可靠性测试资料
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可靠性测试培训-完整版资料
产品或元件失效是一个随机事件，产品的寿命是 一个随机变量，而产品的失效率和寿命都可以用失效 分布或寿命分布函数来描述其规律性。 1.指数分布 2.威布尔分布 3.正态分布 4.对数正态分布 5.寿命分布类型的确定方法
2018/10/29 21
二、产品的寿命规律及常用分布
1.指数分布
许多元器件在工作时间内会由于“偶然”原因而失效， 而不服从某一失效机理，因为这时对应于某一机理的所谓早 期失效产品已通过设计、工艺控制、或实验而消除。因此， 当元器件足够多、时间足够长时，失效率λ（t）便趋近于某 一稳定值，其值的大小只与工作条件和外部环境有关，而与 产品的工作时间无关，产品的这种寿命分布规律称为指数分 布。大多数电子产品，包括大部分仪器仪表在剔除早期失效 后到发生老化变质前的随机失效阶段都服从指数分布。 许多国家所制定的标准中，绝大多数都以指数分布为基 础对电子元器件产品的可靠性等级进行鉴定。如我国GB/T 1772-1979《电子元器件失效率试验方法》
2018/10/29
44
四、可靠性寿命试验
5)检验项目及技术要求：
检验项目 技术要求 外观、流量、 电阻、电流、 功率、杨程、 噪音、配合 室温、湿度、 气压、电压、 耐压测试 寿命次数 通断比 外观、流量、 电阻、电流、 功率、杨程、 噪音、配合 检验样板数 允许不合格数 检验不合格数
试验前参数
2.威布尔分布
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30
二、产品的寿命规律及常用分布
2.正态分布 正态分布又叫高斯分布，一般大多用它描述产 品随机失效比较集中发生现象的一种分布，如产品 由于损耗或退化而产生的失效;再如材料强度、磨 损寿命、疲劳失效。
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二、产品的寿命规律及常用分布
2018/10/29 21
二、产品的寿命规律及常用分布
1.指数分布
许多元器件在工作时间内会由于“偶然”原因而失效， 而不服从某一失效机理，因为这时对应于某一机理的所谓早 期失效产品已通过设计、工艺控制、或实验而消除。因此， 当元器件足够多、时间足够长时，失效率λ（t）便趋近于某 一稳定值，其值的大小只与工作条件和外部环境有关，而与 产品的工作时间无关，产品的这种寿命分布规律称为指数分 布。大多数电子产品，包括大部分仪器仪表在剔除早期失效 后到发生老化变质前的随机失效阶段都服从指数分布。 许多国家所制定的标准中，绝大多数都以指数分布为基 础对电子元器件产品的可靠性等级进行鉴定。如我国GB/T 1772-1979《电子元器件失效率试验方法》
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四、可靠性寿命试验
5)检验项目及技术要求：
检验项目 技术要求 外观、流量、 电阻、电流、 功率、杨程、 噪音、配合 室温、湿度、 气压、电压、 耐压测试 寿命次数 通断比 外观、流量、 电阻、电流、 功率、杨程、 噪音、配合 检验样板数 允许不合格数 检验不合格数
试验前参数
2.威布尔分布
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二、产品的寿命规律及常用分布
2.正态分布 正态分布又叫高斯分布，一般大多用它描述产 品随机失效比较集中发生现象的一种分布，如产品 由于损耗或退化而产生的失效;再如材料强度、磨 损寿命、疲劳失效。
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二、产品的寿命规律及常用分布
可靠性测试
可靠性测试:包装,环境,ESD静电,寿命,表面处理试验等可靠性测试检验标准一机械测试标准A卡通箱、投箱测试标准（加拿大）B卡通箱、投箱测试标准（USA）C随机振动测试标准试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试试验设备：振动仪试验样品：6SETS试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T.轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。
判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。
D包装振动测试标准试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响试验设备：振动测试仪试验样品：2 carton试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。
判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。
E自由跌落测试标准试验目的：检验产品在搬运期间由于粗造装卸遭到跌落的适应性试验设备：跌落实验机试验样品：6SETS试验内容：被测产品不包装，不带附件，处于导通状态。
从1M的高度（如果LCM面积超过产品表面积的60%，跌落高度为50CM），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落3次，6面共计18次，试验结束，取出样品进行试验后检查。
判定标准：测试后手机基本功能、性能正常，外观、结构正常。
马达振动无异常。
F裸机跌落测试标准试验目的：检验产品在使用生产轻微撞击的性应性试验设备：水泥地面试验样品：6SETS试验内容：产品跌落在水泥地面，跌落高度：85CM。
可靠性测试报告
可靠性测试报告一、概述可靠性测试是软件开发过程中不可或缺的一环，旨在评估软件系统在特定环境下的稳定性和可靠性能力。
本报告旨在对经过可靠性测试的软件进行评估和总结，以提供给相关方对软件可靠性的了解和参考。
二、测试目标本次可靠性测试的主要目标是评估软件系统在生产环境下的稳定性和可靠性。
具体目标如下：1. 确定软件系统在正常使用情况下是否能够持续稳定运行，是否存在频繁的崩溃或异常；2. 评估软件系统在高负载情况下的性能表现，是否存在性能下降或资源耗尽的情况；3. 测试软件系统的恢复能力，包括系统崩溃后的恢复时间和数据完整性等；4. 分析软件系统对异常输入和异常操作的处理能力，是否能够正确处理异常情况而不导致系统崩溃或数据丢失。
三、测试方法和步骤1. 环境准备：搭建测试环境，包括硬件设备、操作系统、数据库等；2. 测试用例设计：根据软件系统的功能和使用场景，设计一系列具有代表性的测试用例；3. 测试执行：按照测试用例逐一执行测试，并记录测试结果；4. 缺陷管理：对于发现的缺陷，进行记录、分类和跟踪，确保缺陷及时修复；5. 性能测试：通过模拟实际负载情况，对软件系统的性能进行评估；6. 可用性测试：对软件系统的易用性、用户界面等方面进行评估；7. 其他测试：根据具体需要，进行安全性测试、兼容性测试等；8. 测试总结和报告：根据测试结果进行分析总结，编写可靠性测试报告。
四、测试结果及分析在本次可靠性测试中，软件系统经过了全面、深入的测试，测试结果如下：1. 稳定性测试：软件系统在正常使用情况下可以持续稳定运行，未发现崩溃或异常；2. 性能测试：在高负载情况下，软件系统响应速度较快，资源占用合理，未出现性能下降或资源耗尽；3. 恢复能力测试：软件系统在崩溃后能够迅速恢复，并保持数据的完整性；4. 异常处理能力测试：软件系统能够正确处理各种异常情况，不会导致系统崩溃或数据丢失。
经过测试结果的分析和总结，本次可靠性测试显示出软件系统在稳定性和可靠性方面表现良好，符合预期目标。
Lab-reliability可靠性测试ppt课件
168 HRS (1 Week) 1星期
72 HRS (3 Days) 3天
48 HRS (2 Days) 2天
6 HRS 6小时
J-STD-0207,MSL Level可以自己做，比如MSL level 3 pass, Level 2 fail,那么此产品就做MSL Level 3合适.
*
Defects after Precon Test 预处理后的故障
1. Package Crack 封装面的开裂 2. Delamination 分层 3. Electrical Open/Short 开路/短路
DELAMINATION
PKG CRACK
PKG CRACK
CHIP CRACK
*
Defects after Precon Test 预处理后的失效
Die Top Delamination 芯片顶部的分层
T&H Chamber 温度湿度测试炉
*
Effect of T&H Test 影响温度及湿度测试的因素
Al bonding pad corrosion can be occur by the moisture which was absorbed through EMC than makes Open failure 由通过EMC吸收的水汽造成AL结合片腐蚀比开路造成的来的多 Short or Leakage can be occur by ion which moves through moisture inside package 水离子在器件内部造成短路或者渗漏
*
Temperature Cycle Test 温度周期测试
Test Conditions 测试条件 Temp : +150 / -65 deg.C 温度： +150/-65摄氏度 2) Time : 15 min/ zone 时间: 15分/区间 3) Read-out Point : 1000 cycle 读取点：1000次循环 Measurement 测量 Open/Short Test 开短路测试
72 HRS (3 Days) 3天
48 HRS (2 Days) 2天
6 HRS 6小时
J-STD-0207,MSL Level可以自己做，比如MSL level 3 pass, Level 2 fail,那么此产品就做MSL Level 3合适.
*
Defects after Precon Test 预处理后的故障
1. Package Crack 封装面的开裂 2. Delamination 分层 3. Electrical Open/Short 开路/短路
DELAMINATION
PKG CRACK
PKG CRACK
CHIP CRACK
*
Defects after Precon Test 预处理后的失效
Die Top Delamination 芯片顶部的分层
T&H Chamber 温度湿度测试炉
*
Effect of T&H Test 影响温度及湿度测试的因素
Al bonding pad corrosion can be occur by the moisture which was absorbed through EMC than makes Open failure 由通过EMC吸收的水汽造成AL结合片腐蚀比开路造成的来的多 Short or Leakage can be occur by ion which moves through moisture inside package 水离子在器件内部造成短路或者渗漏
*
Temperature Cycle Test 温度周期测试
Test Conditions 测试条件 Temp : +150 / -65 deg.C 温度： +150/-65摄氏度 2) Time : 15 min/ zone 时间: 15分/区间 3) Read-out Point : 1000 cycle 读取点：1000次循环 Measurement 测量 Open/Short Test 开短路测试
可靠性测试参考
CRT/VGA, Serial, Paraபைடு நூலகம்lel, DVI
Insert the connector. Fully tighten the screws. Wiggle the connector up and down two or three times. Loosen the screws and pull at a 30-degree angle to remove.
Reliability Test for Electronic Product
Thermal Shock
1. Purpose The objective of this test is to precondition or age systems, subassemblies, or components by subjecting them to the stresses of rapid thermal expansion and compression. This test can also precipitate some gross failure modes associated with differing coefficients of thermal expansion (CTEs) 2. Scope Provide detailed instructions for conducting a system-level, subassembly, or component test. It also contains criteria for determining whether a failure has occurred. 3. Test procedure -Place units or subassemblies in the chamber. -Based on test units, choose one of the following profiles: System level or hinge-up assembly: 65C to -40C. 20-minute dwell. Motherboard or component level: 80C to -40C. 15-minute dwell. -If running systems, ensure they are powered off and execute 50 cycles of the chosen profile. -Perform the cold portion of the cycle first, so that the test ends with the samples in the hot condition. This will reduce the likelihood of moisture damage to the samples. -After completing 50 cycles, return to the high temperature for a minimum of 4 hours to evaporate any accumulated moisture. -Return to room temperature (25C) prior to removal of test units from the chamber.
可靠性试验大纲
·ISTA(Interna t iona l Safe Transit Association) ，即国际安全运输协 会
跌落测试：此测试是模拟包装箱在搬运过程中遇到的坠落、撞击等情况。 将受测样板在跌落机上进行10次自由落体测试（包括一角三边六面）或 撞击测试，不同重量的包装箱其跌落高度和撞击速度是不同的，如下页图 所示： 包装箱重量W(lbs.) 跌落高度(inch) 冲击速度(ft/s) 产品重量 （1 Lｂｓ=0.4536kg） 跌落高度（1ＩＮ=25.4mm）
可靠性试验大纲
PART 1
目的 目 录
FOCUS 1
FOCUS ２
01 Part
FOCUS ３
添加标题
FOCUS 4 单击添加文本具体内容
范围
02 Part
定义
添加标题
参考文件 单击添加文本具体内容
03 Part
FOCUS 5
添加标题
FOCUS 6 单击添加文本具体内容
FOCUS 7
试验基本步骤 试验项目
Between Failure） 试验
正常情况下连续工作试验
连续低电压试验 连续高电压试验
可靠性试验方案举例
试验的名称 试验的目的 试验的依据
XX可靠性试验方案
1.发现产品在设计、材料和工艺方面的缺陷，为产品早期 故障评估提供数据支持； 2.确定MTBF基准，评定产品稳定性水平； 3.出具相关报，为市场竞争提供有力支持。
Reliability Test 可靠性试验
○ 热冲击试验 ○ 高温高湿循环试验 ○ 振动运输试验 ○ 整包装跌落及单机跌落试验 ○ 按键、牢固件、弹簧、标志标识耐磨、连接端子牢
固性寿命与可靠性试验 ○ 开关（滑动，旋转）继电器寿命可靠性试验 ○ 弯曲度/力试验，液体防漏密封等试验
跌落测试：此测试是模拟包装箱在搬运过程中遇到的坠落、撞击等情况。 将受测样板在跌落机上进行10次自由落体测试（包括一角三边六面）或 撞击测试，不同重量的包装箱其跌落高度和撞击速度是不同的，如下页图 所示： 包装箱重量W(lbs.) 跌落高度(inch) 冲击速度(ft/s) 产品重量 （1 Lｂｓ=0.4536kg） 跌落高度（1ＩＮ=25.4mm）
可靠性试验大纲
PART 1
目的 目 录
FOCUS 1
FOCUS ２
01 Part
FOCUS ３
添加标题
FOCUS 4 单击添加文本具体内容
范围
02 Part
定义
添加标题
参考文件 单击添加文本具体内容
03 Part
FOCUS 5
添加标题
FOCUS 6 单击添加文本具体内容
FOCUS 7
试验基本步骤 试验项目
Between Failure） 试验
正常情况下连续工作试验
连续低电压试验 连续高电压试验
可靠性试验方案举例
试验的名称 试验的目的 试验的依据
XX可靠性试验方案
1.发现产品在设计、材料和工艺方面的缺陷，为产品早期 故障评估提供数据支持； 2.确定MTBF基准，评定产品稳定性水平； 3.出具相关报，为市场竞争提供有力支持。
Reliability Test 可靠性试验
○ 热冲击试验 ○ 高温高湿循环试验 ○ 振动运输试验 ○ 整包装跌落及单机跌落试验 ○ 按键、牢固件、弹簧、标志标识耐磨、连接端子牢
固性寿命与可靠性试验 ○ 开关（滑动，旋转）继电器寿命可靠性试验 ○ 弯曲度/力试验，液体防漏密封等试验
可靠性测试资料
0.5
50 Pcs
2739
3000
MTTF Procedure
1. Random sampling 50 pcs. 2. Perform function test in advance and set up temperature. 4. Function test once a week. 5. Test time for 2160 hrs (3 months). 6. Based on Total Test Hours( T ) and Failure Quantity ( r ) and refer Chi-Square table with Confidential Level (CL) to get MTTF.
IEC 68-2-14
Design
Temperature : -25℃±2℃ Applied Voltage : Rated voltage Duration : 96 hrs Temperature : 60±2℃ Humidity : 93±3%RH Duration : 96 hrs Applied Voltage : Rated voltage
Standard
Status
Remark
IEC68-2-2
Design
Impeller Locked Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Voltage : 115% Duration : 168 hrs
UL-507
Design
Life Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃
Reliability Test Equipment/Item.
1.High Temperature Test Equipment
可靠性测试报告
常。注1.汗液的成份为氨水1.07%，氯化钠0.48%，水98.45%。
标准 实测
面漆：
漆：
面漆：上： 中：
中漆：上： 中：
底漆：上： 中：
um um um um
中
下： 下： 下：
um um um um
底漆：
um
下：
um
下：
um
下：
um
用适配螺钉打入,用拉力计测试螺母拉力 10 kg力,螺母无松脱,螺母柱无爆裂为合格
审核：
核准:
℃±1℃,湿度 %),
检
环品 境 □盐雾 测
保持 H后产品取出,用棉布将化妆品擦试干净，产品表面无异常。
压力桶温度47+/-1℃，在35+/-1℃的密闭环境（盐水桶）中，湿度>85%，PH值在6.5-7.2范围内，用5%+/-1%的 NaCL溶液连续 H盐水喷雾后，产品表面应无锈蚀、变色、及镀层剥落等不良。
塑胶五金有限公司
（塑胶）可靠性测试报告
QR-431-A
日期：
客户：
NO.：
产品型号
产品名称
暗码
产品颜色
物料编码
材质 实验类别:
送检单位
送检厂商
□试制测试□样板测试送Fra bibliotek人测试数量
送检时间
□首件测试
□量产测试
□进料测试
类 别
测试项目
实验条件及要求
结果 简述
□PC 注内 塑应 / 力 □ABS+PC 组测 装试
□ABS
将组装好的产品放入甲苯＋无水乙醇配比的溶液中（比例为1:3）浸泡15分钟后,将产品取出,用水把产品表面 残留的溶液冲洗干净后自然风干,检查产品产品表面夹水线处允许有3mm不可见的轻微裂纹，其余位置一点也不 允许有，内部螺母不得松脱、明显开裂。
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Sunonwealth Electric Machine Industry Co., Ltd
Reliability Presentation
Contents
◎Reliability Test Equipment/Item. ◎Fan MTTF/L10 Test Procedure And Calculation Method .
Standard
Status
Remark
Drop Test
IEC68-2-32
Design M/P
8. Mechanical Shock Test Machine
Test Item Test Condition
Pulse Shape : Half-Sine Wave Nominal Pulse Length : 2 ms Velocity:60in/sec(Op) & 80in/sec(Non-Op) Number of shock:3Shock for each six faces
MIL-HDBK781A
Design M/P
2.Temperature/Humidity Test Machine
Test Item
Temperature Cycle Test
Test Condition
Low Temperature : --25℃±2℃ High Temperature : 70℃/ 90 ℃ ±2℃ Dwell Time : 2 hrs/each Transfer Time : 1.5 hrs Cycle : 50 cycles Min •Low temperature:-40℃±2 ℃ •High temperature:80 ℃ ±2 ℃
Standard
Status
Remark
IEC68-2-6 Design M/P
6.Ball Bering Test Machine
Test Item Test Condition
Low Band : 30 - 300 Hz Med Band : 301 – 1800 Hz High Band : 1801 – 10 KHz
Standard
Status
Remark
IEC68-2-2
Design
Impeller Locked Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Voltage : 115% Duration : 168 hrs
UL-507
Design
Life Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃
CNS-8753 JIS B-8346 ISO-7779
ISO-7779
Design
M/P
ISO-532B
ISO-10816-1
5.Vibration Test Machine
Test Item Test Condition
Sine Wave Vibration Range of Frequency : 5-55-5 Hz Amplitude : 2 mm Duration : 30 mins Vibration Test Random Vibration Range of Frequency : 20-500 Hz PSD : 0.98G(OP)/2.2G(Non-OP) Duration : 60 mins per axis IEC68-2-34
Reliability Test Equipment/Item.
1.High Temperature Test Equipment
Test Item
High Temperature Test
Test Condition
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Applied Voltage : Rated voltage Duration : 96 hrs
IEC68-2-1
Design
Humidity Test
IEC68-2-3
Design
3.Air-Flow/Pressure Test System
Test Item Test Condition
Applied Voltage : Rated voltage Barometric Pressure : 76 cm-Hg atmospheric pressure
R (t ) = e
(△ H)
Sample Size
Stress elevated 70℃ Actual test tim e required test tim e w ith zero failure T w ith zero failure T (hour) (hour)
Sleeve
8hrs/dayx365days/ yearx2years = 5,840 hrs
8hrs/dayx365days/ yearx5years = 14,600 hrs
0.95
170,783 hrs (180,000 hrs)
0.4
50 Pcs
2268
2520
0.95
227,710 hrs (230,000hrs)
0.45
50 Pcs
2466
2520
0.95
284,638 hrs (300,000 hrs)
Standard
Status
Remark
Mechanical Shock Test
IEC68-2-27
Design
Fan MTTF / L10 Test Procedure And Calculation Method
The definition of MTTF with difference structure
0.95
113,855 hrs (120,000 hrs)
0.3
50 Pcs
2096
2160
1Ball 8hrs/dayx365days/ yearx3years 1Sleeve = 8,760 hrs 1Ball 8hrs/dayx365days/ 1Sleeve yearx4years + MS = 11,680 hrs VAPO 2 Ball
Total test hours( T ) : (2400 x 1) + (2736 x 1) + (3000 x 48) = 149,136 hrs Chi-Square table : 90% CL, 2 pcs failed, get a coefficient 10.6
MTTF = (2 x T) / 10.6 = (2 x 149,136) / 10.6 = 28,138 hrs.
0.5
50 Pcs
2739
3000
MTTF Procedure
1. Random sampling 50 pcs. 2. Perform function test in advance and set up temperature. 4. Function test once a week. 5. Test time for 2160 hrs (3 months). 6. Based on Total Test Hours( T ) and Failure Quantity ( r ) and refer Chi-Square table with Confidential Level (CL) to get MTTF.
Standard
Status
Remark
Ball Bearing Test
ISC
IQC/ Analysis
7.Drop Test Machine
Test Item Test Condition
Height : Follow Standard One angle, three diagonal corners, six planes
T
MTTF =
r
7. L10 = 0.105 x MTTF By ( R90 ) = e -λL10 to get the constant of L10 (0.105)
@2002 Sunonwealth Electric Machine Industry Co, Ltd. All right reserved
@2002 Sunonwealth Electric Machine Industry Co, Ltd. All right reserved
L10 Calculation
1. Random sampling 50 pcs 2. Perform function test in advance and temperature set up. 3. Function test once a week. 4. Continue test till 10% failure being found , then terminate. 5. Count total test hours ( T ) and failure quantity ( r ). 6. Get the observe MTTF.
Example: Sampling 50 pcs / test for 16024 hours. 1 pc TTF at 6872 hrs , 1 pc TTF at 9584 hrs , 1 pc TTF at 12468 hrs , 1 pc TTF at 14568 hrs , 1 pc TTF at 16024 hrs . Exponential distribution Total test hours( T ) : (6872 x 1) + (9584 x 1) + (12468 x 1) + (14568 x 1) +(16024 x 1) + (16024x 45) = 780596 hrs
Reliability Presentation
Contents
◎Reliability Test Equipment/Item. ◎Fan MTTF/L10 Test Procedure And Calculation Method .
Standard
Status
Remark
Drop Test
IEC68-2-32
Design M/P
8. Mechanical Shock Test Machine
Test Item Test Condition
Pulse Shape : Half-Sine Wave Nominal Pulse Length : 2 ms Velocity:60in/sec(Op) & 80in/sec(Non-Op) Number of shock:3Shock for each six faces
MIL-HDBK781A
Design M/P
2.Temperature/Humidity Test Machine
Test Item
Temperature Cycle Test
Test Condition
Low Temperature : --25℃±2℃ High Temperature : 70℃/ 90 ℃ ±2℃ Dwell Time : 2 hrs/each Transfer Time : 1.5 hrs Cycle : 50 cycles Min •Low temperature:-40℃±2 ℃ •High temperature:80 ℃ ±2 ℃
Standard
Status
Remark
IEC68-2-6 Design M/P
6.Ball Bering Test Machine
Test Item Test Condition
Low Band : 30 - 300 Hz Med Band : 301 – 1800 Hz High Band : 1801 – 10 KHz
Standard
Status
Remark
IEC68-2-2
Design
Impeller Locked Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Voltage : 115% Duration : 168 hrs
UL-507
Design
Life Test
Temperature : 70℃/90℃±2℃
CNS-8753 JIS B-8346 ISO-7779
ISO-7779
Design
M/P
ISO-532B
ISO-10816-1
5.Vibration Test Machine
Test Item Test Condition
Sine Wave Vibration Range of Frequency : 5-55-5 Hz Amplitude : 2 mm Duration : 30 mins Vibration Test Random Vibration Range of Frequency : 20-500 Hz PSD : 0.98G(OP)/2.2G(Non-OP) Duration : 60 mins per axis IEC68-2-34
Reliability Test Equipment/Item.
1.High Temperature Test Equipment
Test Item
High Temperature Test
Test Condition
Temperature : 70℃/90℃±2℃ Applied Voltage : Rated voltage Duration : 96 hrs
IEC68-2-1
Design
Humidity Test
IEC68-2-3
Design
3.Air-Flow/Pressure Test System
Test Item Test Condition
Applied Voltage : Rated voltage Barometric Pressure : 76 cm-Hg atmospheric pressure
R (t ) = e
(△ H)
Sample Size
Stress elevated 70℃ Actual test tim e required test tim e w ith zero failure T w ith zero failure T (hour) (hour)
Sleeve
8hrs/dayx365days/ yearx2years = 5,840 hrs
8hrs/dayx365days/ yearx5years = 14,600 hrs
0.95
170,783 hrs (180,000 hrs)
0.4
50 Pcs
2268
2520
0.95
227,710 hrs (230,000hrs)
0.45
50 Pcs
2466
2520
0.95
284,638 hrs (300,000 hrs)
Standard
Status
Remark
Mechanical Shock Test
IEC68-2-27
Design
Fan MTTF / L10 Test Procedure And Calculation Method
The definition of MTTF with difference structure
0.95
113,855 hrs (120,000 hrs)
0.3
50 Pcs
2096
2160
1Ball 8hrs/dayx365days/ yearx3years 1Sleeve = 8,760 hrs 1Ball 8hrs/dayx365days/ 1Sleeve yearx4years + MS = 11,680 hrs VAPO 2 Ball
Total test hours( T ) : (2400 x 1) + (2736 x 1) + (3000 x 48) = 149,136 hrs Chi-Square table : 90% CL, 2 pcs failed, get a coefficient 10.6
MTTF = (2 x T) / 10.6 = (2 x 149,136) / 10.6 = 28,138 hrs.
0.5
50 Pcs
2739
3000
MTTF Procedure
1. Random sampling 50 pcs. 2. Perform function test in advance and set up temperature. 4. Function test once a week. 5. Test time for 2160 hrs (3 months). 6. Based on Total Test Hours( T ) and Failure Quantity ( r ) and refer Chi-Square table with Confidential Level (CL) to get MTTF.
Standard
Status
Remark
Ball Bearing Test
ISC
IQC/ Analysis
7.Drop Test Machine
Test Item Test Condition
Height : Follow Standard One angle, three diagonal corners, six planes
T
MTTF =
r
7. L10 = 0.105 x MTTF By ( R90 ) = e -λL10 to get the constant of L10 (0.105)
@2002 Sunonwealth Electric Machine Industry Co, Ltd. All right reserved
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L10 Calculation
1. Random sampling 50 pcs 2. Perform function test in advance and temperature set up. 3. Function test once a week. 4. Continue test till 10% failure being found , then terminate. 5. Count total test hours ( T ) and failure quantity ( r ). 6. Get the observe MTTF.
Example: Sampling 50 pcs / test for 16024 hours. 1 pc TTF at 6872 hrs , 1 pc TTF at 9584 hrs , 1 pc TTF at 12468 hrs , 1 pc TTF at 14568 hrs , 1 pc TTF at 16024 hrs . Exponential distribution Total test hours( T ) : (6872 x 1) + (9584 x 1) + (12468 x 1) + (14568 x 1) +(16024 x 1) + (16024x 45) = 780596 hrs