45高阻计法测定高分子材料的体积电阻率与表面电阻率 - 南京理工大学
体积电阻率测试方法
体积电阻率测试方法体积电阻率是材料的一项重要物理指标，它是指材料在单位体积内所具有的电阻特性。
在工程领域中，体积电阻率的测试是非常重要的，因为它能够反映材料的电性能、导电性能和导热性能等重要特性。
本文将介绍体积电阻率测试方法及其应用。
一、体积电阻率的定义体积电阻率是指材料单位体积内所具有的电阻特性，通常用符号ρ表示。
它的单位是欧姆·米（Ω·m），可以用下式表示：ρ = R × S / L其中，ρ为体积电阻率，R 为电阻，S 为截面积，L 为电阻长度。
二、体积电阻率的测试方法体积电阻率的测试方法主要有两种，一种是四电极法，另一种是两电极法。
1. 四电极法四电极法又称为Kelvin法，它是一种比较精确的体积电阻率测试方法。
四电极法的原理是利用四个电极分别测量电流和电压，从而消除电极接触电阻的影响，得到准确的体积电阻率值。
四电极法的测试步骤如下：（1）将被测试材料切成规定大小的样品。
（2）将四个电极固定在样品上，两个电极用于测量电流，另外两个电极用于测量电压。
（3）施加一定大小的电流，测量电压和电流值。
（4）根据测得的电压和电流值，计算出体积电阻率值。
四电极法的优点是测量精度高，能够消除电极接触电阻的影响，适用于各种材料的测试。
但是，它的操作比较繁琐，需要较高的技术水平和专业设备。
2. 两电极法两电极法又称为Ohm法，它是一种常用的体积电阻率测试方法。
两电极法的原理是利用两个电极测量电压和电流，从而得到体积电阻率值。
两电极法的测试步骤如下：（1）将被测试材料切成规定大小的样品。
（2）将两个电极固定在样品上，一个电极用于测量电流，另外一个电极用于测量电压。
（3）施加一定大小的电流，测量电压和电流值。
（4）根据测得的电压和电流值，计算出体积电阻率值。
两电极法的优点是操作简单，设备简单，适用于各种材料的测试。
但是，它无法消除电极接触电阻的影响，因此测量精度较低。
三、体积电阻率测试的应用体积电阻率测试在工程领域中有广泛的应用，以下是一些典型应用案例：1. 电子元器件材料的测试在电子元器件制造过程中，需要测试材料的体积电阻率，以确保元器件的电性能符合要求。
聚合物体积电阻系数和表面电阻系数的测定-高分子物理-实验15-17
实验十五聚合物的体积电阻系数和表面电阻系数的测定一、实验目的1．掌握聚合物体积电阻系数和表面电阻系数的测试方法；2．比较极性与非极性聚合物的电阻系数数值范围。
二、实验原理材料的导电性是由于其内部存在传递电流的自由电荷，即载流子，在外加电场作用下，这些载流子作定向移动，形成电流。
导电性优劣与材料所含载流子的数量、运动速度有关。
常用电阻系数（电阻率）ρ或电导系数（电导率）σ表征材料的导电性，它们是一些宏观物理量，而载流子浓度和迁移率则是表征材料导电性的微观物理量。
大量高聚物是作为绝缘材料使用的，但具有特殊结构的高聚物可能成为半导体、导体，甚至人们提出了超导体的模型。
决定高聚物导电性的因素有化学结构、分子量、凝聚态结构、杂质以及环境（温度、湿度等）等。
饱和的非极性高聚物具有很好的电绝缘性能，理论上计算它们的电阻系数可达到1023欧姆·米，而实测值要小几个数量级，说明高聚物中除自身结构以外的因素（如残留的催化剂、各种添加剂等）对导电性能产生了不小的影响。
极性高聚物的电绝缘性次之，微量的本征解离产生导电离子，此外，残留的催化剂、各种添加剂等都可以提供导电离子。
而一些共轭高聚物如聚乙炔则可制成半导体材料，这是由于主链上π轨道相互交叠，π电子有较高的迁移率。
但是它们的导电性实际并不高，原因是受到电子成对的影响，电子成对后，只占有一个轨道，空出另一个轨道，两个轨道能量不同，电子迁移时必须越过轨道间的能级差，这样就限制了电子的迁移，材料导电率下降。
采用掺杂方法可以减小能级差，电子迁移速率提高。
Heeger（黑格，美国)、 MacDiarmid（麦克迪尔米德，美国）以及白川英树（日本）就成功地完成了用溴、碘掺杂聚乙炔，没有掺杂时聚乙炔的电导率为3.2X10-6Ω-1•cm-1，掺杂后竟达到了38Ω-1•cm-1，提高了1000万倍，接近金属铝和铜的电导率。
并且在发现聚乙炔的导电性后，黑格发现聚乙炔的磁性、电学、光学性质都异常。
电阻率和表面电阻率
高阻计法测定高分子材料体积电阻率和表面电阻率2010年03月07日10：37 admins 学习时间：20分钟评论 0条高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。
最基本的是电导性能和介电性能,前者包括电导（电导率γ，电阻率ρ=1/γ）和电气强度（击穿强度Eb）；后者包括极化（介电常数εr)和介质损耗（损耗因数tgδ）。
共四个基本参数。
种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的.就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体,如表1所示.多数聚合物材料具有卓越的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小,电击穿强度高,加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。
高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻.绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻.由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响,为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。
表1 各种材料的电阻率范围材料电阻率(Ω·m) 材料电阻率(Ω·m）超导体导体≤10-810—8~10-5半导体绝缘体10-5～107 107～1018除了控制材料的质量外，测量材料的体积电阻率还可用来考核材料的均匀性、检测影响材料电性能的微量杂质的存在。
当有可以利用的相关数据时，绝缘电阻或电阻率的测量可以用来指示绝缘材料在其他方面的性能,例如介质击穿、损耗因数、含湿量、固化程度、老化等。
表2为高分子材料的电学性能及其研究的意义。
表2 高分子材料的电学性能及测量的意义电学性能电导性能①电导（电导率γ，电阻率ρ=1/γ）②电气强度(击穿强度Eb）介电性能③极化（介电常数εr）④介电损耗（损耗因数tanδ)测量的意义实际意义①电容器要求材料介电损耗小，介电常数大，电气强度高.②仪表的绝缘要求材料电阻率和电气强度高，介电损耗低。
电阻率 测定 方法
电阻率测定：Re:500-特种防腐导电涂料电阻率小知识1、绝缘电阻：两个电极与试样接触或嵌入试样内。
加于两极上的直流电压和流经电极间的全部电流之比，称为绝缘电阻。
它是由样品的体积电阻和表面电阻两部分组成的。
2、体积电阻R v和体积电阻率ρv：在两电极间嵌入一试样，使它们很好地接触。
施于两电极上的直流电压与流过试样体积内的电流之比，称为体积电阻R v。
由R v及电极和试样尺寸算出1cm3材料。
两对面间的电阻称为体积电阻率。
板状试样体积电阻率公式：ρv＝R v S/d(Ω.cm) 式中:S──测量电极面积（CM2）；d──试样厚度（CM） R v ──体积电阻（Ω）（从高阻计上读出）3、表面电阻R s和表面电阻率ρs。
在试样的一个面上，放置两电极，施于两电极间的直流电压与沿两电极间试样表面层上的电流之比，称为表面电阻R s。
由R s及表面上电极（上电极和环电极）尺寸，算出1cm2材料表面所具有的电阻（Ω），称为表面电阻率。
板状试样表面电阻率公式：ρs＝R s2π/Ln(d2/d1) 式中：π───3.1416 R s───表面电阻（Ω）（从高阻计上测出） D1───测量电极直径（CM）； D2──环电极内径收藏词条编辑词条GB/T3781.9-93 乙炔炭黑电阻率的测定创建时间：2008-08-02GB/T3781.9-93 乙炔炭黑电阻率的测定 (Acetylene black-Determination of resistivity)1主题内容与适用范围本标准规定了乙炔炭黑电阻率的测定方法。
本标准适用于乙炔炭黑电阻率的测定。
2引用标准GB/T3780.8炭黑加热减量的测定3原理将试样放在基本绝缘的邻苯二甲酸二丁酯中，借助电动搅拌器的作用，使之分散均匀并形成一个稳定的悬浮体，测定悬浮体的电阻率以表征导电性的强弱。
4A法(仲裁法)4.1试剂4.1.1邻苯二甲酸二丁酯：分析纯。
4.1.2 95％乙醇(GB679)：分析纯。
电阻率、体积电阻率、表面电阻率的区别与测定方法
电阻率、体积电阻率、表面电阻率的区别与测定方法什么是电阻率？电阻跟导体的材料、横截面积、长度有关。
导体的电阻与两端的电压以及通过导体的电流无关。
导体电阻跟它长度成正比，跟它的横截面积成反比．(1)定义或解释电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。
用某种材料制成的长为1米、横截面积为1mm2米。
的导体的电阻，在数值上等于这种材料的、电阻率。
(2)单位在国际单位制中，电阻率的单位是欧姆·米。
一般常用的单位是欧姆·毫米2／米。
(3)说明①电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。
在温度变化不大的范围内，几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρo(1+at)。
式中t是摄氏温度，ρo是O℃时的电阻率，a是电阻率温度系数。
②由于电阻率随温度改变而改变，所以对于某些电器的电阻，必须说明它们所处的物理状态。
如一个220 V100 W电灯灯丝的电阻，通电时是484欧姆，未通电时只有40欧姆左右。
③电阻率和电阻是两个不同的概念。
电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性，电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。
什么是体积电阻率？体积电阻率，是材料每单位体积对电流的阻抗，用来表征材料的电性质。
通常体积电阻率越高，材料用做电绝缘部件的效能就越高。
通常所说的电阻率即为体积电阻率。
，式中，h是试样的厚度（即两极之间的距离）；S是电极的面积，ρv 的单位是Ω·m（欧姆·米）。
材料的导电性是由于物质内部存在传递电流的自由电荷，这些自由电荷通常称为载流子，他们可以是电子、空穴、也可以是正负离子。
在弱电场作用下，材料的载流子发生迁移引起导电。
材料的导电性能通常用与尺寸无关的电阻率或电导率表示，体积电阻率是材料导电性的一种表示方式。
简言之，在绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商,即单位体积内的体积电阻.什么是表面电阻率？表面电阻：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；访伸展流主要为流过试样表层的电流,也包括一部分流过试样体积的电流成分.在两电极间可能形成的极化忽略不计.表面电阻率：在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻.材料说明A、通常,绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘,固体绝缘材料还起机械支撑作用.一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻,并具有合适的机械、化学和耐热性能.B、体积电阻班组可作为选择绝缘材料的一个参数,电阻率随温度和湿度的京戏化而显著变化.体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀,或都用来检测那些能影响材料质量而又不能作其他方法检测到的导电杂质.C、当直流电压加到与试样接触的两电极间时,通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值.电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致.对于体积电阻小于10的10Ω.m的材料,其稳定状态通常在1min内达到.因此,要经过这个电化时间后测定电阻.对于电阻率较高的材料,电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天,因此需要用较长的电化时间.如果需要的话,可用体积电阻率与关系来描述材料的特性. D、由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去,因些近似地测量表面电阻,测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度.所以,表面电阻率不是表面材料本身特性的参数,而是一个有关材料表面污染特性的参数.当表面电阻较高时,它常随时间以不规则的方式变化.测量表面电阻通常都规定11min的电化时间.电阻率的测量方法和精度1、方法：测量高电阻常用的方法是直接法和比较法.直接法是测量加在试样上的直流电压和流过试样的电流而求得试样电阻.直接法主要有检流计法和直流放大法（高阻计法）比较法主要有检流计法和电桥法.2、精度：对于大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在±20%的范围内；对于不大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在±10%的范围内.3、保护：测量仪器用的绝缘材料一般只具有与被测材料差不多的性能.试样的测试误差可以由下列原因产生：①外来寄生电压引起的杂散电流通渠道.通常不知道它的大小,并且有漂移的特点；②测量线路的绝缘材料与试样电阻标准电阻器或电流测量装置的并联.使用高电阻绝缘奢侈可以改善测量误差,但这种方法将使仪器昂贵而又笨重,而且对高阻值试样的测量仍不能得到满意的结果.较为满意的改进方法是使用保护技术,即在所有主要的绝缘部位安置保护导体,通过它截信了各种可能引起误差的杂散电流；将这些导电联接在一起组成保护系统,并与测量端形成一个三端网络.当线路连接恰当时,所有外来寄生电压的杂散电流被子保护系统分流到测量电路以下,这就可大大减少误差的可能性.在系统的保护端和被保护端之间存在的电解电势,接触电势或热电运势较小时,均能补偿掉,使它们在测量中不引起显著误差.在电流测量中,由于被保护端和保护端之间的电阻与电流测量装置并联可能产生误差,因此前者至少应为电流测量装置输入电阻的10倍,最好为100倍.在电桥法测量中,保护端与测量端带有大致相同的电位,但电桥中的一个标准电阻与不保护端和保护端之间的电阻并联,因此,后者至少为标准电阻的10倍,最好20倍.在开始测试前先断开电源和试样的连线进行一次测量,此时设备应在它的灵敏度许可范围内指示无穷大的电阻.可用一些已知值的标准电阻业检查设备运行是否良好.体积电阻率为了测业体积电阻率,使用的保护系统应能抵消由表面电流引起的误差.对表面泄漏可忽略的试样,在测量体积电阻时可以去掉保护.在被保护电极与保护电极之间的试样表面上的间隙宽度要均匀,并且在表面泄漏不致引起测量误差的条件下间隙应尽可能窄,实际使用时最小为1MM.表面电阻率为测定表面电阻率,使用的保护系统应尽可能地抵消体积电阻引起的影响。
高阻计
高阻计法测定高分子材料体积电阻率和表面电阻率高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。
最基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率γ，电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tg δ)。
共四个基本参数。
种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。
就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体，如表1所示。
多数聚合物材料具有卓越的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小，电击穿强度高，加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。
高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。
绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。
由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响，为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。
表1 各种材料的电阻率范围材料电阻率(Ω·m) 材料电阻率(Ω·m)超导体导体≤10-810-8～10-5 半导体绝缘体10-5～107 107～1018除了控制材料的质量外，测量材料的体积电阻率还可用来考核材料的均匀性、检测影响材料电性能的微量杂质的存在。
当有可以利用的相关数据时，绝缘电阻或电阻率的测量可以用来指示绝缘材料在其他方面的性能，例如介质击穿、损耗因数、含湿量、固化程度、老化等。
表2为高分子材料的电学性能及其研究的意义。
表2 高分子材料的电学性能及测量的意义电学性能电导性能①电导（电导率γ，电阻率ρ=1/γ）②电气强度（击穿强度Eb）介电性能③极化（介电常数εr）④介电损耗（损耗因数tanδ）测量的意义实际意义①电容器要求材料介电损耗小，介电常数大，电气强度高。
②仪表的绝缘要求材料电阻率和电气强度高，介电损耗低。
③高频电子材料要求高频、超高频绝缘。
高分子电阻率测定
四、仪器预热及灵敏度校正
将极性开关置于“+”处，此时可能发现指示表指针会偏离 “∞”及“0”处。慢慢调节“∞”及“0”电位 器，使指针指向“∞”及“0”处，直至不再变动。
将倍率开关由×102位置转至“满度”位置，把“输入短路”开关下拨至“开路”，这时指针应从“∞” 位置指向“满度”，即“1”位置。如果偏离，则调节“满度”电位器，使之刚好到“满度”。
五、测试
1、试样放入
2、测试过程
选择测试类型。 Rv体积电阻，Rs 表面电阻， 选择电压开关。 对于聚合物材料， 一般先选100V。
将开关置于“测试”挡，短路开关仍置于“短路”，对试样充电30s，然 后将输入短路开关拨下，读取1min时的电阻值，作为试样的绝缘电阻值。 读数完毕，立即把短路开关拨上“短路”，“放电一测试”开关置于“放 电”挡。
图4 体积电阻Rv和表面电阻Rs测量示意图
注意事项
仪器的倍率选择量程从1×102 -1×109，转换量程应从小到大。本仪器一般情况下不 能用来测量那些一端接地的试样的电阻。在测试时，仪器及试样应放在高绝缘的垫 板上，以防止漏电影响测试结果。 当被测电阻高于1010Ω时，应将试样置于屏蔽箱内，箱外壳接地，以减少外界的影响。 标准试样为注射成型所得的直径为100mm的大圆饼，试样表面应光滑、清洁，并预 先在(25±2)℃、相对湿度65％±5％的环境中存放24h以上。 测量表面电阻时，一般不清洗及处理表面，也不要用手或其他任何东西触及。
实验原理
高分子材料的电学性能 指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、 电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质 等。 最基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率σ， 电阻率ρ=1/σ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数 εr)和介质损耗(损耗因数tgδ)。共四个基本参数。
材料分析方法复试题目(南理工各大材料学院可用)
《材料分析方法》复试考题一、解释下列名字的不同1、X射线衍射与电子衍射有何异同？电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点：1）电子波的波长比X射线短的多，在同样满足布拉格定律时，它的衍射角0非常小,约为10-2rad,而X射线衍射时,最大角可接近n /2。
2）电子衍射操作时采用薄膜样品，薄膜样品的倒易阵点会沿样品的厚度方向延伸成杆状，于是，增加了倒易阵点和厄瓦尔德球相交的机会，结果使略微偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
3）由于电子波的波长短，采用厄瓦尔德图解时，反射球的半径很大，在衍射角0较小的围，反射球面可以近似看成一个平面•可以认为，电子衍射产生的衍射斑点大致分布在一个二维倒易截面•这个结果使晶体产生的衍射花样能比较直观地反映各晶面的位向，便于实际结构分析。
4）原子对电子的散射能力远高于它对X—射线的散射能力（约高出4个数量级），故电子衍射束的强度较大，摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。
2、特征x射线与连续x射线4、物相分析与成分分析二、说出下列检定所要用的手段（这个记不清了）1、测奥氏体成分含量直接比较法（定量）2、薄膜上1nm微粒的物相3、晶界的微量成分好像肯定俄歇谱仪4、忘了，反正就是XRD透射电镜，扫描电镜，定性啊，定量啊什么的三、让你说明德拜照相法的衍射几何，还让画图四、给你一个图，让你说明二次电子成像的原理五、说明宏观应力测定的原理（没复习到，比较难）六、给你一个衍射斑点的图，告诉你体心立方好像，然后让你鉴别出点的指数七、给了一个15组数据的X射线衍射数据，还有3个PDF卡片，SiO2,a -AI2O3 , 3 -AI2O3，然后让你说明这15组数据分别属于哪个物相，就是物相检定的一个实际操作。
2011复试材料分析方法回忆版一、简答题（40=5*4+10*2）1、连续X射线与特征X射线的特点连续X射线：1）X射线强度I沿着波长连续分布2）存在短波限入SWL3）存在最大强度对应的波长入m特征X射线波长对阳极靶材有严格恒定数值。
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• 仪器结构
直流高压 测试电源
放电测试 装置
试样及电 极箱
高阻抗直 流放大器
指示 仪表
电源
实验原理
• 高阻计测量原理图
直
流
高
压 测
U
R0
试
电
源
放大器
实验试样及制备
根据材料的不同要求，将试样制成如图所示形状。
实验步骤
1.使用前
• a“电源开关”置于“关”的位置。 • b“额定电压选择”开关置于所需要的电压
档（一般额定电压为100V）。 • c“方式选择”开关置于“放电”位置。 • d“电阻量程选择”开关置于： • 当被测物的阻值为已知时，则选相应的档。 • 当被测物的阻值为未知时，则选106Ω的档。 • e“定时”设定开关置于“关”的位置。
实验步骤
2 接通电源,合上电源开关,电源指示灯亮，仪器预 热10min。
• 测试时,人体不能触及仪器的高压输出端及其连 接物,以防高压触电危险.同时仪器高压端也不能 碰地,避免造成高压短路。
思考题
• 试样尺寸大小对测试结果有何影响？ • 高分子的电阻率温度依赖关系与金属的有
何不同?为什么？ • 高分子的分子结构和聚集态结构与材料的
体积电阻率和表面电阻率之间有何关系？
谢谢
3 将“方式选择”开关置于“测试”位置，即可 读数；如用定时器时，可将“定时”设定开关置 于“开”的位置，待到达设定时间，即可自动锁 定显示值。在进行下一次测试前，需将“定时” 设定开关置于“关”的位置。在测试绝缘电阻时， 可能会发现显示值有不断上升的现象，这是由于 介质的吸收现象所致，若在很长时间内未能稳定， 在一般情况下是取其测试开始后1min时的读数， 作为被测物的绝缘电阻值。
实验步骤
（1）采用三电极系统测试材料的体积电阻（Rv）和表面电 阻(Rs)时可按下图接线：
接低压端
接低压端
接高压端
测Rv
被测试样
接高压端
测Rs
被测试 样
实验步骤
（2）开始测试
测试短路
a)充电 （500V）15s以上
b)测试 读取1min时的数值
c)放电 30s以上
短路 测试 短路
开关 开 开 关
实验步骤
结束时，先关闭总电源，取出试样，并将 面板上各开关恢复到测试前的位置。
数据处理
（1）求体积系数ρv
v
Rv
Ae t
Ae
4(d1
g)2
数据处理
(2)求表面电阻系数ρs
s
Rs
2
ln d 2
d1
安全提示
• 接到仪器输入端的导线必须用高绝缘屏蔽 线（绝缘电阻应>1017Ω），其长度不应 超过1m。
18
• 本实验仪器一般情况下不能用来测量一端 接地试样的绝缘电阻。
• 每完成一个试样的测试后，务必先将方式 选择开关拨向放电位置，几分钟后方可取 出试样，以免受测试系统电容中残余电荷 的电击。
安全提示
• 在进行体积电阻和表面电阻测量时，应先测体积 电阻再测表面电阻，反之由于材料被极化而影响 体积电阻。当材料连续多次测量后容易产生极化， 会使测量工作无法进行下去，这时须停止对这种 材料测试，置于净处8h-10h后再测量或者放在 无水酒精内清洗，烘干，等冷却后再进行测量。