闪烁体荧光时间特性的观测与分析
荧光性能分析实验报告
一、实验目的本次实验旨在了解荧光材料的基本特性，掌握荧光光谱分析的基本原理和方法，并通过实验验证荧光材料的荧光性能。
具体目标如下：1. 掌握荧光光谱仪的使用方法；2. 熟悉荧光光谱的基本概念，如激发光谱、发射光谱、荧光寿命等；3. 分析不同荧光材料的荧光性能，比较其差异；4. 了解荧光材料在实际应用中的意义。
二、实验原理荧光是指某些物质在吸收光子后，外层电子从基态跃迁至激发态，随后经过辐射跃迁的方式返回基态，发射出一定波长的光辐射。
荧光光谱分析是利用荧光光谱仪对荧光物质的激发光谱和发射光谱进行测定，从而分析其荧光性能的一种方法。
激发光谱是指在一定波长范围内，荧光强度随激发波长的变化曲线。
发射光谱是指在一定激发波长下，荧光强度随发射波长的变化曲线。
荧光寿命是指荧光物质从激发态跃迁到基态所需的时间。
三、实验仪器与试剂1. 实验仪器：- 荧光光谱仪- 紫外可见分光光度计- 移液器- 烧杯- 实验室用分析天平- 真空泵- 滤纸- 水浴锅2. 实验试剂：- 荧光材料（如：罗丹明6G、荧光素等）- 乙醇- 硫酸- 碘化钾- 氢氧化钠四、实验步骤1. 准备样品- 称取一定量的荧光材料，用乙醇溶解，配制成一定浓度的溶液； - 将溶液转移至烧杯中，用蒸馏水稀释至所需浓度；- 将溶液过滤，去除杂质。
2. 测定激发光谱- 将荧光溶液置于荧光光谱仪样品池中；- 设置激发光谱的扫描范围为200-600nm，步长为2nm；- 在激发光谱扫描过程中，记录不同激发波长下的荧光强度。
3. 测定发射光谱- 在激发光谱测定完成后，保持激发光波长不变；- 设置发射光谱的扫描范围为200-600nm，步长为2nm；- 在发射光谱扫描过程中，记录不同发射波长下的荧光强度。
4. 计算荧光寿命- 将荧光溶液置于荧光光谱仪样品池中；- 设置激发光波长和扫描范围，与发射光谱测定相同；- 在激发光照射下，记录荧光强度随时间的变化曲线；- 根据荧光强度随时间的变化曲线，计算荧光寿命。
闪烁晶体光谱特性多参数综合测试技术研究
文献 标 识 码 ： Ａ Ｄ Ｉ １． ９ ４ｊｉ ｎ １０—５ ３２ １ ）８２ ８—３ Ｏ ： ０ ３ ６／．ｓ ． ０００ ９ （０ ００ —１４０ ｓ
中 图分 类 号 ： ７ １ Ｔ ８２ Ｏ ２ ； Ｌ １
体材料的性能测试需求 ， 本文研究了一种对 闪烁 晶体 的出射
Ｌ ２ｊ ： ｅ ， ｕ ２ Ｓ Ｏ７ Ｃ ，Ｆ Ｙ双掺 钨酸铅 ，Ｃ ＢＯ Ｃ 和 ＳＢＯ Ｃ 等 ａ ｉ２ １ ｒ ｉ２ １ 材料 的研制与测 试方 面做 了大量 工作＿ 。文 献［ ］ 综合 ９］ 。 ５则
测 试 了 Ｌ ０ ： ｅ ＹＳ ： ｅ Ｓ ： ｅ Ｂ Ｏ 等 晶 体 在 Ｓ Ｃ ，Ｌ Ｏ Ｃ ，Ｇ ０ Ｃ 和 Ｇ
国内 中 国科 学 院 上海 硅 酸 盐研 究 所 、中 国 科 学 院 安 徽 光
一
～
机所 、 北京玻璃研究院、长春理 工大 学等单位在新型 闪烁 晶
体 ，如 ＰＷ０ ， Ｐ ｂ ４ ＷＯ， Ｎａ ｉ Ｗ ０ ） ， Ｃ 。 ： Ｙ Ｂ （ ４２ ｅ ＡＧ，
为消除工频干扰 ，系统采用同轴电缆线 ，且在示波器输
达到对材料与产品内部缺陷与装配结构 的无损检测 ，其性能
好坏直接影响 到检测 系统的探测 灵敏度 与图像 的空 问分辨 率［ ］ Ｉ 。目前 ，常 用 的 闪烁 晶体 有 Ｎａ，Ｃ Ｉ ３ ０，Ｂ Ｆ ， 。 Ｉ ｓ，１３ （ ａ ２
Ｇ ２ Ｓ ｂ Ｏ ， Ｐ： ｅ Ｇ Ｏ ： ｅ和 Ｌ Ｏ ： ｅ 。 ｄ０２ ，Ｐ Ｗ ４ ＹＡ Ｃ， Ｓ Ｃ Ｓ Ｃ 等 评
受 Ｘ射线激发后光 谱响应的多参数综合光电检测系统 。 通过 系统 的光 谱输 出接 口直接测试闪烁晶体的射线 转换光谱 ， 通过 电压输出接 口测试 Ｐ Ｎ光敏二极管输出的光 伏电压 ， Ｉ 进而采用 等效电路法计算 闪烁晶体的 荧光逸出功率 。 测试结果表明 ， 光逸 出效率随 ｘ射线管 电流的增 大而减小 。 荧 本研究对其他闪烁 晶体光谱特
塑料闪烁体探测器时间分辨
塑料闪烁体探测器时间分辨一、实验原理(一)塑料闪烁体工作原理及特征塑料闪烁体是一种有机闪烁体计数器，其工作原理可分为以下五个过程：1.射线进入闪烁体，发生相互作用，闪烁体电离，激发；2.受激原子、分子退激发射荧光光子；3.光子收集到光电倍增管的光阴极上，打出光子；4.光子在光电倍增管上倍增，产生电子流，在阳极负载上产生电信号；5.电子仪器记录和分析电信号塑料闪烁体是一种用途广泛的有机闪烁体，他可以测量α、β、γ、快中子、质子、宇宙射线及裂变碎片等。
它有以下几个特点：1.制作简便；2.发光衰减时间短（1~3ns）；3.透明度高，光传输性能好；4.性能稳定，机械强度高，耐振动，耐冲击，耐潮湿，不需要封装；5.耐辐射性能好其主要不足是能量分辨本领较差，因此一般只做强度测量。
(二)TAC工作原理时幅转换器有两路输入型号，一路作为起始信号，一路作为结束信号，将两信号之间的时间间隔转换为电压幅度有两种类型的TAC：起停型时幅变换和重叠型时幅变换起停型时幅变换：线性好，时间间隔范围宽（微妙到纳秒），时间分辨好（ps），通用性强脉冲重叠型时幅变换：变换速度快，死时间小，线性和精度较差，用于短时间间隔测量，即高计数率时间分析实验中。
(三)时间分辨对于能量和质量确定的粒子，飞行一定距离所需要的时间是单一的。
实际上用飞行时间方法测得的这时间是围绕某一平均值的一个分部，分布的宽度通常用半高宽FWHM表示，成为时间测量系统的时间分辨，它直接影响到时间测量的精度。
二、实验过程及数据(一)塑闪响应曲线的测量由于在不同的电压下塑料闪烁体的性能不同，因此先测量探测器在不同电压下对辐射信号的响应变化。
将放射源放在两个塑闪的中间，测量1000V~1800V电压范围内，10秒时间内1300 2691263 1300 26833051350 2788982 1350 27691331400 2846893 1400 28178881450 2884069 1450 28534401500 2908081 1500 28815291550 2933904 1550 29119501600 2967766 1600 29658531650 3008084 1650 30796061700 3066308 1700 32039841750 3138740 1750 33243361800 3275519 1800 3372228以电压为横坐标，计数为纵坐标作图：由图可知，两个探测器在1400V~1600V电压区间内变化较小，因此选取1500V 为工作电压。
闪烁体荧光时间特性的观测与分析
闪烁体荧光时间特性的观测与分析闪烁体荧光时间特性的观测与分析实验⽬的：1.学会正确实⽤数字⽰波器来分析闪烁计数器的输出脉冲波形。
2.学会根据记录的波形了解闪烁体的时间特性实验原理：（见实验预习）实验内容：1.观测闪烁体荧光时间特性对输出波形的影响，辨认快慢闪烁体。
2.观测光电倍增管输出回路的时间常数对输出脉冲波形的影响。
3.⽤δ光源测定光电倍增管的响应函数*（t ）。
4.分析记录不同闪烁体的荧光衰减时间常数τs 。
实验仪器和样品：1.记录单词脉冲的数字存储⽰波器。
2.可切换闪烁体的闪烁计数器系统，包括⾼压电源。
3.切伦科夫辐射体（有机玻璃），NaI （Tl ），CsI （Tl ），塑料闪烁体，氟化铈晶体（CeF3）。
实验数据：共测量了6种材料的曲线，每种测量了10次。
6种材料分别为：BGO, BaF2, NaI, CsI, 塑料和有机玻璃。
数据量太⼤，这⾥不予显⽰。
数据处理：对每种材料，先将每次的数据除以maximum ，进⾏归⼀，然后再取10次的平均值。
并将电压-时间图作出。
本实验，我采⽤了2种⽅案进⾏拟合：1）第⼀种⽅案：利⽤简易公式，即在RC<<τ的情况下，有近似的函数，t (t t )/0Q R U(t)e -+τ≈τ（1）进⾏拟合，选择的是origin7.0中的函数y = A*( 1 - exp(-k*(x-xc)) )，由此可直接拟出k 的值，进⽽求出衰减时间τ。
2）第⼆种⽅案：利⽤书中的⽅法，使⽤公式st/t/RC 0sQ R U(t)(e e )-τ-≈-τ（2）以NaI 为参考，假定τs = 250ns ，拟合RC ，再拟合其他材料的衰减时间。
在⽤origin7.0中拟合的并不是很好，所以作为第⼆种⽅案进⾏⽐较。
⼀．利⽤公式（1） NaI 的相关拟合：先做出电压幅值随时间的整体变化图像，取衰减部分进⾏拟合，以函数y = A*( 1 - exp(-k*(x-xc)) )进⾏拟合，得出如下图像：-0.8-0.6-0.4-0.20.00.2t/nsV/|Vm|NaI 电压时间曲线可以从数据曲线上得出k ≈0.0037，故NaI 的衰减时间约为：τ≈1/k= 270.270（ns ）。
利用示波器观察频闪信号的技巧与操作要点
利用示波器观察频闪信号的技巧与操作要点示波器是一种广泛应用于电子工程领域的仪器，它可以通过观察电信号的波形来帮助工程师解决问题。
而频闪信号是一种特殊的电信号类型，其波形在时间轴上具有明显的高频闪动。
在进行频闪信号观察时，我们需要注意以下几个技巧与操作要点。
1. 设置示波器的时间和垂直尺度示波器上的时间和垂直尺度设置对于观察频闪信号非常重要。
首先，我们需要将时间尺度调整到合适的范围，以便能够清晰地观察到频闪信号的周期性变化。
如果时间尺度过大，波形可能会被拉长；如果时间尺度过小，波形可能会被压扁。
其次，垂直尺度的设置也需要注意。
根据频闪信号的幅度大小，我们需要将垂直尺度调整到适当的范围，以保证波形能够完整地显示在示波器屏幕上。
2. 观察频闪信号的频率频闪信号的频率是指波形在单位时间内重复出现的次数。
在观察频闪信号时，我们可以通过示波器上的水平基准线来判断其频率。
当频率较高时，波形在示波器屏幕上的闪动速度也会加快。
如果频闪信号的频率较低，我们可以通过适当缩小时间尺度来观察到更加清晰的波形。
3. 识别频闪信号的占空比频闪信号的占空比表示一个完整周期中高电平信号所占的时间比例。
占空比可以通过示波器上两个相邻触发点之间的时间差来进行测量。
在观察频闪信号时，我们需要将示波器的触发模式设置为"边沿触发"，并且选择合适的触发边沿来捕获波形。
通过观察波形的高电平和低电平持续时间，我们可以计算得到频闪信号的占空比。
4. 检测频闪信号的峰值电压频闪信号的峰值电压表示信号幅度的最大值。
在示波器上，我们可以使用垂直刻度尺来测量波形的幅度大小。
通过调整垂直刻度尺的放大倍数，我们可以将波形的峰值电压放大到适当的尺度，以便获得更准确的测量结果。
同时，示波器上也常常提供了峰值电压自动测量功能，可以帮助我们快速获取频闪信号的峰值电压。
5. 注意示波器的带宽限制示波器的带宽限制是指在一定频率范围内，示波器能够准确显示信号的能力。
闪烁体荧光时间特性的观测与分析
闪烁体荧光时间特性研究孙腊珍孙金华许咨宗(中国科学技术大学近代物理系，合肥 230026)闪烁计数器是一种应用非常广泛的重要粒子探测器。
它由闪烁体、荧光光子检测器（如：光电倍增管）两个基本元件组成。
γ射线或带电粒子入射到闪烁体内，在射线作用下，使得闪烁体内的原子电离、激发，在退激发过程中发射荧光。
在早期的核物理实验中，科学家曾通过显微镜用内眼直接观察射线击中在荧光板上发射的荧光，如：卢瑟福－α粒子散射实验中就使用了ZnS(Ag)，观察α粒子击中在荧光板上发射的荧光来标记射线的击中。
随着光电倍增管的研发，利用光电效应光波产生光电子，经放大成为电脉冲信号来探测荧光，记录射线击中的信息。
经过几十年的发展，由各种类型的闪烁体、光探测器件和相应的电子学组成的多种的闪烁探测器，在核物理实验、天文物理实验、核医学成像、地质探测和放射性同位素的测量等方面已广泛地应用。
闪烁探测器在近代粒子物理实验中，可以应用到粒子位置测量、飞行时间测量和能量测量等方面。
闪烁探测器的性能主要涉及闪烁体的发光时间和光传输性能、闪烁体与光探测器之间的耦合和光收集、光探测器的性能、信号放大和接收。
我们自研制了一套可切换闪烁体的闪烁计数器装置，应用于核与粒子物理专业实验教学。
学生通过此实验，只需简单的操作，就可以观测到多种闪烁体（如：NaI(Tl),BaF2,BGO,CsI(Tl), 契仑可夫辐射体（有机玻璃），塑料闪烁体，氟化铈晶体(CeF3)）的荧光时间特性对输出波形的影响，辨认快慢闪烁体；观测光电倍增管输出回路的时间常数对输出脉冲波形的影响；用δ光源测定光电倍增管的响应函数；分析记录不同闪烁体的荧光衰减时间常数τS。
并要求学生（1）根据输出的波形数据，以NaI(Tl)晶体的波形为参考，设τS=250ns，由给定的公式拟合出输出回路的RC；（2）．用已知的RC将其它闪烁体的波形与给定的公式拟合，求出各个闪烁体的荧光衰减时间常数τs；（3）掌握宇宙线μ子通过闪烁体产生的光信号的形成机理。
闪烁体原理
闪烁体原理闪烁体原理是一种利用物质在受激射流的作用下发生闪烁现象的物理原理。
闪烁体是一种能够在受到激发后产生瞬时亮光的物质，它在核物理、粒子物理、辐射探测等领域有着重要的应用价值。
本文将从闪烁体的基本原理、结构特点以及应用领域等方面进行介绍。
闪烁体的基本原理是指当高能粒子或高能光子穿过闪烁体时，闪烁体中的原子或分子受到激发，产生电子激发态。
这些激发态的电子会在短时间内退激发并释放出能量，导致闪烁体产生瞬时的亮光。
这种亮光的产生是由于电子激发态退激发时释放出的能量激发了闪烁体中的荧光物质，使其发生荧光，从而产生可见光。
闪烁体通常由闪烁材料、光电倍增管、信号处理电路等部分组成。
闪烁材料是闪烁体的核心部分，它能够有效地将入射粒子的能量转化为光信号。
光电倍增管是用来接收和放大闪烁体产生的光信号的装置，它能够将微弱的光信号转化为电信号，并进行放大。
信号处理电路则用来处理和记录光电倍增管输出的电信号，从而得到入射粒子的能量信息。
闪烁体原理在核物理实验、粒子物理实验以及辐射探测等领域有着广泛的应用。
在核物理实验中，闪烁体被用来检测中子、γ射线等粒子的能量和轨迹信息。
在粒子物理实验中，闪烁体被用来检测高能粒子的能量和轨迹信息，从而研究粒子的性质和相互作用。
在辐射探测领域，闪烁体被用来检测地下水、矿藏、核废料等物质的辐射水平，从而实现对这些物质的监测和分析。
总之，闪烁体原理是一种重要的物理原理，它在科学研究和工程技术中有着广泛的应用。
通过对闪烁体原理的深入理解和研究，可以推动核物理、粒子物理、辐射探测等领域的发展，为人类社会的进步做出贡献。
希望本文对闪烁体原理有所帮助，谢谢阅读！。
4 第四章 闪烁探测器解析
无机晶体闪烁体的种类： 掺有少量激活剂的无机盐晶体： 碘化钠（铊激活）NaI（Tl）；碘化铯（铊激活）CsI（Tl）
硫化锌（银激活）ZnS（Ag）
玻璃体： 锂玻璃（铈激活） LiO2·2SiO2（Ce） 不掺杂纯晶体： 锗酸铋（BGO）；钨酸镉（CWO）；氟化钡（BaF2）
二、闪烁体的物理性质
1.发射光谱
几种典型闪烁体的发射光谱
2. 发光效率
发光效率是指闪烁体将吸收的射线能量转变为光的比例。 一般使用以下三个量来描述。
光能产额：核辐射在闪烁体中损失单位能量闪烁发射的光 子数。当粒子在闪烁体中损失的能量为E，闪烁过程发出 的总光子数为nph时，则光能产额
Y ph
n ph E
它的单位是光子数/兆电子伏（1/MeV）。1/Yｐｈ表示在闪烁体 中每产生一个光子所消耗的核辐射能量。
I( t ) Ife
τ f和τ s分别为快、慢两种 成分的发光衰减时间； τ f为 ns量级τ s约为数十至数百ns 量级，If和Is分别为快、慢 成分的发光强度。
t f
I se
0.6
t s
闪烁体 BaF2
τ f(ns) τ
6.2
33 2.4
s
(ns)
620
芪
蒽 液闪
370
370 200
处于s10态的激发分子群按一定的平均寿命跃回基态并同时发 出光子。设用τ表示s10态的平均寿命，则激发后t时刻单位 时间内发射的光子数可表示为 I=I0e-t/τ
其中I0为t0时刻单位时间内从s10态跃回基态而发出的光子数。 一般τ是10-8～10-9s量级，故由s10跃回基态的发光过程是相 当快的，称作荧光。
碘 化 钠 晶 体 封 装 示 意 图
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闪烁体荧光时间特性的观测与分析
实验目的：
1.学会正确实用数字示波器来分析闪烁计数器的输出脉冲波形。
2.学会根据记录的波形了解闪烁体的时间特性 实验原理：（见实验预习） 实验内容：
1.观测闪烁体荧光时间特性对输出波形的影响，辨认快慢闪烁体。
2.观测光电倍增管输出回路的时间常数对输出脉冲波形的影响。
3.用δ光源测定光电倍增管的响应函数*（t ）。
4.分析记录不同闪烁体的荧光衰减时间常数τs 。
实验仪器和样品：
1.记录单词脉冲的数字存储示波器。
2.可切换闪烁体的闪烁计数器系统，包括高压电源。
3.切伦科夫辐射体（有机玻璃），NaI （Tl ），CsI （Tl ），塑料闪烁体，氟化铈晶体（CeF3）。
实验数据：
共测量了6种材料的曲线，每种测量了10次。
6种材料分别为：BGO, BaF2, NaI, CsI, 塑料和有机玻璃。
数据量太大，这里不予显示。
数据处理：
对每种材料，先将每次的数据除以maximum ，进行归一，然后再取10次的平均值。
并将电压-时间图作出。
本实验，我采用了2种方案进行拟合：
1）第一种方案：利用简易公式，即在RC<<τ的情况下，有近似的函数，
t (t t )/0Q R U(t)e -+τ
≈
τ （1）
进行拟合，选择的是origin7.0中的函数y = A*( 1 - exp(-k*(x-xc)) )，由此可直接拟出k 的值，进而求出衰减时间τ。
2）第二种方案：利用书中的方法，使用公式
s
t/t/RC 0s
Q R U(t)(e e )-τ-≈
-τ （2）
以NaI 为参考，假定τs = 250ns ，拟合RC ，再拟合其他材料的衰减时间。
在用origin7.0中拟合的并不是很好，所以作为第二种方案进行比较。
一．利用公式（1） NaI 的相关拟合：
先做出电压幅值随时间的整体变化图像，
取衰减部分进行拟合，以函数y = A*( 1 - exp(-k*(x-xc)) )进行拟合，得出如下图像：
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
t/ns
V/|Vm|NaI 电压时间曲线
可以从数据曲线上得出k ≈0.0037，故NaI 的衰减时间约为：τ≈1/k= 270.270（ns ）。
BaF2的相关拟合：
先做出电压幅值随时间的整体变化图像，
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
t/ns
V/|Vm|
NaI 电压时间曲线（衰减部分）
取衰减部分进行拟合，以函数y = A*( 1 - exp(-k*(x-xc)) )进行拟合，得出如下图像：
可以从数据曲线上得出k ≈0.00221，故BaF2的衰减时间约为：τ≈1/k= 452.489（ns ）。
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
t/ns
V/|Vm|FaF2电压时间曲线
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
V/|Vm|
BaF2电压时间曲线（衰减部分）
t/ns
BGO 的相关拟合：
先做出电压幅值随时间的整体变化图像，
取衰减部分进行拟合，以函数y = A*( 1 - exp(-k*(x-xc)) )进行拟合，得出如下图像：
-3000
-2000-10000100020003000
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
V/Vm
t/ns
BGO 电压时间曲线
500
1000
1500
2000
2500
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
V/|Vm|
BGO 电压时间曲线（衰减部分）
可以从数据曲线上得出k ≈0.00336，故BGO 的衰减时间约为：τ≈1/k= 297.62（ns ）。
综上得出的三种材料的衰减时间为： NaI 的衰减时间约为：τ≈270.270（ns ） BaF2的衰减时间约为：τ≈452.489（ns ） BGO 的衰减时间约为：τ≈297.62（ns ）
二、利用公式（2）
首先假定NaI 的衰减时间为250ns ，然后开始拟合其中的RC 的值。
在origin7.0中，我定义了拟合用的函数，对NaI 来说，函数为： u=P1*(exp(-t/250)-exp(-t/P2))/250
其中，u 为电压幅值，P1为总系数，而P2为RC 所拟合的值。
拟合曲线如下：
由图读出，RC ≈ 30.55737（ns ）
利用此RC 的值，拟合BGO 和BaF2，此时所用的函数为： u=P1*(exp(-t/P2)-exp(-t/30.55737))/P2
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
V/|Vm|
NaI 电压时间曲线（衰减部分）
t/ns
其中P1为总的系数，而P2为所要拟合的衰减时间常数。
对于BGO ， 有如下曲线：
可以看到，只有衰减的后半部分可以和点比较吻合，
由此所拟合出的BGO 的衰减时间约为：τ≈ 243.428（ns ）
这个数据与简易拟合差距很大，我认为有两方面原因，一是NaI 用250ns 所拟合出的RC 会有较大误差，二是这个所拟合出的曲线前半部分没有吻合，所以也会带来较大误差。
对于BaF2， 有如下曲线：
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
BGO 电压时间曲线（衰减部分）
t/ns
V/|Vm|
可以看到，BaF2出现的问题和BGO 很相似，原因也类似。
由此所拟合出的BaF2的衰减时间约为：τ≈399.272（ns ）
故用方案二所拟合出的RC ，以及衰减时间为：
RC ≈30.55737（ns ）
BGO 的衰减时间约为：τ≈243.428（ns ） BaF2的衰减时间约为：τ≈399.272（ns ） 其中认定NaI 的衰减时间为250ns
另外，由书中的假定，R=1M Ω，以及拟合的RC 时间，可以得出分布电容： C ≈30.55737/1000000=30.55737（μF ）
综上所述，与实验室给定的几种数据进行比较，可以认为，总体上来说，NaI 和BGO 的数据
较为精确，而BaF2的数据误差稍大。
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
t/ns
V/|Vm|
BaF2电压时间曲线（衰减部分）
思考题:
1.宇宙线μ子通过有机玻璃样品和通过闪烁体引起的光信号的形成机理有什么本质区别？答：无机晶体是绝缘体，禁带比半导体宽，入射粒子除了由于电离而导带中产生电子和在满带中产生空穴之外，还有因激发而产生的激子。
入射粒子通过后，产生激子，电子和空穴，都能自由经晶格很快的运动。
加入某种合适杂质，成为发光中心。
无极晶体原子间联系很紧密而形成能带结构，是粒子晶体，有机晶体为分子晶体。
不过分子内原子之间相互作用仍较强，因此有机晶体的发光主要是由于分子自己的能量状态改变而引起的，为分子固有性质，不需要像无机晶体那样加入激活剂。
2.为什么有机玻璃样品给出的发光信号可以看成一种近似的δ光源。
答：为切伦科夫辐射，辐射时间实际上就是等于粒子穿过辐射介质的时间t=l/v。
没有时间惯性，一般小于10e-9s，所以衰减时间非常短，可以近似认为是δ光源。