固体催化剂的常用表征技术

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固体催化剂的几种表征手段

固体催化剂的几种表征手段


-11.35
与某pKa相当的硫酸的质量分数
对-硝基氯苯


-12.70
2, 4-二硝基氟苯


-14.52
1, 3, 5-三硝基甲苯


-16.04
用于测定酸强度的碱性指示剂:
N=N N(CH3)2 + A = N=N N(CH3)2 A
Ni/SiO2脱氢催化剂
固体酸性质的测定
酸位类型的鉴定 —— 吸附探针分子(NH3或吡啶的红外光谱法 NH3 B酸位 : NH3与表面H+作用生成 NH4+;其吸收谱带 3120 ㎝-1 或1450 ㎝-1 L酸位:NH3以孤对电子配位键合于L 酸位的吸收谱带 3300 ㎝-1或1640 ㎝-1 吡啶 B酸位 :吡啶与表面H+作用生成 吡啶正离子,其吸收谱带 1540 ㎝-1 L酸位:吡啶配位键合于L 酸位的吸收谱带 1450 ㎝-1或1490 1610 ㎝-1
透射电子显微镜TEM) Transmission Electron Microscope
透射电子显微镜
形貌分析
图1 产物的SEMa)及TEM(b)图像
HRTEM分析
水热时间对产物形貌的调控
b
c
d
a
0.50CaO-ZrO2固体碱
扫描电子显微镜(SEM
形貌及其尺寸分布
a
b
c
SEM images of ZnSe nanocrystals obtained under different temperature: a)100 OC ; (b) 140 OC and (c) 180 OC
XPS原理 光电效应
光电效应 根据Einstein的能量关系式有: h = EB + EK 其中 为光子的频率;EB 是内层电子的轨道结合能,EK 是被入射光子所激发出的光电子的动能&实际的X射线光电子能谱仪中的能量关系。即 SP和S分别是谱仪和样品的功函数 。

催化剂的表征

催化剂的表征

催化剂的表征催化剂是一种能够加速化学反应速率的物质,常用于工业生产和实验室研究中。

催化剂的表征是为了了解其物理和化学性质,从而更好地理解其催化性能和反应机理。

催化剂的表征可以通过多种技术手段进行,下面将介绍几种常见的催化剂表征方法。

一、催化剂的物理性质表征催化剂的物理性质表征主要包括表面积、孔结构和晶体结构等方面。

表面积是指催化剂单位质量或体积的活性表面积,可通过比表面积测定仪等设备进行测量。

孔结构是指催化剂内部的孔隙结构,包括孔径、孔体积和孔壁厚度等参数。

常用的孔结构表征方法有氮气吸附-脱附法和压汞法。

晶体结构是指催化剂中晶体的排列方式和晶格参数,可以通过X射线衍射和透射电子显微镜等技术进行表征。

二、催化剂的化学性质表征催化剂的化学性质表征主要包括化学成分、表面酸碱性质和表面活性位点等方面。

化学成分是指催化剂中元素和化合物的组成,可以通过X射线能谱分析、傅里叶变换红外光谱和X射线光电子能谱等技术进行分析。

表面酸碱性质是指催化剂表面的酸碱性质及其强度,可以通过酸碱滴定法、NH3和CO2吸附等方法进行表征。

表面活性位点是指催化剂表面上对反应物吸附和反应发生的活性位点,可以通过吸附取代法、化学计量法和原位傅里叶变换红外光谱等技术进行研究。

三、催化剂的微观结构表征催化剂的微观结构表征主要包括催化剂颗粒形貌、催化剂与反应物的相互作用和催化剂的还原性等方面。

催化剂颗粒形貌可以通过扫描电子显微镜和透射电子显微镜等技术进行观察和分析。

催化剂与反应物的相互作用可以通过吸附实验、漫反射红外光谱和核磁共振等技术进行研究。

催化剂的还原性是指催化剂在还原条件下的还原反应性能,可以通过程序升温还原和原位X射线吸收精细结构等技术进行表征。

四、催化剂的性能评价催化剂的性能评价是指对催化剂进行活性、选择性和稳定性等方面的评价。

活性是指催化剂对反应物转化的能力,可以通过活性测试和动力学模型进行评价。

选择性是指催化剂在多个可能反应路径中选择某一种反应路径的能力,可以通过选择性测试和反应机理研究进行评价。

催化剂表征技术

催化剂表征技术

催化剂表征技术催化剂是一种在化学反应中起到促进并加速反应速率的物质。

为了更好地了解和掌握催化剂的性质和功能,科学家们开发了各种催化剂表征技术。

这些技术可以揭示催化剂的化学成分、结构特征以及表面活性等重要信息。

本文将介绍几种常见的催化剂表征技术,分别是X 射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和傅里叶变换红外光谱(FT-IR)。

X射线衍射(XRD)是一种广泛应用于催化剂表征的技术。

X射线衍射通过向催化剂样品照射X射线,利用样品晶体的衍射现象来获得样品的结晶信息。

这种技术可以提供催化剂晶体结构的相关参数,例如晶胞参数、晶面指数以及晶体缺陷等。

XRD不仅能够确定催化剂的晶体相,还可以检测到存在于样品中的无定形或非晶态物质。

扫描电子显微镜(SEM)是一种常用的催化剂表征技术。

这种技术通过向催化剂表面照射高能电子束,利用样品表面释放出的特征性信号来获得样品的形貌和表面形貌信息。

SEM可以提供催化剂颗粒的大小、形状以及表面形貌的细节。

对于催化剂的微观表面形貌,SEM可以展示出丰富多样的形貌特征,例如颗粒大小分布、表面结构和孔隙形态等。

透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率的催化剂表征技术。

通过透射电子显微镜,可以观察到催化剂的内部结构和微观形貌。

TEM利用样品对电子束的透射和散射来获得催化剂的高分辨率图像。

与SEM 不同,TEM可以提供更详细的样品结构信息,包括晶格结构、纳米颗粒的形态以及原子尺寸等。

通过TEM,可以准确地研究催化剂的微观结构与性能之间的关联。

傅里叶变换红外光谱(FT-IR)是一种用于催化剂表征的光谱学技术。

FT-IR通过测量催化剂样品在红外光谱范围内吸收和散射光的特征来分析其化学成分和分子结构。

催化剂中的不同化学键和官能团都会在红外光谱中表现出特征性的吸收峰。

通过解析和比较不同峰值的出现和强度,可以确定催化剂中存在的化学物种及其相对含量。

FT-IR可以用于研究催化剂的催化活性和反应机理等相关问题。

催化剂结构表征的方法

催化剂结构表征的方法

结构表征:1. 晶相:XRD(多晶,单晶)——确定样品晶体类型(2θ-d 晶面间距,T强度);TEM(透射电镜)。

2. 化学环境,配位状态:IR,UV,UV-Ramon,XPS,NMR,EPS,Mossbour。

组成表征:XRF,ICP(准确),XPS,AEM(分析电镜)。

宏观物性表征:1. 粒度(密度,强度):SEM(扫描电镜),TEM,XRD,激光衍射和光散射(统计结果)2. 形貌:TEM+SEM3. 多孔性:氮气吸附,压汞法,烃分子探针4. 稳定性:TG-DTA,XRD酸性及酸强度表征:1. 酸性:NH3-IR,吡啶(Py)-FT-IR,FT-IR,MAS-NMR(31Al,1H)。

2. 酸强度:NH3-TPD,Hammett指示剂,吸附量热。

3. 内外表面酸的识别:探针分子反应法。

金属性表征:1. 分散度:H2吸附,HOT,TEM,XPS。

2. 还原性:TPR。

3. 氧化还原态:XPS。

4. 表面吸附物种:IR。

金属与载体/助剂相互作用:TPR,XPS,DTA。

再生:TG-DTA,TPO。

1 什么是XRF?一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。

X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。

受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。

探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。

然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。

在实际应用中,有效的元素测量范围为11号元素(Na)到92号元素(U)。

2 X射线荧光的物理意义:X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:nm)描述。

X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。

一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。

催化剂表征的主要内容

催化剂表征的主要内容

催化剂表征的主要内容
催化剂表征是指对催化剂进行结构、组成、表面性质等方面的分析和评价,以更好地了解催化剂的性能和活性。

主要内容包括:
1.化学成分和元素分析:
•使用技术如X射线荧光光谱(XRF)或原子吸收光谱
(AAS)等,来确定催化剂中的元素含量。

2.结构表征:
•X射线衍射(XRD):用于确定催化剂中晶体结构的方法。

•电子显微镜(SEM/TEM):提供催化剂表面形貌和粒子大小等信息。

•扫描隧道电子显微镜(STEM):对催化剂表面原子级结构进行高分辨率成像。

•傅里叶变换红外光谱(FT-IR):用于检测表面吸附物质和官能团。

3.表面化学性质:
•X射线光电子能谱(XPS):提供元素的化学状态、电荷状态和表面组成信息。

•傅里叶变换红外光谱(FT-IR):表面吸附物质的化学键信息。

4.比表面积和孔隙结构:
•比表面积分析(BET):用于测定催化剂的比表面积。

•孔径分布分析(BJH):用于测定催化剂孔隙大小和分布。

5.催化剂活性和选择性:
•实验室反应器:通过模拟实际催化反应条件来评估催化剂性能。

•动力学研究:考察催化剂对反应速率的影响。

6.稳定性和寿命评估:
•循环实验:考察催化剂在多次使用后的性能变化。

•寿命测试:对催化剂在长时间内的稳定性进行评估。

这些表征方法的选择取决于催化剂的类型、应用以及研究的具体目的。

通过综合这些表征手段,研究人员可以更全面地了解催化剂的性质,有助于优化催化剂设计和提高催化活性。

催化剂测定与表征技术

催化剂测定与表征技术

催化剂测定与表征技术催化剂在化学工业中扮演着重要的角色,它们能够加速反应速度,提高产物选择性,降低反应温度等。

为了充分了解催化剂的性能和稳定性,科学家们发展了各种测定和表征催化剂的技术。

本文将介绍几种常用的催化剂测定与表征技术。

一、物理吸附法物理吸附法是一种常用的催化剂表征技术。

通过测定催化剂表面吸附气体的物理吸附量,可以确定催化剂的比表面积、孔径分布和孔容等参数。

常用的物理吸附法包括比表面积测定、孔径分布测定和吸附等温线测定等。

其中,比表面积测定常用的仪器是比表面仪,可以测定催化剂的比表面积;孔径分布测定则可以通过气孔大小对吸附剂进行分类;吸附等温线测定可以获得催化剂的孔容和孔径分布。

二、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种高分辨率表征催化剂表面形貌和微观结构的技术。

通过扫描电子显微镜,可以观察到催化剂表面的形貌、颗粒大小和分布等信息。

同时,通过能谱分析功能,还可以确定催化剂表面元素的组成和分布。

扫描电子显微镜的应用广泛,可以对不同种类的催化剂进行表征,为改进催化剂性能提供依据。

三、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种高分辨率表征催化剂内部结构的技术。

通过透射电子显微镜,可以观察到催化剂微观结构的细节,如晶体结构、晶胞参数、晶界和缺陷等。

透射电子显微镜还可以进行能谱分析,确定催化剂微观结构元素的组成和分布。

透射电子显微镜在催化剂研究中起到了至关重要的作用,对于揭示催化机理和改善催化剂性能具有重要意义。

四、X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种广泛应用于催化剂表征的技术。

通过X射线衍射,可以确定催化剂晶体结构、晶胞参数和晶面取向等信息。

X射线衍射还可以进行定性和定量分析,确定催化剂中晶体的相对含量。

X射线衍射技术是研究催化剂晶体结构和相变行为的重要手段,为催化剂的合成和改良提供了重要信息。

五、傅里叶变换红外光谱(FTIR)傅里叶变换红外光谱是一种用于催化剂表征的非常有用的技术。

通过傅里叶变换红外光谱,可以确定催化剂表面的吸附物质、化学键特征和表面活性位点等信息。

固体超强酸催化剂[详解]

固体超强酸催化剂[详解]

固体超强酸催化剂超强酸是比100%的硫酸还要强的酸,其Hammett函数H0<-11.93(100%硫酸的H0为-11.93),可分为固态和液态。

固体超强酸和液体超强酸相比,有容易与反应物分离,可重复使用,不腐蚀反应器,减少催化剂公害,催化剂有良好的选择性等优点。

在催化反应中,固体超强酸对烯烃双键异构化、醇脱水、烯烃烷基化、酸化、醋化等都显示出较高的活性。

这种催化剂不腐蚀设备,不污染环境,催化反应温度低,制备简便,有广泛的应用前景。

固体超强酸是近年来发展的一种新型催化材料,对许多化学反应有较好的催化活性、选择性及重复使用性能。

固体超强酸是近年来研究与开发的一种新型固体酸催化剂,随着人们对固体超强酸不断深入研究,催化剂的种类也从液体含卤素超强酸发展为无卤素固体超强酸、单组分固体超强酸、多组分复合固体超强酸。

无论是催化剂的制备、理论探索、结构表征,还是工业应用研究都有了新的发现,固体超强酸由于其特有的优点和广阔的工业应用前景,已受到国内外学者广泛关注,成为固体酸催化剂研究中的热点。

1. 催化性能1.1饱和烃的异构化反应饱和烃类分子如正丁烷、戊烷较稳定,不易发生反应。

如用100%硫酸作催化剂,室温下不会发生反应,但用SbF5SiO2-Al2O3固体超强酸却能使丁烷发生反应,主要产物为异丁烷。

nC5H12 SbF5SiO2-Al2O3 异戊烷1.2氧化反应SO42--Fe2O3能在室温下使丁烷异构化。

但在100℃以上用脉冲法进行反应时,只发生氧化反应但是,单用Fe2O3作催化剂,即使反应温度为300℃丁烷也不发生反应。

1.3阴离子聚合反应烷基乙烯基醚的聚合反应是阴离子聚合反应,可用烷基金属化合物或Ziegler型催化剂。

但是SO42--Fe2O3对此反应有极高的反应活性。

如异丁基乙烯基醚用SO42--Fe2O3作催化剂,在0℃能很快发生聚合反应。

甲基乙烯基醚和乙基乙烯基醚在该催化剂存在下以甲苯作稀释剂也能在低温(零度或零度以下)下高速聚合。

催化剂的表征与评估方法

催化剂的表征与评估方法

催化剂的表征与评估方法催化剂是许多化学反应中不可或缺的重要组成部分。

为了有效评估和优化催化剂的性能,科学家们开发出了各种表征方法和评估技术。

本文将介绍一些常用的催化剂表征与评估方法。

一、物理表征方法1. 扫描电子显微镜(SEM):通过SEM可以观察到催化剂的形貌和颗粒尺寸分布,从而评估催化剂的活性表面积。

2. 透射电子显微镜(TEM):TEM可以提供催化剂的高分辨率图像,从而观察到催化剂的晶体结构、晶粒大小以及形貌等信息。

3. X射线衍射(XRD):XRD可以用于分析催化剂的晶体结构和晶格参数,通过峰位和峰形分析可以确定催化剂的相态以及晶粒尺寸。

4. 紫外可见光谱(UV-Vis):这种表征方法可以通过测量催化剂在紫外和可见光区域的吸收光谱,来确定催化剂的电子结构和电荷转移过程。

二、化学表征方法1. X射线光电子能谱(XPS):通过XPS可以得到催化剂表面原子的电子能级和化学态,从而揭示催化剂的表面组成和表面反应活性位点。

2. 傅里叶变换红外光谱(FTIR):FTIR可以用于表征涂覆在催化剂表面的吸附物,例如吸附气体、表面中间体等。

3. 原位质谱(MS):通过质谱可以检测催化剂表面产生的化学物质,从而揭示催化剂的反应机制和活性物种。

三、催化活性评估方法1. 反应动力学:通过测量催化剂在给定反应条件下的反应速率,可以评估催化剂的活性和选择性。

2. 表面酸碱性:催化剂表面的酸碱性质对于某些反应过程至关重要,通过表征催化剂表面酸碱性,可以评估催化剂的活性和稳定性。

3. 比表面积测量:催化剂的活性表面积与其性能密切相关,通过测量催化剂的比表面积,可以评估催化剂的催化效果和稳定性。

4. 催化剂寿命评估:对于长期稳定性评估,科学家们通常会对催化剂进行寿命测试,以模拟实际工业条件下的使用情况。

总结:催化剂的表征与评估方法多种多样,上述仅为其中一部分常用方法。

综合利用这些表征和评估技术,可以更全面、准确地了解催化剂的性能和反应机制,进而指导催化剂的设计与改进。

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75.20.1 84.0 368.2 932.20.1 919.00.1 567.60.1 Pd
AEIES100
83.80.2 368.20.2 932.80.2 918.30.2 568.35.2 Pd Maqnelic
84.07 368.23 932.53 918.65 567.96 Pd
AEIES200
84.0 932.7 918.35 568.25 Pd
AEIES200
83.980.02 368.210.03 932.660.06 918.640.04 567.970.04 Pd AEIES200B
X射线光电子谱仪(XPS)的应用
图2-1 金属Ag的XPS图
图2-2 Cu-Ce/γ-Al2O3催化剂的XPS全谱图
图2-3 AlCl3-MCM-41催化剂的XPS图
图2-4 不同焙烧温度的Cu/γ-Al2O3催化剂表面上O1s的XPS图
图2-5 不同焙烧温度的Cu/γ-Al2O3催化剂表面上 2种O的分峰拟和XPS图
表 2-1 不同焙烧温度 Cu/γ -Al2O3 催化剂表面上 2 种氧的 XPS 数据 及其所占的原子百分数 Table 3-6 XPS data of two kinds of oxygen species on the surface of Cu /γ -Al2O3 catalysts calcined at different temperatures and their percent to total oxygen Calcination temperatures /℃ 300 400 500 600 Binding energy of two kinds of oxygen/eV 530.45 530.65 530.17 530.37 531.96 531.79 531.33 531.57
0.002
0.000 0 50 100 150 200 250 300
Pore Width / A
图2 改性前后分子筛大孔孔径分布
Cu-HY SURFACE AREA DATA Multipoint BET.............................................. 5.838E+02 m2/g Langmuir Surface Area....................................... 8.662E+ m2/g BJH Method Cumulative Desorption Surface Area 2.075E+02 m2/g DH Method Cumulative Desorption Surface Area.. 2.199E+02 m2/g t-Method External Surface Area.............................. 2.934E+02 m2/g tMethod Micro Pore Surface Area............................ 2.904E+02 m2/g HY SURFACE AREA DATA
120
Volume STP [cc/g]
90
60
30
0
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
P/P0
基本原理:

在等温条件下,通过测定不同压力下材料对气体 的吸附量, 获得等温吸附线,应用适当的数学模型 推算材料的比表面积, 多孔材料的孔容积及孔径分 布,多组分或载体催化剂的活性组分分散度。
由国际纯粹与应用化学联合会(IUPAC) 提出的物理吸附等温线分类
由图1、图2可知: (1)辛酸铜改性后HY分子筛的比表面积、 孔容均减小。 ( 2 )在微孔区,当孔径大于一定值后,少 量有机酸铜盐可以进入分子筛孔径,使得微 孔区的孔径略有减小。
( 3 )在大孔区,孔容的减小比较明显,说 明有机酸铜盐更多的是进入分子筛比较大的 孔径处。
吡啶吸附红外光谱
一、红外光谱法

总孔体积:平均孔径
AS 系列控制图
0.025
0.020
Cu-HY HY
0.015
Dv(w)
0.010
0.005
0.000 2 4 6 8 10 12 14 16 18
Pore Width/A
图1 改性前后分子筛微孔孔径分布
0.010
0.008
Cu-HY HY
0.006
Dv(w)
0.004
最完全的数据处理方法与模型
比表面:BET, Langmuir (微孔), DR, BJH,
DH
中孔分布:BJH, DH

微孔分布:DA (DR理论的扩展), HK, SF
微孔/中孔分布:MP, DFT
微孔体积:t-方法,DR(含平均孔宽,分子筛和 活性碳等微孔表征) 分形维数:FHH, NK
introduction
分子中基团的振动和转动能级跃迁产生:振-转光谱 辐射→分子振动能级跃迁→红外光谱→官能团→分子结构 近红外区 中红外区 远红外区
迟滞回线类型
按照IUPAC 13.2节中的约定,划分出了4种特征类型

H3型迟滞回线由片 状颗粒材料,如粘土, 或由楔形孔(裂隙孔) 材料给出,在较高相 对压力区域没有表现 出任何吸附限制。
迟滞回线类型
按照IUPAC 13.2节中的约定,划分出了4种特征类型

H4型迟滞回线出现 在含有狭窄的楔形 孔的固体中,如活 性炭中见到,在较 高相对压力区域也 没有表现出吸附限 制。
图1-4 X射线衍射仪基本结构
五、X射线衍射仪的应用
1. 定性分析
Unit cell: a = 19.879Å, b = 20.107Å, c = 13.369Å, alpha = 90°, beta = 90.67°, gamma = 90°
图1-5 ZSM-5的XRD图
1. 定性分析
Unit cell: a = 24.8633Å, b = 5.01238Å, c = 24.3275Å, alpha = 90°, beta = 107.7215, gamma = 90°
图1-6 ZSM-12的XRD图
磁性非晶态合金材料XRD图谱

ZrAlTiNiCuSn快速冷凝制备非晶态合金材料, 图谱表现有典型的漫散峰和较高的衍射背底。
高分子材料X射线衍射图谱

高分子由于其结晶性差,衍射本领弱,因此图谱由晶态和 非晶态组成。随拉伸度的不同可引起取向和结晶度变化。
图1-7 晶化时间对ZSM-12晶体结构的影响
The percent of that oxygen to total oxygen/% 69.64 75.13 77.04 82.18 30.36 24.87 22.96 17.82
全自动比表面及孔隙度分析仪
150
Sachtopore 60 Sachtopore 100 Sachtopore 300 Sachtopore 1000 Sachtopore 2000
X 射线光电子能谱是瑞典 Uppsala 大学
K.Siegbahn及其同事经过近20年的潜心 研究而建立的一种分析方法。
XPS原理 光电效应
光电效应
根据Einstein的能量关系式有: h = EB + EK
其中 为光子的频率,EB 是内层电子的轨道结合
能, EK 是被入射光子所激发出的光电子的动能。
图1-8 不同Sn负载量的Cu-Sn/γ-Al2O3催化剂XRD图
2.物相定量分析
某晶体的每一衍射的强度I又与结构因子F模量 的平方成正比:
式中I0为单位截面积上入射线的强度, V为参与衍 射晶体的体积, K为比例系数. 每一衍射线的强度与V有关,在混合物的情况则 应与该衍射线所对应物相的含量有关。
II型和III等温线的特点
II型等温线一般由非孔或大孔固体产生。 B点通常被作为单层吸附容量结束的标志。 III型等温线以向相对压力轴凸出为特征。 这种等温线在非孔或大孔固体上发生弱的 气-固相互作用时出现,而且不常见。

IV型等温线的特点
IV型等温线由介孔固体产生。 典型特征是等温线的吸附曲线与脱附曲 线不一致,可以观察到迟滞回线。 在p/p0值较高的区域可观察到一个平台, 有时以等温线的最终转而向上结束(不闭 合)。
水热合成ZrO2微粉物相分析

合成的ZrO2微粉具有T相(四方)、M相(单斜)二者 相对含量T相49.44%,M 相50.56%。
X射线光电子谱(XPS)
X-ray Photoelectron Spectroscopy
XPS
引言
X射线光电子谱是重要的表面分析技术之
一。它不仅能探测表面的化学组成,而 且可以确定各元素的化学状态,因此, 在化学、材料科学及表面科学中得以广 泛地应用。
迟滞回线类型
迟滞回线类型
按照IUPAC 13.2节中的约定,划分出了4种特征类型

H1型迟滞回线可 在孔径分布相对 较窄的介孔材料, 和尺寸较均匀的 球形颗粒聚集体 中观察到。
迟滞回线类型
按照IUPAC 13.2节中的约定,划分出了4种特征类型

H2型迟滞回线由有 些固体,如某些二 氧化硅凝胶给出。 其中孔径分布和孔 形状可能不好确定, 比如,孔径分布比 H1型回线更宽。
固体催化剂几种常用表征 技术简介
报告人:万家峰
多晶X射线衍射
一、X射线发展史:
X射线是波长很短的电磁波,通常位于 100A~0.01A波长范围内,因此能量大,穿透力强。 1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发 现了X射线(1901年获得首届诺贝尔奖)
1912年,德国的Laue 确定了著名的晶体衍射 劳埃方程式。从而形成了一门新的学科—X射线衍 射晶体学。 (1914年获得诺贝尔奖) 1913年,英国Bragg导出X射线晶体结构分析 的基本公式,既著名的布拉格公式。并测定了 NaCl的晶体结构。( 1915年获得诺贝尔奖)ຫໍສະໝຸດ V和VI型等温线的特点
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