电阻是两个重要的概念。
接触压力指的是连接器或接插件中两个导体之间产生的力,它影响着导体之间的紧密度和电流的传输效率。
而接触电阻则是指两个导体之间接触面产生的电阻,它直接影响着电路的稳定性和性能。
本文将重点探讨接触压力和接触电阻的定义、影响因素以及测量方法,旨在帮助读者加深对这两个概念的理解,提高电路连接的稳定性和可靠性。
1.2 文章结构文章结构需要清晰明了,以便读者能够更好地理解接触压力和接触电阻的关系。
本文将首先介绍接触压力的定义和影响因素,然后探讨接触电阻的定义和测量方法。
最后,将总结接触压力和接触电阻在电子设备中的重要性和意义。
通过这样的结构,读者将能够全面了解接触压力和接触电阻在电子领域中的重要作用。
1.3 目的目的部分:本文旨在深入探讨接触压力和接触电阻这两个概念在实际工程中的重要性和应用。
通过分析接触压力的定义和影响因素,探讨其对设备性能和可靠性的影响;并介绍接触电阻的定义和测量方法,探讨其在电气系统中的重要意义。
通过本文的阐述,读者将能够更全面地了解这两个参数在工程实践中的作用,为工程设计和运行提供参考依据。
同时,也可以帮助读者更好地理解接触压力和接触电阻在电气设备中的重要性,以提高设备的效率和可靠性。
2.正文2.1 接触压力2.1.1 定义接触压力是指两个接触面之间所受的压力。
在电气连接中,接触压力是指连接器上连接的两个金属表面所施加的力量。
良好的接触压力可以确保电流传输的稳定性和可靠性。
2.1.2 影响因素接触压力的大小受到多种因素的影响,包括连接器的设计、材料的性质、连接表面的平整度等。
正常情况下,接触压力越大,接触面的接触面积就越大,从而减小接触电阻,提高电流传输的效率。
在一些特殊情况下,过大的接触压力也可能导致连接器的损坏或损坏,因此在设计和使用连接器时需要合理控制接触压力的大小,以确保良好的电气连接效果。
「建议收藏」功率电子器件界面热阻和接触热阻是如何测量的-

功率电子器件界面热阻和接触热阻是如何测量的?随着微电子技术的发展,电子芯片不断的趋向于小型化、集成化,热量通常被认为是电子系统前进发展的限制性因素,在电子设备热设计领域,热量的积累,温度上升过高对器件的寿命和可靠性都会产生非常不利的影响。
有研究表明,当工作环境为70℃~80℃时,工作温度每提高1℃,芯片的可靠性将下降5%。
因此,对于界面热传导的研究就变得尤为重要。
在各种功率电子器件中,电子器件产生的热量由内而外的传递需要经过数层接触面,不同材料相互接触时会产生界面,界面对热流有阻碍作用, 而界面热阻的概念亦即运用于此。
界面热阻的精准测量也是在集成电路设计时选择热界面材料重要因素——当热量流经接触界面时,将产生一个间断的温度差∆T,根据傅里叶定律,界面热阻Rimp可表述为:Rimp=(T1T2)/Q。
其中,Rimp为界面热阻,T2为上接触部件的界面温度,T1为下接触部件的界面温度,Q为通过接触界面的热流通量。
这里展示一个典型封装结构:在热量由芯片传递至散热器的过程中,需要经过多个固固界面。
当两个部件之间进行接触传热时,由于固体表面从微观上粗糙不平,部件之间实际上是通过离散的接触点进行接触传热的,有研究表明,这之间的实际接触面积不到部件对应表面积的3%,因而产生了非常高的界面热阻。
当界面填充有TIM时,增加了实际的接触面积,界面热阻的数值也随之减少。
界面热阻包括接触热阻和导热热阻两部分,各类热阻的关联如下图所示:那么界面热阻和接触热阻是怎么样测量的呢?在实际应用中,为了充分表征热界面材料的导热能力,材料本身的导热率和热阻的准确测量是必须的。
其实,界面热阻的测量非常简单,目前业内常用于热阻测试的标准为ASTM D5470,根据上面提到的傅里叶公式Rimp=(T1T2)/Q,常用的测试设备可以直接或间接测得上下界面的温度和流经的热通量,进而得到材料的表观界面热阻。
而由界面热阻引申而来,可以进一步得到接触热阻和导热系数:Rimp=1/λS*L+Rcon。
接触电阻——精选推荐

[浏览次数:1832次]接触电阻无论使用哪一种接触,导体接触的不连续性会产生一个附加的电阻——称为“接触电阻”)。
这个电阻比接触器自身的电阻(在没有接触面存在时)要大。
这个电阻值将决定连接的质量,因为:接触电阻阻值越高,则接触电阻上的压降越大,因而接触点释放的热量将越多。
如果温度上升到一定的极限,接触点就会损坏。
温度越高,损坏就越快,这种现象会迅速蔓延。
目录∙接触电阻的参数∙接触电阻的组成∙接触电阻的总值∙接触电阻的参数o接触点接触电阻主要由以下两个参数决定:接触表面的状态和所施加力的作用三个主要参数决定了接触表面的状态:1,物理化学结构从微观角度来看,一个表面的物理化学结构是非常复杂的,周围环境中的外来元素与材料发生反应形成一个表面层,通常称为“侵蚀层”。
2,表面的粗糙度一个表面的粗糙度是复杂的,表面的粗糙度由所采用的生产技术所决定,而且通常具有随机性和不可重复。
它引入了材料挤压压力及塑性变形的概念。
3,表面的几何形状从宏观角度来看,一个接触表面的几何形状是比较容易确定的。
这个形状将决定在两个表面之间宏观的接触面积。
∙接触电阻的组成o接触电阻有两部分组成:1、约束电阻约束电阻是由于当电流线穿过一些“元素接触点“处产生偏移而造成的。
2、薄膜电阻薄膜电阻是由于在接触表面上的污染或氧化层造成的。
∙接触电阻的总值o由于材料钢性及粗糙度的影响,实际的机械接触不是发生在整个宏观的接触面上。
机械接触只发生在一定数目的接触点上,称为“元素接触点”。
接触电阻的总值由以下几点决定:△接触点的几何形状(几何形状决定了接触点的可见接触面积),△两个导体间施加的压力,△材料的导电率,△材料的硬度和粗糙度,△表面层的导电系数,尤其是在表面被侵蚀的状态下。
[浏览次数:1259次]薄膜电阻薄膜电阻器是用蒸发的方法将一定电阻率材料蒸镀于绝缘材料表面制成,具有均匀厚度薄膜电阻的量度。
通常被用作评估半导体掺杂的结果。
这种工艺的例子有:参杂半导体领域(比如硅或者多晶硅),以及被丝网印刷到薄膜混合微电路基底上的电阻。
电子元件热阻的计算热阻计算

电子元件热阻的计算热阻计算2008-01-13 22:21一般,热阻公式中,Tcmax =Tj - P*Rjc 的公式是在假设散热片足够大而且接触足够良好的情况下才成立的,否则还应该写成Tcmax =Tj - P*(Rjc+Rcs+Rsa). Rjc表示芯片内部至外壳的热阻,Rcs表示外壳至散热片的热阻,Rsa表示散热片的热阻.没有散热片时, Tcmax =Tj - P*(Rjc+Rca). Rca表示外壳至空气的热阻.一般使用条件用Tc =Tj - P*Rjc的公式近似. 厂家规格书一般会给出,Rjc,P等参数.一般P是在25度时的功耗.当温度大于25度时,会有一个降额指标. 举个实例:一、三级管2N5551 规格书中给出25度(Tc)时的功率是1.5W(P),Rjc是83.3度/W.此代入公式有:25=Tj-1.5*83.3可以从中推出Tj为150度.芯片最高温度一般是不变的.所以有Tc=150-Ptc*83.3,其中Ptc表示温度为Tc时的功耗.假设管子的功耗为1W,那么, Tc=150-1*83.3=66.7度.注意,此管子25度(Tc)时的功率是1.5W,如果壳温高于25度,功率就要降额使用.规格书中给出的降额为12mW/度(0.012W/度).我们可以用公式来验证这个结论.假设温度为Tc,那么,功率降额为0.012*(Tc-25).则此时最大总功耗为1.5-0.012*(Tc-25).把此时的条件代入公式得出: Tc=150-(1.5-0.012*(Tc-25))×83.3,公式成立. 一般情况下没办法测Tj,可以经过测Tc的方法来估算Ttj.公式变为: Tj=Tc+P*Rjc 同样与2N5551为例.假设实际使用功率为 1.2W,测得壳温为60度,那么: Tj=60+1.2*83.3=159.96此时已经超出了管子的最高结温150度了!按照降额0.012W/度的原则,60度时的降额为(60-25)×0.012=0.42W,1.5-0.42=1.08W.也就是说,壳温60度时功率必须小于1.08W,否则超出最高结温.假设规格书没有给出Rjc的值,可以如此计算: Rjc=(Tj-Tc)/P,如果也没有给出Tj数据,那么一般硅管的Tj最大为150至175度.同样以2N5551为例.知道25度时的功率为 1.5W,假设Tj为150,那么代入上面的公式: Rjc=(150-25)/1.5=83.3 如果Tj取175度则Rjc=(175-25)/1.5=96.6 所以这个器件的Rjc 在83.3至96.6之间.如果厂家没有给出25度时的功率.那么可以自己加一定的功率加到使其壳温达到允许的最大壳温时,再把数据代入: Rjc=(Tjmax-Tcmax)/P 有给Tj最好,没有时,一般硅管的Tj取150度我还要作一下补充说明.一、可以把半导体器件分为功率器件和小功率器件. 1、大功率器件的额定功率一般是指带散热器时的功率,散热器足够大时且散热良好时,可以认为其表面到环境之间的热阻为0,所以理想状态时壳温即等于环境温度.功率器件由于采用了特殊的工艺,所以其最高允许结温有的可以达到175度.但是为了保险起见,一律可以按150度来计算.适用公式:Tc =Tj - P*Rjc.设计时,Tj 最大值为150,Rjc已知,假设环境温度也确定,根据壳温即等于环境温度,那么此时允许的P也就随之确定. 2、小功率半导体器件,比如小晶体管,IC,一般使用时是不带散热器的.所以这时就要考虑器件壳体到空气之间的热阻了.一般厂家规格书中会给出Rja,即结到环境之间的热阻.(Rja=Rjc+Rca).同样以三级管2N5551为例,其最大使用功率1.5W 是在其壳温25度时取得的.假设此时环境温度恰好是25度,又要消耗1.5W的功率,还要保证可温也是25度,唯一的可能就是它得到足够良好的散热!但是一般像2N5551这样TO-92封装的三极管,是不可能带散热器使用的.所以此时,小功率半导体器件要用到的公式是: Tc =Tj - P*Rja Rja:结到环境之间的热阻.一般小功率半导体器件的厂家会在规格书中给出这个参数. 2N5551的Rja厂家给的值是200度/W.已知其最高结温是150度,那么其壳温为25度时,允许的功耗可以把上述数据代入Tc =Tj - P*Rja 得到: 25=150-P*200,得到,P=0.625W.事实上,规格书中就是0.625W.因为2N5551不会加散热器使用,所以我们平常说的2N5551的功率是0.625W而不是1.5W!还有要注意,SOT-23封装的晶体管其额定功率和Rja数据是在焊接到规定的焊盘(有一定的散热功能)上时测得的. 3、另外告诉大家一个窍门,其实一般规格书中的最大允许储存温度其实也是最大允许结温.最大允许操作温度其实也就是最大允许壳温.最大允许储存温度时,功率P当然为0,所以公式变为Tcmax =Tjmax - 0*Rjc,即Tcmax =Tjmax.是不是很神奇!最大允许操作温度,一般民用级(商业级)为70度,工业级的为80度.普通产品用的都是民用级的器件,工业级的一般贵很多. 热路的计算,只要抓住这个原则就可以了:从芯片内部开始算起,任何两点间的温差,都等于器件的功率乘以这两点之间的热阻.这有点像欧姆定律.任何两点之间的压降,都等于电流,乘以这两点间的电流. 不过要注意,热量在传导过程中,任何介质,以及任何介质之间,都有热阻的存在,当然热阻小时可以忽略.比如散热器面积足够大时,其与环境温度接近,这时就可以认为热阻为0.如果器件本身的热量就造成了周围环境温度上升,说明其散热片(有散热片的话)或外壳与环境之间的热阻比较大!这时,最简单的方法就是直接用Tc =Tj - P*Rjc来计算.其中Tc为壳温,Rjc为结壳之间的热阻.如果你Tc换成散热片(有散热片的话)表面温度,那么公式中的热阻还必须是结壳之间的加上壳与散热器之间的在加散热器本身的热阻!另外,如果你的温度点是以环境来取点,那么,想想这中间包含了还有哪些热路吧.比如,散热片与测试腔体内空气之间的热阻,腔体内空气与腔体外空气间的热阻.这样就比较难算了.。
典型接触面的接触热阻

典型接触面的接触热阻接触热阻是指两个接触面之间传导热量时所阻碍的程度,通常用Rc 来表示。
在实际生活中,我们经常会遇到接触热阻的现象,比如热锅上的食物与锅底的接触热阻、电子设备散热器与芯片之间的接触热阻等等。
本文将以典型接触面的接触热阻为主题,探讨接触热阻的影响因素及其应对方法。
影响接触热阻的主要因素之一是接触面的平整度。
当两个接触面足够平整时,它们之间的接触面积较大,接触阻力较小,从而能够更好地传导热量。
相反,如果接触面不平整,表面存在凹凸不平的情况,接触面积减小,接触热阻则会增加。
因此,在实际应用中,为了降低接触热阻,我们通常会对接触面进行加工,使其尽可能平整。
接触面的材料也是影响接触热阻的重要因素之一。
不同材料的热导率不同,热导率越高,材料传导热量的能力就越强,接触热阻也就越小。
例如,金属材料具有较高的热导率,因此在电子设备散热器与芯片之间常常采用金属材料,以提高热量传导效率。
此外,材料的表面处理也会影响接触热阻。
光滑的表面能够减少接触阻力,从而降低接触热阻。
接触面之间的压力也会对接触热阻产生影响。
当接触面之间施加足够的压力时,可以使两个接触面更加贴合,接触面积增大,从而降低接触热阻。
这也是为什么在实际应用中,我们经常会使用螺丝将接触面紧密固定在一起的原因之一。
除了上述因素外,接触面之间的介质也会影响接触热阻的大小。
如果介质的热导率较低,会导致热量传导的阻力增加,从而增加接触热阻。
因此,在一些需要传导大量热量的场景中,我们会使用热导率较高的介质来填充接触面,以降低接触热阻。
在实际应用中,为了降低接触热阻,我们可以采取一些措施。
首先,合理选择接触面材料,尽量选择热导率较高的材料,以提高热量传导效率。
其次,对接触面进行加工处理,使其尽可能平整光滑,以增加接触面积并减少接触阻力。
此外,适当增加接触面之间的压力,可以使接触面更加贴合,从而降低接触热阻。
最后,选择合适的介质填充接触面,以提高热量传导效率。
icepak接触热阻设置

icepak接触热阻设置热阻是一个物体或系统对热流动的阻碍程度的度量。
在热传导的过程中,热阻表示了一个物体传热的能力和效果。
通过合理设置热阻,可以更好地控制物体的温度和热量传递。
在此处,将讨论有关热阻的基本概念和与之相关的一些参考内容。
1. 热阻的定义和公式:热阻(R)是指通过物体时,需要在单位时间内消耗的能量来抵消热量流失,与物体的温度差息息相关。
热阻的计算公式为R = ΔT/Q,其中ΔT为温度差,Q为热量流。
2. 热阻的种类:主要有接触热阻和传导热阻两种。
接触热阻是指直接接触的两个物体之间的热阻,例如热传感器与被测体之间的接触热阻。
传导热阻是指物体内部通过传导进行热量传递时的阻碍程度。
3. 接触热阻的优化方法:接触热阻的大小与接触面积、表面粗糙度和接触介质等因素有关。
优化接触热阻的方法包括增加接触面积、改善接触面的平整度和加强接触介质的热导率等。
4. 接触热阻的实际应用:接触热阻在许多工业和科学领域中都有广泛的应用。
例如在电子器件中,为了确保散热效果,需要优化接触热阻来提高器件的稳定性和寿命。
5. 热阻的测试方法:为了准确地评估热阻,常用的测试方法包括热传导测试和热阻测试。
热传导测试可以通过测量材料的热传导率来计算热阻,而热阻测试可以通过测量物体两端的温度差和热量流来计算热阻。
6. 材料的热导率和热阻:不同材料的热导率和热阻特性不同。
例如,铜具有较高的热导率,因此在一些需要高效散热的应用中使用铜材料可以降低热阻。
7. 热管技术:热管是一种特殊的热传导工具,可以有效地传递热量并降低热阻。
热管由一根封闭的金属管内部填充有工作流体,通过液体汽化和凝结的循环来传递热能。
8. 热传导材料的应用:一些特殊的热传导材料,如导热胶、导热膜等,可以用于优化接触热阻和散热设计。
这些材料具有良好的热传导性能,可以有效地降低热阻。
9. 热阻的仿真计算:通过使用计算机仿真工具,可以对热阻进行模拟和计算。
这些仿真工具可以帮助工程师更好地理解物体传热特性,并优化热阻。
第二部分接触电阻的基本概念(PDF)

驳克码(MARECHAL)点接触式工业插座技术资料之二:第二部分 接触电阻的基本概念所有的电气工程师都知道,电流越大,必须使用越粗大的电缆。
有些人自然认为接触的面积应该等于导线的横截面面积。
实际上,两个表面真正直接相接触的面是由一些点构成的,由于材料表面的不平整性,真正的接触面积要比宏观上看到的接触表面要小。
唯一容易测量的值是整体作用在接触面上的力。
这个力会被分解到三个(保持稳定位置需要的最小的斑点数)或更多个的接触斑点上。
无论怎样努力去扩大接触面积,但电子磁力线只通过两个接触导体之间有限的几个斑点上,这些斑点的总面积实际上比宏观上的接触面要小。
电子通过“欧姆系统”( Ohmic system)(“清洁”接触,金属对金属)、隧道效应或热电子效应(fritting voltage烧结电压)进行传输,具体采用哪种传输方式由受材料的氧化和污染产生的表面绝缘层的厚度来决定。
世界上所有开关设备的制造商都使用银合金的接触点,通常是半球形的,而且把重点放在施加的力上而不是放在假定的接触面积上。
而且这种方法理念在接触器以及断路器制造业中得到广泛采用。
从这个方面讲,插头和插座是一个例外。
物理概念§2.12.1 物理概念物理概念无论使用哪一种接触,接触导体的不连续性会产生一个附加的电阻(称为“接触电阻“)。
在没有接触的情况下,这个电阻比接触的两方中的一个的电阻要大。
这个电阻的阻值将决定接触的质量,因为:接触电阻阻值越高,则接触电阻上的压降越大,因而接触点释放的热量将越多。
如果温度上升到一定的极限,接触点就会损坏。
因为温度越高,损坏的速度就越快,这种现象会很快蔓延。
一个接触点的状态(它的阻值)主要由以下两个参数决定:接触表面的状态所施加力的作用§2.2接触表面的状态2.2 接触表面的状态接触表面的状态接触表面的状态由以下三个参数决定了:(图7)它的物理化学结构从微观角度来看,一个表面的物理化学结构是非常复杂的,周围环境中的外来元素与材料发生反应形成一个表面层,通常称为“侵蚀层”。
热电偶、热电阻工作原理及常见故障处理

热电偶、热电阻工作原理及常见故障处理热电偶、热电阻原理介绍和故障判断方法热电偶测温的基本原理是两种不同成份的材质导体组成闭合回路,当两端存在温度梯度时,回路中就会有电流通过,此时两端之间就存在Seebeck电动势——热电动势,这就是所谓的塞贝克效应。
两种不同成份的均质导体为热电极,温度较高的一端为工作端,温度较低的一端为自由端,自由端通常处于某个恒定的温度下。
根据热电动势与温度的函数关系, 制成热电偶分度表; 分度表是自由端温度在0?时的条件下得到的,不同的热电偶具有不同的分度表。
在热电偶回路中接入第三种金属材料时, 只要该材料两个接点的温度相同, 热电偶所产生的热电势将保持不变,即不受第三种金属接入回路中的影响。
因此, 在热电偶测温时, 可接入测量仪表, 测得热电动势后, 即可知道被测介质的温度。
两种不同成份的导体(称为热电偶丝材或热电极)两端接合成回路,当接合点的温度不同时,在回路中就会产生电动势,这种现象称为热电效应,而这种电动势称为热电势。
热电偶就是利用这种原理进行温度测量的,其中,直接用作测量介质温度的一端叫做工作端(也称为测量端),另一端叫做冷端(也称为补偿端);冷端与显示仪表或配套仪表连接,显示仪表会指出热电偶所产生的热电势。
热电偶实际上是一种能量转换器,它将热能转换为电能,用所产生的热电势测量温度,对于热电偶的热电势,应注意如下几个问题:1:热电偶的热电势是热电偶两端温度函数的差,而不是热电偶两端温度差的函数;2 :热电偶所产生的热电势的大小,当热电偶的材料是均匀时,与热电偶的长度和直径无关,只与热电偶材料的成份和两端的温差有关;3:当热电偶的两个热电偶丝材料成份确定后,热电偶热电势的大小,只与热电偶的温度差有关;若热电偶冷端的温度保持一定,这进热电偶的热电势仅是工作端温度的单值函数。
热电阻工作原理: 热电阻是中低温区常用的一种测温元件。
热电阻利用物质在温度变化时本身电阻也随着发生变化的特性来测量温度的。
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图3(b)中这个物体的热阻该怎么定义呢?哪一点 如对一根电线,L 是长度,A 是截面积,ρ 是电阻率, 的温度是T ?用多大的Q ?是总的Q 还是从T 流到T 2 2 2 它与物质本身的特性有关。请注意,上面所示的简单 的Q 呢?怎么测量呢? 公式告诉我们,不用担心在通过导线的时候电流会流 这样一个简单的问题就阻止了人们用热阻来度量 向周围环境中而损失掉。末端的电流等于始端的电流, 传热吗?不,没有。如果你知道怎么使用热阻这个概 因为空气是极其不良的导电体。 念,他仍然是很有用的性能参数。 现在,让我们来看一下一维导热问题: T1 − T2 T1 − T2 T 1 − T2 = = L L/KA Rth 高的热阻是好还是不好呢?问题的答案要依赖于 你是想要散出热量还是想保存热量。如果你想通过散 Qcond = KA (1) 热来保持物体“凉爽” ,就需要低热阻。如果你想保存 你有的热量,你就需要高热阻。我希望我家的墙壁有 非常高的热阻,这样我就能保存热量。然而,如果我
(4) 阻存在。芯片用某类环氧物贴在引线框上。在此我们 假设结是理想地贴在芯片和引线框上。如果结点和引 这就意味着,例如如果我们关心一个电子元器件 线框接触面积比引线框的面积小的话,热散过程还存 的散热问题,在热量能够到达环境之前,必须克服至 在另一个接触热阻。从引线框,热不得不首先进入外 少两个热阻。第一个热阻是从发热部位到器件表面, 壳,然后转弯,进入引线。一路上,引线和外壳之间 第二个热阻是从表面到环境。当我们使用更高导热系 存在热传递(因为外壳急切的希望自己能与外界环境 数的材料时,我们只解决了第一个热阻。为了减小第 进行热交换) 。一旦引线走出封装,他就暴露在周围环 二个热阻,我们必须处理h。这里不再深入讨论,我们 境中并进行自己的热交换。从而热进入电路板并在与 将在其他独立的教程来介绍。 板周围环境进行热交换的时候沿板扩散。
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MEKE 米Biblioteka 技术周刊在实际中,两个集中热阻单元是并联的。上一段 讨论的一组热阻集中叫做Junction-to-Board Thermal Resistance。结到外壳外表面的热阻叫做Junction-to Case Resistance。当考虑传导时,我们通常使用另外 一个热阻叫做Junction-to-Ambient Resistance。当有 散热片贴在外壳的时候,我们增加了两个热阻:Caseto-Sink和Sink-to-Air resistances。接下来就是散热片 制造厂公布的散热片特性了。 这里需要重点注意的是那些集中热阻实际上都包 含着许多复杂的传热机理。不懂原理而随意使用这些 概念来测量元件特性是危险的并可能导致错误的结论。 请记住,大部分参数是在特殊的条件下测得的。在使 用这些参数和依靠他们来进行你的设计的时候,要确 保你的使用条件与得到参数时的条件类似。
Contents
1 传导热阻 2 对流热阻 3 其他形式的热阻 4 所有热阻 1 2 2 2
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Figure 1: 电阻
(a) (b)
∆V = I · R 其中,V 是物体两端的压差,I 是电流,R 是电 阻。当然,不是每种物质都遵循线性欧姆定律,不过 我们不在此讨论。 电阻R 可由下式计算: R = ρL/A
Figure 3: 二维导热 如果左面温度是均匀的,都为T1 ,右面温度是均 匀的,都为T2 ,其他的面都是理想绝热的,那么他是 一种一维情形,如图3(a)。然而,如果在左手面和右 手面之间的某个地方,有一条能够让热量出去的通道, 那么我们遇到了2D或者3D问题的,如图3(b)。
这里,Rth 是一维方向的热阻。
,我需要减小所有能阻止热量 记住,上面问题有个限制条件,那就是: “一维” 想保持芯片的“凉爽” 。 如果一个事件只发生在一个尺寸上,那么问题就简化 离开芯片的热阻。 为一维问题。这就意味着我们假设热量从左端传到右 米克机械仿真技术论坛 什么是高的热阻值呢?如果我告诉你我有一个热 page 1 of 3
MEKE 米克技术周刊
热阻a
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米克技术周刊第一期 Thermal Resistance
a 本文译自coolingzone
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传导热阻
热阻是一个数学上的概念,类似于在基础物理中
学到的电阻的概念。在描述热阻之前,让我们先来回 顾一下电阻的含义。根据欧姆定律,电压差产生电流。 George Simon Ohm(1787-1854)证明了电流和电压 差之间存在简单的线性关系,两点间的比例常数被定 义为电阻。 端的时候不会逃向周围环境中。也就是说,我们唯一 能做到这一点的就是,我们用一个理想的绝热体使导 体的表面绝热。因为所有的热量从T1 流向T2 ,所以我 们得到了热阻的一致性定义。 现在,让我们看一下二维情况: Figure 2: 热阻
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其他形式的热阻
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对流热阻
在实际应用中,传导热阻不是唯一一个需要我们
与之斗争的热阻。下一个热阻是由于对流的存在。即 使传热活动相当活跃或者使用高传导率的材料,热量
仍然需要传到空气中来完成彻底的散热。这相当薄一 扩展热阻(Spreading Resistance) 当热量想从一 层的空气(或者为工作流体)位于固体的表面,对传 个小区域到达大的区域时,那就需要一些策略 热有极大的阻碍。粘在物体表面的第一层空气是不流 动的。其他层空气滑过第一层空气,从而带走热量。 第一层叫做边界层。 对于对流传热,有一些直观的认识我们都知道的。 如果流体流速快,带走的热量也就多。如果流体的传 导率高,带走的热量也就多。如果能够通过紊流使物 了。就象你强迫热量背离他通常喜欢的直截了当 的传递路径,这会产生热阻,就是扩展热阻。
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MEKE 米克技术周刊
阻值为0.5℃/W 的散热器,他是好是坏呢?有多坏? 这个数值有什么含义呢?后一个问题其实很好回答。 0.5℃/W 的热阻表示如果1W 的热量通过该物体,那 么会有0.5℃的温降。让我们看一块长为2cm,截面积 为2cm × 2cm的铝块。通过快速计算,我们得到热阻R 为: 2 × 0.01m = 0.27◦ C/W 180W m/◦ C × 4 × 0.0001 如果用铜代替铝,热阻就降低到0.125℃/W。 上面讨论了传导和对流,但是还有其他的对热流 有阻碍的来源。由于还其他独立的讨论,我们这里简 要涉及一下。 接触热阻(Contact Resistance) 无论何时,当你 将两个物体接触在一起的时候,你就带进了一个 热阻,这是因为这些表面永远不会完全光滑的 (无论你如何的抛光) 。事实上,所有的表面就 象“高山和深谷” 。只有山顶才有机会接触到其 他表面。其他部分充满着空气(或者其他的任何 流体) 。减小这一热阻的通常方法是用有较好导 热率的材料填充这些间隙。增加接触表面之间的 压力或者同时使用上面的方法,都可以减小接触 热阻。
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所有热阻
让我们看一下当产生在IC内产生的热量散到周围 体充分混合,也就能带走多的热量。对流热阻与被叫 环境中过程中所有的热阻。 做传热系数的参数有关。定义和理解这个重要参数 需要另一个教程。这里仅仅运用牛顿冷却公式就足够 了: Q = hA(Ts − Ta ) (2)
其中,h 是对流传热系数,A 是表面积,Ts 是表面温 度,Ta 是参考温度。通过重新整理上面等式,我们得 到一个熟悉的形式: Figure 4: 芯片与空气间的热阻 Junction产生的热量将既从空气中散出(这条路 Q = (Ts − Ta )/(1/hA) = (T s − T a)/Rconv 其中, Rconv = 1/hA (3) 不太容易,因为空气是不良导热体)也从芯片散出 (图中蓝色块) 。注意到,Junction区域小于芯片,意 味着有扩展热阻的存在。当然还有芯片材料本身的热