射频微波器件测试解决方案
射频测试方案
3.测试场地：符合国家及行业标准的测试实验室。
七、测试流程
1.测试准备：了解被测设备的技术规格，确定测试项目和方法；
2.测试实施：按照测试方案进行各项性能测试；
3.数据分析：对测试数据进行整理、分析，形成测试报告；
4.结果反馈：将测试结果反馈给设备制造商，协助其改进产品性能；
3.评估射频设备的抗干扰能力；
4.检验射频设备在极端环境条件下的可靠性。
三、测试范围
1.射频发射测试；
2.射频接收测试；
3.射频抗干扰测试；
4.射频环境适应性测试。
四、测试依据
1.国家及行业标准：如《无线通信设备射频技术要求》等；
2.设备制造商提供的技术规格书；
3.测试实验室的相关规定。
五、测试项目及方法
5.测试报告：出具符合国家及行业标准的测试报告。
八、测试结果判定
测试结果根据国家及行业标准进行判定，符合标准要求的视为合格，否则为不合格。
九、方案实施与监督
1.本测试方案由测试实验室负责实施；
2.设备制造商应积极配合测试工作，提供必要的技术支持；
3.测试过程中，如有疑问或争议，双方应及时沟通，确保测试工作的顺利进行；
1)使用射频信号发生器产生标准信号，发送至被测设备；
2)使用矢量网络分析仪或其他测试仪器监测被测设备的接收性能；
3)测试结果与标准要求进行比对。
3.射频抗干扰测试
（1）测试内容：邻道干扰抑制、同频干扰抑制、窄带干扰抑制等。
（2）测试方法：
1)使用射频信号发生器产生干扰信号，注入被测设备；
2)观察被测设备在干扰条件下的性能变化；
3)按照国家标准和设备制造商的技术规格要求，对测试结果进行评估。
射频电路调试经验及问题分析
射频电路调试经验及问题分析1前言文档总结了我工作一年半以来的一些射频（Radio Frequency）调试（以下称为Debug）经验，记录的是我在实际项目开发中遇到并解决问题的过程。
现在我想利用这份文档与大家分享这些经验，如果这份文档能够对大家的工作起到一定的帮助作用，那将是我最大的荣幸。
个人感觉，Debug过程用的都是最简单的基础知识，如果能够对RF的基础知识有极为深刻（注意，是极为深刻）的理解，我相信，所有的Bug解起来都会易如反掌。
同样，我的这篇文档也将会以最通俗易懂的语言，讲述最通俗易懂的Debug技巧。
在本文中，我尽量避免写一些空洞的理论知识，但是第二章的内容除外。
“微波频率下的无源器件”这部分的内容截取自我尚未完成的“长篇大论”——Wi-Fi产品的一般射频电路设计（第二版）。
我相信这份文档有且不只有一处错误，如果能够被大家发现，希望能够提出，这样我们就能够共同进步。
2微波频率下的无源器件在这一章中，主要讲解微波频率下的无源器件。
一个简单的问题：一个1K的电阻在直流情况下的阻值是1K，在频率为10MHz的回路中可能还是1K，但是在10GHz的情况下呢？它的阻值还会是1K吗？答案是否定的。
在微波频率下，我们需要用另外一种眼光来看待无源器件。
2.1.微波频率下的导线微波频率下的导线可以有很多种存在方式，可以是微带线，可以是带状线，可以是同轴电缆，可以是元件的引脚等等。
2.1.1.趋肤效应在低频情况下，导线内部的电流是均匀的，但是在微波频率下，导线内部会产生很强的磁场，这种磁场迫使电子向导体的边缘聚集，从而使电流只在导线的表面流动，这种现象就称为趋肤效应。
趋肤效应导致导线的电阻增大，结果会怎样？当信号沿导体传输时衰减会很严重。
在实际的高频场合，如收音机的感应线圈，为了减少趋肤效应造成的信号衰减，通常会使用多股导线并排绕线，而不会使用单根的导线。
射频电路中的电磁兼容问题分析及解决方案
射频电路中的电磁兼容问题分析及解决方案随着现代通讯技术的不断发展，射频电路的应用越来越广泛，但同时也带来了各种电磁兼容性问题。
这些问题严重影响了电路的性能和可靠性，需要采取一些措施来降低电磁干扰和提高电路的电磁兼容性。
本文将从射频电路中的电磁兼容问题入手，分析其原因，并提出一些解决方案。
一、射频电路中的电磁兼容问题在射频电路中，电磁兼容问题常常表现为电磁干扰和电磁泄漏。
电磁干扰（EMI）指电磁场对电路的干扰，可以使电路系统出现误差、噪声、振荡等现象，严重影响电路的性能和可靠性。
电磁泄漏（EMC）则是指电路的辐射和传导干扰影响其他电路设备的工作，如毫米波雷达和微波电子设备等。
二、射频电路中电磁兼容问题的原因射频电路中的电磁兼容问题主要是由以下原因引起的：1、电磁辐射电磁辐射是指电路的信号频率与基波频率相同或者倍频频率接近电磁波向外辐射。
这种辐射会造成电磁泄漏干扰，破坏其他电路设备的正常工作。
2、电磁谐振电磁谐振是指电路中的元器件、线路和电路板产生的电磁场彼此作用产生振荡。
这种振荡会使电路变得不稳定，容易产生电磁干扰。
3、电磁传导电磁传导是指电路中元器件中出现的电磁场通过共同的地或信号线等媒介对周围的干扰。
这种干扰会产生电压干扰和电流干扰，导致电路性能急剧下降。
三、射频电路中电磁兼容问题的解决方案为降低电磁兼容性问题，我们可以采取以下措施：1、选择合适的元器件和材料射频电路中的元器件和材料需要选择品质较好的，这些元器件和材料应具有较高的带宽和品质因子，同时其抗EMI/EMC的性能也要较强。
2、设计合理的线路布局线路布局应尽量简单，可以通过增加两极滤波器、避免电路的环路、尽量缩小线路面积等，降低电路的电磁能散发。
例如，采用单端布线并避免使用复杂的结构，设计较短的布线线路等，可以有效降低电磁兼容性问题。
3、增加电磁隔离屏蔽结构影响电路性能的小波长电磁辐射必须被隔离，这可以通过使用较好的射频电缆，尽量使用电容式/吸收材料垫子和EMC隔离屏蔽等方法来实现。
射频无源器件测试方法
射频器件测试方法一、射频产品指标测试方法1、功分器➢功分器插入损耗和带内波动的测试1)微带功分器按照上图连接测试系统（腔体功分器在输出端口加衰减器）；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上的最大功率值和最小功率值；4)用最小功率值的绝对值减去最大功率值的绝对值即为功分器的带内波动；5)用最小功率值的绝对值减去理论插入损耗即为功分器的插损。
➢功分器驻波比的测试1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S11；3)读取曲线上的最大值即为该端口驻波比；4)更换端口重复上述操作；5)比较所测输入端口和输出端口值，最大值即功分器的端口驻波比。
➢三阶互调的测试无无无无无无无无无无无无无无无无无无无无1)按照上图连接测试系统；2)按照合路器的指标设置输入频率，输入功率为43dBm×2；3)读出三阶互调产物的电平值；4)取最大电平值即为互调。
2、耦合器➢耦合器的耦合偏差测量1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上的最小功率值和最大功率值；4)用最小功率值的绝对值减去耦合度设计值，再用最大功率值减去耦合度设计值，比较两个差值，取其中最大的一个即为耦合度的偏差。
➢耦合器的插入损耗测量1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上最小功率值；4)最小功率值的绝对值减去理论耦合损耗即为耦合器的插入损耗。
➢耦合器驻波比的测试方法1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S11；3)读取曲线上的最大值即为输入端的驻波比；4)更换端口重复上述操作；5)比较所测的输入端、输出端、耦合端的值，最大值即耦合器的端口驻波比。
➢耦合器隔离度的测试方法1)按照上图连接测试系统；2)设置网络分析仪的工作频段为测试频段，显示参数为S21；3)读取曲线上的最大功率值，对其取绝对值即为其隔离度。
RF微波测试技巧分享
RF微波测试技巧分享
大家作为（射频）（工程师）一定都进行过（微波）测试，尽管大部分的（RF）和微波测试系统所要量测的对象只有区区几种广泛的类别包括（放大器）、发射器、（接收器）等，但每一套个别的系统却会面临一些不同的环境条件、要求和挑战。
虽然每一种状况可能都不一样，不过当我们在定义任何的RF和微波测试系统时，却有三项共通的因素会相互影响：效能、速度与稳定。
在每一位系统（开发者）面临的状况各有不同的情况下，能否在这三项因素间做的取捨将关系着量测结果是否能达到要求的正确性（integrity）水准。
在DUT 到量测仪器之间的路径上（图1），有许多个点都会出现这些因素的取捨时机，本文建议了一个考量这些取捨因素的架构，并且提供六大秘诀，教您如何克服RF （信号）路径上常会碰到的问题。
图1：在所有的测试系统架构下，都有很多的机会可以在效能、
速度与稳定之间求取的平衡，以控管量测的正确性。
秘诀一：排定效能、速度与稳定的优先顺序
为了让全部六大秘诀有论述的依据，有必要先釐清我们对效能、速度及稳定的定义。
在大部分的情况下，只有其中一个或两个因素会成为首要的考量条件，主导您的测试需求与设备的选择。
无论如何，仔细地审视效能、速度与稳定之间的相互影响与取捨关系（如表1 到表3 的。
BT测试方案_Agilent经典射频测试方案
BT测试方案_Agilent经典射频测试方案1.1. 蓝牙的无线单元蓝牙被定义为一种用于无线连接的全球性规范。
由于它要取代电缆，所以成本要低、操作要直观而且要稳定可靠。
对蓝牙的这些需求带来了许多挑战。
蓝牙技术通过多种方式满足这些挑战性的需求。
首先，蓝牙选择无需执照的ISM频段；其次，蓝牙的设计强调低功率和极低成本。
为了在干扰非常强的ISM频段正常工作，蓝牙采用跳频技术。
蓝牙设备采用的框图有很多种。
对于发射而言，在末级射频结构中采用的技术包括直接VCO 调制和IQ混合技术。
在接收机中，主要采用了传统的鉴频器或与模数转换结合的IQ下变频器。
有许多设计可以满足蓝牙无线规范，但如果不小心行事，每种设计都会有所差异。
蓝牙系统由无线单元、基带链路控制单元和链路管理软件组成。
另外，还包括高层应用软件。
图1是蓝牙系统的框图，图中显示了基带、射频发射机、射频接收机等不同部分。
图1.1.2. 蓝牙链路控制单元和链路管理蓝牙链路控制单元，或称链路控制器，决定蓝牙设备的状态。
它不仅负责功率的有效管理、数据纠错和加密，还负责建立网络连接。
链路管理软件和链路控制器一起工作。
蓝牙设备之间通过链路管理器进行通信。
蓝牙设备可以工作成主设备（Master Unit）或者从设备（Slave Unit）。
从设备间建立连接，同时决定从设备的省电模式。
主设备可以主动与最多7个从设备同时进行通信；同时，另外200多个从设备可以登记成非通信、省电的模式。
这样的一个控制区域定义成一个匹克网（piconet）。
同样，不同匹克网的主设备可以同时控制一个从设备。
这时，匹克网组成的网络称为散射网（scatternet）。
图2描述了由两个匹克网组成的一个散射网。
不属于任何一个匹克网的设备处于待机模式Standby Mode）链路管理器在主蓝牙无线技术是一种针对无线个人区域网（PAN）的公开规范。
它为信息设备之间的声音和数据传送提供有限范围内的无线连接。
蓝牙无线技术使得设备之间无需电缆便可实现相互连接。
射频测试方案
射频测试方案射频（Radio Frequency, RF）是指无线电波的频率范围，其应用广泛，包括通信、无线电、雷达、遥控等多个领域。
在射频设备的开发和生产中，射频测试是一个至关重要的环节，以确保设备的性能满足要求。
本文将探讨射频测试方案的重要性，以及在实际应用中的一些技术和挑战。
一、射频测试的重要性在射频设备的开发和生产中，射频测试是至关重要的一环。
射频测试可以评估设备在不同射频频率下的性能表现，包括信号质量、传输速率、接收灵敏度等。
通过射频测试，开发人员可以及时发现并解决设备中的性能问题，确保产品的质量和可靠性。
二、射频测试的常用方法1. 频谱分析频谱分析是射频测试中最常用的方法之一。
它通过对射频信号进行频谱分析，来确定信号的频率和功率等参数。
使用频谱分析仪可以快速检测设备的发射信号频率是否满足要求，并发现可能的干扰源。
2. 功率测试功率测试用于测量射频信号的功率。
射频设备在发射信号时需要保证输出功率的准确性和稳定性。
通过功率测试，可以检查设备的功率输出是否符合规范，并及时调整。
3. 误码率测试误码率（Bit Error Rate, BER）测试用于评估射频设备在传输过程中发生错误的概率。
对于无线通信设备来说，误码率是一个重要的指标，直接影响到通信质量。
通过误码率测试，可以发现信号传输中的问题，并进行针对性优化。
三、射频测试中的挑战和解决方案1. 信号干扰在射频测试中，信号干扰是一个常见的挑战。
射频信号易受外部干扰影响，例如电源噪声、其他无线设备的干扰等。
为了解决这个问题，可以采取屏蔽措施，如增加射频屏蔽罩，降低或消除外部干扰对测试结果的影响。
2. 测试设备的选择射频测试需要使用专业的测试设备，包括频谱分析仪、功率计、误码率测试仪等。
在选择测试设备时，需要考虑设备的灵敏度、测量范围等因素，以确保测试的准确性和可靠性。
3. 数据处理和分析射频测试产生的测试数据往往庞大而复杂，需要进行有效的处理和分析。
射频微波器件测试解决方案
LO
OUT 1
OUT 2
Pulse modulator
OUT 2
To receivers
Pulse generators
1 2
3 4
R1
A
R3
C
R4
D
R2
B
Test port 1
Test port 3
Test port 4
Test port 2
被测件
E5061B-3L5 LF-RF 网络分析仪
ENA 系列 “5 Hz 到 3 GHz 网络分析仪” 新产品
OSC&PLL
On wafer
Pulsed RF and DC
T/R Module Test
射频微波器件测试要求
Agilent Measurement Forum
器件线性特性测试
S参数，增益，反射，相位非线性，群时延，隔离度等
器件非线性特性测试
增益压缩，交调，谐波，杂散
变频器件和通道测试
变频增益，相位，群时延，
电子系统对微波电路的要求
Agilent Measurement Forum
雷达系统
卫星系统
军用通信系统
•宽频段 •高功率 •低噪声
•线性好 •高效率 •低成本
微波半导体器件技术的发展
Agilent Measurement Forum
射频多芯片封装技术SIP
Agilent Measurement Forum
内置双激励信号源
PNA-X完整的测试能力
Agilent Measurement Forum
单次连接实现完整的参数测试
Agilent Measurement Forum
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议程
Agilent Measurement Forum
射频微波器件及测试技术发展
Agilent 网络仪产品：PNA-X,E5061B 频率源测试技术 微波器件的系统级参数测试
热点技术问题的解决方案
有源电路非线性参数测试和建模分析 脉冲器件测试 混频器测试 噪声系数测试 太赫兹测试
Agilent Measurement Forum
频谱分析 & NPR测试 解调分析
N9030A PXA
外部源和信号分析 仪连接网络仪后背 板连接点，所有测 试使用同一个测试 通路
单音或双音CW测试，脉冲测试
E8267D Vector PSG Source
噪声测试，NVNA
N5242/4A PNA-X
新产品
E5061B-3L5
E5061B-3L5, 5 Hz 到 3 GHz
E5061A/62A 300 kHz 到 1.5/3 GHz E5061/62A
2 端口配置, 外加 增益-相位测试端口（1 兆欧/50欧姆 内置直流偏置源
5 Hz
2 端口配置（TR和S参数测试） 50 欧姆和 75 欧姆测试 低成本
脉冲调制能力
• 内置脉冲调制器和脉冲发生器
接收机技术
• 大动态范围，内置接收机衰减器，0.1dB压缩点 12dBm • 宽接收带宽，IFBW最大5MHz • 接收机和激励源的灵活频率关系配置
PNA-X网络仪的激励源功率性能
最大输出功率
PNA-X 提供大功率激励信号
• 满足有源电路测试要求 • 提高仪表测试动态范围
Agilent Measurement Forum
接收机功率压缩点
接收机灵敏度
基于PNA-X的器件测试平台
Agilent Measurement Forum
rear panel
J11
J10
J9
J8
J7
J4
J3
J2
J1
Source 2 (standard) Source 1
OUT 1
Pulse modulator
OSC&PLL
On wafer
Pulsed RF and DC
T/R Module Test
射频微波器件测试要求
Agilent Measurement Forum
器件线性特性测试
S参数，增益，反射，相位非线性，群时延，隔离度等
器件非线性特性测试
增益压缩，交调，谐波，杂散
变频器件和通道测试
变频增益，相位，群时延，
Single Connection:
Gain compression, IMD, noise figure, harmonics, true differential, PAE, hot S22
Agilent Measurement Forum
Mm-wave
Antenna Test
T/R Module Test
LO
OUT 1
OUT 2
Pulse modulator
OUT 2
To receivers
Pulse generators
1 2
3 4
R1
A
R3
C
R4
D
R2
B
Test port 1
Test port 3
Test port 4
Test port 2
被测件
E5061B-3L5 LF-RF 网络分析仪
ENA 系列 “5 Hz 到 3 GHz 网络分析仪” 新产品
Scopes / Digitizers / VSA Software
校准标准
E5052B 信号源分析仪 Power Sensor, E-Cal, Noise Source
Welcome to the PNA-X
Page 10 January 2009
Agilent网络仪覆盖广阔的测试应用
Amplifier Test
Pulsed RF and DC
MБайду номын сангаасterials Measurements
Mixer Test
50 GHz 43.5 GHz PNA-X
26.5 GHz
13.5 GHz
Signal Integrity
NVNA
Component characterization X-parameter extraction Pulse envelope domain
DC-DC (POL/VRM)
频率响应和阻抗测试 从 100 kHz 到 MHz 范围
在数兆赫兹范围内都
有很高的动态范围
在低频范围内也有很高的动态范围 一次扫描就可以覆盖 5 Hz 到 3 GHz 的范围
环路增益测试 毫欧级阻抗值和 S21测试 从接近直流频率到数千兆赫兹
DC-DC 变换器
系统中的射频微波器件
Agilent Measurement Forum
Mixer Test
Amplifier Test
Single Connection:
Gain compression, IMD, noise figure, harmonics, true differential, PAE, hot S22
Load pull Noise parameters
/find/pna-x
Scanning Microscope
Agilent PNA-X微波高性能网络分析仪
• Agilent 新的微波网络仪平台。 • 针对射频微波器件测试的应用。满足对放大器，混频器， 多通道器件，脉冲器件,差分器件等微波射频器件测试要求。 • 完整的激励源配置方式：双源配置，单音激励，双音激励， 扫频双音激励，连续波形式或脉冲调制形式
• 节省 时间 , 资金 , 尺寸 , 维修成本 • 改善 精度 , 速度， 指标
不仅仅是VNA，还是 可内部和路的双源 矢量噪声系数分析 脉冲调制器和发生器 频谱仪 非线性分析
关键模块微波特性测试系统
NPR / 复杂信号激励 80MHz or 1GHz BW Options
N8241A 1GHz
噪声源用于噪 声测试校准
+28V
J11 J10 J9 J8 J7
Agilent Measurement Receivers Forum RF jumpers
Mechanical switch
J4 J3 J2 J1
rear panel
Pulse generators
+ Signal combiner 1 2
• 测试功能完整（线性参数，非线性参数和噪声参数）。
Agilent Measurement Forum
• 频率范围：N5241/2/4/5A： 10 MHz～ 13.5G/26.5G/43.5G/50GHz • 端口数量：2端口或4端口配置 • 先进的接收机处理技术，仪表大测试动态范围，高测试精 度。 • 灵活的配置方式。 • 大屏幕显示，方便简单的操作使用。
• 仪表的测试速度。 • 完整的差分和共模混合S参数测试
平衡器件测试
• 真实的差分激励状态的参数测试
• 功率扫描模式下参数测试
器件测试新思路
Agilent – 单次连接多参数测量SCMM Measurement Forum
Gain, match, isolation
Pulsed-RF
IMD, harmonics, spurs
对测试仪表的要求
• 仪表提供满足要求的大功率激励信号。 • 仪表对大功率的承载能力，大功率状态仪表的校准问题和被测件参数测试。
• 热状态下S22参数测试。 • 非线性参数的建模和非线性参数的测试 • 完整的性能参数测试，包含传输反射参数，非线性参数，噪声系数。
低噪声放大器 混频器测试 T/R组件测试
R1
OUT 1
Source 1 OUT
2
OUT 1
Source 2 OUT
2
3
L O
4
Noise receivers
Pulse modulator
Pulse modulator
To receivers
10 MHz 3 GHz
326.5 GHz
A
R3
C
R4
R2
D
B
Test port 1
Test port 3
内置双激励信号源
PNA-X完整的测试能力
Agilent Measurement Forum
单次连接实现完整的参数测试
Agilent Measurement Forum
脉冲状态时域测试
扫频状态下增益，驻波性能测试
内置双源激励状态下交调性能测试
扫功率状态下1dB压缩性能测试
扫频状态噪声系数测试
PNA-X 网络仪的完整配置
模块一致性测试
幅度一致性，相位一致性
噪声特性测试
相位噪声，噪声系数
器件功率特性测试
峰值功率，脉内功率，平均功率，功率下降
复杂激励下器件和通道特性测试
线性调制线性度，干扰测试，临道功率比测试
脉冲特性测试
脉冲边沿，过冲
微波电路测试的挑战
测试应用
功率放大器测试
Agilent Measurement Forum
无线通信接口
（Zigbee, 蓝牙, HF/UHF RFID 等)
在低频频段具有高的动态范围 需要提供直流偏置的测试环境
传感器信号
滤波器
收发信机