环形磁芯快脉冲动态参数测量方法
磁性材料的测量
从互感线圈二次绕组感 应电压的平均值 U CP1 求出磁化电流最大值 I m 。 4 fMI m U CP1 然后再从I m 值求出H m 值。 Hm U CP1 N1 4 fMl
四、测量交变磁场下的功率损耗
三、交流磁特性的测量
交流磁特性是指磁性材料在交变磁场反复磁化时所 测出的 H-B 关系曲线。并称为动态磁滞回线。 若交变磁场的磁场强度最大值不同，所形成的动态 磁滞回线也不同，将不同的动态磁滞回线顶点连起来， 即形成动态磁化曲线。 从动态磁化曲线上求出的磁导率，则称之为振幅磁 导率。可见交流磁特性可归结为 H m与 Bm 的测量。
第四步： 测定磁滞回线 由于磁滞回线是对称的，所以只要测出磁滞 曲线的一个半边，另一个半边就可以按对称原 则画出。测量时激磁电流可以从最大值开始， 然后逐渐调小，直至等零。然后再从零向负向 最大值调节，至负最大值为止。之间可以取若 干点。测量顺序如下式。
I m I1 0 I1 I m
第三步：测量基本磁化曲线 从最大磁感应强度的较小的值开始，依次改变磁化电 流，将每次磁化电流值代入安培环路定律的公式，求出 磁场强度H，再用冲击电流计测出磁感应强度B，根据每 次对应的H、B。即可画出基本磁化曲线。
N1 I1 πD Cq R B N2S H
用冲击电流计测量磁特性步骤
交变磁场下的功率损耗，可用功率表测量，图中测 出的功率等于试样铁损耗加上功率表和电压表的损耗。 由于功率表的电压圈接在二次侧，所以功率表所测的 值已经不包括绕组的铜损耗。
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Hale Waihona Puke Hm m Bm1.最大磁感应强度的测量
磁芯材料的静动态特性测量方法
软磁材料测量measurement of soft magnetic material反映软磁材料磁特性的各种磁学参量的测量，是磁学量测量的内容之一。
软磁材料一般指矫顽力Hc≤1000A/m的磁性材料，主要有低碳钢、硅钢片、铁镍合金、一些铁氧体材料等。
软磁材料的各种磁性能决定了由该材料制成的磁性器件或装置的技术特性，因此，软磁材料测量在磁学量测量中占有重要位置。
表征软磁材料的磁特性有各种曲线，可按工业应用要求来选择。
这些曲线主要是：工作在直流磁场下的静态磁特性曲线和反映磁滞效应的静态磁特性回线；工作在变化磁场（包括周期性交变磁场，脉冲磁场和交、直流叠加磁场等）之下、包括涡流效应在内的动态磁特性曲线和动态磁特性回线等。
这些磁特性曲线的横坐标是加在被测材料上的磁场强度H，纵坐标是材料中的磁通密度B。
这种表示方式使这些曲线只反映材料的性质,与材料的形状、尺寸无关。
此外，软磁材料的动态磁特性还包括复数磁导率和铁损。
(1)静态磁特性测量测量材料的静态磁特性曲线和磁特性回线，主要测量方法有冲击法和积分法两种。
①冲击法：用以测量静态磁特性曲线，测量线路见图1。
材料试样制成镯环形，并绕以磁化线圈和测量线圈。
前者通过换向开关、电流表和调节电流的可变电阻接到直流电源上；后者接到冲击检流计上（见检流计）。
开始测量时，通过电流表将磁化线圈中的电流调到某一数值，由电流表的读数、磁化线圈的匝数，以及材料试样的磁路几何参数，可计算出磁场强度H值。
然后，利用换向开关、快速改变磁化线圈中的电流方向，使材料试样中的磁通密度的方向突然改变，于是在测量线圈中感应出脉冲电动势e，e使脉冲电流流过冲击检流计。
检流计的最大冲掷与此脉冲电流所含的电量Q，也就是磁通的变化（△φ）成比例。
△φ在数值上等于材料试样中磁通的两倍。
由冲击检流计的读数和冲击常数（韦伯/格），以及材料试样的等效截面，可计算出相应的磁通密度B值。
改变磁化电流，可测出静态磁特性曲线所需的所有数据。
环形非晶态磁芯检验办法
环形非晶态磁芯检验办法
检测仪器：饱和电压检测仪，示波器
检测条件：检测线圈匝数3匝
130－80 －40 磁芯
1．检测仪电压表指示值调到25V，观察励磁电流波形，如波形上翘出现拐点，判定为不合格
2．检测仪电压表指示值调到25V, 观察励磁电流，波形电压峰值>±0.7V(励磁电流>1.4A)判定为不合格。
3．饱和电压值的读取，检测仪电压表指示值由低往高调，观察励磁电流波形，当调节到波形往上翘时的临界点时停止，此时波形电压峰值即为饱和电压值。
130－80－50磁芯
1．检测仪电压表指示值调到35V，观察励磁电流波形，如波形上翘出现拐点，判定为不合格
2．检测仪电压表指示值调到35V, 观察励磁电流，波形电压峰值>±0.6V(励磁电流>1.2A)判定为不合格。
3．饱和电压值的读取，检测仪电压表指示值由低往高调，观察励磁电流波形，当调节到波形往上翘时的临界点时停止，此时波形电压峰值即为饱和电压值。
记录数据
1．每个磁芯上粘贴所对应的检验数据标签，格式如下例：
编号
检验时间年月日
饱和电压
励磁电流波形峰值电压
安泰8040磁芯。
磁芯的检验标准课件
目录 CONTENTS
• 磁芯简介 • 磁芯检验标准 • 磁芯检验方法 • 磁芯检验流程 • 磁芯检义与特性
磁芯定义
磁芯是一种具有高磁导率、低矫顽力和良好磁性能的铁氧 体材料，通常用于制作各种电感器、变压器和互感器等电 子器件。
矫顽力
矫顽力是衡量磁芯材料保持磁性的能力，表示材料抵抗退 磁的能力。低矫顽力意味着磁芯容易受到外部磁场的影响 ，容易磁化。
01
02
03
表面质量
磁芯表面应光滑、无裂纹 、无气泡、无锈迹等缺陷 。
颜色均匀性
磁芯的颜色应均匀一致， 无色差。
形状完整性
磁芯的形状应保持完整， 无变形或扭曲。
尺寸检验标准
长度
磁芯的长度应符合规定 的尺寸要求，误差应在
±0.5mm以内。
外径
磁芯的外径应符合规定 的尺寸要求，误差应在
±0.5mm以内。
仪器设备要求
仪器的精度
用于测量和检验的仪器设备应具有足够的精度， 以确保测试结果的准确性。
设备的校准
仪器和设备应定期进行校准，以确保其性能稳定 可靠。
设备的维护
操作人员应定期对仪器和设备进行维护保养，以 保证其正常运行和使用寿命。
THANKS
THANK YOU FOR YOUR WATCHING
磁导率
磁导率是衡量磁芯材料导磁性能的重要参数，表示磁力线 通过材料的难易程度。高磁导率意味着磁力线更容易通过 材料，降低磁场能量损失。
磁性能
磁性能包括磁导率、矫顽力、剩磁和磁损耗等参数，共同 决定了磁芯材料的应用范围和性能表现。
磁芯的分类与应用
锰锌铁氧体
具有高磁导率、低矫顽力和良 好的温度稳定性，广泛应用于 制作各种电感器和变压器等电
磁环材质的辨认和磁导率测量方法
试条件下 -75.)
-125)
-125)
-125)
(mW/cm3)
居里温度 (℃)
750℃
500℃
600℃
400℃
最大工作温度 75-130℃
(℃)
130℃ 到 200℃
环型或 EX 型 磁芯形状
等
环型形状
由气隙开口尺寸决定
200℃ 130℃到 200℃ 环型，E 型，罐型等
相对价格水平
低
高
中等
高
中等
陶瓷状结合体
气隙形式
分布在磁芯 分布在磁芯 分布在磁芯 分布在磁芯
离散，单独的气隙开口
内部
内部
内部
内部
有机和无机
气隙自身构成
无机粘合剂 无机粘合剂 无机粘合剂
粘合剂
直流偏磁场
5600A/m(安/ 9500A/m(安/
8000A/m(安/
下，磁导率降
7200A/m(安/
米)
米)
米)
低到50%时的
米)
70Oe（奥斯 120Oe（奥斯
四、磁环其他参数的测量方法 1、磁环外观可在正常光照条件下用目测法检查。 2、磁环的外形尺寸用精度为0.02mm的游标卡尺在正常光照条件下进行检验。 3、磁环的综合因子用“CF-3A型磁环分选仪”测量，激励电流设定为2.5A，频率40KHz 4、磁环的4圈电感量用“YD2810D型LCR数字电桥”在1 KHz频率下进行测量。 5、磁环的感生电动势用“UI100型高频功率源”和“UI9720磁性材料动态分析系统”在规 定条件下,进行测量。 6、磁环居里点用“YD2810D型LCR数字电桥”和精密烘箱进行测量。
H：高磁通磁粉芯 Y：铁镍钼磁粉芯
测量脉冲方法
测量脉冲方法
1.均值检波法：这种方法广泛应用于万用表中交流电压、电
流测量电路的交直流转换电路中。
这种方法对交流信号进行半波或全波整流，再对整流输出的脉动直流信号采用积分电路得到较平缓的直流信号，直流信号的幅值就是被测信号的半波整流平均值或全波整流平均值，再利用被测信号的半波整流平均值或全波整流平均值与有效值的关系即可计算出被测信号的有效值。
2.示波器测量法：以示波器测量1pps脉冲信号（正）脉冲宽
度的方法为例，大体步骤为：选择测量通道1，连接1pps 脉冲信号，设置阻抗、触发电平、Analog幅度（纵轴）、Horizontal时间分辨率（横轴）等参数，然后通过QuickMeas测量1pps脉冲信号的正脉冲宽度。
3.测频率法（M法）：是测量单位时间内的脉数换算成频率，
因存在测量时间内首尾的半个脉冲问题，可能会有2个脉的误差。
速度较低时，因测量时间内的脉冲数变少，误差所占的比例会变大，所以M法宜测量高速。
如要降低测量的速度下限，可以提高编码器线数或加大测量的单位时间，使用一次采集的脉冲数尽可能多。
4.测周期法（T法）：是测量两个脉冲之间的时间换算成周期，
从而得到频率。
因存在半个时间单位的问题，可能会有1个时间单位的误差。
速度较高时，测得的周期较小，误差所
占的比例变大，所以T法宜测量低速。
如要增加速度测量的上限，可以减小编码器的脉冲数，或使用更小更精确的计时单位，使一次测量的时间值尽可能大。
5.M/T 测速法：低速时测周期、高速时测频率。
假定能接受
的误差范围为1%、M法测得脉冲数为f, T 法测得时间为t 。
如何测试磁环
如何测试磁环磁环专用于抑制信号线、电源线上的高频噪声和尖峰干扰，还具有吸收静电脉冲的能力。
磁环是用来吸收超高频信号，像一些RF电路，PLL，振荡电路，含超高频存储器电路（DDR SDRAM，RAMBUS等）都需要在电源输入部分加磁环，而电感是一种蓄能元件，用在LC 振荡电路，中低频的滤波电路等，其应用频率范围很少超过50MHZ。
磁环的功能主要是消除存在于传输线结构（电路）中的RF噪声，RF能量是叠加在直流传输电平上的交流正弦波成分，直流成分是需要的有用信号，而射频RF能量却是无用的电磁干扰沿着线路传输和辐射（EMI）。
要消除这些不需要的信号能量，使用片式磁环扮演高频电阻的角色（衰减器），该器件允许直流信号通过，而滤除交流信号。
通常高频信号为30MHz以上，然而，低频信号也会受到片式磁环的影响。
磁环有很高的电阻率和磁导率，他等效于电阻和电感串联，但电阻值和电感值都随频率变化。
他比普通的电感有更好的高频滤波特性，在高频时呈现阻性，所以能在相当宽的频率范围内保持较高的阻抗，从而提高调频滤波效果。
作为电源滤波，可以使用电感。
磁环的电路符号就是电感但是型号上可以看出使用的是磁环在电路功能上，磁环和电感是原理相同的，只是频率特性不同罢了。
磁环由氧磁体组成，电感由磁芯和线圈组成，磁环把交流信号转化为热能，电感把交流存储起来，缓慢的释放出去。
磁环对高频信号才有较大阻碍作用，一般规格有100欧/100mMHZ,它在低频时电阻比电感小得多。
铁氧体磁环(Ferrite Bead)是目前应用发展很快的一种抗干扰组件，廉价、易用，滤除高频噪声效果显着。
在电路中只要导线穿过它即可（我用的都是象普通电阻模样的，导线已穿过并胶合，也有表面贴装的形式，但很少见到卖的）。
当导线中电流穿过时，铁氧体对低频电流几乎没有什么阻抗，而对较高频率的电流会产生较大衰减作用。
高频电流在其中以热量形式散发，其等效电路为一个电感和一个电阻串联，两个组件的值都与磁环的长度成比例。
磁芯的检验标准课件
模拟不同湿度环境，检查磁芯的受潮性能和绝缘性能 。
抗电磁干扰检验
测试磁芯在强电磁场下的性能稳定性，验证其抗电磁 干扰能力。
寿命检验
加速寿命检验
通过加速老化手段，缩短实验周期，评估磁芯的寿命。
常规寿命检验
在正常工作条件下，长时间监测磁芯的性能变化，评估其寿命。
可靠性评估方法
01
故障模式与影响分 析
02
检验报告的格式应规范、清楚 ，易于阅读和存档。
03
检验报告的格式应符合相关标 准和规定，如企业标准、行业 标准或国家/国际标准。
检验报告的编写要求
01
检验报告的编写应准确、客观、完整，不得遗漏或 隐瞒任何重要信息。
02
检验报告的编写应使用规范的语言和术语，避免使 用模糊或含糊不清的表述。
03
检验报告的编写应符合相关法规和标准的要求，不 得违反相关规定。
磁芯的检验标准课件
目录
• 磁芯检验概述 • 磁芯的外观检验 • 磁芯的性能检验 • 磁芯的可靠性检验 • 磁芯的检验报告
01
磁芯检验概述
磁芯检验的目的和意义
确保产品质量
磁芯是电子设备中的重要元件，其性能直接影响设备的性 能和稳定性。通过检验磁芯，可以确保产品的质量符合要 求，减少不良品和故障的风险。
分析磁芯可能出现的故障模式及 其对系统的影响，评估其可靠性 。
可靠性框图
02
03
故障树分析
通过构建磁芯的可靠性框图，全 面评估各组件的可靠性及相互关 系。
建立磁芯的故障树，分析导致故 障的各种可能因素，为预防和改 进提供根据。
05
磁芯的检验报告
检验报告的内容和格式
01
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第16卷 第10期强激光与粒子束Vol.16,No.10 2004年10月HIGH POWER LASER AND PARTIC LE BE AMS Oct.,2004 文章编号: 100124322(2004)1021345204环形磁芯快脉冲动态参数测量方法X丁臻捷, 苏建仓, 丁永忠, 俞建国(西北核技术研究所,陕西西安710024) 摘 要: 磁开关压缩脉冲过程中,磁芯磁参数需历经非饱和与饱和两个阶段,磁滞回线变化经历半个周期,通过测量这一变化过程中通过磁开关绕组的电流和磁通量变化率,可以计算出磁芯的磁滞回线,确定饱和磁通密度、剩磁等动态参数。
讨论了基于高电压放电和脉冲压缩方法测量磁芯动态参数的原理,给出了测试装置的电路原理和电路元件参数的选择方法,测量了大型磁开关磁芯快脉冲条件下的电参数,计算了相关的磁参数,给出了实验结果。
关键词: 磁开关; 磁滞回线; 饱和磁通密度; 剩磁; 磁脉冲压缩法 中图分类号: T N78 文献标识码: A 随着材料科学和脉冲功率技术的发展,磁开关技术在铜蒸气激光产生装置[1～3]及全固态高重频脉冲发生器[5]等重复频率脉冲功率技术领域得到了普遍的应用。
磁开关工作时,磁芯需在饱和与非饱和两种状态间来回转化。
因此设计磁开关时,不仅要考虑磁芯饱和和非饱和时的磁参数,而且要关心两者之间的转变过程。
随着磁芯磁化时间的缩短,变化的磁场会在构成磁芯的薄带之间产生一定的感应电压,因此必须在薄带之间加上适当的涂层用以减小涡流损耗。
这样,磁开关磁芯表现的不仅是磁芯的材料性能,还间接反映了磁芯的制造工艺。
由于工艺条件的限制,较大体积的磁芯与同种磁性材料小样环的性能有相当大的差别。
因此,不能用小样环的性能来表征较大磁芯的整体性能水平。
一般实验室和工厂所用磁芯性能测试设备,由于电源功率的限制,励磁磁场强度在几百A/m到几千A/m 之间,这样的励磁磁场强度对于测试小样环静态、动态特性或较大磁芯的静态特性是足够了,而对于大型磁开关磁芯在快脉冲磁化条件下的性能测试就无能为力了。
本文讨论了基于脉冲压缩方法测量磁芯动态参数的原理,给出了测试装置电路原理和电路元件参数的选择方法,测量了大型磁开关磁芯快脉冲磁化条件下的电参数,计算了相关的磁参数,给出了实测结果。
1 测量原理1.1 磁性参数测量原理 环形磁芯磁开关的截面如图1所示[5]。
图中R i和R o分别为磁开关绕组的内外半径,H为高,r i和r o分别为磁开关磁芯的内外半径,h为高,磁开关绕组匝数为N,通过绕组的电流为i。
考虑环形磁芯的对称性,根据安培环路定律,磁芯截面上的平均磁场强度为H m=Ni2π(r o-r i)ln(r or i)(1)Fig.1 Illustration of magnetic switch图1 磁开关截面图则磁开关绕组截面上的磁通量<=μ0M m S m+μ0H t S t(2)式中:M m为磁芯截面上磁化强度的平均值;S m为磁芯的截面积;S t为绕组的截面积;μ0为真空磁导率;H t为磁开关绕组内不含磁芯时的平均磁场强度H t=Ni2π(R o-R i)ln(R oR i)(3) 利用公式(2)可以求得与磁开关绕组面积相等的感应线圈上的感应电压X收稿日期:2003212226; 修订日期:2004204215基金项目:国家863计划项目资助课题作者简介:丁臻捷(1974—),男,硕士,工程师,主要从事脉冲功率技术研究;西安市69226信箱;E2mail:ding family@。
εb =d <d t(4)结合(1～4)式,就可求出磁芯横截面上的平均磁化强度和磁感应强度M m =M 0+1μ0S m∫εb d t -H t S tS m(5)B m =μ0(H m +M m )(6)式中:M 0为起始时刻磁芯的磁化强度。
因此,测得流过磁开关绕组的电流i 和感应线圈上的感应电压εb ,就可计算出磁芯材料内的平均磁场强度和磁感应强度,进而作出磁芯中磁性材料的磁滞回线,读取饱和磁通密度、剩磁等磁性参数并计算磁芯的单位质量总损耗等其它动态参数。
1.2 测量装置 图2是测试磁开关参数的电路原理图。
其工作过程如下:高压电源给电容器C 0充电至U 0闭合开关SW ,储能电容C 0通过电感L 1向电容C 1谐振充电(C 0=C 1=C 2)。
充电过程中,磁开关MS 处于非饱和状态,其电感值L 远大于L 1(L ≥20L 1),电容C 1通过磁开关MS 向电容C 2漏电流与回路1电流相比可以忽略,这样回路1和回路2相对独立,回路1的谐振脉冲宽度仅由C 0,C 1和L 1来决定。
当电容C 1的电压达到最大或规定值时,使MS 正好饱和,C 1通过MS 向C 2谐振充电,MS 的饱和电感值L 远小于L 1(L sat ≤0.05L 1),回路2谐振周期将由C 1,,C 2和MS 的饱和电感值来决定。
Fig.2 Experimental circuit 图2 测量电路Fig.3 Hysteresis cycle of magnetic core图3 磁性材料磁滞回线 从MS 的磁滞回线(图3)来看,回路1放电过程中,随着C 1电压的升高,通过磁开关绕组的电流缓慢增加,磁通密度从-B r 变化到+B sat ,其中B r 为剩余磁感应强度,B sat 为饱和磁感应强度;当磁芯饱和后,回路2放电,磁通密度近似正比于回路2的电流变化,当放电电流降到0时,磁通密度回到+B r 点,磁滞回线完成了整半周的变化。
测得上述过程中流过磁开关绕组的电流i 和感应线圈上的感应电压εb ,依据式(1)和式(6),就可计算出磁芯截面上的平均磁场强度和磁通密度,从而作出磁滞回线。
1.3 测量回路元件参数选择 对图1所示尺寸的磁开关,设磁化时间为T 0,励磁电压计算公式为[3]U 0T 02=N ΔBS m α(7)式中:S m 为磁芯的截面积;α为磁芯的叠片系数。
确定磁芯励磁时间时,首先考虑磁开关的饱和和未饱和电感值。
磁开关未饱和时,由于μr 较大,磁场主要集中在磁性材料内部,磁开关的近似电感为L ≈μ0μr N22πh ln (r o r i )(8) 当磁开关处于饱和状态时,根据经验μr ,sat 约为1.2～1.5,在误差范围内可利用下式估算磁开关饱和电感L sat ≈μ0μr ,sat N22πh ln (r o r i)(9) 根据谐振回路的特性,不难得到6431强激光与粒子束 第16卷C 0=2T 20π2L 1=2T 20π2kL sat, 40>k >20(10)其中L 1=kL sat(11) 一般来说,脉冲电容器的耐压和容量选择是有限的,可以根据(7),(10)和(11)式选择脉冲电容器工作参数,制作所需的放电电感。
同时考虑到大型磁开关环形磁芯的制作工艺不能保持严格的一致,根据公式(7),当磁芯的磁化时间一定时,可以调整脉冲电容器的充电电压,使磁开关磁芯在要求的磁化时间内经历非饱和状态到饱和状态之间的过渡过程,从而满足测量要求。
2 信号测量与结果分析2.1 信号测量 磁开关工作过程中,磁芯需历经非饱和与饱和两个阶段。
非饱和阶段,磁开关处于“开路”状态,流过绕组的电流很小,在几十mA 到几A 之间,饱和阶段,磁开关处于“短路”状态,流过绕组的电流很大,在几百A 到上千A 之间;磁滞回线上表征磁开关磁芯性能的最主要部分是非饱和部分和饱和与非饱和之间的过渡部分,因此需要准确测量电流信号。
感应电压用与绕组面积相同并紧贴绕组的单匝线圈来测量,测量结果如图4所示,磁芯饱和时间为2μs ,饱和后回路2的放电时间为450ns。
Fig.4 W aveform of current and v oltage in experiment 图4 电流及感应电压测量波形Fig.5 Hysteresis of magnetic core (2μs ,N o.1)图5 磁芯的磁滞回线2.2 测量结果及分析 利用上述测量方法,对一组磁芯进行了测试,图5给出了根据测量电流电压值计算得到的典型磁滞回线(2μs ,No.1),其励磁磁场强度高达20kA/m 。
从图中可以得到磁开关磁芯的饱和磁通密度、剩磁等参数。
动态磁化曲线所包围的面积代表了单位体积磁性材料磁化一周的磁滞损耗。
积分磁芯的动态磁化曲线,容易计算单位质量磁开关磁芯一个工作周期(-B s →B s )的能量损耗。
表1给出了一组磁芯的测试结果,可以看出,相同脉冲压缩条件下,采用不同磁芯材料的磁开关能量损耗并不相同。
即使选用相同的磁芯材料及工艺流程制作出的磁芯(No.1和No.2),其损耗也不尽相同;这表明磁芯的损耗与工艺控制密切相关,当磁芯应用于脉冲功率源时必须对磁芯进行相关的脉冲压缩测试。
表1 不同材料磁芯测量结果(<115×<75×25)T able1 R esult of different m agnetic core (<115×<75×25)N o.12345material1J511J51metglas DG 4DG 6Δ/μm1010303050T 1/μs 2.06 1.8753 2.08 2.03 2.85T 2/μs 0.390.390.430.370.39B r /T 1.16 1.190.97 1.43 1.51B s /T 1.55 1.53 1.52 2.03 2.00E loss /(J ・kg -1)0.120.200.150.501.11 3T 1为回路1谐振充电时间,同时也是磁开关的磁化时间;T 2是回路2的谐振放电时间;E loss 为单位质量总能量损耗。
7431第10期 丁臻捷等:环形磁芯快脉冲动态参数测量方法8431强激光与粒子束 第16卷3 结 论 本文通过测量磁开关压缩脉冲过程中的电流和感应电压信号,研究了测试大型环形磁芯动态参数的方法。
此测量方法称为脉冲压缩法,与其它测试方法相比,有以下特点:适合脉冲磁化条件下的动态参数测量,可得到磁芯饱和磁通密度、剩磁、损耗等参数,得到磁性材料脉冲磁化条件下完整的动态磁化曲线;改变测试回路中电容和电感参数,可方便地改变从几百ns到上百μs磁芯的磁化时间,从而测试磁芯不同磁化时间下的动态特性;由于利用了脉冲放电技术,容易得到大的励磁磁场,适于测量成型后较大体积磁芯的整体磁性能,即对最终产品进行测试。
实验中发现当磁化时间缩短到百ns时,电流和感应电压测量信号有较大的干扰,使测试结果的可信度降低。
但我们认为,只要解决好短脉冲高电压、大电流信号的测试中的干扰抑制问题,这种磁芯动态参数测量方法可用于几百ns磁化时间下磁芯的动态参数测试。