FEI (飞利浦)旗下Phenom飞纳台式扫描电镜手册
Phenom简易操作步骤
Phenom 飞纳 台式扫描电镜
简易操作步骤
1. 装样
将制作完成的样品用专用镊子放入样品杯
调平：顺时针方向旋低样品杯，保证样品的最高点和样品杯口平面持平； 调低：继续顺时针旋低五个刻度，即样品下降2.5mm ；
插入样品杯，试样灯亮起，关闭舱门，舱门会自动锁上。
2. 观察
在光学模式下找到要观测的样品，然后点击切换到电子模式。
调焦，辅以亮度、对比度调节，由低倍到高倍依次调节，直至获得最清晰的图片效果为止。
3. 取图
建议“高倍聚焦，低倍拍照”，即在较高倍数下调节焦距，然后保持焦距不变，缩小放大倍数拍照取图。
在setting 界面设置图像的分辨率（resolution ）和图片质量(quality)，修改图片名称，返回image 界面后点击拍照即可。
4. 卸样
点击image 界面的退出样品图标
，点击“√”确定，可实现舱门自动解锁，
取出样品即可。
扫描电镜简明操作规程
PHENOM TM台式扫描简明操作规程如何激活phenom当处于不活动状态1小时后，机子切换到待机状态。
电源指示灯呈橙色。
当处于72小时不活动状态时，机子进入省电模式，橙色电源灯开始闪烁。
■从待机或省电模式激活电脑：按电源控制按钮。
√在机子再次完全激活前，绿色电源指示灯会一直闪烁。
从待机状态激活需要大约4mim；从省电模式激活需要大约6min。
√机器立刻可以进行光学成像分析。
√进度条显示仍然处于正在苏醒中。
√沙漏图标显示苏醒正在进行中。
当载入试样时，触摸显示屏上的出仓按钮也可激活机器。
相见4.3载入试样。
试样的工作距离选择大部分试样应使用中工作距离（样品台旋下5-7mm即10-14格），其他的推荐使用长工作距离10-12mm。
不要使用短工作距离，目前发现的几次损害多是由于粉末样品距离太近碰到探头导致的。
试样的准备a.机器能够容纳的试样：直径25mm，高30mm。
b.严禁潮湿试样放入机器里面。
潮湿试样在真空下会放出气体。
这对成像能力造成严重问题，并且对机器造成永久性损坏。
在放入试样时务必将试样进行彻底干燥。
c.在试样放入机器中时，用压缩空气多次吹试样，确保试样中没有松散的颗粒。
d.务必将试样紧紧地固定在试样台上。
将试样从空气移动到真空可能导致松散的试样材料残留下来形成沉积物。
这些碎片能够形成柱状物，并且会歪曲电子束。
普通试样的制备在随后会有合适的说明。
这样可以获得更高质量的图像，并且减少维护。
制备试样时需要的工具：试样台（直径不超过25mm）；试样台夹；标准钳子；试样台盘；牙签（或其他可随意使用的尖锐东西）；这些工具之一即可：石墨乳（润滑剂）、银的涂料、或双面胶；更详细的试样制备过程请阅读操作手册。
其它试样的说明不能用石墨乳和银浆的试样，可以使用双面胶。
粉末试样粉末颗粒包括但不限于粉末、花粉、小铁屑、硅藻材料和其他粉尘状物质。
1、为了准备颗粒试样，先将双面胶粘在光的试样台上。
2、挑一根牙签、镊子或其他带尖的东西，弄一点颗粒试样在尖端。
FEI(Phenom)飞纳台式扫描电镜产品手册
FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品PHENOM TMG2飞纳台式扫描电子显微镜第二代数秒之内，遍览微观世界飞纳将带给您令人惊叹的高质量图片和前所未有的便捷操作，详情请咨询Phenom World BV中国公司：复纳科学仪器（上海）有限公司本文由深圳易商仪器有限公司/提供！数秒之内，遍览微观世界>>> 数秒之内，遍览微观世界现在，Phenom-World B.V.向您隆重介绍第二代Phenom(飞纳)台式扫描电镜：Phenom G2和电镜能谱一体化的Phenom proX。
Phenom(飞纳) G2和proX 采用全新的硬件及软件架构，在继承了前代快速成像、简单易用等优点的同时，为您提供更加卓越的图像质量和精确的元素分析功能。
FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品01 自2007年美国FEI 公司发布第一代Phenom(飞纳)台式扫描电镜以来，Phenom(飞纳)因其卓越的图像质量、30秒超快成像速度、简单易用的操作界面以及接近光学显微镜的超值价格，成为诸多科学家及工业研究人员的首选显微成像工具。
2009年，为了进一步促进Phenom(飞纳)台式扫描电镜的研发，FEI 公司与国际知名的NTS-Group 公司、Sioux 嵌入式系统公司合作，成立Phenom-World B.V.公司，专门从事新一代Phenom(飞纳)的研发生产。
Phenom G2包含两款： 专业版 G2 pro 标准版 G2 pure 主要参数:产品主要特点:◎高质量的图像◎30s 快速成像◎操作简便，结合控制旋钮和触摸显示器便可获得 高倍SEM 图像◎长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝(1500 h)◎自动灯丝对中，自动聚焦◎图像亮度、对比度自动调节◎光学与低倍电子双重导航，想看哪里点哪里◎直接观测绝缘体，无需喷金◎兼得样品表面形貌与成份信息◎防震设计，对放置环境无特殊要求◎丰富的拓展模块：全景图像拼合、3D 粗糙度重 建、纤维测量系统......◎多功能样品杯选件：控温样品杯（-25~50℃）、 自动倾斜/旋转样品杯、降低荷电效应样品杯......0220-120x (G2 pro)20x (G2 pure)80-45,000x (G2 pro)70-17,000x (G2 pure)<25nm (G2 pro)<30nm (G2 pure)5 kV <30s四分割背散射电子探测器台式电脑大小普通实验室或办公室、厂房光学显微镜：电子显微镜： 分 辨 率：加速电压：成像时间：探 测 器：主机体积：放置环境：新一代电镜能谱一体化Phenom proX 台式扫描电子显微镜电镜主要参数光学显微镜：电子显微镜：分辨率：探测器：加速电压：成像时间：主机体积：放置环境：20-120x 80-45,000x <25nm四分割背散射电子探测器5kV、10kV、15kV <30s 台式电脑大小普通实验室或办公室能谱仪主要参数探测器类型：硅漂移探测器（SDD）冷 却 方 式：无液氮Peltier 效应电制冷探测器晶体活性面积：25mm 2能量分辨率：<137eV（Mn Kα） X 射线分析模式：15kV元素探测范围：Boron（5）-Uranium（92）FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品>>> 数秒之内，遍览微观世界032012年Phenom Word BV公司推出了全世界第一款电镜能谱一体化台式扫描电镜Phenom proX系统 。
扫描电镜使用说明书
扫描电镜使用说明书一、产品概述扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种高分辨率的显微镜，能够通过扫描样品表面并检测扫描电子束的反射电子，从而获取样品的形貌和元素成分信息。
本说明书将详细介绍扫描电镜的使用方法和注意事项。
二、安全操作1. 在使用扫描电镜之前，请确保机器的电源已经正确接入地线，避免触电事故的发生。
2. 在打开扫描电镜之前，先检查样品台和操作盖是否已经安装好并正确固定。
3. 使用扫描电镜时，应该配戴好相关的防护眼镜和手套，确保个人安全。
4. 禁止将未经处理的有毒或易燃物质放入扫描电镜中进行观察。
三、仪器操作流程1. 打开电源开关，等待仪器自检完成，并确保控制面板上的指示灯正常。
2. 使用适当的工具调整样品台的位置和角度，使样品处于扫描电子束正下方。
3. 将待观察的样品放置到样品台上，并使用夹具或胶带固定，避免因振动而影响图像质量。
4. 根据样品特性和需要，选择合适的放大倍数和扫描模式，并进行相关设置。
5. 确保样品台和探针头之间的距离适当，并调整探针电子的聚焦和对准。
6. 点击开始扫描按钮，此时电子束将开始扫描样品表面，并生成相应的图像。
7. 观察并分析样品表面的形貌，使用相关软件进行图像处理和测量。
8. 在观察结束后，关闭电源开关，并进行必要的清洁和维护。
四、注意事项1. 在操作过程中，应该避免触摸样品表面，以免影响图像质量。
2. 在调整参数时，应该谨慎操作，避免产生误操作，导致损坏仪器或样品。
3. 镜头和样品台需要保持干净，可使用专门的清洁剂和软布进行清洁。
4. 扫描电镜不适合长时间连续工作，应该注意适当间隔，避免过热或损坏。
5. 扫描电镜需要定期进行保养和维护，以保证其正常工作。
6. 使用扫描电镜时应该有足够的耐心和耐心，避免急躁操作和粗心大意。
五、故障排除1. 若扫描电镜出现异常现象，如图像模糊、偏移等，可先通过重新校准参数来尝试解决问题。
浅析fei扫描电镜的工作方式和操作流程
浅析fei扫描电镜的工作方式和操作流程fei扫描电镜是一种高分辨率的电子显微镜，它利用电子束而不是光束来形成图像。
下面是fei扫描电镜的工作方式和操作流程的概述。
1、准备样品：首先，需要准备要观察的样品。
样品通常需要被切割、研磨、涂覆导电材料或冷冻处理等预处理步骤，以便在FE-SEM中进行观察。
样品也可以是固体、粉末、薄片、纤维等不同形式。
2、投射电子束：电子枪生成高能电子束。
这个电子束通过一个称为“透镜系统”的装置来控制和聚焦。
透镜系统由多个磁透镜组件组成，用于聚焦和形成非常小的束斑。
3、扫描样品表面：样品放置在一个可移动的样品台上。
样品台可以水平和垂直移动，以便对样品进行精确定位。
一旦样品定位正确，电子束开始在样品表面上进行扫描。
4、探测信号：当电子束照射到样品表面时，与电子相互作用的产生多种信号。
常见的信号包括二次电子和反射电子。
这些信号被称为“显微镜图像”，可以提供关于样品表面形貌、元素分布或晶体结构等信息。
5、接收和处理信号：使用一系列探测器来接收不同类型的信号，并将其转换成电子图像。
例如，二次电子探测器用于产生样品表面形貌图像，而反射电子探测器用于获取更深入的信息，如材料的组成和晶体结构。
6、形成图像：接收到的信号经过放大、滤波和数字化处理后，传送到显示器上形成图像。
通过调整扫描参数(如电子束能量、聚焦、扫描速度等)，可以获得所需的图像对比度和分辨率。
7、分析和解释图像：一旦获得了图像，研究人员可以对图像进行进一步的分析和解释。
他们可以观察样品的微观结构、孔隙性质、晶体取向等，并根据需要进行定量测量和形态分析。
8、数据记录和保存：FE-SEM通常配备有数据记录和保存的功能，可以将观察到的图像和相关信息保存在计算机或其他储存设备中。
这样，研究人员可以随时回顾、比较和分享结果。
fei扫描电镜广泛应用于材料科学、生命科学、纳米技术等领域，帮助研究人员获得高分辨率的表面形貌和微结构信息。
操作需要一定的专业知识和技能，以确保样品的准备和操作步骤正确无误，并获得可靠和准确的显微图像。
FEI台式扫描电镜Phenom 英文手册
Electron microscopy for professionals‘The perfect combination’Phenomenal results• 24x to 24,000x magnification • Millimeter to nano scale imaging • Easy to operate • High throughput• Low operating and imaging costsHow do you stay competitive in a world where critical dimensions are continuously getting smaller? With the Phenom™, because it offers you direct access to the high resolution and high quality imaging you need in a growing number of industrial, educational and R&D applications. The Phenom has proven to be the new standard in desktop electron microscopy. It is an advanced professional solutionthatenablesengineers, technicians and researchers to solve their imaging problems.Bringingopticalandelectron microscopy togetherElectron microscopy enables you to see details at a sub-micron level beyond the wavelength of light. The Phenom combines all the advantages of an optical microscope without compromising on ease of use or time to result. 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This allows superb quality images to be produced with minimal operator training. A unique electron optical design reduces the complexity normally associated wit electron microscopes.Fast sample preparationThe Phenom is designed to handle a wide range of samples with minimal preparation by using application specific sample holders.Instant sample loadingSamples are loaded instantly with Phenom’s patented vacuum technology. Insert the sample holder, close the door and the Phenom is ready to go.Shortest time to imageThe first optical image appears within five seconds. Twenty seconds later a first electron optical image will be visible.Never lost navigationYou always know your position on the sample with Phenom’s never lost navigation. Onscreen insets provide a clear overview of the sample. Overviews of the optical and electron optical images provide clear reference points at all times. 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Specifications and prices are subject to change without notice. All rights reserved. Reproduction, copying, usage, modifying, hiring, renting, public performance, transmission and/or broadcasting in whole or in part is prohibited without the written consent of Phenom-World BV.Find your Phenom-World contact information at B R 00101W W v 1.3。
扫描电镜操作手册
扫描电镜操作手册扫描电镜操作手册一、目的本操作手册旨在为使用扫描电镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）的用户提供操作步骤和指南，以确保仪器的正确使用和延长其使用寿命。
二、操作步骤1、准备样品：根据SEM的要求，准备需要观察的样品。
确保样品具有足够的稳定性和导电性。
2、打开仪器：按顺序打开SEM的电源开关，并确保仪器稳定运行。
3、选择工作模式：根据样品的特性选择适当的工作模式（如高分辨率、低分辨率等）。
4、调整工作参数：根据需要，手动设置电子束加速电压、扫描速率、扫描分辨率等参数。
5、安装样品：将样品固定在样品台上，确保其稳定不动。
6、聚焦和校准：通过操作台面上的按钮或软件界面，调整电子束的聚焦位置和校准参数，确保图像的清晰度和准确性。
7、观察和记录：启动扫描过程，观察样品的微观结构，并使用计算机软件记录观察到的图像。
8、调整和优化：根据需要，对扫描参数进行调整和优化，以获得更好的图像质量。
9、关闭仪器：在完成观察后，按顺序关闭SEM的电源开关，并确保仪器完全停止运行。
三、注意事项1、在操作SEM之前，请务必阅读并了解仪器的操作手册和安全规范。
2、确保SEM的工作环境干燥、清洁，并避免强磁场、振动的干扰。
3、在安装和移动样品时，请避免与仪器碰撞，以免损坏设备。
4、在操作过程中，请勿将身体任何部位置于仪器内部，以防意外伤害。
5、若遇到任何操作问题，请及时联系专业人员进行处理。
四、维护与保养为了保持SEM的性能和延长其使用寿命，建议定期进行以下维护与保养工作：1、清洁真空系统：定期清洗或更换真空系统的组件，以确保仪器在高真空状态下运行。
2、检查电子枪：定期检查电子枪及其组件，确保其正常工作。
如需要，请更换老化的组件。
3、校准和调整：定期进行仪器的校准和调整，以保证图像的准确性和清晰度。
4、更换消耗品：根据需要，更换老化的真空泵油、过滤器等消耗品。
5、软件更新：定期更新SEM的软件系统，以确保其兼容性和稳定性。
Phenom电镜用户手册
拉下关闭，注意：拇指和食指必须放在舱门外，否 则下落的舱门会夹到手指；下拉过程请稍微用力， 直接将舱门拉下，中间不要有超过 2 次的停顿
当舱门拉下时，样品会自动移动到光学成像界面 舱门会自动锁住，主机控制面板前方的关锁指示灯 会亮起 样品正确安装，准备操作
Phenom-World BV 荣誉出品（源自飞利浦电镜技术）
屏幕校准
首次启动触摸屏时可能需要校准屏幕 长按控制旋钮直至触摸屏显示为白色界面 依次用手指（或其他较软的物体尖端）点击屏幕上 出现的四个十字叉中心 如需重做校准屏幕，重复上述操作
系统状态认知
如果主机面板上的电源灯：一直持续绿色，说明系统处于可操作状态 在这种情况下如果按下电源灯上方的按钮，系统将进入待机（Standby）状态，电源灯 变成橘红色；
Phenom-World BV 荣誉出品（源自飞利浦电镜技术）
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FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品PHENOM TM G2飞纳台式扫描电子显微镜第二代数秒之内，遍览微观世界飞纳将带给您令人惊叹的高质量图片和前所未有的便捷操作，详情请咨询Phenom World BV中国公司：复纳科学仪器（上海）有限公司数秒之内，遍览微观世界>>> 数秒之内，遍览微观世界现在，Phenom-World B.V.向您隆重介绍第二代Phenom(飞纳)台式扫描电镜：Phenom G2和电镜能谱一体化的Phenom proX。
Phenom(飞纳) G2和proX 采用全新的硬件及软件架构，在继承了前代快速成像、简单易用等优点的同时，为您提供更加卓越的图像质量和精确的元素分析功能。
FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品01 自2007年美国FEI 公司发布第一代Phenom(飞纳)台式扫描电镜以来，Phenom(飞纳)因其卓越的图像质量、30秒超快成像速度、简单易用的操作界面以及接近光学显微镜的超值价格，成为诸多科学家及工业研究人员的首选显微成像工具。
2009年，为了进一步促进Phenom(飞纳)台式扫描电镜的研发，FEI 公司与国际知名的NTS-Group 公司、Sioux 嵌入式系统公司合作，成立Phenom-World B.V.公司，专门从事新一代Phenom(飞纳)的研发生产。
>>>Phenom G2包含两款： 专业版 G2 pro 标准版 G2 pure 主要参数:产品主要特点:◎高质量的图像◎30s 快速成像◎操作简便，结合控制旋钮和触摸显示器便可获得 高倍SEM 图像◎长寿命/高亮度/低色差CeB6灯丝(1500 h)◎自动灯丝对中，自动聚焦◎图像亮度、对比度自动调节◎光学与低倍电子双重导航，想看哪里点哪里◎直接观测绝缘体，无需喷金◎兼得样品表面形貌与成份信息◎防震设计，对放置环境无特殊要求◎丰富的拓展模块：全景图像拼合、3D 粗糙度重 建、纤维测量系统......◎多功能样品杯选件：控温样品杯（-25~50℃）、 自动倾斜/旋转样品杯、降低荷电效应样品杯......0220-120x (G2 pro)20x (G2 pure)80-45,000x (G2 pro)70-17,000x (G2 pure)<25nm (G2 pro)<30nm (G2 pure)5 kV <30s四分割背散射电子探测器台式电脑大小普通实验室或办公室、厂房光学显微镜：电子显微镜： 分 辨 率：加速电压：成像时间：探 测 器：主机体积：放置环境：新一代电镜能谱一体化Phenom proX 台式扫描电子显微镜电镜主要参数光学显微镜：电子显微镜：分辨率：探测器：加速电压：成像时间：主机体积：放置环境：20-120x 80-45,000x <25nm四分割背散射电子探测器5kV、10kV、15kV <30s 台式电脑大小普通实验室或办公室能谱仪主要参数探测器类型：硅漂移探测器（SDD）冷 却 方 式：无液氮Peltier 效应电制冷探测器晶体活性面积：25mm 2能量分辨率：<137eV（Mn Kα） X 射线分析模式：15kV元素探测范围：Boron（5）-Uranium（92）FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品>>> 数秒之内，遍览微观世界032012年Phenom Word BV公司推出了全世界第一款电镜能谱一体化台式扫描电镜Phenom proX系统 。
Phenom proX 的能谱仪(EDS)完全嵌入在电镜主机中，集成的能谱仪采用半导体制冷技术，无需额外冷却设备。
Phenom proX继承了Phenom系列产品简单易用、低维护成本的优点。
◎自动可靠的元素识别集成EDS的Phenom proX操作界面，点击您感兴趣的样品位置，即可完成元素的定性定量分析。
元素分析软件提供基本分析模式和高级分析模式，用户根据测试需要进行选择。
04 >>>FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品◎高质量的图像Phenom（飞纳）G2采用低加速电压（5kV）、低真空度（0.1mBar）、高灵敏度背散射电子探测器与长寿命高亮度低色差CeB6灯丝的最优化组合，为您提供高信噪比、表面细节丰富的优质图像：◎20x-45,000x 连续放大，分辨率<25nm，令人惊叹的大景深。
◎探测背散射电子，展现清晰形貌结构的同时，提供丰富的成份信息。
◎低加速电压，电子穿透深度浅，避免样品的破坏，展现更多表面细节。
Phenom（飞纳）专利样品杯和低真空设计，装入样品后30秒钟内即可得到高质量图像，耗时仅为传统电镜的1/10左右， 为您省去了大量抽真空的时间，极大的提高您的工作效率。
ZnO（复旦大学）金属锡球图像传统SEM在15kV 加速电压下得到的海藻图像，电子穿透效应非常严重。
Phenom（飞纳）5kV 加速电压下得到的海藻图像。
◎30秒快速成像05>>> 数秒之内，遍览微观世界◎操作简便，全程导航Phenom 独一无二的设计将通常电子显微镜所具有的复杂性降低到类似于光学显微镜的水平，使更多用户可以轻松使用。
Phenom（飞纳）直观的导航界面，用户经过半小时培训即可得到高质量的图像。
◎直接观测不导电样品利用标准样品杯（上图）与降低荷电效应样品杯（下图）得到的头发图像降低荷电效应样品杯利用控制旋钮和触摸屏您可以完成以下操作◎自动/手动聚焦◎自动/手动亮度对比度调节◎自动/手动灯丝对中调节◎自动样品移动Phenom （飞纳）采用马达驱动样品台，点击屏幕上希望观测的区域，即可轻松移动样品。
◎全程导航Phenom （飞纳）独有的光学/低倍SEM 导航功能，为您全程提供整个/局部样品的导航图像，点击您感兴趣的区域即可准确移动样品，不必再频繁的缩小、放大图像，方便您在不同样品、不同区域之间切换，轻松实现想看哪里点哪里。
Phenom（飞纳）操作界面。
通过点击右侧图标可以轻松完成图像缩放、聚焦、亮度对比度调节、旋转等操作。
界面右侧显示光学导航和低倍SEM 导航窗口，方便用户在不同样品、不同区域间进行切换。
Phenom 独有的光学导航和低倍SEM 导航窗口，导航窗口中的彩色矩形框指示了主窗口中的观测区域。
Phenom 结合控制旋钮和触摸显示屏调节SEM图像06 >>>Phenom （飞纳）采用低真空技术，背散射电子成像，可以有效抑制荷电效应的产生，使得直接观测各种不导电样品成为可能，免去了耗时费力的样品预处理过程。
利用降低荷电效应样品杯，更可将开始荷电的放大倍数提高8倍左右。
FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品◎成份 & 表面形貌两种成像模式Phenom （飞纳）选择背散射电子成像。
背散射电子的产率、出射角度，与样品成份和表面形貌息息相关，因而可以同时给出样品成份和形貌信息。
Phenom（飞纳）采用4分割背散射电子探测器，为您提供两种成像模式：-成份模式（Full mode）:同时给出样品表面形貌与成份信息，不同元素可由其对比度的不同加以分辨。
-形貌模式（Topographical mode）:在图像中去除了成份不同所造成的差异，强化样品的3D 信息，使样品表面的凹凸起伏等微观结构更加明晰。
尤其适用于表面粗糙度和缺陷分析。
Phenom（飞纳）可以快速的在两种成像模式间任意切换。
◎长寿命/高亮度/Phenom（飞纳）采用只有2.5ev 逸出功的钨灯丝的15-40倍，可正常使用1-3丝的麻烦，保证工作进度。
像不受震动影响，可放置在较高楼层。
Phenom（飞纳）拥有远程检测功能，通过网络，专业工程师可随时为您远程检测系统、答疑解难，为您提供全方位的保护，让您的Phenom 随时处于最佳工作状态。
工程师互 联 网防火墙FULL 模式成像原理: 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相叠加。
TOPO 模式成像原理: 4分割背散射电子探测器扇区所得的信号相抵消。
成份模式图像形貌模式图像CeB6灯丝07>>> 数秒之内，遍览微观世界AAC C BBD D◎丰富的拓展功能：Phenom Pro Suite 应用模块Phenom Pro Suite 是专为Phenom（飞纳）台式扫描电子显微镜设计的应用模块，其开发目的是使用户可以从Phenom 的SEM 图像中提取更多信息，拓展Phenom 的应用，满足特定的用户需求。
标准组件：-自动全景图像拼合-远程控制界面选配组件：-3D 粗糙度重建-纤维测试系统自动全景图像拼合主要特点： －最大８.07mm 的超大视野（FOV），完整呈现样品全貌 －高达近1亿像素的超高分辨率 －自动采集图像，每分钟可采集超过100张1024 x 1024 分辨率的图像 －简明的单页用户界面，操作简便 －可与纤维系统联用利用自动全景图像拼合得到的灯丝图像，分辨率高达8500万像素。
远程控制界面Phenom Pro Suite 应用模块中的远程控制界面使得您可以在不同地点对Phenom（飞纳）进行远程操作，您也可以在报告中实时演示Phenom 中的图像；也为在不同地点同事之间的合作提供了便利。
Phenom Pro Suite模块用户界面08 >>>应用自动全景图像拼合模块可以得到大范围的高分辨图像。
用户只需在总览图中定义扫描区域，自动全景图像拼合模块将自动开始以指定的分辨率对该区域进行扫描。
所得图像将拼合成一副全景图像加以保存，方便进行进一步的观测。
1024 x 1024像素的照片局部特写，揭示左图方框内样品的表面细节。
3D 粗糙度重建FEI 公司旗下Phenom-World BV 荣誉出品3D 粗糙度重建摸块（3D Roughness Recon-struction）是Phenom（飞纳）台式扫描电镜所独有的强大图像处理工具。
借助3D 粗糙度重建模块，Phenom 可以产生样品的3D 还原图，对其进行任意旋转，并进行亚微米量级的粗糙度测量，帮助用户更加细致的分析样品形貌。
钻头表面SEM 图像，放大倍数600x。
图像中可以看到钻头表面磨损所致的纹理，但由于为2D 图像，纹理的起伏不够直观，无法进行较为精确的测量。
钻头表面SEM 图像，放大倍数2900x左：利用3D 粗糙度重建模块得到的钻头表面的3D 重建图像，图像可进行任意角度的旋转，使得样品表面的粗糙起伏变得更加明晰。
图中包含三条测量曲线，右侧区域内显示了Rz 与Ra 的测量结果。
右：左图中的测量结果的放大图，给出了样品表面起伏高度的定量测量结果：钻头表面最大沟壑深度为1.13um。