中子小角散射实验技术
中子散射技术在材料科学中的应用研究

中子散射技术在材料科学中的应用研究引言:材料科学是一门广泛涉及物质结构、性质与制备方法的学科。
而中子散射技术则是近年来受到人们关注的重要科学手段。
本文将探讨中子散射技术在材料科学中的应用研究,并阐述其在研究领域中的重要性和未来的发展方向。
中子散射技术的基本原理:中子是构成原子核的基本粒子,具有中性的特点,因此它们不受电荷的影响。
中子散射技术是通过中子与材料中的原子相互作用来探测材料的结构与性质。
当中子与材料中原子发生散射时,可以观察到散射角度和散射强度的变化,从而获得材料的结构信息。
中子散射在材料科学中的应用:1. 结构分析:中子散射可以提供材料微观结构的信息,如晶格参数、晶体缺陷、相分析等。
通过中子散射技术,可以了解材料内部原子的排列方式以及相邻原子之间的相互作用,为材料的功能设计和性能优化提供重要参考。
2. 动力学研究:中子散射技术可以追踪材料中的原子、离子或分子的运动轨迹,探索材料的动力学行为。
例如,可以研究材料中的晶体生长速度、液体中的粒子扩散行为、聚合物分子的运动等。
这对于研究材料的相变、传输特性等具有重要意义。
3. 磁性材料研究:中子散射技术在磁性材料研究中具有重要的应用价值。
由于中子本身拥有磁矩,能够直接观察磁性物质中的自旋排列和磁相互作用。
这在研究磁性材料的磁结构、磁矩分布等方面具有独特的优势。
未来发展方向:1. 高通量中子源:中子散射技术的发展需要大量的中子源供给。
目前,一些国家已经建成了大型中子源,但中子散射研究仍面临着中子源强度不足以及时间分辨率较低的问题。
因此,未来的发展方向是构建高通量、高分辨率的中子源,提高中子散射实验的效率和准确度。
2. 多模式中子散射:随着材料科学的发展,对材料性质研究的需求也越来越多样化。
因此,未来中子散射技术的发展方向之一是实现多模式的中子散射实验。
例如,结合中子散射与其他光谱技术,实现多尺度、多信息的材料研究。
3. 仿真模拟技术:中子散射实验通常是非常复杂和昂贵的,同时也存在实验难度大、样品需求量大的问题。
小角散射谱仪

3.8 10 1 19 2 6 2 1 ( 样品处的通量为: 4 14002 5 ) 2.2278 10 n cm s
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二、 SANS虚拟实验设计
1.3 慢化器——性能模拟
通过对MCNPX 输出文件中的能谱 (tally 105) 进行计算,选择中 子能量范围为(0eV——1.0593eV),得到中子可视面的发射中子总 通量为5.168529E+12n/cm2/s。通过对中子脉冲形状(tally 405)进行 转换得到vitess user wavelength time dits. file的输入文件,计算得 到中子的脉冲形状。
聚焦准直器的设计参数:
——碳化硼块的设计:外圆直径是140mm,内孔是锥形,小径是不断变化的,由40mm变 化到 20mm ,锥角是 5 °,厚度是 50mm ,碳化硼块在准直器外壳槽里凸出部分为 5mm-内层腔的设计:外径为 290mm,内径为90mm,长度为2000mm,-内层腔的设 计:外径为290mm、内径为90mm、长度为5000mm,两个碳化硼块之间的距离分别 是621.669.721.776.835.898(mm) ——外层腔的设计:外径为490mm,内径为290mm,长度为5000mm
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二、 SANS虚拟实验设计
中子开关内准直器设计参数:
准直器分为3段:中子开关内准直器、Shutter外准直器、聚焦准直器
——碳化硼块的设计:外圆直径是140mm,内孔是锥形,小径为80mm,锥角是5°,厚度 是50mm,碳化硼块在准直器外壳槽里凸出部分为5mm,两个碳化硼块之间的距离分 别是90.97.105.113.123.132.142.153.164.176(mm) ——内层腔的设计:外径为290mm、内径为90mm、长度为2000mm ——外层腔的设计:方形边长为490mm、孔直径为290mm、长度为2000mm
中子小角散射实验及原始数据的处理

中子小角散射实验及原始数据的处理魏国海;刘祥锋;李天富;张莉;王雨;王洪立【摘要】中子小角散射技术是研究纳米尺度范围材料结构的有力工具.中子小角散射实验测量和原始数据的处理方法相对较复杂.为了获得样品的绝对中子小角散射强度数据,通常需要进行入射中子束强度、散射强度、样品的透射率、实验本底以及空样品盒的散射强度和透射率等多项实验测量.若要获取较宽散射矢量范围的实验数据,还要改变实验仪器设置,对同一样品进行几次测量.而对所测数据也需要进行多项处理,才可获得便于分析的小角散射强度曲线.本文简单介绍实验原理和测量方法,重点讨论原始数据的处理方法,其中详细讨论了各向同性散射数据的平均以及合并方法.【期刊名称】《核技术》【年(卷),期】2010(033)004【总页数】5页(P253-257)【关键词】中子小角散射;实验测量;原始数据处理【作者】魏国海;刘祥锋;李天富;张莉;王雨;王洪立【作者单位】中国原子能科学研究院中子散射研究室,北京,102413;中国国际工程咨询公司,北京,100048;中国原子能科学研究院中子散射研究室,北京,102413;中国原子能科学研究院中子散射研究室,北京,102413;中国原子能科学研究院中子散射研究室,北京,102413;中国原子能科学研究院中子散射研究室,北京,102413【正文语种】中文【中图分类】O552.5中子小角散射(Small-Angle Neutron Scattering,SANS)是二十世纪 70年代冷源和中子导管普及以后逐渐发展起来的一种中子散射实验方法,可在纳米到微米尺度范围[1]内分析样品的微观结构形貌,广泛应用于聚合物[2]、生物学[3]以及材料科学[4]等领域。
随着位置灵敏探测器等技术和实验技术的逐渐成熟,其应用也愈加广泛[5]。
我国在此领域工作较少[6,7],这主要是缺少可利用的SANS谱仪。
中国科学院化学所与中国原子能科学研究院合作,在后者的中国先进研究堆(China Advanced Research Reactor, CARR)导管大厅建造一台SANS谱仪。
中子散射技术在材料表征中的应用研究

中子散射技术在材料表征中的应用研究中子散射是一种非常重要的分析技术,广泛应用于材料科学、生命科学、化学、物理、地球物理、工程和环境等多个领域。
其中,在材料科学领域,中子散射技术可以帮助研究材料的内部结构和性质,为新材料的设计和开发提供重要的支持。
本文将简要介绍中子散射技术在材料表征中的应用研究。
中子散射技术概述中子散射是通过中子与物质相互作用的过程,通过对散射中的中子的能量和方向进行测量,揭示物质的内部结构和性质的一种实验手段。
一般来说,中子散射技术包括弹性中子散射、非弹性中子散射和低能中子散射等多种不同的实验方法。
在这些实验方法中,弹性散射方法是最常用的一种方法。
在弹性散射方法中,采用中子束轰击材料,使散射中的中子改变能量和方向,通过测量散射中的中子能量和方向变化来揭示物质的内部结构和性质。
中子散射在材料表征中的应用中子散射技术有其特殊的应用范围和研究目标,特别是对于那些重要的结构信息、动力学信息和小分子与材料相互作用等方面的研究,中子散射技术能够提供非常有效的解决方法。
以下是一些具体的例子:1. 结构信息的研究中子散射技术可以用于研究材料的内部结构和分子排列,提供各种原子之间的信息。
例如,通过发射和散射到样品中的中子,可以了解样品的晶体结构。
此外,中子散射技术还可以用于研究不同材料的分子振动和转动。
通过测量样品的非弹性散射,可以获得与材料性质相关的热和动力学信息。
2. 动力学信息的研究中子散射技术可以用于研究材料中分子、原子、离子等之间的位置和运动的变化。
例如,通过散射中的中子测定分子的动力学行为,可以了解分子的运动速度和轨迹。
这为研究材料的变形、摩擦、结晶生长、纳米流体力学等提供了方法。
3. 小分子与材料相互作用的研究中子散射技术还可以用于研究小分子与材料之间的相互作用,以及它们如何通过中介物质达到相互作用。
例如,中子散射可以测量材料阻止小分子运动的过程,也可以测量材料和小分子之间的作用力,为解释复杂的生物和化学反应提供信息。
中子—核作用截面的实验测量

中子—核作用截面的实验测量中子-核作用截面是研究核反应和核结构的重要量子力学参数。
通过对中子-核作用截面的实验测量,可以获得关于中子与核相互作用的重要信息,包括中子的能量和角动量分布、核反应的截面、反应的几率等方面的信息。
下面将介绍几种常用的实验测量中子-核作用截面的方法以及它们的优势和局限。
1.中子俘获实验中子俘获实验是中子-核作用截面的常用实验方法之一、在实验中,通过在富中子环境下让中子与核相互作用,观察中子的损失和新产生粒子的反应。
根据新粒子的探测数量和强度,可以计算出中子与核相互作用的截面。
2.中子弹性散射实验中子弹性散射实验也是研究中子-核作用截面的重要方法。
实验中,将中子引入目标核,通过测量中子的散射角度和动能来获得中子与核的相互作用信息。
根据散射截面的大小和分布,可以了解中子与核的相互作用机制和性质。
3.中子不弹性散射实验中子不弹性散射实验是用来研究中子与核发生非弹性散射的实验方法。
在实验中,通过观察中子与核的相互作用后产生的新粒子来获得信息。
这些新粒子包括α粒子、质子、中子等。
根据新粒子的能谱和相对数目,可以确定中子与核的相互作用截面。
实验测量中子-核作用截面的优势和局限性如下:优势:1.实验测量可以提供准确的数据,可以更好地检验理论模型的预测结果。
2.实验测量可以获得关于中子-核相互作用性质的直接信息,有利于了解核反应和核结构等问题。
3.实验测量可以在广泛的能量范围内进行,从而获得更全面的中子-核作用截面数据。
局限性:1.中子-核作用截面的实验测量涉及到复杂的实验装置和技术,需要专门的设备和经验。
2.在实验中,中子束流的强度和纯度是关键因素,对实验结果有较大影响。
3.由于中子-核作用截面通常较小,需要长时间的实验测量来获取足够的统计数据,导致实验变得耗时和费力。
总之,中子-核作用截面的实验测量是研究核反应和核结构的重要方法。
通过中子俘获实验、中子弹性散射实验和中子不弹性散射实验等方法,可以获得关于中子与核相互作用的重要信息。
【中子散射】SANS谱仪及原理

SANS数据处理过程
探测器修正:本底修正后的 数据除以探测器效率修正文 件,即可对探测器各像素单 元完成相对探测效率修正
绝对散射强度校准:常用的 方法有两种,一是标准样品 法,二是直穿束法,
I(q)-q 曲线
数据解析,长征才刚刚开始
SANS曲线上提供的信息
SAS的典型探测尺度
谱仪组成-导管
谱仪组成-探测器
中子是电中性的,不能直接探测。中子与3He反应生成质子 (573KeV)和氚核(191KeV)。质子和氚核向相反的方向发射 ,并使工作气体电离。通过探测质子和氚核电离的重心就可 以得到入射中子的位置。
n+3He→p+3H+764keV
(ISIS Solution 2014 )
中子小角散射谱仪及原理 Small Angle Neutron Scattering
内容提要
1 CMRR中子科学平台简介 2 中子小角散射原理及谱仪 3 CMRR小角散射谱仪概况
内容提要
1 CMRR中子科学平台简介 2 中子小角散射原理及谱仪 3 CMRR小角散射谱仪概况
绵阳研究堆
China Mianyang Research Reactor
SANS-Sunani谱仪介绍文章
SANS-Sunani谱仪最新参数指标
Neutron flux at the sample position as a function of wavelength
Since 2017
L. Chen et al., 2018_JINST_13_P08025
SANS-Sunani谱仪最新参数指标
Dong Liu*. Polymer 120 (2017) 155-163
中国散裂中子源小角中子散射虚拟实验-Indico
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二、 SANS虚拟实验设计
中子开关内准直器设计参数:
准直器分为3段:中子开关内准直器、Shutter外准直器、聚焦准直器
——碳化硼块的设计:外圆直径是140mm,内孔是锥形,小径为80mm,锥角是5°,厚度 是50mm,碳化硼块在准直器外壳槽里凸出部分为5mm,两个碳化硼块之间的距离分 别是90.97.105.113.123.132.142.153.164.176(mm) ——内层腔的设计:外径为290mm、内径为90mm、长度为2000mm ——外层腔的设计:方形边长为490mm、孔直径为290mm、长度为2000mm
中国散裂中子源 小角中子散射虚拟实验
报告人:张晟恺
小角散射谱仪
中国散裂中子源(CSNS)介绍
CSNS系统构成:一台H-直线加速器、一台快循环同步 加速器、一个靶站和3台谱仪。3台谱仪分别是:小角散射 谱仪、多功能反射仪和高通量粉末衍射仪。
Page 2
小角散射谱仪(SANS-Small Angle Neutron Scattering)
带宽限制斩波器一般参数: 束流截面中心到转轴轴线距离:300mm; 真空度:小于10Pa;真空窗口??? 工作方式:双盘对转;相位控制精度:±0.22 deg;VETO值<1%; 停机位置精度:±0.2 deg;电机冷却方式:水冷。
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二、 SANS虚拟实验设计
3.2 斩波器——性能模拟
在VITESS 中根据 chopper 的物理设计给定好参数,参数 的设定如下所示,然后看经过 chopper 后的中子波长谱是否 达到相应的性能指标。经过模拟后生成的波长谱如下图所示。
T1-D1
T1-D2
6881
27.3
27.3
中子散射技术及其应用
射 、中子小角散射 、中子反射技术等都是在相应的 X 射线实验方法的基础上发展起来的.
为什么有了 X 射线分析方法还需要发展中子 散射技术呢 ? 原因在于 , 中子散射有自己的特点 , 这些特点恰好弥补了 X射线分析固有的缺点 , 从而 使它和 X射线分析形成了互补的关系. 这些特点可 以归纳为 : (1) X射线对原子序数低的轻元素不灵 敏 ,但中子对轻 、重元素的灵敏度没有明显的差别 ; (2) X射线不能分辨原子序数相近的元素 , 而中子 通常可以分辨 ; ( 3) 中子可以区分同位素 ; ( 4 ) 中 子具有磁矩 ,因而可以研究磁性物质的磁结构和自 旋动力学. 常规 X 射线分析不能提供磁的信息. 近 年来虽然己经可以用同步辐射来研究物质的磁结 构 ,但中子作为微观磁结构的研究工具仍然是其他 方法无法代替的 ; ( 5) 中子对物质有较强的穿透能 力 ; (6) X射线只能研究物质的静态结构 ,不能研究 动力学问题 ,这是因为波长在 0. 1—1 nm 左右的 X 射线 ,其能量比原子 、分子的运动能量高几十万倍 , 所以不可能用它来研究物质的微观动力学特性.
35卷 (2006年 ) 11期 http: ΠΠwww. wuli. ac. cn
Hale Waihona Puke ·961·前沿进展
其中有些反应堆开始用于基础研究. 1946 年 ,美国 Oak R idge实验室的科学家 Wollan, Shull等首先在 Clinton反应堆上开展了中子衍射工作. 这个工作代表 了中子散射的一个方面 , 即用中子散射方法研究物 质的静态结构 ; 1950年前后 ,加拿大 Chalk R iver实验 室科学家 B rockhause开始用中子非弹性散射研究晶 格动力学 , 开创了中子散射技术的另一个方面 , 即利 用中子散射研究物质的微观动力学性质. 通常说的 “中子散射技术 ”是这两方面工作的总称.
中子衍射的原理及应用
中子衍射的原理及应用1. 前言中子衍射是一种通过将中子束传播到晶体上并分析衍射图案来研究晶体结构的实验技术。
中子衍射具有许多独特的性质,使它成为研究材料结构和物态的强大工具。
本文将介绍中子衍射的原理和一些常见的应用。
2. 中子衍射的原理中子衍射的原理基于中子的波粒二象性。
与X射线衍射相比,中子衍射因中子与原子核之间的散射相互作用更显著,因此可以提供更多有关晶体结构的信息。
中子衍射实验通常使用中子散射仪器,其中包括中子源、样品、控制器和检测器。
中子源产生中子束,样品通过调整角度和温度进行定向。
当中子束通过晶体时,会与晶体中的原子发生散射,形成衍射图案。
检测器可以记录衍射图案,并通过分析来获得晶体的结构信息。
3. 中子衍射的应用3.1 晶体结构研究中子衍射技术被广泛应用于研究晶体的结构。
通过分析衍射图案,可以确定晶体内原子的排列方式和间距。
这对于理解材料的物理和化学性质非常重要。
3.2 蛋白质晶体学中子衍射在蛋白质晶体学中也有重要应用。
蛋白质晶体是研究生物大分子结构和功能的关键。
与X射线衍射相比,中子衍射可以提供更多关于氢原子位置的信息,这对于理解蛋白质的功能机制非常重要。
3.3 磁性材料研究中子衍射还可用于研究磁性材料的结构和性质。
中子对磁矩的散射非常敏感,可以提供关于磁性材料中磁矩分布的信息。
3.4 电池材料研究中子衍射技术在电池材料研究中也有广泛应用。
通过分析电池材料中的晶体结构,可以了解材料的离子扩散路径和充放电机制,从而改进电池性能。
3.5 金属材料研究中子衍射还被用于研究金属材料的结构和相变。
中子衍射可以提供关于金属晶体的晶格参数、应变和相变过程等重要信息。
4. 结论中子衍射是一种强大的研究材料结构和物态的技术。
它的原理基于中子的波粒二象性,通过分析中子在晶体中的衍射图案来了解晶体的结构信息。
中子衍射已在许多领域得到应用,包括晶体结构研究、蛋白质晶体学、磁性材料研究、电池材料研究和金属材料研究等。
第四章散射技术
法国 Grenoble 的 Institut Laue Langevin(ILL)[2],和英国 Didcot 的 Rutherford Appleton 实验室的 ISIS 设备 [3]
•
基于反应堆的中子源 在该过程中
传统的中子是通过可产生高亮度中子的优化的核反应堆裂变产
生的
铀 235 核在吸收了热的中子后裂变为碎片同时蒸发出一个高能的稳定 在周围的减速器中高能量中子热能化至 热源 达到热平衡 使用 冷源 在 ILL 中热 如 25 K 液态
因此
可将较轻的如氢原子同高原子序数的原子区别开
在周期表中相邻元素
的中子散射通常有实质性的不同因而可以被区分
中子散射对核的依赖性甚至使得同一
2
原子的各同位素也可通过散射区分开来 标记来对其进行考察
这样就可以通过使用同位素对材料的各部分作
4.1.2 中子源 中子束的生产有两种方式:基于反应堆中子源的核裂变, 或基于加速器中子源的散裂 下面就这些工艺做一个简短的描述 其中特别参考了目前世界上最著名的两个中子来源地
7. 8. 9. 10. 11.
Extracted proton beam tunnel ISIS target station Experimental hall, south side Experimental hall, north side RIKEN superconducting pion decay line
同时在金属靶上产生较少的热量 800 兆电子伏
它基于一个 200 mA
50 赫兹下操作的质 在
该金属靶在每个入射质子的轰击下可产生 12 个中子
ISIS 中,产生能量足以引起充分散裂的粒子主要包括以下三阶段 (图 4.2) (1) 从氢气中产生 H-离子 665 keV (2) 在含有四个加速管的线形加速器中将 H- 离子加速至 70 MeV 带两个电子的质子 并在预注入柱中对其加速使其能量达到
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7 ) 中子导管分析器; 8 ) 镉片狭缝; 9 ) 真空容器; 10 ) 监视器单元; 11 ) 样品室; 12 ) 探测器系统
25
2T = N RT / V = N ( Rcoh + Rinc + Rabs) / V
= N A Qm ( Rcoh + Rinc + Rabs) / M mol
= 2coh + 2inc + 2abs
( 2)
在上式中, N A 为 A vo gadro 常数; Qm 为样品材料的质量密度; Mmol 为样品材料的摩尔质量;
入口狭缝至样品的距离: 7 680 mm; 样品至探测器的距离: 7 680 mm ; 3 H e 计数管类型: SN M )b 50 型; 计数管间的角距离: 6. 54c( 1. 902 @ 10- 5 G y) ; 每道平均本底: 2~ 4 脉冲/ h。
3 实验条件的选择
在进行中子小角散射实验测量之前, 需选择适当的实验条件及相关参数, 以便获取高质 量的实验测量数据[ 4] 。通常应当考虑以下几个方面。 3. 1 实验样品的厚度
图 2 典型的样品室及其体积参数
样品厚度的适当选择对于实验测量是至关重要的因素之一。下面讨论样品最优厚度选
择条件。假设样品厚度为 d, 入射中子束强度为 I 0 , 透射中子束强度为 I , 则样品的透射率 为
T = I / I 0 = exp(- 2T d)
( 1)
其中: 2T ) ) ) 样品单位体积的总截面,
A BST RA CT
T he m ain parts of Small Angle Neutron Scattering ( SA NS) spect rom eter, and their function and dif ferent param eters are int roduced from experimental aspect. Detailed inform at ion is also introduced for SANS spectrom eter / M embrana- 20. Based on practical experiment s, the f undamental requirem ents and w orking condition for SA NS ex perim ents, including sam ple preparation, detect or calibration, standard sample select ion and data prelim inary proces s are des cribed.
真空探测腔通常由钢板加工成的圆柱形长筒构成, 其内表面一般都衬有 1~ 2 cm 厚的 碳化硼或含硼聚乙烯屏蔽材料。真空探测腔有如下四个作用: 为中子提供真空飞行路线; 屏 蔽外来快中子和吸收杂散中子; 为探测器提供不同探测位置; 安放数据采集系统的电子学部 件。真空探测腔长度依照设计的功能有所不同。
1 谱仪的基本结构与功能
中子小角散射谱仪是用于开展中子小角散射实验研究的装置[ 3] , 其基本结构包括以下 几个主要部分: 单色器、准直器、样品台及其环境设备、真空探测腔、探测器、数据采集和处理 系统等。
单色器主要用于将中子束单色化, 得到所需波长的中子束。在中子小角散射中, 通常有 两种方法使中子束单色化, 一种是多层介质单色器; 另一种是机械速度选择器, 目前大部分 中子小角散射谱仪采用机械速度选择器。经过机械速度选择器单色化的中子束, 其波长分 辨率 $K/ K通常为 5% ~ 20% 左右。
Key words: Smal-l angle neut ron scatt ering , Ex perimental t echnique, Calibrat ion t echnique
22
引言
小角散射是指将入射束( X 射线或中子束) 投射在物质上, 发生于原束附近小角域( 小动 量转移) 范围内的相干弹性散射现象, 它是由于散射体内几纳米到几百纳米尺度范围散射密 度的变化引起的。按照入射束的种类不同, 小角散射通常包括 X 射线小角散射( Sm all A ng le X- ray Scat tering, SAXS) 和中子小角散射。在中子小角散射中, 中子与原子核作用, 对 材料内散射长度密度变化敏感。由于中子散射有其独特的优点( 如对轻元素灵敏, 对邻近元 素和同位素分辨, 具有磁矩, 穿透性强等) , 因而使用中子束作为散射束的中子小角散射技术 近 30 年来在许多基础研究和工程技术领域都得到了广泛应用[ 1, 2] 。小角散射技术是测量物 质亚微观结构的重要手段, 如材料学中的聚合物分子、合金相分离中的相、磁性物质的磁畴、 分子生物学所研究的蛋白质生物大分子以及近年来发展的纳米材料等, 它们的大小均在小 角散射所研究的尺度范围, 采用小角散射获得物质亚微观结构的信息, 已成为一种探索物质 结构的有力工具。
2coh 、2inc和 2ab s分别为样品材料对中子的相干散射、非相干散射和吸收截面。散射强度 I s 与
样品厚度及透射率有如下关系:
堆内部件包括截面 为 17 m m @ 19 mm、长 度为 1 300 m m 的矩 形钢准直器和 截面为 7 m m @ 60 mm、长度为 900 mm 的58 N i 直中子导管。磁单色器由极化器、分析器、选择自旋 反转器和绝热自旋反转器四部分组成。/ Membrana- 20谱仪中子导管分析器出口到样品的距离 与样品到探测器的距离相等, 均为 7. 68 m。入射中子束由两个镉片狭缝在水平面内准直, 准 直狭缝的最大尺度受中子导管截面( 7 mm @ 60 mm) 的限制, 所有狭缝的高度均为 60 mm。
数据采集系统包括与探测器相连的前置放大器、甄别器等电子学器件以及计算机等, 其 作用为自动控制相关仪器、监视数据采集过程、储存原始测量数据等。
2 / M embrana- 20实验装置简介
俄罗斯科学院圣彼得堡核物理研究所的中子小角散射实验装置之一为/ M embrana- 20 谱仪。该谱仪安放于功率为 18 M W 的 WWR ) M 反应堆 H EC ) 5 水平实验孔道上, 主要 由堆内器件、极化中子磁单色器、准直系统、监视器单元、样品室及多道探测器系统等构成, 其部件结构如图 1 所示。
探测器系统安放在探测器腔内, 由 41 个3H e 计数管组成, 且计数管之间用镉材料分隔, 各探测单元的探测效率相差不大于 ? 3% 。对于 2. 5 ! ( 1 ! = 10- 10 m) 的中子计数效率可 达 80% 。探测器全角宽为 4. 36b。
中子小角散射谱仪/ Membrana- 20的主要技术指标参数如下: 散射矢量范围: 1. 3 @ 10- 3 [ q [ 0. 6 ! - 1 ; 入射中子谱: 宽谱 Kmax = 2. 2 ! 、$K/ ½K= 0. 35; 单色化谱 2. 2 [ K[ 5 ! 、$K/ ½K= 0. 1; 入射中子束强度: 宽谱 1 @ 105 n/ ( cm 2 # s) ; 单色化谱( K= 2. 3 ! ) 1 @ 104 n/ ( cm2 # s) ; 入射中子束最大截面: 8 mm @ 60 mm ; 入口狭缝的最大尺寸: 7 mm @ 60 mm ; 接收狭缝的最大尺寸: 9 mm @ 60 mm ; 24
中子小角散射实验测量可使用各种形式的样品, 如固体、溶液、凝胶等, 一般没有特别的 限制。实验所需的样品量主要由中子透射率及样品材料的性质确定, 对中子吸收少、相干散 射强的材料其样 品量可相 对较少。典型的 样品尺 寸为径 向线度 约 10 ~ 25 m m、厚度 约 0. 1~ 10 mm。对固态块状样品( 如金属材料) 一般要求样品厚度均匀、表面平整光滑, 以减 少由于样品表面微起伏引起的多余小角散射信号。粉末状样品必须均匀饱满地分布于样品 室中, 而且要尽量压实。溶液样品( 如有机溶液或只能在溶液中研究的样品材料) 最好配制 成低浓度的溶液, 这样可以减少由于溶液浓度高溶质间散射的相互干涉的影响, 以获得较好 的溶质散射数据。样品室的制作需用对中子吸收少、散射小、厚薄均匀的材料, 一般用厚度 小于 1 mm 的石英玻璃封装样品。溶液样品室需要很好的密封性, 可用表面薄而均匀的扁 圆柱形容器, 但要有一个直径在毫米量级的小孔连接样品室内外, 以便用注射器将样品溶液 送入样品室。中子小角散射实验中典型的样品室及其体积参数如图 2 所示。
关键词: 中子小角散射技术 实验技术 标定技术
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Experimental Technique of Small Angle Neutron Scattering
( In C hinese )
XIA Qingzhong CH EN Bo ( Institute of Nuclear Physics and Chem istry, CAEP, M ianyang, 621900)
探测器用于测量和记录被样品散射的中子数。新型的中子小角散射谱仪均采用二维位
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置灵敏探测器。二维位置灵敏探测器的气体灵敏区含有 BF3 或3H e 气体, 灵敏区中间平面 的正比导线夹在水平排列的阴极带和与之垂直排列的另一阴极带之间, 形成阴极带- 正比线 ( 阳极线)- 阴极带的三层平行排布。二维位置灵敏探测器具有分辨能力强、稳定性好、噪声 低等优点。目前采用的二维位置灵敏探测器大多数为 64 @ 64 个探测单元、每个探测单元面 积为 1. 0 cm @ 1. 0 cm , 或 128 @ 128 个探测单元、每个单元面积为 0. 5 cm @ 0. 5 cm, 后者的 探测分辨率更高。
CNIC- 01825 CAEP- 0165