金相学史话_6_电子显微镜在材料科学中的应用

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电子显微镜在材料科学中的应用研究

电子显微镜在材料科学中的应用研究

电子显微镜在材料科学中的应用研究随着现代科技的快速发展,电子显微镜已经成为材料科学研究中不可或缺的工具。

电子显微镜通过利用电子束对物质进行成像,能够探测到微观颗粒和分子级别的结构和特性,从而为材料科学研究提供了前所未有的帮助。

现在,让我们来深入了解电子显微镜在材料科学中的应用研究。

一、电子显微镜的原理和分类电子显微镜是一种利用电子束成像的显微镜,其分为传输电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)两种类型。

传输电子显微镜利用电子束透过样品的薄片,通过探测透过电子来还原样品的图像。

而扫描电子显微镜则是利用电子束扫描样品表面,挖掘样品的表面结构和性能。

两种类型的电子显微镜都具有高分辨率、高增益和强大的电子控制系统,可以针对不同的研究目的帮助研究者实现细观结构和性能的分析。

二、电子显微镜在材料科学中的应用电子显微镜在材料科学中的应用非常广泛,从微观结构的观察到材料性能的研究都离不开它。

具体来说,电子显微镜在以下材料科学领域中扮演重要的角色。

1. 材料的成分分析:通过电子能谱仪,可以将电子束聚焦在样品上,令其相互作用并释放出能量。

通过探测释放出的能量,可以透彻了解材料的化学组成和元素分布情况。

2. 结晶形态的确定:无论是金属材料还是无机材料,都需要在成形过程中形成一定的结晶结构。

因此,在材料科学中,使用电子显微镜来观察结晶形态的变化是一个非常重要的研究方式。

3. 材料的晶体缺陷分析:晶体缺陷可以影响材料的性能,例如机械强度、电气行为等。

因此,通过电子显微镜来观察晶体缺陷可以帮助研究者了解缺陷的类型和影响。

4. 纳米颗粒的制备和形貌研究:纳米颗粒是材料科学中一个热门的研究方向。

利用电子显微镜可以得到颗粒的形貌和尺寸,从而对制备方法和材料性质的解释提供了帮助。

5. 生物医学材料的观察:许多生物医学材料是在人体内大量使用的,而其性能的可靠性和稳定性可以直接影响到患者的健康。

因此,在生物医学材料的研究与开发过程中,电子显微镜成为了不可或缺的工具,对其微观结构和性能的研究尤为重要。

电子显微镜技术在材料科学中的应用

电子显微镜技术在材料科学中的应用

电子显微镜技术在材料科学中的应用一直被广泛认可为一种非常有效的研究工具,它在材料结构与性能研究、纳米材料分析、生物材料表征等领域都有着重要的应用。

随着科技的不断发展,电子显微镜技术在材料科学领域的应用也在不断创新与进步。

在材料科学研究中,电子显微镜技术被广泛应用于材料的表面形貌分析、晶体结构表征、微观组织观察等方面。

电子显微镜可以提供比光学显微镜更高的分辨率和放大倍数,可以观察到更加微小的结构和细节。

这使得研究人员可以更加深入地了解材料的微观结构与性能之间的关系,为新材料的设计和开发提供重要参考。

在纳米材料研究领域,电子显微镜技术更是不可或缺的工具。

纳米材料具有特殊的尺寸效应和表面效应,在其制备、结构与性能研究中需要高分辨率的显微镜进行表征。

电子显微镜具有优异的成像分辨率和分析能力,可以观察到纳米尺度下的原子结构、晶体缺陷、界面形貌等信息,为纳米材料的研究和应用提供重要支持。

在生物材料领域,电子显微镜技术也发挥着关键作用。

生物材料具有复杂的结构和功能,需要利用高分辨率显微镜对其进行表征。

电子显微镜可以观察到生物材料的超微结构,揭示其细胞、组织等层次的形貌和组织结构,为生物材料的结构与性能研究提供重要信息,有助于生物医学、生物工程等领域的发展。

除了在基础材料科学研究中的应用,电子显微镜技术还在材料工程、材料制备、材料性能表征等方面得到广泛应用。

例如,在材料的微观组织分析中,电子显微镜可以观察到晶粒形貌、晶界分布、位错密度等信息,为材料组织性能的优化提供参考。

在材料的表面与界面分析中,电子显微镜可以揭示材料表面的形貌特征、界面结合情况等信息,有助于提高材料的表面性能和界面稳定性。

在材料的化学成分分析中,透射电子显微镜、扫描电子显微镜等技术可以用来进行微区化学成分分析,揭示不同区域的元素分布和化学组成,为材料的微结构与化学性能研究提供支撑。

在材料的力学性能测试中,电子显微镜可以结合原位力学测试技术,实时观察材料的变形行为、裂纹扩展情况等,为材料的力学性能分析提供实验数据。

电子显微镜在材料科学中的应用及其新技术

电子显微镜在材料科学中的应用及其新技术

电子显微镜在材料科学中的应用及其新技术电子显微镜是一种利用电子束代替光线成像的高级显微镜。

与传统光学显微镜相比,电子显微镜拥有更高的分辨率和更强的放大能力,使其在许多领域中具有重要的应用价值。

在材料科学领域中,电子显微镜被广泛应用于材料形态学、纳米结构分析、材料电学和磁学性能等方面的研究。

电子显微镜在材料形态学中的应用是最为广泛和基础的。

借助电子显微镜,研究人员可以观察材料的微观结构和形貌,以及材料中微观缺陷和晶格缺陷等问题。

此外,电子显微镜还可以对各种材料进行定量分析,如材料的晶粒尺寸、空位浓度等。

在材料的形态学研究中,电子显微镜发挥着重要的作用,为工程师和科研人员提供了实验数据和分析结果。

另一个重要的应用领域是纳米结构分析。

电子显微镜可以观察到纳米级别的材料结构,可以用来研究自组装、导电性和热性质等方面。

与传统的扫描电子显微镜和透射电子显微镜相比,高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)已成为研究纳米结构和纳米尺寸现象的最主要手段之一。

HRTEM可以观察到单个原子及其局部操作,因此被广泛用于研究二维材料、纳米晶体和催化剂等领域。

除此之外,电子显微镜在材料的电学和磁学性能方面也有着重要的应用。

例如,扫描透射电子显微镜(STEM)可以用于研究材料的电子和原子结构,同时结合光电子能量损失谱图(EELS)和X-ray能量谱图(EDX),可以精确地定量化材料中的各种原子的信息。

还有,磁光扫描隧道显微镜(MFM)和原子力显微镜(AFM)等工具,可以用于研究材料磁学和磁噪声等方面。

最近,随着新技术的发展和应用,电子显微镜在材料科学中的地位也更加突出。

例如,在2016年被引入的三维电子显微镜和高角度旋转电子衍射(HAREED),分别能够获取材料的三维形貌和原子结构;在2020年,内行分辨本征反射电子能量损失光谱(N-REELS)方法被广泛应用于研究功能材料中的电子结构和振动频率,这些材料包括钙钛矿太阳能电池和分子发光材料等。

电子显微镜技术及其在材料科学中的应用

电子显微镜技术及其在材料科学中的应用

电子显微镜技术及其在材料科学中的应用随着科技的不断发展,人们对于观察微观世界的需求越来越强烈。

电子显微镜技术作为一种高精度、高分辨率的观测工具,已经广泛应用于材料科学领域。

本文将介绍电子显微镜技术的基本原理,以及在材料科学中的应用,探讨其在该领域中的重要性。

一、电子显微镜技术的基本原理电子显微镜技术是一种利用电子束来观测材料表面和内部结构的方法。

相比传统的光学显微镜,电子显微镜具有更高的分辨率和灵敏度。

电子显微镜主要由电子枪、聚焦透镜、样品台、检测器等组成。

电子枪是电子显微镜的关键部件之一。

它能够产生高速的电子束,从而形成对样品进行扫描。

电子束穿过聚焦透镜,被聚焦成较小的束斑。

样品台则是专门用于支持和定位待检测样品的平台。

检测器是用于记录并显示扫描电子显微镜观测到的图像的设备。

二、电子显微镜技术在材料科学中的应用电子显微镜技术在材料科学中的应用非常广泛。

它可以非常清晰地观察材料的微观结构和表面形貌,并获取到高分辨率的图像数据。

这些数据在研究材料的物理、化学和机械性能方面都是非常宝贵的。

1、纳米材料研究纳米材料是指粒径在纳米级别的材料。

由于其颗粒尺寸极小,所以其属性和应用与传统的大尺寸材料有很大的不同。

电子显微镜技术能够对纳米材料进行高分辨率的观测,得出纳米材料的结构、成分和尺寸分布等信息,从而为纳米材料的制备和应用提供基础数据。

2、薄膜形貌观察在许多应用中,薄膜的表面形貌是至关重要的。

电子显微镜技术可以高精度地观察薄膜表面的细节特征,如表面平整度、晶体结构、缺陷情况等。

这对于薄膜的制备和性能研究非常重要。

3、材料缺陷分析材料中可能存在各种类型的缺陷,如裂纹、气孔、晶体缺陷等。

电子显微镜技术能够高分辨率地观察这些缺陷,并提供它们的形貌、位置和数量信息。

这对于分析材料的力学性质、研究缺陷形成与演化规律等方面都具有重要意义。

三、电子显微镜技术在材料科学中的重要性电子显微镜技术的发明与应用不仅极大促进了材料科学的发展,同时也改变了科学研究的方式。

电子显微镜技术在材料科学中的应用

电子显微镜技术在材料科学中的应用

电子显微镜技术在材料科学中的应用第一章:引言电子显微镜技术是一种现代分析性科学的重要工具,它已经成为材料科学领域中的重要分析技术。

随着材料科学研究的深入,电子显微镜技术的应用范围也越来越广泛。

本文将重点介绍电子显微镜技术在材料科学中的应用。

第二章:电子显微镜技术的基础知识电子显微镜是一种基于电子束相互作用的高分辨率显微镜,它使用电子束来取代传统光学显微镜的光束。

电子显微镜由电子光学系统、光学检测系统和样品准备系统组成。

电子光学系统包括了电子束发生器、透镜系统和检测器。

电子束发生器产生电子束,透镜系统将电子束集中到样品表面。

检测器用于检测来自样品的电子。

通过测量电子的散射和反射,可以得出样品的物理和化学信息。

第三章:电子显微镜技术在材料科学中的应用3.1 显微结构分析电子显微镜广泛用于研究材料中微观结构的性质和特征。

电子显微镜可以通过观察材料中晶体的晶面、晶界和表面来确定材料的结构,获得材料表面和内部的成分信息。

在材料制备过程中,电子显微镜可以用来研究不同工艺对晶粒尺寸和结构的影响,评估材料的晶品质,并评估材料的制备质量。

3.2 表面形貌分析电子显微镜技术还可以用于表面形貌的分析。

它可以观察材料表面的形貌和形态变化,以及表面缺陷的形成机理和特点。

在材料的表面处理和涂层中,电子显微镜可以用来评估不同工艺对表面形貌和质量的影响,以及表面处理过程中产生的不良效果。

3.3 化学成分分析电子显微镜技术还可以用于研究材料成分和微观组织的化学性质。

通过观察电子的吸收和逸出,可以确定材料的化学成分和电子状态。

此外,电子能谱分析技术可以使用电子束激发材料并分析发射的电子,以确定材料的化学成分,尤其是表面和边缘区域。

3.4 结构性能分析在材料科学中,电子显微镜技术广泛应用于研究材料的结构性能和它们与材料的物理、机械、热性等性质之间的关系。

例如,研究材料的晶体结构和晶粒大小对其性能的影响,探究材料热稳定性和电学性质、机械性能、导热性能等方面的关系。

电子显微镜在材料科学中的应用

电子显微镜在材料科学中的应用

电子显微镜在材料科学中的应用电子显微镜(electron microscope)是一种使用电子束来观察物质的微观结构和性质的仪器。

相较于传统的光学显微镜,电子显微镜通过利用电子的波动性,具有更高的分辨率和放大倍数,可以观察更小的细节。

因此,电子显微镜在材料科学领域中扮演着重要的角色,为研究人员提供了深入探究材料性质和结构的能力。

电子显微镜在材料科学中的应用广泛,涵盖了各个领域。

下面将重点介绍电子显微镜在材料科学中的三个主要应用领域:材料结构表征、物理性质分析和纳米材料研究。

首先,电子显微镜在材料结构表征方面发挥着重要作用。

通过电子显微镜的高分辨率和强大的放大倍数,研究人员可以观察到材料中微观结构的细节。

例如,在金属学中,电子显微镜可以用来观察晶体的晶粒结构、晶界和位错等缺陷。

同时,通过电子显微镜的能谱分析功能,研究人员还可以确定材料中不同元素的分布情况,从而了解材料的化学成分。

这些结构表征的结果对于深入理解材料的性质和行为至关重要。

其次,电子显微镜在材料的物理性质分析方面也发挥着重要作用。

电子显微镜可以通过观察材料的形貌、尺寸和成分变化来研究材料的磁性、电性和光学性质等。

例如,在磁性材料研究中,电子显微镜可以用来观察磁性颗粒的磁畴结构,从而了解磁性材料的磁性行为。

在光学材料研究中,电子显微镜可以用来观察材料的折射率、散射特性和表面形貌等,从而为光学材料的设计和优化提供重要的信息。

最后,电子显微镜在纳米材料研究方面也发挥着重要作用。

纳米材料是一种尺寸在纳米级别的新型材料,具有许多独特的性质和应用。

电子显微镜的高放大倍数使得研究人员可以观察到纳米材料的微观结构和形貌,从而研究材料的尺寸效应、界面效应和量子效应等现象。

电子显微镜还可以用于纳米材料的成分分析和元素映像,以了解纳米材料的化学成分和元素分布情况。

这些研究对于开发和应用纳米材料在能源、电子器件和生物医学领域中具有重要意义。

总结起来,电子显微镜在材料科学领域中的应用广泛,包括材料结构表征、物理性质分析和纳米材料研究。

电子显微镜技术在材料科学中的应用研究

电子显微镜技术在材料科学中的应用研究

电子显微镜技术在材料科学中的应用研究近年来,随着科学技术的不断进步和发展,电子显微镜技术在材料科学领域的应用研究取得了重要突破。

电子显微镜作为一种高分辨率的显微镜,能够观察到微观世界中的原子和分子结构,为材料科学的研究提供了有力的工具。

首先,电子显微镜技术在材料表征方面发挥了重要作用。

传统的光学显微镜只能观察到物质的表面形貌,而电子显微镜则能够深入到物质内部,观察到更加细微的结构和性质。

通过电子显微镜的观察,科学家们可以研究材料的晶体结构、晶界、缺陷等微观特征,揭示材料的性质和行为。

例如,在研究新型材料的力学性能时,通过电子显微镜观察到材料中的晶界和位错,可以深入了解材料的强度和韧性。

其次,电子显微镜技术在材料分析方面也发挥了重要作用。

材料科学的研究需要对材料的组成、成分和结构进行分析,而电子显微镜能够通过能谱分析、电子衍射等技术手段,对材料进行定性和定量的分析。

通过电子能谱分析,可以确定材料中各种元素的含量和分布情况;通过电子衍射技术,可以确定材料的晶体结构和晶面取向。

这些分析结果对于研究材料的性能和制备工艺具有重要意义。

此外,电子显微镜技术还在材料制备和改性方面发挥了重要作用。

通过电子显微镜的观察和分析,科学家们可以了解材料的微观结构和性质,从而指导材料的制备和改性过程。

例如,在纳米材料的制备中,电子显微镜可以帮助科学家们控制材料的尺寸、形貌和分布,从而实现对材料性能的调控。

此外,通过电子显微镜的观察,科学家们还可以发现材料中的微观缺陷和问题,并针对性地进行改进和优化。

然而,电子显微镜技术在材料科学中的应用研究仍面临一些挑战和困难。

首先,电子显微镜的设备和操作成本较高,需要专业的技术人员进行操作和维护。

其次,电子显微镜对样品的制备要求较高,需要对样品进行薄片制备和表面处理,以保证观察的效果和结果的准确性。

此外,电子显微镜在观察过程中还存在电子束对样品的辐射损伤等问题,需要进行合理的操作和控制。

电子显微镜在材料科学中的应用与进展

电子显微镜在材料科学中的应用与进展

电子显微镜在材料科学中的应用与进展近年来,随着科学技术的不断发展和进步,电子显微镜作为一种高分辨率显微镜广泛应用于各个科学领域。

在材料科学中,电子显微镜的应用起到了至关重要的作用,并取得了显著的进展。

本文将介绍电子显微镜在材料科学中的应用以及相关的进展。

首先,电子显微镜在材料科学中的应用主要有以下几个方面。

第一,电子显微镜可以通过高分辨率的成像技术,观察材料的微观结构和形貌。

通过观察材料的原子尺度特征,可以深入了解材料的晶体结构、晶格缺陷等信息。

第二,电子显微镜可以进行局域化成分分析。

通过能量散射谱(EDS)和电子能谱仪(EELS)等技术,可以对材料的元素组成和化学环境进行分析,从而得到材料的化学信息。

第三,电子显微镜还可以进行原位观察和动态研究。

通过配合温度、电压或气氛等条件,在电子显微镜下对材料进行原位观察和研究,可以得到材料在实时变化下的显微结构和性能变化。

其次,电子显微镜在材料科学中的应用已经取得了一系列的进展。

首先,扫描透射电子显微镜(STEM)技术的发展大大提高了电子显微镜的分辨率和成像质量。

STEM技术通过探测透射电子的散射信号,可以实现单原子的分辨成像,从而揭示材料的原子结构和化学组成。

其次,透射电子显微镜(TEM)技术的进步使得我们可以观察到更加复杂的材料结构和界面。

通过调制TEM中的电场和磁场,可以对纳米结构和功能材料进行原位观察和控制,并对材料的性能进行深入研究。

此外,近年来,电子显微镜配合计算机模拟和人工智能技术的应用,使得我们可以通过电子显微镜的数据进行材料的结构模拟和预测,提高了材料科学的研究效率和准确度。

最后,电子显微镜在材料科学中的应用仍面临一些挑战和发展方向。

首先,高分辨率的成像技术需要更加复杂和灵敏的探测器和样品制备技术支撑。

解决探测器的灵敏度和样品制备的问题是提高分辨率和稳定性的关键。

其次,多模态、多尺度和高通量的电子显微镜技术的发展是一个重要的方向。

需要通过多种成像模式的结合和自动化技术的运用,实现对材料的全方位观察和分析。

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第20卷 第1期V ol 120 N o 11材 料 科 学 与 工 程Materials Science &Engineering总第77期Mar.2002文章编号:10042793X (2002)0120005206收稿日期:2001201218作者简介:郭可信(1923—),男,中科院院士.金相学史话(6):电子显微镜在材料科学中的应用郭可信(中国科学院物理研究所北京电子显微镜实验室,北京 100080) 【摘 要】 Ruska 在三十年代研制出第一台电子显微镜,战后(1954年)又在极端困难条件下发展出带有电子衍射功能的高分辨电镜E lmiskop I 。

但是,从专利优先权角度看,他不是电镜的发明人。

直到半个世纪后,有关的争议人都已过世,他才在1986年获得这个迟到的但却是当之无愧的诺贝尔物理奖。

材料科学的几次突破性进展充分说明电子显微镜的重要性。

首先是电子衍射与成像的结合使位错的直接观察得以实现。

在双束(透射束与一个强衍射束)条件下,位错产生的畸变区的衍射强度与基体不同从而显示衬度差异(衍衬像)。

位错等晶体缺陷因此得以成为六、七十年代的研究热点。

选区衍射使晶体结构分析进入到微米甚至到纳米层次。

迄今为止,八十年代发现的各种类型的准晶(五重、八重、十重、十二重旋转对称准晶)都是使用这种手段实现的,从而扩大了晶体的范围,把无周期性的准晶也包括进去。

高分辨电镜已发展到分辨单个原子的水平,这就为九十年代发现和研究纳米碳管创造了条件,开辟了纳米技术的新纪元。

【关键词】 电子显微镜;金相学;材料科学中图分类号:TG 113,N91 文献标识码:AA B rief H istory of Metallography :Ⅵ1Application of E lectron Microscopy in Materials ScienceK.H.K uo(B eijing Laboratory of E lectron Microscopy I nstitute of Physics ,Chinese Academy of Sciences ,B eijing 100080,China)【Abstract 】 E.Ruska developed the first electron microscope in the thirties and the electron microscope E lmiskop I of fairly highres olution and equipped with electron diffraction devices after the Second W orld War (1954).H owever ,according to the patent priority he was not the inventor of electron microscope.A fter about half of a century of the first electron microscope ever made ,he finally received righteously the N obel Prize in Physics in 1986,when all contestants have passed away.F ollowing each development stage of the electron microscope ,there is always a big advance in materials science.Under the tw o 2beam condition (transmit beam and one strong diffraction beam ),the distorted region caused by a dislocation line will have a different diffraction intensity com pared with the undistorted matrix ,thus showing a diffaction contrast (diffraction contrast image ).This made the study of crys 2talline defects such as dislocations a hot spot in the sixties and seventies.Thanks to the selected area electron diffraction made in the mi 2crometer or even in the nanometer range ,fivefold diffraction symmetry becomes obvious in an electron microscope.Quasicrystals of different rotational symmetries (fivefold ,eightfold ,ten fold and twelvefold )were found in the eighties by this method ,thus extending the scope of crystallography to include the aperiodic quasicrystals.With the im provement of the res olution of an electron microscope to the atomic level ,the carbon nanotube was discovered in the nineties ,thus announcing te new era of nanotechnology.【K ey w ords 】 electron microscope ;metallography ;materials science1 电子显微镜的诞生电子显微镜首先由K noll 及Ruska 在实验室研制成功,后来在1939年由西门子公司开始批量生产,正赶上第二次世界大战爆发。

因此电子显微镜在金属研究方面的应用在二次世界大战后才逐渐开展起来,直到五十年代中期才兴旺发达。

那时金属学已经是一门比较成熟的学科,许多基本的显微结构问题已用X 射线得到初步解决,并逐步发展成为物理冶金和材料科学。

同时,电子显微镜技术本身也有长足发展。

这两个学科的发展基本上是同步的,每一种电子显微镜新技术的出现都为材料科学带来新的飞跃。

下面在介绍电子显微镜的诞生后,将就电镜的几个重要发展讨论材料科学中的几次突破性进展。

瑞典诺贝尔奖委员会把1986年物理奖的一半颁发给E.Ruska 时的赞词是:“为了他在电子光学基础研究方面的贡献和设计出第一台电子显微镜”。

上半句是指Ruska 在K noll 指导下,从1928年起他在柏林高压电机系高工实验室做的副博士论文工作中,从事阴极射线的聚焦研究。

他先用一个磁透镜聚焦得出金属网的13倍放大像,后来用双透镜得出1714倍的放大像[1,2],在实验室中实现了电子显微成像。

下半句是指他在1930-1933年间在西门子公司与V on Borries 一起研制电子显微镜,引入极靴及投影镜,最后得出放大12,000倍的像,分辨率超过光学显微镜,宣告第一台电镜的诞生(关于电镜的研制经过,见文献[3-8])。

注意,这个赞词中回避了“发明”电子显微镜这个字眼,这不是一时马虎,而是深思熟虑的结果。

因为西门子公司的M.R üdenberg 已在1931年5月28日向德、法、美等国的专利局提出用磁透镜或静电透镜制造电子显微镜的专利申请(这是第一次出现电子显微镜这个名词),并分别于1932年12月和1936年10月获得法、美专利局的批准(德国专利局在当年5月30日收到申请)。

德国通用电气公司AEG 于1930年在Br üche 领导下开始研究静电透镜成像,并在1931年11月获得涂上氧化物的灯丝的发射电子像。

在AEG 公司的反对下,R üdenberg 的两个电镜专利申请直到战后才在1953年和1954年获得西德专利局批准。

从专利优先角度来看,R üdenberg 应是电镜的发明人。

R üdenberg 是一位著名的电子物理学家,除了在西门子公司任科技部总工程师,还兼任柏林高工电机系教授。

无论在学识、经验和远见方面都很强。

但是他从来没做过磁透镜成像工作,他的专利申请全凭理论推测得出。

据R üdenberg 及他儿子事后说,1930年他的另一个儿子得了小儿麻痹症,这是由一种过滤性病毒引起的,受到分辨率的限制,光学显微镜对此无能为力。

R üdenberg 为此曾想到用X 射线或电子束制造分辨率更高的显微镜[8]。

但是,他从来没有发表过这方面的论文,在电镜界也不知名。

对于R üdenberg 的电镜专利申请,Ruska 及K noll 是有看法的。

因为在1931年5月里,R üdenberg 的助手M.S teenbeck 曾去K noll 的实验室参观,了解到Ruska 的实验结果,并且看到了K noll 将在6月4日做的有关Ruska 工作的学术报告手稿,题目是“阴极射线示波器的设计及新结构的原理”,在他们的第一篇论文中也没提到电子显微镜。

就在K noll 的6月4日学术报告的前几天,R üdenberg 代表西门子公司在5月28日向德、法、美等国的专利局提出了电子显微镜的专利申请。

因此K noll 和Ruska 产生一些怀疑也是可以理解的。

不过,关于电镜发明权的争执没有继续下去。

首先,R üdenberg 在希特勒开始迫害犹太人后于1936年移居英国,两年后去美,接着二次世界大战就爆发了。

其次,Ruska 与V on Borries 在1937年2月开始加入西门子公司从事电镜开发工作,在1939年制造出第一台分辨率为7纳米、放大倍率为3万倍的商品电镜。

他俩与R üdenberg 先后属于一个公司(专利权主要属于西门子公司)不便争论发明权问题。

再就是二次世界大战随后爆发,战事的紧迫性掩盖了这种争议。

此外,除了K noll 2Ruska 与R üdenberg 争发明电镜的优先权外,西门子与AEG 两大公司也在争论不休,为了平息这些争论当时德国的最高学术团体普鲁士科学院在1941年7月3日将莱布尼兹银质奖颁发给了AEG 公司的Br üche ,Mahl 及Boersch 和西门子公司K noll ,Ruska ,V on Bor 2ries 及V on Ardenne ,结果是皆大欢喜。

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